研究者詳細

顔写真

チヨウ　ヤスオ
長　康雄
Yasuo Cho
所属
未来科学技術共同研究センター　開発研究部　次々世代革新的パワーエレクトロニクス用材料・デバイス創出に資する評価技術の開発
職名
特任教授（研究）
学位

  • 工学博士（東北大学）

委員歴 38

  • ナノテスティング学会企画運営委員会　企画運営委員

    2018年11月 ～ 継続中

  • Japan-Korea Conference on Ferroelectricity　Organizing Committee委員

    2012年4月 ～ 継続中

  • 日本誘電体学会　理事・副会長

    2019年12月 ～ 2022年3月

  • 強誘電体応用会議　論文委員，運営委員

    2006年4月 ～ 2022年3月

  • International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　Program Committee 委員

    2012年4月 ～ 2013年3月

  • International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　Program Committee 委員

    2012年4月 ～ 2013年3月

  • 強誘電体応用会議　運営委員

    2006年4月 ～

  • 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　Program Committee 委員

    2006年4月 ～

  • 6th Japan-Korea Conference on Ferroelectricity　Organization Committee 委員

    2006年4月 ～

  • 強誘電体応用会議　運営委員

    2006年4月 ～

  • 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　Program Committee 委員

    2006年4月 ～

  • 6th Japan-Korea Conference on Ferroelectricity　Organization Committee 委員

    2006年4月 ～

  • International Symposium Micro-And-Nano-Scale Domain Structuring In Ferroelectrics　International Advisory Committee 委員

    2005年4月 ～

  • International Symposium Micro-And-Nano-Scale Domain Structuring In Ferroelectrics　International Advisory Committee 委員

    2005年4月 ～

  • The 8th International Sumposium on Ferroic Domains and Micro-to-Nano-scopic Structures　Program Committee 委員

    2004年4月 ～

  • CIMTEC 2006 (11th International Comferences on Modern Materials amd Technologies)　Advisory Boards 委員

    2004年4月 ～

  • The 8th International Sumposium on Ferroic Domains and Micro-to-Nano-scopic Structures　Program Committee 委員

    2004年4月 ～

  • CIMTEC 2006 (11th International Comferences on Modern Materials amd Technologies)　Advisory Boards 委員

    2004年4月 ～

  • 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　運営委員

    2002年4月 ～

  • 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　運営委員

    2002年4月 ～

  • 日本音響学会　論文部会委員

    2001年4月 ～

  • 日本音響学会　評議員

    2001年4月 ～

  • 日本音響学会　論文部会委員

    2001年4月 ～

  • 日本音響学会　評議員

    2001年4月 ～

  • 日本音響学会　東北支部庶務幹事

    2000年4月 ～

  • 強誘電体メモリ国際会議実行委員会　委員

    2000年4月 ～

  • 日本音響学会　東北支部庶務幹事

    2000年4月 ～

  • 強誘電体メモリ国際会議実行委員会　委員

    2000年4月 ～

  • IEEE International Ultrasonics Symposium Technical Program Committee　委員（Group 4 (SAWs))

    1999年4月 ～

  • IEEE International Ultrasonics Symposium Technical Program Committee　委員（Group 4 (SAWs))

    1999年4月 ～

  • 1998 IEEE International Ultrasonics Symposium (Sendai) Local Committee　現地委員

    1998年4月 ～

  • 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　運営委員

    1998年4月 ～

  • ＪＪＡＰ編集委員会　編集委員

    1998年4月 ～

  • 日本音響学会　東北支部会計幹事

    1998年4月 ～

  • 1998 IEEE International Ultrasonics Symposium (Sendai) Local Committee　現地委員

    1998年4月 ～

  • 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　運営委員

    1998年4月 ～

  • ＪＪＡＰ編集委員会　編集委員

    1998年4月 ～

  • 日本音響学会　東北支部会計幹事

    1998年4月 ～

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

所属学協会 6

  • 日本HDD協会

    2022年11月 ～ 継続中

  • 日本誘電体学会

    2019年12月 ～ 継続中

  • 日本音響学会

  • 応用物理学会

  • 電子情報通信学会

  • 米国電気電子学会(The Institute of Electrical and Electronics Engineers,Inc.)

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

研究キーワード 6

  • 半導体計測

  • 強誘電体記録

  • 走査型非線形誘電率顕微鏡

  • 薄膜表面界面物性

  • 電子デバイス

  • 応用物理学

研究分野 1

  • ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 電子デバイス、電子機器 /

受賞 14

  1. 第40回応用物理学会論文賞(応用物理学会解説論文賞)

    2018年9月　応用物理学会　High resolution characterizations of fine structure of semiconductor device and material using scanning nonlinear dielectric microscopy

  2. 平成27年度 科学技術分野の文部科学大臣表彰 科学技術賞 開発部門

    2015年4月15日　文部科学省 文部科学大臣　走査型非線形誘電率顕微鏡法の開発

  3. 2014年服部報公会「報公賞」

    2014年10月9日　公益財団法人 服部報公会　非線形誘電率顕微鏡の発明・実用化と電子デバイス開発への応用

  4. ISIF2 OUTSTANDING ACHIEVEMENT AWARD

    2009年9月29日　ISIF2(Inrernational Symposium on Integrated Ferroelectrics and Functionalities)　For work in scanning nonlinear dielectric microscopy in the field of Ferroelectric Materials

  5. JJAP Editorial Contribution Award

    2008年4月8日　The Japan Society of Applied Physics

  6. ドコモ・モバイル・サイエンス賞

    2006年10月20日　モバイル・コミュニケーション・ファンド　「次世代移動体通信用超高密度ＳＮＤＭ強誘電体プローブメモリに関する研究」

  7. Researcher of the Year 2005

    2006年3月1日　Pacific Nanotechnology

  8. 超音波シンポジウム論文賞

    2005年11月17日　超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　「Three-Dimensional Measurement for Absolute Value of Polarization Angle by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy」

  9. 藤尾フロンティア賞

    2005年6月4日　映像情報メディア学会　「ＳＮＤＭ強誘電体プローブメモリの研究」

  10. ナノプローブテクノロジー賞

    2004年7月21日　日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第１６７委員会　「非線形誘電率顕微鏡の開発と次世代メモリ技術への展開」

  11. 第３６回市村学術賞功績賞

    2004年4月28日　新技術開発財団　「非線形誘電率顕微鏡の発明実用化と超高密度強誘電体記録への応用」

  12. Quality Presentation Recognition By the 1994 IEEE MIT-S International Microwave Symposium.

    1994年9月10日　IEEE MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES SOCIETY　“20dB EFFICIENCY INCREMENT OF SURFACE ACOUSTIC WAVE ELASTIC CONVOLVER USING ACTIVELY CONTROLLED NONLINEAR PIEZOELECTRIC EFFECT”

  13. 平成3年度電気関係学会関西支部連合大会奨励賞

    1992年4月17日　電気関係学会関西支部　「ＰＺＴセラミックスの印加電界による音速変化の動的測定」

  14. 日本音響学会第4回栗屋潔学術奨励賞

    1987年3月27日　日本音響学会　「LiNbO3単結晶の３次の弾性・圧電・誘電及び電歪定数の測定評価」

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

論文 415

  1. Insulating tip for scanning near-field microwave microscopes: Application to van der Waals semiconductor imaging 国際誌 査読有り

    126　(24)　242107-1-242107-6　2025年6月16日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.1063/5.0268493 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  2. Selective Synthesis of Large-Area Monolayer Tin Sulfide from Simple Substances 国際誌

    Kazuki Koyama, Jun Ishihara, Nozomi Matsui, Atsuhiko Mori, Sicheng Li, Jinfeng Yang, Shiro Entani, Takeshi Odagawa, Makito Aoyama, Chaoliang Zhang, Ye Fan, Ibuki Kitakami, Sota Yamamoto, Toshihiro Omori, Yasuo Cho, Stephan Hofmann, Makoto Kohda

    Nano Letters　25　(25)　9985-9993　2025年5月20日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.1021/acs.nanolett.5c01639 　

    ISSN：1530-6984

    eISSN：1530-6992

  3. Visualization of the local dipole moment at the Si(111) surface using DFT calculations 国際誌

    Akira Sumiyoshi, Kohei Yamasue, Yasuo Cho, Jun Nakamura

    15　(1)　2025年3月3日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.1038/s41598-025-91645-1 　

    eISSN：2045-2322

  4. Nonlinear, elastic, piezoelectric, electrostrictive, and dielectric constants of lithium tantalate 国際誌 査読有り

    Yasuo Cho, Ryo Nakagawa, Toshimaro Yoneda, Takeshi Nakao, Mamoru Ikeura

    Journal of Applied Physics　136　(12)　2024年9月26日

    出版者・発行元： AIP Publishing

    DOI： 10.1063/5.0220550 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  5. Analysis of Nanoscale Ferroelectric Domain Dynamics Based on Image Processing of Local C-V Maps 国際誌

    Yohiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    2024 IEEE Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control Joint Symposium (UFFC-JS)　1-3　2024年9月22日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.1109/uffc-js60046.2024.10793582 　

  6. SNDM Study of the MOS Interface State Densities on the 3C-SiC / 4H-SiC Stacked Structure 国際誌

    Hiroyuki Nagasawa, Yasuo Cho, Maho Abe, Takenori Tanno, Michimasa Musya, Masao Sakuraba, Yusuke Sato, Shigeo Sato

    Solid State Phenomena　362　33-40　2024年8月27日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.4028/p-3wy1yi 　

    eISSN：1662-9779

  7. In-plane distribution of huge local permittivity of KTa1−xNbxO3 estimated from local phase transition temperatures and spatially averaged permittivity 国際誌 査読有り

    Takashi Sakamoto, Tadayuki Imai, Masahiro Sasaura, Shogo Yagi, Kazuo Fujiura, Yasuo Cho

    Review of Scientific Instruments　95　(7)　2024年7月1日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.1063/5.0211977 　

    ISSN：0034-6748

    eISSN：1089-7623

  8. Data-Driven Analysis of High-Resolution Hyperspectral Image Data Sets through Nanoscale Capacitance–Voltage Measurements to Visualize Ferroelectric Domain Dynamics 国際誌 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yuki Noguchi, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    ACS Applied Nano Materials　7　(8)　8525-8536　2024年7月

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/acsanm.3c04636 　

    ISSN：2574-0970

    eISSN：2574-0970

  9. Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO2/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)　2023年3月7日

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/edtm55494.2023.10103002 　

  10. Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際誌 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Microelectronics Reliability　135　114588-114588　2022年8月

    出版者・発行元： Elsevier BV

    DOI： 10.1016/j.microrel.2022.114588 　

    ISSN：0026-2714

  11. Nanoscale mapping to assess the asymmetry of local C–V curves obtained from ferroelectric materials 国際誌 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　61　(SN)　SN1014-SN1014　2022年7月27日

    出版者・発行元： IOP Publishing

    DOI： 10.35848/1347-4065/ac7f7a 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Abstract The asymmetry in the capacitance–voltage (C–V) curves obtained from a ferroelectric material can provide information concerning the internal microstructure of a specimen. The present study visualized nanoscale switching of a HfO2-based ferroelectric thin film in real space based on assessing asymmetry using a local C–V mapping method. Several parameters were extracted from the local C–V curves at each point. The parameter Vi, indicating the lateral shift of the local C–V curve, was employed as an indicator of local imprint. In addition, the differences in the areas between the C–V curves for the forward and reverse sweeps, Sf − Sr, provided another slightly different indicator of nanoscale switching asymmetry. These parameters obtained from asymmetric C–V curves are thought to be related to internal electric fields and local stress caused by defects in the film. The work reported here also involved a cluster analysis of the extracted parameters using the k-means method.

  12. Surface Potential Fluctuations of SiO<sub>2</sub>/SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　1062　335-340　2022年5月31日

    出版者・発行元： Trans Tech Publications, Ltd.

    DOI： 10.4028/p-2t7zak 　

    eISSN：1662-9752

    詳細を見る 詳細を閉じる

    We investigate surface potential fluctuations on SiO2/SiC interfaces by local capacitance-voltage profiling based on time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy. As experimental indicators of surface potential fluctuations, we measured the spatial fluctuations of local capacitance-voltage and its first derivative profiles through the detection of the voltages at the infection points of the profiles. We show that, even for a sample with a nitrided interface with low interface defect density, the fluctuations of the measured voltages are much higher than the thermal energy at room temperature. This indicates the existence of high potential fluctuations, which can give the significant impacts on the carrier transport at the SiO2/SiC interface of SiC metal-oxide-semiconductor field effect transistors.

  13. Microscopic Evaluation of Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/p-Type Diamond (111) Interfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　1062　298-303　2022年5月31日

    出版者・発行元： Trans Tech Publications, Ltd.

    DOI： 10.4028/p-n0z51t 　

    eISSN：1662-9752

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Improvement of channel mobility is required to improve the performance of the inversion channel MOSFETs using diamond. The previous studies have suggested that high interface defect density (Dit) at the Al2O3/diamond (111) interface has a significant impact on the carrier transport property on a channel region. To investigate the physical origins of the high Dit, especially from microscopic point of view, here we investigate Al2O3/p-type diamond (111) interfaces using scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM). We find the high spatial fluctuations of Al2O3/hydroxyl (OH)-terminated diamond (111) interface properties and their difference by the flatness of the diamond surface.

  14. Local capacitance-voltage profiling on MoS2/SiO2 and MoS2/h-BN/SiO2 by scanning nonlinear dielectric microscopy assisted with an insulating tip

    Taiyo Ishizuka, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)　2022年3月6日

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/edtm53872.2022.9798093 　

  15. Boxcar Averaging Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 招待有り 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Nanomaterials　12　(5)　794-1-794-19　2022年2月26日

    出版者・発行元： MDPI AG

    DOI： 10.3390/nano12050794 　

    eISSN：2079-4991

  16. Nanoscale capacitance-voltage profiling of DC bias induced stress on a high-κ/SiO2/Si gate stack

    Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Microelectronics Reliability　126　114278-114278　2021年11月

    出版者・発行元： Elsevier BV

    DOI： 10.1016/j.microrel.2021.114278 　

    ISSN：0026-2714

  17. Local capacitance-voltage profiling and high voltage stress effect study of SiO2/SiC structures by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy

    K. Yamasue, Y. Cho

    Microelectronics Reliability　126　114284-114284　2021年11月

    出版者・発行元： Elsevier BV

    DOI： 10.1016/j.microrel.2021.114284 　

    ISSN：0026-2714

  18. Simulation of nanoscale domain growth for ferroelectric recording 国際誌 査読有り

    Kenji Fukuzawa, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    AIP Advances　11　(11)　115117-115117　2021年11月1日

    出版者・発行元：

    DOI： 10.1063/5.0074004 　

    eISSN：2158-3226

  19. Simultaneous Interface Defect Density and Differential Capacitance Imaging by Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    International Symposium for Testing and Failure Analysis　2021年10月31日

    出版者・発行元： ASM International

    DOI： 10.31399/asm.cp.istfa2021p0441 　

    ISSN：0890-1740

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Abstract This work highlights the unique capabilities of time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy as demonstrated in the study of SiO2/SiC interfaces. Scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM) is a microwave-based scanning probe technique with high sensitivity to variations in tip-sample capacitance. Time-resolved SNDM, a modified version, is used in this study because it allows simultaneous nanoscale imaging of interface defect density (Dit) and differential capacitance (dC/dV), lending itself to correlation analysis and a better understanding of the relationships that influence interface quality. Through cross-correlation analysis, it is shown that Dit images are not strongly correlated with simultaneously obtained dC/dV images, but rather with difference images derived from dC/dV images recorded with different voltage sweep directions. The results indicate that the dC/dV images visualize the nonuniformity of the total interface charge density and the difference images reflect that of Dit at a particular energy range.

  20. Flexoelectric nanodomains in rare-earth iron garnet thin films under strain gradient 査読有り

    Hiroyasu Yamahara, Bin Feng, Munetoshi Seki, Masaki Adachi, Md Shamim Sarker, Takahito Takeda, Masaki Kobayashi, Ryo Ishikawa, Yuichi Ikuhara, Yasuo Cho, Hitoshi Tabata

    Communications Materials　2　(1)　2021年9月

    DOI： 10.1038/s43246-021-00199-y 　

    eISSN：2662-4443

  21. High-precision local C–V mapping for ferroelectrics using principal component analysis 国際誌 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　60　(SF)　SFFB09-SFFB09　2021年8月2日

    DOI： 10.35848/1347-4065/ac13d9 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  22. Local C-V Characterization for Ferroelectric Films

    Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    IEEE International Symposium on Applications of Feeroelectric, ISAF 2021, International Symposium on Integrated Functionalities, ISIF 2021 and Piezoresponse Force Microscopy Workshop, PFM 2021 - Proceedings　2021年5月16日

    出版者・発行元： Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

    DOI： 10.1109/ISAF51943.2021.9477316 　

  23. Material Design Strategy for Enhancement of Readback Signal Intensity in Ferroelectric Probe Data Storage 国際誌 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control　68　(3)　859-864　2021年3月

    出版者・発行元： Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

    DOI： 10.1109/tuffc.2020.3006909 　

    ISSN：0885-3010

    eISSN：1525-8955

  24. Local C–V mapping for ferroelectrics using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際誌 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    Journal of Applied Physics　128　(24)　244105-244105　2020年12月28日

    DOI： 10.1063/5.0029630 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  25. Spatial scale dependent impact of non-uniform interface defect distribution on field effect mobility in SiC MOSFETs 国際誌 査読有り

    K. Yamasue, Y. Cho

    Microelectronics Reliability　114　113829-113829　2020年11月

    出版者・発行元： Elsevier BV

    DOI： 10.1016/j.microrel.2020.113829 　

    ISSN：0026-2714

  26. Profiling of carriers in a 3D flash memory cell with nanometer-level resolution using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際誌 査読有り

    J. Hirota, K. Yamasue, Y. Cho

    Microelectronics Reliability　114　113774-113774　2020年11月

    出版者・発行元： Elsevier BV

    DOI： 10.1016/j.microrel.2020.113774 　

    ISSN：0026-2714

  27. Atomic Resolution Studies on Surface Dipoles by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Potentiometry 国際誌 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF)　2020年10月

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/ifcs-isaf41089.2020.9234884 　

  28. Effects of deposition conditions on the ferroelectric properties of (Al1−xScx)N thin films 査読有り

    Shinnosuke Yasuoka, Takao Shimizu, Akinori Tateyama, Masato Uehara, Hiroshi Yamada, Morito Akiyama, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Hiroshi Funakubo

    Journal of Applied Physics　128　(11)　114103-114103　2020年9月21日

    DOI： 10.1063/5.0015281 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  29. Nanoscale characterization of unintentional doping of atomically thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際誌 査読有り

    K. Yamasue, Y. Cho

    Journal of Applied Physics　128　(7)　074301-074301　2020年8月21日

    出版者・発行元： AIP Publishing

    DOI： 10.1063/5.0016462 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  30. Influence of Non-Uniform Interface Defect Clustering on Field-Effect Mobility in SiC MOSFETs Investigated by Local Deep Level Transient Spectroscopy and Device Simulation 国際誌 査読有り

    Kohei Yamasue, Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　1004　627-634　2020年7月

    出版者・発行元： Trans Tech Publications, Ltd.

    DOI： 10.4028/www.scientific.net/msf.1004.627 　

    eISSN：1662-9752

    詳細を見る 詳細を閉じる

    It has recently been shown that interface defect density (<italic>D</italic>it) at SiO2/SiC interfaces can have non-uniform clustered distribution through the measurement by local deep level transient spectroscopy (local DLTS). Here we investigate the influence of the non-uniform <italic>D</italic>it clustering on the field-effect mobility in SiC metal-oxide-semiconductor field effect transistors (MOSFETs) by device simulation. We develop a three dimensional numerical model of a SiC MOSFET, which can incorporate actual <italic>D</italic>it distributions measured by local DLTS. Our main result is that the impact of the non-uniform <italic>D</italic>it clustering on field-effect mobility is negligible for a SiC MOSFET with high <italic>D</italic>it formed by dry thermal oxidation but it becomes significant for that with lower <italic>D</italic>it by post-oxidation annealing. The result indicates that channel mobility can be further improved by making <italic>D</italic>it distribution uniform as well as reducing <italic>D</italic>it.

  31. A scanning nonlinear dielectric microscopic investigation of potential-induced degradation in monocrystalline silicon solar cells 査読有り

    Yasuo Cho, Sachiko Jonai, Atsushi Masuda

    Appl. Phys. Lett.,　116　182107-1-182107-4　2020年5月

  32. 時間分解・局所DLTS 法を用いたマクロステップを有する SiO2/SiC の界面準位密度分布評価 査読有り

    保坂 杏奈, 山末 耕平, Judith Woerle, Corrado Bongiorno, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, 長 康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム　75-79　2019年11月

  33. 間欠接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた半導体キャリア分布観察における信号雑音比の改善 査読有り

    山末 耕平, 長 康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム　130-134　2019年11月

  34. 走査型非線形誘電率顕微鏡による半導体キャリア分布観察のための絶縁膜付き探針の開発と層状半導体評価への応用 査読有り

    高野 幸喜, 山末 耕平, 長 康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム　135-140　2019年11月

  35. Unintentional doping effects on atomically-thin Nb-doped MoS2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Proceedings from the 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis　498-503　2019年11月

  36. Carrier Profiling of the 10-nm-order structure in a 3D Flash memory cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Jun Hirota, Ken Hoshino, Tsukasa Nakai, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Proceedings from the 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis　490-493　2019年11月

  37. Boxcar Averaging Based Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Its Application to Carrier Distribution Imaging on 2D Semiconductors 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2019 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)　2019年10月

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/iirw47491.2019.8989887 　

  38. A Study on Evaluation of Interface Defect Density on High-K/SiO2/Si and SiO2/Si Gate Stacks using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2019 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)　2019年10月

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/iirw47491.2019.8989881 　

  39. Spatially-Resolved Evaluation of Interface Defect Density on Macrostepped SiO2/SiC using Local Deep Level Transient Spectroscopy 査読有り

    Anna Hosaka, Kohei Yamasue, Judith Woerle, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, Yasuo Cho

    2019 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)　2019年10月

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/iirw47491.2019.8989888 　

  40. 傾斜格子歪み希土類鉄ガーネットにおけるフレクソ分極とフェリ磁性の共存

    山原 弘靖, Sarker Md. Shamim, 関 宗俊, 長 康雄, 田畑 仁

    応用物理学会学術講演会講演予稿集　2019.2　1495-1495　2019年9月4日

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.11470/jsapmeeting.2019.2.0_1495 　

    eISSN：2436-7613

  41. Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Yamasue, Y. Cho

    Microelectronics Reliability　Vol.100-101　113345 -1-113345 -5　2019年9月

    DOI： 10.1016/j.microrel.2019.06.037 　

  42. Two-dimensional defect mapping of the SiO2/4H-SiC interface 査読有り

    Judith Woerle, Brett C. Johnson, Corrado Bongiorno, Kohei Yamasue, Gabriel Ferro, Dipanwita Dutta, Thomas A. Jung, Hans Sigg, Yasuo Cho, Ulrike Grossner, Massimo Camarda

    PHYSICAL REVIEW MATERIALS　3　084602-1-084602-8　2019年8月

    DOI： 10.1103/PhysRevMaterials.3.084602 　

  43. Carrier distribution imaging using ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    Rev. Sci. Instrum　Vol.90　083705.1-083705.12　2019年8月

    DOI： 10.1063/1.5097906 　

  44. High Resolution Mapping of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local-DLTS Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)　2019年7月

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/ipfa47161.2019.8984905 　

  45. High Resolution Observation of Subsurface Defects at SiO2/4H-SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)　2019年3月

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/irps.2019.8720482 　

  46. Local Evaluation of Al2O3 Passivation Layers for Monocrystalline Silicon Solar Cells by Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    2018 IEEE 7th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, WCPEC 2018 - A Joint Conference of 45th IEEE PVSC, 28th PVSEC and 34th EU PVSEC　3118-3120　2018年11月26日

    出版者・発行元： Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

    DOI： 10.1109/PVSC.2018.8547292 　

  47. 走査型非線形誘電率顕微鏡による数層MoS2 のキャリア分布観察における信号強度の改善 査読有り

    山末 耕平, 長康雄

    第38回ナノテスティングシンポジウム　196-199　2018年11月

  48. High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces using time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y. Yamagishi, Y. Cho

    Microelectronics Reliability　Vol.88-90　242-245　2018年10月

    DOI： 10.1016/j.microrel.2018.07.058 　

  49. Quantitative imaging of mos interface trap distribution by using local deep level transient spectroscopy

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA　2018-　2018年8月30日

    出版者・発行元： Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

    DOI： 10.1109/IPFA.2018.8452565 　

  50. Quantitative evaluation of carrier distribution in silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    Proceedings of the International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA　2018-　2018年8月30日

    出版者・発行元： Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

    DOI： 10.1109/IPFA.2018.8452172 　

  51. Visualization of traps at SiO2/SiC interfaces near the conduction band by local deep level transient spectroscopy at low temperatures 査読有り

    Takayuki Abe, Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    Jpn.J.Appl.Phys,　57　08NB12-1-08NB12-5　2018年7月

    DOI： 10.7567/JJAP.57.08NB12 　

  52. Local carrier distribution imaging on few-layer MoS2 exfoliated on SiO2 by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Applied Physics Letters　112　(24)　243102-1-243102-5　2018年6月11日

    出版者・発行元： American Institute of Physics Inc.

    DOI： 10.1063/1.5032277 　

    ISSN：0003-6951

  53. Charge state evaluation of passivation layers for silicon solar cells by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Kakikawa, Y. Yamagishi, Y. Cho, K. Tanahashi, H. Takato

    IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings　2018-　PPV.11-PPV.14　2018年5月25日

    出版者・発行元： Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

    DOI： 10.1109/IRPS.2018.8353683 　

    ISSN：1541-7026

  54. Scanning probe-type data storage beyond hard disk drive and flash memory 査読有り

    Yasuo Cho, Seungbum Hong

    MRS Bulletin　43　(5)　365-370　2018年5月1日

    出版者・発行元： Cambridge University Press

    DOI： 10.1557/mrs.2018.98 　

    ISSN：0883-7694

  55. Nanoscale linear permittivity imaging based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    Nanotechnology　29　(20)　205709-1-205709-9　2018年3月26日

    出版者・発行元： Institute of Physics Publishing

    DOI： 10.1088/1361-6528/aab3c2 　

    ISSN：1361-6528 0957-4484

  56. Improvement of local deep level transient spectroscopy for microscopic evaluation of SiO2/4H-SiC interfaces 査読有り

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　924　289-292　2018年

    出版者・発行元： Trans Tech Publications Ltd

    DOI： 10.4028/www.scientific.net/MSF.924.289 　

    ISSN：0255-5476

  57. High resolution characterizations of fine structure of semiconductor device and material using scanning nonlinear dielectric microscopy 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　56　(10)　100101-1-100101-10　2017年10月

    DOI： 10.7567/JJAP.56.100101 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  58. Dynamic observation of ferroelectric domain switching using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　56　(10)　10PF16-1-10PF16-7　2017年10月

    DOI： 10.7567/JJAP.56.10PF16 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  59. Quantitative thickness measurement of polarity-inverted piezoelectric thin-film layer by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Hiroyuki Odagawa, Koshiro Terada, Yohei Tanaka, Hiroaki Nishikawa, Takahiko Yanagitani, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　56　(10)　10PF18-1-10PF18-4　2017年10月

    DOI： 10.7567/JJAP.56.10PF18 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  60. Nanosecond microscopy of capacitance at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y. Yamagishi, Y. Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　111　(16)　163103-1-163103-5　2017年10月

    DOI： 10.1063/1.4999794 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  61. Quantitative thickness measurement of polarity-inverted piezoelectric thin-film layer 査読有り

    長 康雄

    Jpn.J.Appl.Phys,　56　10PF18-1-10PF18-4　2017年9月

  62. Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to imaging two-dimensional distribution of SiO2/SiC interface traps 査読有り

    N. Chinone, Y. Cho

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　122　(10)　105701-1-105701-9　2017年9月

    DOI： 10.1063/1.4991739 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  63. Quantitative Analysis of Active Dopant Distribution and Estimation of Effective Diffusivity in Phosphorus-Implanted Emitter of Si Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    IEEE PVSC-44　2017年8月

    DOI： 10.1063/1.4994813 　

  64. Evaluation of silicon- and carbon-face SiO2/SiC MOS interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　111　(6)　061602-1-061602-4　2017年8月

    DOI： 10.1063/1.4990865 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  65. Quantitative measurement of active dopant density distribution in phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Hirose, K. Tanahashi, H. Takato, Y. Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　111　(3)　032101-1-032101-4　2017年7月

    DOI： 10.1063/1.4994813 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  66. Universal parameter evaluating SiO2/SiC interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Yuji Kiuchi, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　897　159-162　2017年

    出版者・発行元： Trans Tech Publications Ltd

    DOI： 10.4028/www.scientific.net/MSF.897.159 　

    ISSN：0255-5476

  67. Two-dimensional imaging of trap distribution in SiO2/SiC interface using local deep level transient spectroscopy based on super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　897　127-130　2017年

    出版者・発行元： Trans Tech Publications Ltd

    DOI： 10.4028/www.scientific.net/MSF.897.127 　

    ISSN：0255-5476

  68. Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    N. Chinone, R. Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, Y. Cho

    MICROELECTRONICS RELIABILITY　64　566-569　2016年9月

    DOI： 10.1016/j.microrel.2016.07.088 　

    ISSN：0026-2714

  69. Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy

    N. Chinone, R. Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, Y. Cho

    MICROELECTRONICS RELIABILITY　64　566-569　2016年9月

    DOI： 10.1016/j.microrel.2016.07.088 　

    ISSN：0026-2714

  70. Graphene on C-terminated face of 4H-SiC observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry 査読有り

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Keiichiro Tashima, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　55　(8)　08NB02-1-08NB02-5　2016年8月

    DOI： 10.7567/JJAP.55.08NB02 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  71. Simultaneous observation of two dimensional electron gas and polarization in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kotaro Hirose, Yasunori Goto, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　55　(8)　08NB13-1-08NB13-3　2016年8月

    DOI： 10.7567/JJAP.55.08NB13 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  72. Visualization of Gate-Bias-Induced Carrier Redistribution in SiC Power DIMOSFET Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES　63　(8)　3165-3170　2016年8月

    DOI： 10.1109/TED.2016.2571780 　

    ISSN：0018-9383

    eISSN：1557-9646

  73. TWO-DIMENSIONAL CHARACTERIZATION OF PHOSPHORUS-IMPLANTED EMITTER AND PHOSPHORUS-DIFFUSED EMITTER OF SILICON SOLAR CELL USING SUPER-HIGHER-ORDER SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    32nd European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition　527-530　2016年7月

  74. High-density ferroelectric recording using a hard disk drive-type data storage system 査読有り

    Tomonori Aoki, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　119　(18)　184101-1-184101-8　2016年5月

    DOI： 10.1063/1.4948940 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  75. Two-dimensional Analysis of Carrier Distribution in Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Norimichi Chinonel, Yasuo Cho

    2016 IEEE 43RD PHOTOVOLTAIC SPECIALISTS CONFERENCE (PVSC)　3671-3674　2016年

    ISSN：0160-8371

  76. Two-dimensional local deep level transient spectroscopy imaging using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    N. Chinone, Y. Cho, R. Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura

    ISTFA 2016: CONFERENCE PROCEEDINGS FROM THE 42ND INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS　441-445　2016年

  77. Proposal of local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy and 2-dimensional imaging of trap distribution in SiO2/SiC interface 査読有り

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    Proceedings of the 2016 IEEE 23rd International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)　360-364　2016年

    ISSN：1946-1550

  78. “Method for measuring polarity-inverted layered structure in dielectric thin films using scanning nonlinear dielectric microscopy ” 国際誌 査読有り

    H. Odagawa, K. Terada, H. Nishikawa, T. Yanagitani, Y. Cho

    Ferroelectrics　498　(1)　47-51　2016年

    DOI： 10.1080/00150193.2016.1169493 　

    ISSN：0015-0193

    eISSN：1563-5112

  79. Lamb Wave Resonators and Resonator Filters in Periodical Poled Z-cut LiTaO3 Plate

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto, Yasuo Cho, Shuji Tanaka

    2016 IEEE 11TH ANNUAL INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS (NEMS)　2016年

    DOI： 10.1109/NEMS.2016.7758302 　

  80. Nondestructive and local evaluation of SiO2/SiC interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　858　469-472　2016年

    出版者・発行元： Trans Tech Publications Ltd

    DOI： 10.4028/www.scientific.net/MSF.858.469 　

    ISSN：0255-5476

  81. Visualization of polarization and two dimensional electron gas distribution in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    Materials Science Forum　858　1182-1185　2016年

    出版者・発行元： Trans Tech Publications Ltd

    DOI： 10.4028/www.scientific.net/MSF.858.1182 　

    ISSN：0255-5476

  82. Visualization and analysis of active dopant distribution in a p-i-n structured amorphous silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Hirose, N. Chinone, Y. Cho

    AIP ADVANCES　5　(9)　097136-1-097136-7　2015年9月

    DOI： 10.1063/1.4931028 　

    ISSN：2158-3226

  83. Scanning nonlinear dielectric potentiometry 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　86　(9)　093704-1-093704-8　2015年9月

    DOI： 10.1063/1.4930181 　

    ISSN：0034-6748

    eISSN：1089-7623

  84. Experimental study of electric dipoles on an oxygen-adsorbed Si(100)-2 × 1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　107　(3)　03604-1-031604-5　2015年7月

    DOI： 10.1063/1.4927244 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  85. Interfacial Charge States in Graphene on SiC Studied by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry 査読有り

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    PHYSICAL REVIEW LETTERS　114　(22)　226103-1-226103-5　2015年6月

    DOI： 10.1103/PhysRevLett.114.226103 　

    ISSN：0031-9007

    eISSN：1079-7114

  86. A -site-driven ferroelectricity in strained ferromagnetic La2 NiMnO6 thin films 査読有り

    R. Takahashi, I. Ohkubo, K. Yamauchi, M. Kitamura, Y. Sakurai, M. Oshima, T. Oguchi, Y. Cho, M. Lippmaa

    Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　91　(13)　2015年4月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.91.134107 　

    ISSN：1098-0121

    eISSN：1550-235X

  87. A-site-driven ferroelectricity in strained ferromagnetic La2NiMnO6 thin films 査読有り

    R. Takahashi, I. Ohkubo, K. Yamauchi, M. Kitamura, Y. Sakurai, M. Oshima, T. Oguchi, Y. Cho, M. Lippmaa

    PHYSICAL REVIEW B　91　(13)　134107-1-134107-9　2015年4月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.91.134107 　

    ISSN：2469-9950

    eISSN：2469-9969

  88. Carrier redistribution analysis of gate-biased SiC power-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    ISTFA 2015: CONFERENCE PROCEEDINGS FROM THE 41ST INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS　329-332　2015年

  89. Observation of polarization and two dimensional electron gas in AIGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Hirose, N. Chinone, Y. Cho

    ISTFA 2015: CONFERENCE PROCEEDINGS FROM THE 41ST INTERNATIONAL SYMPOSIUM FOR TESTING AND FAILURE ANALYSIS　333-335　2015年

  90. Interfacial capacitance between a ferroelectric Fe3O4 thin film and a semiconducting Nb:SrTiO3 substrate 査読有り

    R. Takahashi, Y. Cho, M. Lippmaa

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　117　(1)　014104-1-014104-10　2015年1月

    DOI： 10.1063/1.4905384 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  91. Investigation of solution-processed bismuth-niobium-oxide films 査読有り

    Satoshi Inoue, Tomoki Ariga, Shin Matsumoto, Masatoshi Onoue, Takaaki Miyasako, Eisuke Tokumitsu, Norimichi Chinone, Yasuo Cho, Tatsuya Shimoda

    Journal of Applied Physics　116　(15)　2014年10月21日

    出版者・発行元： American Institute of Physics Inc.

    DOI： 10.1063/1.4898323 　

    ISSN：1089-7550 0021-8979

  92. Investigation of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    ecoss30　2014年9月4日

  93. Pb(Zr,Ti)O

    Hiranaga Yoshiomi, Cho Yasuo

    Jpn. J. Appl. Phys.　53　(9)　09PA05　2014年9月3日

    出版者・発行元： Institute of Physics

    DOI： 10.7567/JJAP.53.09PA05 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Pb(Zr,Ti)O<inf>3</inf>(PZT) thin films for ferroelectric probe data storage technology were studied. (001)-oriented PZT thin films were deposited on SrRuO<inf>3</inf>/SrTiO<inf>3</inf>substrates by rf magnetron sputtering. Dc voltage was applied on the films using a metal-coated tip and the poling region was observed by scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM). The contrasts in the positive and negative poling regions in the SNDM images obtained were improved by using the PZT films after ion-beam irradiation. This suggests that a surface layer of a few nanometers in thickness was formed on the as-grown PZT film and the polarization was not invertible in the surface layer. The deposition condition was examined with focus on deposition temperature. Nanosized domain dots were successfully formed on a PZT film deposited at 550 °C.

  94. A New Atomically Resolved Potentiometry for Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ecoss30　2014年9月3日

  95. Atomic dipole moment induced variation of local surface potential on Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    19th International Vacuum Congress, ABSTRACTS　105　(12)　2014年9月

    DOI： 10.1063/1.4896323 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  96. Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Masataka Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, Y. Cho

    ICN+T 2014 , ABSTRACTS　105　(10)　2014年9月

    DOI： 10.1063/1.4895031 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  97. Pb(Zr,Ti)O-3 recording media for probe data storage devices prepared by rf magnetron sputtering 査読有り

    Yoshionni Hiranaga, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　53　(9)　09PA05-1-09PA05-5　2014年9月

    DOI： 10.7567/JJAP.53.09PA05 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  98. Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    ecoss30　105　(10)　2014年9月

    DOI： 10.1063/1.4895031 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  99. Improved study of electric dipoles on the Si(100)-2×1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    Appl. Phys. Lett.　105　(10)　101603-1-101603-3　2014年9月

    DOI： 10.1063/1.4895031 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  100. Atomic-dipole-moment induced local surface potential on Si(111)-(7 × 7) surface studied by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    Appl. Phys. Lett.　105　(12)　121601-1-121601-5　2014年9月

    DOI： 10.1063/1.4896323 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  101. Nano-Domains and Related Phenomena in Congruent Lithium Tantalate Single Crystals Studied by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yasuo Cho

    IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL　61　(8)　1368-1378　2014年8月

    DOI： 10.1109/TUFFC.2014.3045 　

    ISSN：0885-3010

    eISSN：1525-8955

  102. Cross-sectional dopant profiling and depletion layer visualization of SiC power double diffused metal-oxide-semiconductor field effect transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    N. Chinone, T. Nakamura, Y. Cho

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　116　(8)　084509-1-084509-7　2014年8月

    DOI： 10.1063/1.4893959 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  103. Charge gradient microscopy: high-speed visualization of polarization charges using a nanoscale probe 招待有り 査読有り

    Seungbum Hong, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Andreas Roelofs

    Nanoscale Spectroscopy and Nanotechnology 8　2014年7月30日

  104. High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, Y. Cho

    ICN+T 2014 , ABSTRACTS　2014年7月21日

  105. A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    K. Yamasue, Yasuo Cho

    ICN+T 2014 , ABSTRACTS　2014年7月21日

  106. Charge gradient microscopy 査読有り

    Seungbum Hong, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Andreas Roelofs

    Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America　111　(18)　6566-6569　2014年4月23日

  107. Pyroelectric Detection of Spontaneous Polarization in Multiferroic La2NiMnO6 Thin Films 招待有り 査読有り

    Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Miho Kitamura, Masaharu Oshima, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa

    2014 MRS Spring Meeting ABSTRACTS　2014年4月22日

  108. Charge Gradient Microscopy: A Method to Image Ferroelectric and Piezoelectric Domains 査読有り

    Andreas Roelofs, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Seungbum Hong

    2014 MRS Spring Meeting ABSTRACTS　2014年4月22日

  109. Electrical conduction in nanodomains in congruent lithium tantalate single crystal 査読有り

    Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　104　(4)　042905-1-042905-4　2014年1月

    DOI： 10.1063/1.4863754 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  110. Measurement of Nonlinear Dielectric Constants of Pb(Zr, Ti)O-3 Thin Films for Ferroelectric Probe Data Storage Technology 査読有り

    Y. Hiranaga, Y. Cho

    2014 JOINT IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE APPLICATIONS OF FERROELECTRICS, INTERNATIONAL WORKSHOP ON ACOUSTIC TRANSDUCTION MATERIALS AND DEVICES & WORKSHOP ON PIEZORESPONSE FORCE MICROSCOPY (ISAF/IWATMD/PFM)　87-90　2014年

    DOI： 10.1109/ISAF.2014.6922979 　

  111. Conduction in Nanodomains in Lithium Tantalate Single Crystal 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho

    ICSS 2013 ABSTRACTS　2013年12月16日

  112. Current Conduction around Nanodomain Inversion Dot in Lithium Tantalate Single Crystal Studied by Using C-AFM and SNDM 査読有り

    Yasuo Cho

    2013 MRS fall meeting ABSTRACTS　2013年12月5日

  113. Site Specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Local Surface Potentials on Si(111)-(7×7) Surface by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    2013 MRS fall meeting ABSTRACTS　2013年12月5日

    DOI： 10.1063/1.4896323 　

  114. High Resolution Visualization of Carrier Distribution in SiC-MOSFET Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Takashi Nakamura, Yasuo Cho

    2013 MRS fall meeting ABSTRACTS　2013年12月4日

  115. Interfacial Capacitance between an Fe3 O4 Film and a Nb:TiO3 Substrate 査読有り

    Ryota Takahashi, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa

    2013 MRS fall meeting ABSTRACTS　2013年12月3日

  116. Site-specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Surface Potential on Si(111)-(7×7) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    ACSIN-12 & ICSPM21, ABSTRACTS　2013年11月5日

  117. Effectiveness of the scanning nonlinear dielectric microscopy on the failure analysis of semiconductor devices 招待有り 査読有り

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    24th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis. ABSTRACTS　2013年10月2日

  118. CURRENT CONDUCTION AROUND NANODOMAIN INVERSION DOT IN LITHIUM TANTALATE SINGLE CRYSTAL 査読有り

    Yasuo Cho

    13th International Meeting on Ferroelectricity, IMF-13, ABSTRACTS　2013年9月20日

  119. Observation of atomic dipole moment on hydrogen and oxygen adsorbed Si(111)-7×7 surfaces by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y. Cho, D. Mizuno, K. Yamasue

    19th International Vacuum Congress, ABSTRACTS　2013年9月13日

  120. Atomic dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface observed by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy ABSTRACTS　103　(10)　2013年9月2日

    DOI： 10.1063/1.4820348 　

    ISSN：0003-6951

  121. Atomic dipole moment distribution on a hydrogen-adsorbed Si(111) - (7×7) surface observed by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Appl. Phys. Lett.　103　(10)　101601-1-101601-5　2013年9月

    DOI： 10.1063/1.4820348 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  122. Measurements of Nonlinear Dielectric Constants of Pb(Zr,Ti)O-3 Thin Films Using a Dynamic Measuring Method 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　52　(9)　09KA08-1-09KA08-4　2013年9月

    DOI： 10.7567/JJAP.52.09KA08 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  123. Site specific measurement of surface potential shift on Si(111)-(7ｘ7) surface by noncontact scanning nonliear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    NC-AFM 2013 ABSTRACTS　2013年8月8日

  124. Nano -Domains and Their Related Phenomena in LiTaO3 Single Crystal Studied by Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho

    2013 Joint UFFC, EFTF and PFM Symposium, ABSTRACTS　2013年7月25日

  125. Investigation of physical and electrical properties of hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    DAISUKE MIZUNO, KOHEI YAMASUE, AND YASUO CHO

    18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting ABSTRACTS　2013年4月8日

  126. Electronic state of carbon material surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    APS March Meeting 2013, ABSTRACTS　2013年3月21日

  127. Simultaneous measurement of tunneling current and atomic dipole moment on Si(111)-(7×7) Surface by noncontact by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    Yasuo Cho　113　(1)　pp242-101-1-pp242-101-5　2013年1月7日

    DOI： 10.1063/1.4772705 　

    ISSN：0021-8979

  128. High resolution imaging in cross-section of a metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    N. Chinone, K. Yamasue, K. Honda, Y. Cho

    18TH MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS CONFERENCE (MSM XVIII)　471　2013年

    DOI： 10.1088/1742-6596/471/1/012023 　

    ISSN：1742-6588

  129. High resolution imaging in cross-section of a metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    N. Chinone, K. Yamasue, K. Honda, Y. Cho

    18TH MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS CONFERENCE (MSM XVIII)　471　012023　2013年

    DOI： 10.1088/1742-6596/471/1/012023 　

    ISSN：1742-6588

  130. Atomic Scale Imaging of TiO2(100) Reconstructed Surfaces by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Nobuhiro Sawai, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　51　(12)　121801-121807　2012年12月

    DOI： 10.1143/JJAP.51.121801 　

    ISSN：0021-4922

  131. Scanning nonlinear dielectric microscopy nano science and technology 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho

    2012 EMN Fall Meeting ABSTRACTS　2012年12月1日

  132. Scanning nonlinear dielectric microscopy observation of accumulated charges in metal-SiO2-SiN-SiO2-Si flash memory by detecting higher-order nonlinear permittivity 査読有り

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　101　(24)　242101-1-242102-5　2012年12月

    DOI： 10.1063/1.4769352 　

    ISSN：0003-6951

  133. Observation of Threshold Voltage Distribution of Transistors in a Metal-SiO2-SiN-SiO2-semiconductor Flash Memory Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    2012 MRS fall meeting ABSTRACTS　2012年11月29日

  134. Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Studies of Atomic Dipole Moments on Hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 Surface 査読有り

    Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2012 MRS fall meeting ABSTRACTS　2012年11月28日

  135. Super Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy with Super High Resolution 査読有り

    Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga, Koichiro Honda, Yasuo Cho

    2012 MRS fall meeting ABSTRACTS　2012年11月27日

  136. Lateral resolution improvement in scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring super-higher-order nonlinear dielectric constants 査読有り

    N. Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, K. Honda, Y. Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　101　(21)　213112-1-213112-4　2012年11月

    DOI： 10.1063/1.4766349 　

    ISSN：0003-6951

  137. Observing of charges stored in metal-oxide-nitride-oxide semiconductor flash memory by using higher order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Honda, T. Iwai, Y. Cho

    The 15th European Microscopy Congress (emc2012) manchester ABSTRACTS　2012年9月17日

  138. Resolution improvement of scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring the super higher-order nonlinear dielectric constants 査読有り

    N.Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, K.Honda, Y. Cho

    The 15th European Microscopy Congress (emc2012) manchester ABSTRACTS　2012年9月17日

  139. Observation of Nanoscale Ferroelectric Domains Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　51　(9)　09LE07-1-09LE07-5　2012年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.51.09LE07 　

    ISSN：0021-4922

  140. Atomic electric dipole moment visualization using scanning nonlinear dielectric microscopy 招待有り 査読有り

    Y. CHO

    11th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures , 11th Russia/CIS/Baltic/Japan/Symposium on Ferroelectricity), ABSTRACTS　2012年8月21日

  141. Super-higher order nonlinear dielectric microscopy studies on ferroelectric materials and semiconductor devices 査読有り

    N.CHINONE, K. YAMASUE, Y. HIRANAGA, K.HONDA, Y. CHO

    International Conference on Nanoscience + Technology 2012, ABSTRACTS　2012年7月24日

  142. Observation of dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy, ABSTRACTS　2012年7月5日

  143. Simultaneous imaging of current and local dipole moments of Si(111)-(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy, ABSTRACTS　2012年7月2日

  144. Visualization of Electrons Localized in Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor Flash Memory Thin Gate Films by Detecting High-Order Nonlinear Permittivity Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS EXPRESS　5　(3)　036602-1-036602-3　2012年3月

    DOI： 10.1143/APEX.5.036602 　

    ISSN：1882-0778

  145. New evaluation of fullerene molecules on Si(111)-7×7 reconstructed structure using non-contact scanning non-linear dielectric microscopy 査読有り

    Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    Surface Science　606　(3-4)　174-180　2012年2月

    DOI： 10.1016/j.susc.2011.09.011 　

    ISSN：0039-6028

  146. Super Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    N.Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, Y. Cho

    The 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy, ABSTRACTS　2011年12月20日

  147. Visualization of Electrons Localized in Metal –SiO2-SiN-SiO2-Semiconductor Flash Memory Thin Gate Films by Detecting the Higher-Order Nonlinear Dielectric Constant Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    2011 MRS fall meeting ABSTRACTS　2011年11月28日

  148. Observation of local dipole moments on cleaned Si(111) surface with defects by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Kohei YAMASUE, Yasuo Cho

    14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy, ABSTRACTS　2011年9月19日

  149. Observation of Polarization Distribution on Si(111) Surface by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　50　(9)　09NE12-1-09NE12-5　2011年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.50.09NE12 　

    ISSN：0021-4922

  150. Scanning nonlinear dielectric microscopy 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH　26　(16)　2007-2016　2011年8月

    DOI： 10.1557/jmr.2011.219 　

    ISSN：0884-2914

    eISSN：2044-5326

  151. Study of TiO2(100) Reconstructed Surfaces by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Nobuhiro Sawai, Yasuo Cho

    7th NANOSCIENCE and NANOTECHNOLOGY CONFERENCE, ABSTRACTS　2011年6月30日

  152. Scanning nonlinear dielectric microscopy with high resolution and its application to next generation high density ferroelectric data storage 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho

    E-MRS ICAM IUMRS 2011 Spring Meeting, ABSTRACTS　2011年5月10日

  153. Development of Label-Free Bioaffinity Sensor Using a Lumped-Constant Microwave Resonator Probe 査読有り

    Noriaki Okazaki, Taito Nishino, Toyohiro Chikyow, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS EXPRESS　4　(1)　017001-1-017001-3　2011年1月

    DOI： 10.1143/APEX.4.017001 　

    ISSN：1882-0778

  154. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 招待有り 査読有り

    Y. Cho

    2010 MRS Fall Meeting ABSTRACTS　2010年12月1日

  155. Observation of electrochemical capacitance in a graphite surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    PHYSICAL REVIEW B　82　(24)　245427-1-245427-19　2010年12月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.82.245427 　

    ISSN：1098-0121

  156. Ferroelectric Super-High Density 査読有り

    Yasuo Cho, Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    The 3rd International Symposium on Innovations in Advanced Materials for Optics & Electronics, ABSTRACTS　2010年10月17日

  157. SNDM Ferroelectric Data Storage with Servo-Controlled Tracking Technique 査読有り

    Kenkou Tanaka, Yasuo Cho

    19th International Symposium on the Applications of Ferroelectrics ABSTRACTS　2010年8月9日

  158. Actual information storage with a recording density of 4 Tbit/in.(2) in a ferroelectric recording medium 査読有り

    Kenkou Tanaka, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　97　(9)　092901-1-092901-3　2010年8月

    DOI： 10.1063/1.3463470 　

    ISSN：0003-6951

  159. Imaging of the surface structure of TiO2(110) by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Nobuhiro Kin, Yasuo Cho

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　107　(10)　104121-1-104121-4　2010年5月

    DOI： 10.1063/1.3428509 　

    ISSN：0021-8979

  160. Investigation of interface between fullerene molecule and Si(111)-7×7 surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    Journal of Vacuum Science & Technology　28　(3)　C4D18-C4D23　2010年5月

    DOI： 10.1116/1.3373959 　

    ISSN：1071-1023

  161. Noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy imaging of TiO2(110) surfaces 査読有り

    Nobuhiro Kin, Yasuo Cho

    JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B　28　(3)　C4D5-C4D10　2010年5月

    DOI： 10.1116/1.3427661 　

    ISSN：1071-1023

  162. Acoustic Wave Devices composed Periodical Poled Z-cut LiTaO3 Plate” Fourth International Symposium on Acoustic Wave Devices for Future Mobile Communication Systems 査読有り

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto, Yasuo Cho

    Third International Workshop on Piezo-Devices Based on Latest MEMS Technologies ABSTRACTS　2010年3月3日

  163. Intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　81　(2)　023705-1-023705-5　2010年2月

    DOI： 10.1063/1.3274138 　

    ISSN：0034-6748

  164. Investigation of interface between fullerene molecule and Si (111)-7×7 surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Shin-Ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    Journal of Vacuum Science and Technology B:Nanotechnology and Microelectronics　28　(3)　C4-D23　2010年

    出版者・発行元： AVS Science and Technology Society

    DOI： 10.1116/1.3373959 　

    ISSN：2166-2754 2166-2746

  165. Observation of dopant profile of transistors sing scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Honda, K. Ishikawa, Y. Cho

    16TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS　209　(1)　012050-1-012050-4　2010年

    DOI： 10.1088/1742-6596/209/1/012050 　

    ISSN：1742-6588

  166. Observation of dopant profile of transistors using scanning nonlinear dielectric microscopy 招待有り 査読有り

    K. Honda, K. Ishikawa, Y. Cho

    Journal of Physics: Conference Series　209　2010年

    出版者・発行元： Institute of Physics Publishing

    DOI： 10.1088/1742-6596/209/1/012050 　

    ISSN：1742-6596 1742-6588

  167. Ferroelectric Data Recording Using Servo-Controlled Tracking Technique 査読有り

    Kenkou Tanaka, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　49　(9)　2010年

    DOI： 10.1143/JJAP.49.09MA16 　

    ISSN：0021-4922

  168. Acoustic Wave Devices Composed of Periodically Poled Z-Cut LiTaO3 Plate Using Edge Reflection 査読有り

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　49　(7)　07HD22-1-07HD22-3　2010年

    DOI： 10.1143/JJAP.49.07HD22 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  169. Ferroelectric Data Recording Using Servo-Controlled Tracking Technique 査読有り

    Kenkou Tanaka, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　49　(9)　09MA16-1-09MA16-3　2010年

    DOI： 10.1143/JJAP.49.09MA16 　

    ISSN：0021-4922

  170. Development of Ferroelectric Data Storage Test System for High - Density and High - Speed Read/Write 査読有り

    Y.Tanaka, T.Uda,Y.Kurihashi, Y.Kimoto, H.Tochishita, M.Kadota, Y.Cho

    2009 MRS fall meeting ABSTRACTS　2009年12月3日

  171. Study of TiO2(100) 1×1 and 1×3 Surfaces by Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Combined with Scanning Tunneling Microscopy 査読有り

    N.Kin, Y.Cho

    2009 MRS fall meeting ABSTRACTS　2009年12月2日

  172. Dependence of long term stability on the initial radius of small inverted domains formed on congruent single-crystal LiTaO3 査読有り

    Nozomi Odagawa, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　95　(14)　142907-1-142907-3　2009年10月

    DOI： 10.1063/1.3237171 　

    ISSN：0003-6951

  173. 走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM）による半導体デバイスの評価 査読有り

    本田耕一郎, 長康雄

    顕微鏡　44　(№.3)　170-173　2009年10月

    出版者・発行元： 日本顕微鏡学会

    ISSN：1349-0958

  174. Nano-Domain Formation on Ferroelectrics and Development of HDD-Type Ferroelectric Data Storage Test System 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Tomoya Uda, Yuichi Kurihashi, Yasuo Cho, Michio Kadota, Hikari Tochisita

    21th International Symposium on Integrated Ferroelectrics and Functionalities, ABSTRACTS　2009年9月29日

  175. Nanodomain Formation on Ferroelectrics and Development of Hard-Disk-Drive-Type Ferroelectric Data Storage Devices 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Tomoya Uda, Yuichi Kurihashi, Hikari Tochishita, Michio Kadota, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　48　(9)　2009年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.48.09KA18 　

    ISSN：0021-4922

  176. Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy imaging of TiO2(110) surfaces 査読有り

    Nobuhiro Kin, Yasuo Cho

    12th International Conference on Noncontact Atmic Force Microscopy and Casimir 2009 Workshop, Abstracts　2009年8月12日

  177. Characterizations of Carbon Material by Non-contact Scanning Non-liniar Dielectric Microscopy 査読有り

    Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    12th International Conference on Noncontact Atmic Force Microscopy and Casimir 2009 Workshop, Abstracts　2009年8月12日

  178. Characterization and comparison of nanoscale domain boundary in congruent and stoichiometric LiTaO3 with scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Dae-Yong Jeong, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　95　(2)　022908-1-022908-3　2009年7月

    DOI： 10.1063/1.3182713 　

    ISSN：0003-6951

  179. Observation of local dipole moment of Si atoms on Si(100) surfaces using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Nobuhiro Kin, Yuhei Osa, Yasuo Cho

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　106　(1)　1-5　2009年7月

    DOI： 10.1063/1.3158049 　

    ISSN：0021-8979

  180. Observation of Dopant Profile Using Scanning Nonlinear Dielectroc Microscopy 査読有り

    KOICHIRO HONDA, KENYA ISHIKAWA, YASUO CHO

    Microscopy of Semiconducting Materials(MSM)XVI, Abstract　2009年3月20日

  181. Coustic filter and resonator on periodical poled LiTaO3 査読有り

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto, Yasuo Cho

    Proceedings - IEEE Ultrasonics Symposium　2009年

    DOI： 10.1109/ULTSYM.2009.5442084 　

    ISSN：1051-0117

  182. Acoustic Wave Devices using Periodical Poled Z-cut LiTaO3 Plate 査読有り

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto, Yasuo Cho

    2009 JOINT MEETING OF THE EUROPEAN FREQUENCY AND TIME FORUM AND THE IEEE INTERNATIONAL FREQUENCY CONTROL SYMPOSIUM, VOLS 1 AND 2　919-+　2009年

    DOI： 10.1109/FREQ.2009.5168322 　

    ISSN：1075-6787

  183. Multiferroism at Room Temperature in BiFeO3/BiCrO3(111) Artificial Superlattices 招待有り 査読有り

    Noriya Ichikawa, Masaya Arai, Yusuke Imai, Kei Hagiwara, Hiroshi Sakama, Masaki Azuma, Yuichi Shimakawa, Mikio Takano, Yasutoshi Kotaka, Masashi Yonetani, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu, Kenya Ishikawa, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS EXPRESS　1　(10)　101302-1-101302-3　2008年10月

    DOI： 10.1143/APEX.1.101302 　

    ISSN：1882-0778

  184. In-Plane Distribution of Phase Transition Temperature of KTa1-xNbxO3 Measured with Single Temperature Sweep 招待有り 査読有り

    Takashi Sakamoto, Masahiro Sasaura, Shogo Yagi, Kazuo Fujiura, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS EXPRESS　1　(10)　101601-1-101601-3　2008年10月

    DOI： 10.1143/APEX.1.101601 　

    ISSN：1882-0778

  185. The influence of 180゜ ferroelectric domain wall width on the threshold field for wall motion 招待有り 査読有り

    Samrat Choudhury, Yulan Li, Nozomi Odagawa, Aravind Vasudevarao, L. Tian, Pavel Capek, Volkmar Dierolf, Anna N. Morozovska, Eugene A. Eliseev, Sergei Kalinin, Yasuo Cho, Long-qing Chen, nd Venkatraman Gopalan

    Journal of Applied Physics　104　(8)　084107-1-084107-7　2008年10月

    DOI： 10.1063/1.3000459 　

    ISSN：0021-8979

  186. Observations of domain structure and ferroelectricity in Bi(Ni0.5Ti0.5)O-3 ceramics fabricated by high-pressure sintering 査読有り

    Kazuya Kitada, Masafumi Kobune, Wataru Adachi, Tetsuo Yazawa, Hiroyuki Saitoh, Katsutoshi Aoki, Jun'ichiro Mizuki, Kenya Ishikawa, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    CHEMISTRY LETTERS　37　(5)　560-561　2008年5月

    DOI： 10.1246/cl.2008.560 　

    ISSN：0366-7022

    eISSN：1348-0715

  187. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano-Science and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage 招待有り 査読有り

    Kenkou Tanaka, Yuichi Kurihashi, Tomoya Uda, Yasuhiro Daimon, Nozomi Odagawa, Ryusuke Hirose, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　47　(5)　3311-3325　2008年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.47.3311 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  188. Observation of a local dipole moment of Si atoms on Si(100) surfaces using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy

    Nobuhiro Kin, Yuhei Osa, Yasuo Cho

    Materials Research Society Symposium Proceedings　1110　108-113　2008年

    出版者・発行元： Materials Research Society

    DOI： 10.1557/proc-1110-c09-18 　

    ISSN：0272-9172

  189. Quantitative Measurement of Dopant Concentration Profiling by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kenya Ishikawa, Koichiro Honda, Yasuo Cho

    NANOSCALE PHENOMENA IN FUNCTIONAL MATERIALS BY SCANNING PROBE MICROSCOPY　1025　2008年

    DOI： 10.1557/PROC-1025-B12-05 　

    ISSN：0272-9172

  190. 非接触型非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)-7×7表面およびフラーレン分子の観察 招待有り 査読有り

    小林慎一郎, 広瀬龍介, 長康雄

    Journal of the Vacuum Society of Japan　51　(12)　771-778　2008年

    出版者・発行元：

    DOI： 10.3131/jvsj2.51.771 　

    ISSN：0559-8516

  191. Novel HDD-type SNDM ferroelectric data storage system aimed at high-speed data transfer with single probe operation 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Tomoya Uda, Yuichi Kurihashi, Kenkou Tanaka, Yasuo Cho

    IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL　54　(12)　2523-2528　2007年12月

    DOI： 10.1109/TUFFC.2007.571 　

    ISSN：0885-3010

  192. Atomic Dipole Moment Distribution of Si Atoms on a Si(111)-(7×7) Surface Studied Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yasuo Cho, Ryusuke Hirose

    Physical Review Letters　99　(18)　186101-1-186101-4　2007年11月

    DOI： 10.1103/PhysRevLett.99.186101 　

    ISSN：0031-9007

  193. Scanning nonlinear magnetic microscopy 査読有り

    Makoto Endo, Koya Ohara, Yasuo Cho

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　78　(7)　073704-1-073704-5　2007年7月

    DOI： 10.1063/1.2752609 　

    ISSN：0034-6748

  194. Scanning nonlinear dielectric microscope with super high resolution 査読有り

    Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　46　(7B)　4428-4434　2007年7月

    DOI： 10.1143/JJAP.46.4428 　

    ISSN：0021-4922

  195. Cross-sectional observation of nanodomain dots formed in both congruent and stoichiometric LiTaO3 crystals 査読有り

    Yasuhiro Daimon, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　90　(19)　192906-1-192906-3　2007年5月

    DOI： 10.1063/1.2737906 　

    ISSN：0003-6951

  196. Spatial distribution of phase transition temperature of KTa1-xNbxO3 measured using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Takashi Sakamoto, Koichiro Nakamura, Kazuo Fujiura, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　90　(22)　222908-1-222908-3　2007年5月

    DOI： 10.1063/1.2745217 　

    ISSN：0003-6951

  197. Selective poling and characterization of ferroelectric poly(vinylidene fluoride-trifluoroethylene) by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Jong-Yoon Ha, Seok-Jin Yoon, Dae-Yong Jeong, Yasuo Cho

    MACROMOLECULAR RESEARCH　15　(1)　86-89　2007年2月

    ISSN：1598-5032

  198. Resolution enhancement in contact-type scanning nonlinear dielectric microscopy using a conductive carbon nanotube probe tip 査読有り

    Kenya Ishikawa, Koichiro Honda, Yasuo Cho

    NANOTECHNOLOGY　18　(8)　084015-1-084015-6　2007年2月

    DOI： 10.1088/0957-4484/18/8/084015 　

    ISSN：0957-4484

  199. Observation of the Si(111)7×7 atomic structure using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Ryusuke Hirose, Koya Ohara, Yasuo Cho

    Nanotechnology　18　(8)　084014-1-084014-5　2007年2月

    DOI： 10.1088/0957-4484/18/8/084014 　

    ISSN：0957-4484

  200. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるフラッシュメモリ中の蓄積電荷の可視化 査読有り

    本田 耕一郎, 長 康雄

    表面科学　28　(2)　78-83　2007年2月

    出版者・発行元： 日本表面科学会

    DOI： 10.1380/jsssj.28.78 　

    ISSN：0388-5321

  201. Nanodomain Manipulation for Ferroelectric Data Storage with High Recording Density, Fast Domain Switching and Low Bit Error Rate 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yasuo Cho

    2006 15th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics　280-283　2007年

    ISSN：1099-4734

  202. Cross-sectional Observation of Nano-domain Dots Formed in Congruent Single-crystal LiTaO3 査読有り

    Yasuo Cho, Yasuhiro Daimon

    Proceedings of 2006 MRS Fall Meeting　966　0966-T09-03.1-0966-T09-03.6　2007年

  203. Simultaneous Observation of Surface Morphology and Dielectric Properties Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Atomic Resolution 査読有り

    Ryusuke Hirose, Yasuo Cho

    Proceedings of 2006 MRS Fall Meeting　966　0966-T09-08.1-0966-T09-08.6　2007年

  204. Nanoscale ferroelectric information storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yasuo Cho

    JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY　7　(1)　105-116　2007年1月

    DOI： 10.1166/jnn.2007.009 　

    ISSN：1533-4880

  205. Non-contact probe control and high-speed writing for rotated-disk-type ferroelectric data storage devices 招待有り 査読有り

    Y. Hiranaga, T. Uda, Y. Kurihashi, K. Tanaka, N. Odagawa, Y. Cho

    2007 SIXTEENTH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE APPLICATIONS OF FERROELECTRICS, VOLS 1 AND 2　326-329　2007年

    DOI： 10.1109/ISAF.2007.4393255 　

    ISSN：1099-4734

  206. Study of long-term-retention characteristics and wall behavior of nano-inverted domains on congruent single-crystal LiTaO(3) based on wall energy 査読有り

    Nozomi Odagawa, Yasuo Cho

    2007 SIXTEENTH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE APPLICATIONS OF FERROELECTRICS, VOLS 1 AND 2　333-335　2007年

    DOI： 10.1109/ISAF.2007.4393257 　

    ISSN：1099-4734

  207. Cross-sectional observation of nano-domain dots formed in congruent single-crystal LiTaO3 査読有り

    Yasuhiro Damon, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　45　(46-50)　L1304-L1306　2006年12月

    DOI： 10.1143/JJAP.45.L1304 　

    ISSN：0021-4922

  208. Wall behavior of nanodomains as a function of their initial state 査読有り

    Nozomi Odagawa, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　89　(19)　192906-1-192906-3　2006年11月

    DOI： 10.1063/1.2385860 　

    ISSN：0003-6951

  209. Using an electroconductive carbon nanotube probe tip in scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K. Ishikawa, Y. Cho

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　77　(10)　103708-1-103708-3　2006年10月

    DOI： 10.1063/1.2360985 　

    ISSN：0034-6748

  210. Long-term-retention characteristics of small inverted dots formed on congruent single-crystal LiTaO3 査読有り

    Nozomi Odagawaa, Yasuo Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　89　(10)　102906-1-102906-3　2006年9月

    DOI： 10.1063/1.2345827 　

    ISSN：0003-6951

  211. Study of long-term-retention characteristics and wall behavior of nano-inverted domains on congruent single-crystal LiTaO3 based on wall energy 査読有り

    Nozomi Odagawa, Yasuo Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　45　(9B)　7560-7563　2006年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.45.7560 　

    ISSN：0021-4922

  212. A diamond-tip probe with silicon-based piezoresistive strain gauge for high-density data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Hirokazu Takahashi, Takahito Ono, Atsushi Onoe, Yasuo Cho, Masayoshi Esashi

    Journal of Micromechanics and Microengineering　16　(8)　1620-1624　2006年8月1日

    DOI： 10.1088/0960-1317/16/8/025 　

    ISSN：0960-1317

    eISSN：1361-6439

  213. Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy utilizing higher order nonlinear dielectric signal 査読有り

    K. Ohara, Y. Cho

    Ferroelectrics　336　263-270　2006年7月1日

    DOI： 10.1080/00150190600697871 　

    ISSN：0015-0193 1563-5112

  214. Piezoelectric performance and domain structure of epitaxial PbTiO3 thin film deposited by hydrothermal method 査読有り

    T Morita, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　45　(5B)　4489-4492　2006年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.45.4489 　

    ISSN：0021-4922

  215. Visualization of charges stored in the floating gate of flash memory by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Honda, S Hashimoto, Y Cho

    NANOTECHNOLOGY　17　(7)　S185-S188　2006年4月

    DOI： 10.1088/0957-4484/17/7/S14 　

    ISSN：0957-4484

  216. Nanodomain manipulation for ultrahigh density ferroelectric data storage 査読有り

    Y Cho, S Hashimoto, N Odagawa, K Tanaka, Y Hiranaga

    NANOTECHNOLOGY　17　(7)　S137-S141　2006年4月

    DOI： 10.1088/0957-4484/17/7/S06 　

    ISSN：0957-4484

  217. Three-dimensional observation of nanoscale ferroelectric domains using scanning nonlinear dielectric microscopy with electric field correction by Kelvin probe force microscopy 査読有り

    T Sugihara, Y Cho

    NANOTECHNOLOGY　17　(7)　S162-S166　2006年4月

    DOI： 10.1088/0957-4484/17/7/S10 　

    ISSN：0957-4484

  218. High-density ferroelectric recording using diamond probe by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Hirokazu Takahashi, Astushi Onoe, Takahito Ono, Yasuo Cho, Masayoshi Esashi

    Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers　45　(3 A)　1530-1533　2006年3月8日

    DOI： 10.1143/JJAP.45.1530 　

    ISSN：0021-4922

    eISSN：1347-4065

  219. Piezoelectric property of an epitaxial lead titanate thin film deposited by the hydrothermal method 査読有り

    T Morita, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　88　(11)　112908-1-112908-3　2006年3月

    DOI： 10.1063/1.2183364 　

    ISSN：0003-6951

  220. Nanodomain manipulation for reduction of bit error rate in terabit/inch(2)-class ferroelectric data storage 査読有り

    Y Hiranaga, K Tanaka, Y. Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　45　(3B)　2220-2224　2006年3月

    DOI： 10.1143/JJAP.45.2220 　

    ISSN：0021-4922

  221. Retention loss phenomena in hydrothermally fabricated heteroepitaxial PbTiO3 films studied by scanning probe microscopy 査読有り

    WS Ahn, WW Jung, SK Choi, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　88　(8)　082902-1-082902-3　2006年2月

    DOI： 10.1063/1.2178417 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  222. Long term retention characteristic of small inverted dots formed on congruent single-crystal LiTaO3

    Yasuo Cho, Nozomi Odagawa

    Materials Research Society Symposium Proceedings　966　90-95　2006年

    出版者・発行元： Materials Research Society

    DOI： 10.1557/proc-0966-t11-21 　

    ISSN：0272-9172

  223. Scanning nonlinear dielectric microscopy and its use in next-generation ultrahigh-density ferroelectric data storage 査読有り

    Y Cho, H Odagawa, K Ohara, Y Hiranaga

    ELECTRONICS AND COMMUNICATIONS IN JAPAN PART II-ELECTRONICS　89　(1)　19-31　2006年

    DOI： 10.1002/ecjb.20170 　

    ISSN：8756-663X

  224. 10Tbit/inch2 Ferroelectric Data Storage with Offset Voltage Application Method 査読有り

    Sunao Hashimoto, Yasuo Cho

    Proceedings of 2005 MRS Fall Meeting　902E　0902-T10-42.1-0902-T10-42.6　2006年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    通研インポート200703

  225. Surface Potential Investigation on Nano Domain Formation in Lithium Tantable Single Crystal 査読有り

    Mirai Katoh, Yasuo Cho

    Proceedings of 2005 MRS Fall Meeting　902E　0902-T10-50.1-0902-T10-50.6　2006年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    通研インポート200703

  226. Real Information Recording in Ferroelectric Data Stroage Medium with Memory Density of 1 Tbit/inch2 査読有り

    Tanaka Kenkou, Hiranaga Yoshiomi, Yasuo Cho

    Proceedings of 2005 MRS Fall Meeting　902E　0902-T10-41.1-0902-T10-41.6　2006年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    通研インポート200703

  227. Observation of [110] surface band within {101} a-domain of heteroepitaxial PbTiO3 thin film fabricated by hydrothermal epitaxy 査読有り

    SK Choi, SH Ahn, WW Jung, JC Park, SA Song, CB Lim, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　88　(5)　052901-1-052901-3　2006年1月

    DOI： 10.1063/1.2171489 　

    ISSN：0003-6951

  228. Terabit per square inch information data storage on ferroelectrics with low bit error rate 査読有り

    Y. Hiranaga, K. Tanaka, Y. Cho

    FERROELECTRICS　333　99-106　2006年

    DOI： 10.1080/00150190600689373 　

    ISSN：0015-0193

  229. Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy utilizing higher order nonlinear dielectric signal 査読有り

    K. Ohara, Y. Cho

    FERROELECTRICS　336　263-270　2006年

    DOI： 10.1080/00150190600697871 　

    ISSN：0015-0193

  230. Visualization using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy of electrons and holes localized in the thin gate film of Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor type flash memory 査読有り

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    7TH ANNUAL NON-VOLATILE MEMORY TECHNOLOGY SYMPOSIUM　1-+　2006年

  231. Ferroelectric ultra high-density data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yasuo Cho, Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yoshiorm Hiranaga

    7TH ANNUAL NON-VOLATILE MEMORY TECHNOLOGY SYMPOSIUM　31-36　2006年

  232. Long-term-retention characteristics of small inverted dots formed on congruent single-crystal LiTaO3 査読有り

    Nozomi Odagawa, Yasuo Cho

    Applied Physics Letters　89　(10)　0966-T11-21.1-0966-T11-21.6　2006年

    DOI： 10.1063/1.2345827 　

    ISSN：0003-6951

  233. Real information storage using ferroelectrics with a density of 1 TBIT/INCH2 査読有り

    K. Tanaka, Y. Hiranaga, Y. Cho

    FERROELECTRICS　340　99-105　2006年

    DOI： 10.1080/00150190600889080 　

    ISSN：0015-0193

  234. Realization of 10 Tbit/in.(2) memory density and subnanosecond domain switching time in ferroelectric data storage 査読有り

    Y. Cho, S Hashimoto, N Odagawa, K Tanaka, Y Hiranaga

    APPLIED PHYSICS LETTERS　87　(23)　232907-1-232907-3　2005年12月

    DOI： 10.1063/1.2140894 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  235. Ultrahigh-density ferroelectric data storage with low bit error rate 査読有り

    Y Hiranaga, Y. Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　44　(9B)　6960-6963　2005年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.44.6960 　

    ISSN：0021-4922

  236. Investigation of three-dimensional domain structure in LiTaO3 by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    T Sugihara, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　44　(9B)　7169-7173　2005年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.44.7169 　

    ISSN：0021-4922

  237. Nano-sized domain inversion characteristics in LiNbO3 group single crystals using SNDM 査読有り

    A Onoe, S Hashimoto, Y Cho

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY　120　(1-3)　130-133　2005年7月

    DOI： 10.1016/j.mseb.2005.02.009 　

    ISSN：0921-5107

  238. Ultrahigh-density ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　44　(7B)　5339-5343　2005年7月

    DOI： 10.1143/JJAP.44.5339 　

    ISSN：0021-4922

  239. Three-dimensional measurement for absolute value of polarization angle by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    T Sugihara, H Odagawa, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　44　(6B)　4325-4329　2005年6月

    DOI： 10.1143/JJAP.44.4325 　

    ISSN：0021-4922

  240. Visualization of electrons and holes localized in the thin gate film of metal-oxide-nitride-oxide-semiconductor type Flash memory by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Honda, S Hashimoto, Y Cho

    NANOTECHNOLOGY　16　(3)　S90-S93　2005年3月

    DOI： 10.1088/0957-4484/16/3/017 　

    ISSN：0957-4484

  241. Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Ohara, Y Cho

    NANOTECHNOLOGY　16　(3)　S54-S58　2005年3月

    DOI： 10.1088/0957-4484/16/3/010 　

    ISSN：0957-4484

  242. Visualization of electrons and holes localized in the thin gate film of metal SiO２-Si3N４-SiO２ semiconductor type Flash memory using scanning nonlinear dielectric microscopy after weiting-erasing cycling 査読有り

    Koichiro Honda, Sunao Hashimoto, Yasuo Cho

    Applied Physics Letters　86　(6)　063515-1-063515-3　2005年2月

    DOI： 10.1063/1.1862333 　

    ISSN：0003-6951

  243. Three-dimensional observation of nano-scale ferroelectric domain using scanning nonlinear dielectric microscopy

    Yasuo Cho, Tomoyuki Sugihara

    Materials Research Society Symposium Proceedings　902　165-170　2005年

    出版者・発行元： Materials Research Society

    DOI： 10.1557/proc-0902-t06-04 　

    ISSN：0272-9172

  244. Piezoelectric property of epitaxial PbTiO3 thin film deposited by hydrothermal method 査読有り

    T Morita, Y Cho

    2005 IEEE Ultrasonics Symposium, Vols 1-4　1083-1086　2005年

    ISSN：1051-0117

  245. Development of Ultra-High Vacuum Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Near Atomic Scale Observation of Ferroelectric Material Surfaces 査読有り

    Hiroyuki Odagawa, Yasuo Cho

    Proceedings of MRS Fall Meeting　838E　O14.1.1-O14.1.6　2005年

  246. Absolute Measurement of Three-dimensional Polarization Direction Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yasuo Cho, Tomoyuki Sugihara

    Proceedings of 2004 MRS Fall Meeting　838E　O7.3.1-O7.3.6　2005年

  247. Perfectly c-axis oriented epitaxial lead titanate thin film deposited by a hydrothermal method for a data storage medium 査読有り

    T Morita, Y Cho

    MATERIALS AND PROCESSES FOR NONVOLATILE MEMORIES　830　147-152　2005年

    ISSN：0272-9172

  248. Visualization using scanning nonlinear dielectric microscopy of electrons and holes localized in the thin gate film of a metal-SiO2-Si3N4-SiO2-semiconductor flash memory 査読有り

    K Honda, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　86　(1)　2005年1月

    DOI： 10.1063/1.1846147 　

    ISSN：0003-6951

  249. Hydrothermally deposited PbTiO3 epitaxial thin film 査読有り

    T Morita, Y Cho

    JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY　46　(1)　10-14　2005年1月

    ISSN：0374-4884

  250. 非線形誘電率顕微鏡と次世代超高密度強誘電体記録 招待有り 査読有り

    長 康雄, 小田川裕之, 大原鉱也, 平永良臣

    電子情報通信学会論文誌Ｃ　88-C　(1)　1-12　2005年1月

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN：1345-2827

    詳細を見る 詳細を閉じる

    サブナノメータの分解能で強誘電体の分極を可視化できる高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡を開発した.この顕微鏡を用いて強誘電体材料の種々のドメインの可視化を行った.更に計測次数を単純に変化させるのみで,より分解能が向上する高次非線形誘電率顕微鏡の、開発や,回転電界を印加し横方向の分極の向きも計測できる三次元分極計測用非線形誘電率顕微鏡の開発を行った.最後に本顕微鏡技術を次世代超高密度強誘電体記録に応用し,書換え可能な記録方式として世界最高の1.5 Tbit/inch^2 の記録密度を達成した.

  251. Effect of the surface adsorbed water on the studying of ferroelectrics by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Ohara, Y. Cho

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　96　(12)　7460-7463　2004年12月

    DOI： 10.1063/1.1810194 　

    ISSN：0021-8979

  252. A hydrothermally deposited epitaxial lead titanate thin film on strontium ruthenium oxide bottom electrode 査読有り

    T Morita, Y. Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　85　(12)　2331-2333　2004年9月

    DOI： 10.1063/1.1794867 　

    ISSN：0003-6951

  253. Epitaxial PbTiO3 thin films on SrTiO3(100) and SrRuO3/SrTiO3(100) substrates deposited by a hydrothermal method 査読有り

    T Morita, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　43　(9B)　6535-6538　2004年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.43.6535 　

    ISSN：0021-4922

  254. Evaluation of bit error rate for ferroelectric data storage 査読有り

    Y Hiranaga, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　43　(9B)　6632-6634　2004年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.43.6632 　

    ISSN：0021-4922

  255. Observation of surface polarization distribution using temperature-controlled scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Ohara, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　43　(7B)　4629-4633　2004年7月

    DOI： 10.1143/JJAP.43.4629 　

    ISSN：0021-4922

  256. Ferroelectric property of an epitaxial lead zirconate titanate thin film deposited by a hydrothermal method 査読有り

    T Morita, Y Wagatsuma, H Morioka, H Funakubo, N Setter, Y Cho

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH　19　(6)　1862-1868　2004年6月

    DOI： 10.1557/JMR.2004.0243 　

    ISSN：0884-2914

  257. Ferroelectric properties of an epitaxial lead zirconate titanate thin film deposited by a hydrothermal method below the Curie temperature 査読有り

    T Morita, Y Wagatsuma, Y. Cho, H Morioka, H Funakubo, N Setter

    APPLIED PHYSICS LETTERS　84　(25)　5094-5096　2004年6月

    DOI： 10.1063/1.1762973 　

    ISSN：0003-6951

  258. Nanosecond switching of nanoscale ferroelectric domains in congruent single-crystal LiTaO3 using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Fujimoto, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　43　(5B)　2818-2821　2004年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.43.2818 　

    ISSN：0021-4922

  259. Ferroelectric single crystal recording media fabricated by polarization controlled wet etching process 査読有り

    Y Hiranaga, Y Wagatsuma, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　43　(4B)　L569-L571　2004年4月

    DOI： 10.1143/JJAP.43.L569 　

    ISSN：0021-4922

  260. Domain structure in a micron-sized PbZr1-xTixO3 single crystal on a Ti substrate fabricated by hydrothermal synthesis 査読有り

    DJ You, WW Jung, SK Choi, Y. Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　84　(17)　3346-3348　2004年4月

    DOI： 10.1063/1.1702129 　

    ISSN：0003-6951

  261. Characterization of LiNb1-xTaxO3 composition-spread thin film by the scanning microwave microscope 査読有り

    Noriaki Okazaki, Sohei Okazaki, Hiroko Higuma, Shoji Miyashita, Yasuo Cho, Jun Nishimura, Tomoteru Fukumura, Masashi Kawasaki, Makoto Murakami, Yukio Yamamoto, Yuji Matsumoto, Hideomi Koinuma, Tetsuya Hasegawa

    Applied Surface Science　223　(1-3)　196-199　2004年2月15日

    DOI： 10.1016/S0169-4332(03)00916-4 　

    ISSN：0169-4332

  262. Ferroelectric property of an epitaxial lead zirconate titanate thin film deposited by a hydrothermal method

    T Morita, Y Wagatsuma, Y Cho, H Morioka, H Funakubo

    FERROELECTRIC THIN FILMS XII　784　231-236　2004年

    ISSN：0272-9172

  263. Polarization reversal anti-parallel to the applied electric field observed using a scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    T Morita, Y. Cho

    FERROELECTRIC THIN FILMS XII　784　447-452　2004年

    ISSN：0272-9172

  264. First prototype of high-density ferroelectric data storage system

    Y Hiranaga, Y. Cho, Y Wagatsuma

    FERROELECTRIC THIN FILMS XII　784　453-458　2004年

    ISSN：0272-9172

  265. Temperature controlled scanning nonlinear dielectric microscopy

    K Ohara, Y Cho

    ADVANCED DATA STORAGE MATERIALS AND CHARACTERIZATION TECHNIQUES　803　27-33　2004年

    ISSN：0272-9172

  266. Visualization of electrons and holes localized in the gate thin film of metal-oxide nitride-oxide semiconductor type flash memory by using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Honda, Y Cho

    ADVANCED DATA STORAGE MATERIALS AND CHARACTERIZATION TECHNIQUES　803　21-26　2004年

    ISSN：0272-9172

  267. A hydrothermally deposited epitaxial PbTiO3 thin film on SrRuO3 bottom electrode for the ferroelectric ultra-high density storage medium 査読有り

    T Morita, Y Cho

    INTEGRATED FERROELECTRICS　64　247-257　2004年

    DOI： 10.1080/10584580490894645 　

    ISSN：1058-4587

  268. Polarization reversal anti-parallel to the applied electric field observed using a scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    T Morita, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　84　(2)　257-259　2004年1月

    DOI： 10.1063/1.1637938 　

    ISSN：0003-6951

  269. Fundamental study on ferroelectric data storage with the density above 1 Tbit/inch(2) using congruent lithium tantalate 査読有り

    Y. Cho, Y Hiranaga, K Fujimoto, Y Wagatsuma, A Onoe

    INTEGRATED FERROELECTRICS　61　77-81　2004年

    DOI： 10.1090/10584580490458810 　

    ISSN：1058-4587

  270. Observation of ring shaped domain patterns using a scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    M Katoh, T Morita, Y Cho

    INTEGRATED FERROELECTRICS　68　207-219　2004年

    DOI： 10.1080/10584580490896517 　

    ISSN：1058-4587

  271. LiTaO3 recording media prepared by polarization controlled wet etching process 査読有り

    Y Hiranaga, Y Wagatsuma, Y Cho

    INTEGRATED FERROELECTRICS　68　221-228　2004年

    DOI： 10.1080/10584580490896526 　

    ISSN：1058-4587

  272. Visualization of electrons and holes localized in the gate thin film of metal-oxide nitride-oxide semiconductor type flash memory by using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Honda, Y Cho

    ADVANCED DATA STORAGE MATERIALS AND CHARACTERIZATION TECHNIQUES　803　(3)　21-26　2004年

    DOI： 10.1088/0957-4484/16/3/017 　

    ISSN：0272-9172

  273. High-speed switching of nanoscale ferroelectric domains in congruent single-crystal LiTaO3 査読有り

    K Fujimoto, Y. Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　83　(25)　5265-5267　2003年12月

    DOI： 10.1063/1.1635961 　

    ISSN：0003-6951

  274. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy :Overview -A High Resolution Tool for Observing Ferroelectric Domains and Nano-domain Engineering- 査読有り

    Yasuo Cho

    Journal of the Korean Ceramic Society　40　(11)　1047-1057　2003年11月

  275. SNDM Nanodomain Engineering for Ultra High-Density Ferroelectric Data Storage 招待有り 査読有り

    Yasuo CHO

    Proceedings of the 8th IUMRS International Conference on Advanced Materials　2003年10月

  276. Observation of domain walls in PbZr0.2Ti0.8O3 thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    K Matsuura, Y Cho, R Ramesh

    APPLIED PHYSICS LETTERS　83　(13)　2650-2652　2003年9月

    DOI： 10.1063/1.1609252 　

    ISSN：0003-6951

  277. Observation of antiparallel polarization reversal using a scanning nonlinear dielectric microscope 査読有り

    T Morita, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　42　(9B)　6214-6217　2003年9月

    DOI： 10.1143/JJAP.42.6214 　

    ISSN：0021-4922

  278. Tbit/inch2 Ferroelectric Data Storage Using SNDM Nano Domain Engineering System 査読有り

    Yasuo CHO, Yoshiomi HIRANAGA, Kenjiro FUJIMOTO, Yasuo WAGATSUMA, Atsushi ONOE, Kazuya TERABE, Kenji KITAMURA

    Proceedings of the 10th European Meeting on Ferroelectricity　2003年8月

  279. Ultrahigh-Density Ferroelectric Data Storage Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Kenjiro Fujimoto, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe

    Japanese Journal of Applied Physics　42　(9B)　6050-6054　2003年6月19日

    出版者・発行元： Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics

    DOI： 10.1143/jjap.42.6050 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Ferroelectrics have generated considerable interest as promising storage media. In this paper, an investigation of ultrahigh-density ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM) was carried out. For the purpose of obtaining fundamental knowledge of high-density ferroelectric data storage, several experiments on nanodomain formation in lithium tantalate (LiTaO3) single crystal were conducted. As a result, a very small inverted domain with a radius of 6 nm was successfully formed in stoichiometric LiTaO3 (SLT), and in addition, a domain dot array with an areal density of 1.5 Tbit/inch2 was written on congruent LiTaO3 (CLT). Additionally, the first prototype high-density ferroelectric data storage system was developed. Using this system, reading and writing data transfer rates were evaluated.

  280. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope 査読有り

    Yasuo CHO

    Proceeding of Characterization and Imaging Symposium　277-299　2003年6月

  281. Terabit inch(-2) ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy nanodomain engineering system 査読有り

    Y Cho, K Fujimoto, Y Hiranaga, Y Wagatsuma, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    NANOTECHNOLOGY　14　(6)　637-642　2003年6月

    DOI： 10.1088/0957-4484/14/6/314 　

    ISSN：0957-4484

  282. Three dimensional polarization direction measurement using scanning nonlinear dielectric microscopy with rotating electric field 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY　42　S1169-S1173　2003年4月

    ISSN：0374-4884

  283. Tbit/inch2 Ferroelectric Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yasuo CHO, Yoshiomi HIRANAGA, Kenjiro FUJIMOTO, Atsushi ONOE, Kazuya TERABE, Kenji KITAMURA

    Transactions of the Material Research Society of Japan, vol.28-1　28　109-112　2003年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    &lt;RIEC&gt;&lt;DUMMY&gt;あ&lt;/DUMMY&gt;&lt;BIBID&gt;2003500372&lt;/BIBID&gt;&lt;/RIEC&gt;

  284. Tbit/inch(2) data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Fujimoto, Y Hiranaga, Y Wagatsuma, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    FERROELECTRICS　292　51-58　2003年

    DOI： 10.1080/00150190390222817 　

    ISSN：0015-0193

  285. Direct domain wall thickness measurement using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Matsuura, N Valanoor, R Ramesh

    FERROELECTRICS　292　171-180　2003年

    DOI： 10.1080/00150190390222961 　

    ISSN：0015-0193

  286. Basic study on high-density ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy

    Y Hiranaga, K Fujimoto, Y Wagatsuma, Y Cho, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    FERROELECTRIC THIN FILMS XI　748　261-266　2003年

    ISSN：0272-9172

  287. Measurement of three dimensional polarization direction in ferroelectric thin films using scanning nonlinear dielectric microscopy with rotating electric field

    H Odagawa, Y Cho

    FERROELECTRIC THIN FILMS XI　748　267-272　2003年

    ISSN：0272-9172

  288. Microscale to nanoscale ferroelectric domain and surface engineering of a near-stoichiometric LiNbO3 crystal 査読有り

    K Terabe, M Nakamura, S Takekawa, K Kitamura, S Higuchi, Y Gotoh, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　82　(3)　433-435　2003年1月

    DOI： 10.1063/1.1538351 　

    ISSN：0003-6951

  289. Tbit/inch(2) ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y. Cho, K Fujimoto, Y Hiranaga, Y Wagatsuma, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    APPLIED PHYSICS LETTERS　81　(23)　4401-4403　2002年12月

    DOI： 10.1063/1.1526916 　

    ISSN：0003-6951

  290. Ferroelectric nano-domain engineering 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    Proceedings of International Symposium on Nano-Intelligent Materials/ System (ISNIMS)　29-34　2002年10月

  291. Tbit/inch2 ferroelectric data storage using SNDM nano domain engineering system 査読有り

    Yasuo Cho, Kenjiro Fujimoto, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    Proceedings of Trend in Nanotechnology 2002 (TNT2002)　195-196　2002年9月

  292. Quantitative measurement of linear dielectric constant using scanning nonlinear dielectric microscopy with electro-conductive cantilever 査読有り

    K Ohara, Y Cho

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　41　(7B)　4961-4964　2002年7月

    DOI： 10.1143/JJAP.41.4961 　

    ISSN：0021-4922

  293. 非線形誘電率顕微鏡を用いたTbit/inch^2の記録密度を持つ強誘電体記録

    平永 良臣, 藤本 健二郎, 我妻 康夫, 長 康雄, 尾上 篤, 寺部 一弥, 北村 建二

    映像情報メディア学会技術報告　26　(38)　13-17　2002年6月14日

    出版者・発行元： 一般社団法人映像情報メディア学会

    DOI： 10.11485/itetr.26.38.0_13 　

    ISSN：1342-6893

    詳細を見る 詳細を閉じる

    走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)は,強誘電体の分極分布を高分解能に観測できる顕微鏡で,分解能は現在サブナノメートルオーダーに達している.私たちはこれまで,この顕微鏡を用いて強誘電体高密度記録に関する研究を行ってきた.強誘電体記録媒体として用いた材料は,定比組成及び一致溶融組成のLiTaO_3単結晶である.定比組成LiTaO_3 (SLT)における書き込み実験では,分極反転特性に関する詳細な実験を行い,その結果,半径6nmという非常に微小な分極反転領域を生成することに成功した.また,生成した分極反転領域の保持特性に関する実験も行った.一方,一致溶融組成LiTaO_3 (CLT)における書き込み実験では,1Tbit/inch^2を超える高密度記録を実現した.

  294. Development of scanning microwave microscope with a lumped-constant resonator probe for high-throughput characterization of combinatorial dielectric materials 査読有り

    N Okazaki, H Odagawa, Y Cho, T Nagamura, D Komiyama, T Koida, H Minami, P Ahmet, T Fukumura, Y Matsumoto, M Kawasaki, T Chikyow, H Koinuma, T Hasegawa

    APPLIED SURFACE SCIENCE　189　(3-4)　222-226　2002年4月

    DOI： 10.1016/S0169-4332(01)01013-3 　

    ISSN：0169-4332

  295. Measuring ferroelectric polarization component parallel to the surface by scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    APPLIED PHYSICS LETTERS　80　(12)　2159-2161　2002年3月

    DOI： 10.1063/1.1463707 　

    ISSN：0003-6951

  296. Observation of ferroelectric nano-domains using scanning nonlinear dielectric imaging and piezoresponse imaging 査読有り

    K Matsuura, Y Cho

    APPLIED SURFACE SCIENCE　188　(3-4)　421-424　2002年3月

    DOI： 10.1016/S0169-4332(01)00964-3 　

    ISSN：0169-4332

  297. Development of scanning microwave microscope for high-throughput characterization of combinatorial dielectric thin film 査読有り

    N Okazaki, P Ahmet, T Chikyow, H Odagawa, Y. Cho, T Fukumura, M Kawasaki, M Ohtani, H Koinuma, T Hasegawa

    COMBINATORIAL AND ARTIFICIAL INTELLIGENCE METHODS IN MATERIALS SCIENCE　700　119-124　2002年

    ISSN：0272-9172

  298. Scanning nonlinear dielectric microscopy - a high resolution tool for observing ferroelectric domains and nano-domain engineering 査読有り

    Y Cho

    INTEGRATED FERROELECTRICS　50　189-198　2002年

    DOI： 10.1080/10584580290172224 　

    ISSN：1058-4587

  299. Quantitative measurement of dielectric properties using scanning nonlinear dielectric microscopy with electro-conductive cantilever 査読有り

    Koya Ohara, Yasuo Cho

    Integrated Ferroelectrics　50　209-217　2002年

    DOI： 10.1080/10584580215512 　

    ISSN：1058-4587 1607-8489

  300. Nano-sized inverted domain formation in stoichiometric LiTaO3 single crystal using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Hiranaga, K Fujimoto, Y Cho, Y Wagatsuma, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    INTEGRATED FERROELECTRICS　49　203-209　2002年

    DOI： 10.1080/10584580290171919 　

    ISSN：1058-4587

  301. Study on surface layer formed on LiNbO3 single crystal using higher order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Ohara, H Odagawa

    FERROELECTRICS　269　207-212　2002年

    DOI： 10.1080/00150190211132 　

    ISSN：0015-0193

  302. Nanoscale measurement techniques of three-dimensional ferroelectric polarization using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    FERROELECTRICS　268　149-154　2002年

    DOI： 10.1080/00150190211092 　

    ISSN：0015-0193

    eISSN：1563-5112

  303. Study on the periodically poled LiNbO3 for high performance QPM devices using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, S Kazuta, H Itho

    FERROELECTRICS　273　2601-2606　2002年

    DOI： 10.1080/00150190211768 　

    ISSN：0015-0193

  304. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡 査読有り

    長 康雄

    応用物理　71　(1)　62-65　2002年1月

    出版者・発行元： 応用物理学会

    DOI： 10.11470/oubutsu1932.71.62 　

    ISSN：0369-8009

  305. Higher order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Ohara

    FERROELECTRIC THIN FILMS X　688　329-334　2002年

    ISSN：0272-9172

  306. Scanning electron-beam dielectric microscopy for the temperature coefficient distribution of dielectric materials 招待有り 査読有り

    Y. Cho

    COMBINATORIAL AND ARTIFICIAL INTELLIGENCE METHODS IN MATERIALS SCIENCE　700　103-112　2002年

    ISSN：0272-9172

  307. Tbit/inch(2) ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Fujimoto, Y Hiranaga, J Liu, Y Wagatuma, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    PROCEEDINGS OF THE 2002 2ND IEEE CONFERENCE ON NANOTECHNOLOGY　255-259　2002年

    DOI： 10.1109/NANO.2002.1032241 　

  308. Tbit/inch(2) ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Fujimoto, Y Hiranaga, J Liu, Y Wagatuma, A Onoe, K Terabe, K Kitamura

    PROCEEDINGS OF THE 2002 2ND IEEE CONFERENCE ON NANOTECHNOLOGY　255-259　2002年

  309. Scanning nonlinear dielectric microscopy -a high resolution tool for observing ferroelectric domains and nano-domain engineering 査読有り

    Yasuo Cho

    Integrated Ferroelectrics　50　189-198　2002年

    出版者・発行元： Taylor and Francis Inc.

    DOI： 10.1080/743817685 　

    ISSN：1607-8489 1058-4587

  310. Higher-order nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Yasuo Cho, Koya Ohara

    Applied Physics Letters　79　(23)　3842-3844　2001年12月3日

    DOI： 10.1063/1.1421645 　

    ISSN：0003-6951

  311. Photoluminescence quenching by optical bias in AlGaAs/GaAs single quantum wells

    Tomohiro Sakai, Takayuki Watanabe, Yasuo Cho, Kaori Matsuura, Hiroshi Funakubo

    Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers　40　(11)　6477-6480　2001年11月

    ISSN：0021-4922

  312. Scanning-nonlinear-dielectric-microscopy study on periodically poled LiNbO3 for a high-performance quasi-phase matching device 査読有り

    Yasuo Cho, Satoshi Kazuta, Hiromasa Ito

    Applied Physics Letters　79　(18)　2955-2957　2001年10月29日

    DOI： 10.1063/1.1414299 　

    ISSN：0003-6951

  313. Characterization of Ferroelectric Property of C-Axis- and Non-C-Axis-Oriented Epitaxially Grown Bi2Vo5.5 Thin Films 査読有り

    Tomohiro Sakai, Takayuki Watanabe, Yasuo Cho, Kaori Matsuura, Hiroshi Funakubo

    Japanese Journal of Applied Physics　40　(11)　6481-6486　2001年8月7日

    出版者・発行元： 社団法人応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.40.6481 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Epitaxial Bi2VO5.5 films with $c$-axis- and non-$c$-axis-orientations were grown by metalorganic chemical vapor deposition. (001)-, (114)- and (102)-oriented Bi2VO5.5 films were epitaxialy grown on (100), (110) and (111)SrTiO3 substrates, respectively. Electrical properties of the (001)- and (114)-oriented films on $(100)\text{SrRuO}_{3}\parallel (100)\text{SrTiO}_{3}$ and $(110)\text{SrRuO}_{3}\parallel (110)\text{SrTiO}_{3}$ substrates were compared. The dielectric constant ($\varepsilon_{\text{r } }$) of the (001)-oriented film was smaller than that of the (114)-oriented one, suggesting that $\varepsilon_{\text{r } }$ along the $c$-axis is smaller than that along other axes. Leakage current density of the (001)-oriented film was smaller than that of the (114)-oriented one. These results were in good agreement with those of the crystallographically equivalent oriented films of SrBi2Ta2O9 and Bi4Ti3O12. Ferroelectricity and domain structure were observed for both films by Polarization-Electric field measurements and scanning nonlinear dielectric microscopy, respectively. However, the large difference of remanent polarization depending on the film orientation observed for SrBi2Ta2O9 and Bi4Ti3O12 films was not observed for Bi2VO5.5 films.

  314. Fundamental Study of Surface Layer on Ferroelectrics by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Koya Ohara, Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　40　(9B)　5833-5836　2001年7月6日

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.40.5833 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Distribution and growth of very thin surface layers on ferroelectric materials are investigated by scanning nonlinear dielectric microscopy. This microscopy technique involves the measurement of higher order nonlinear dielectric constants, with depth resolution down to one unit cell order. By changing the order of nonlinearity of the dielectric response, we obtain information about the surface layer on lead zirconate titanate (PZT) thin film and also observe the growth process of a surface paraelectric layer on LiNbO<FONT SIZE="-1">3</FONT> single crystal.

  315. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体記録に関する基礎的検討

    長 康雄, 松浦 かおり, 数田 聡, 北村 健二

    映像情報メディア学会技術報告　25　(36)　49-56　2001年6月7日

    出版者・発行元： 一般社団法人映像情報メディア学会

    DOI： 10.11485/itetr.25.36.0_49 　

    ISSN：1342-6893

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電体の分極分布を純粋に電気信号のみで観測する方法として, 著者らはこれまでに走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)を開発しその分解能は現在ではサブナノメータにまで達している.また本顕微鏡プローブは強誘電体中へナノスケールドメインを純電気的に高速に書き込み読みとりするピックアップに簡単に改造可能という比類ない特長も持っいてる.本報告では, まず, 本顕微鏡の動作原理を概説し, 本顕微鏡が強誘電分極ドメインの観測に有効であることのみならず, 超高密度情報記録装置としても大きな可能性を持っていることを示すために, SNDMを用いてPZT薄膜中に分極ドットの書き込み読み取り実験を行い, 25nmφ程度の微小ドメインドットの形成に成功した結果及びストイキオメトリックLiTaO3単結晶へのナノドメインエンジニアリングを行い印加電圧及び電圧印加時間とドメインドットの大きさをそれぞれ調べた結果について報告する.

  316. Higher order nonlinear dielectric imaging using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, K Ohara

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　40　(6B)　4349-4353　2001年6月

    DOI： 10.1143/JJAP.40.4349 　

    ISSN：0021-4922

  317. “Fundamental Study on Nano Domain Engineering Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Kaori MATSUURA, Yasuo CHO, Hiroyuki ODAGAWA

    Japanese Journal of Applied Physics　40　(6B)　4354-4356　2001年6月

    DOI： 10.1143/JJAP.40.4354 　

    ISSN：0021-4922

  318. Measurement of the ferroelectric domain distributions using nonlinear dielectric response and piezoelectric response 査読有り

    K Matsuura, Y. Cho, H Odagawa

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　40　(5B)　3534-3537　2001年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.40.3534 　

    ISSN：0021-4922

  319. New functions of scanning nonlinear dielectric microscopy - Higher-order measurement and vertical resolution 査読有り

    Y. Cho, K Ohara, A Koike, H Odagawa

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　40　(5B)　3544-3548　2001年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.40.3544 　

    ISSN：0021-4922

  320. Single crystal growth of KNbO3 and application to surface acoustic wave devices 査読有り

    K Yamanouchi, Y Wagatsuma, H Odagawa, Y Cho

    JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY　21　(15)　2791-2795　2001年

    ISSN：0955-2219

    eISSN：1873-619X

  321. Simultaneous observation of ferroelectric domains and surface morphology using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    PROCEEDINGS OF THE 2001 12TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON APPLICATIONS OF FERROELECTRICS, VOLS I AND II　987-990　2001年

  322. Theoretical analysis of SAW propagation characteristics under the strained medium and applications for high temperature stable high coupling SAW substrates 査読有り

    K Yamanouchi, K Kotani, H Odagawa, Y Cho

    PROCEEDINGS OF THE 2001 12TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON APPLICATIONS OF FERROELECTRICS, VOLS I AND II　471-474　2001年

  323. Higher order nonlinear dielectric imaging 査読有り

    Y. Cho, K Ohara

    INTEGRATED FERROELECTRICS　38　(1-4)　657-666　2001年

    DOI： 10.1080/10584580108016913 　

    ISSN：1058-4587

  324. Small inverted domain formation in stoichiometric LiTaO3 single crystal using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    S Kazuta, Y Cho, H Odagawa, K Kitamura

    INTEGRATED FERROELECTRICS　38　(1-4)　693-701　2001年

    DOI： 10.1080/10584580108016917 　

    ISSN：1058-4587

  325. Observation of artificial nano-domains in ferroelectric thin films using nonlinear dielectric imaging and piezo imaging 査読有り

    K Matsuura, Y Cho

    INTEGRATED FERROELECTRICS　38　(1-4)　703-711　2001年

    DOI： 10.1080/10584580108016918 　

    ISSN：1058-4587

  326. NANOMATER SCALE DOMAIN MEASUREMENT ON FERROELECTRIC THIN FILMS USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 査読有り

    H.Odagawa, K. Matsuura, Y.Cho

    Material Research Society Symposium Proceedings　655　CC7.4.1-CC7.4.6　2001年

  327. Image production mechanism for scanning nonlinear dielectric microscopy with super high resolution and its application to quantitative evaluation of linear and nonlinear dielectric properties of ferroelectric materials 査読有り

    Y Cho, K Ohara, S Kazuta, H Odagawa

    INTEGRATED FERROELECTRICS　32　(1-4)　825-834　2001年

    ISSN：1058-4587

  328. Observation of nano-size ferroelectric domains and crystal polarity using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    H Odagawa, Y Cho, S Kazuta

    INTEGRATED FERROELECTRICS　32　(1-4)　917-926　2001年

    ISSN：1058-4587

  329. Simultaneous observation of nanometer size ferroelectric domains and surface morphology using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    FERROELECTRICS　251　(1-4)　29-36　2001年

    ISSN：0015-0193

  330. Scanning nonlinear dielectric microscopy for investigation of nano-sized ferroelectric domains and local crystal anisotropy 査読有り

    Y Cho

    FERROELECTRICS　253　(1-4)　691-700　2001年

    ISSN：0015-0193

  331. Scanning electron-beam dielectric microscopy for the temperature coefficient distribution of dielectric ceramics 査読有り

    Y Cho, O Jintsugawa, A Satoh, H Odagawa, K Yamanouchi

    ANALYTICAL SCIENCES　17　S63-S66　2001年

    DOI： 10.14891/analscisp.17icpp.0.s63.0 　

    ISSN：0910-6340

  332. Scanning nonlinear dielectric microscopy with nanometer resolution 査読有り

    Y Cho, S Kazuta, K Matsuura, H Odagawa

    JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY　21　(10-11)　2131-2134　2001年

    DOI： 10.1016/S0955-2219(01)00187-X 　

    ISSN：0955-2219

  333. Theory of scanning nonlinear dielectric microscopy and application to quantitative evaluation 査読有り

    Y Cho, K Ohara, S Kazuta, H Odagawa

    JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY　21　(10-11)　2135-2139　2001年

    DOI： 10.1016/S0955-2219(01)00188-1 　

    ISSN：0955-2219

  334. Determination of crystal polarities of piezoelectric thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    S Kazuta, Y. Cho, H Odagawa

    JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY　21　(10-11)　1581-1584　2001年

    DOI： 10.1016/S0955-2219(01)00069-3 　

    ISSN：0955-2219

  335. Microscopic observation of the temperature coefficient distribution of microwave materials using scanning electron-beam dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, A Satoh, H Odagawa

    JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY　21　(15)　2735-2738　2001年

    DOI： 10.1016/S0955-2219(01)00354-5 　

    ISSN：0955-2219

  336. Nano domain engineering using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Y. Cho, K Matsuura, S Kazuta, H Odagawa, K Terabe, K Kitamura

    PROCEEDINGS OF THE 2001 1ST IEEE CONFERENCE ON NANOTECHNOLOGY　352-357　2001年

    DOI： 10.1109/NANO.2001.966447 　

  337. Simultaneous observation of nano-sized ferroelectric domains and surface morphology using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    SURFACE SCIENCE　463　(1)　L621-L625　2000年8月

    DOI： 10.1016/S0039-6028(00)00636-1 　

    ISSN：0039-6028

  338. SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY WITH NANOMETER RESOLUTION 査読有り

    Y. Cho, S. Kazuta, K. Matsuura

    Proceedings of the 2000 12th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　279-282　2000年8月

  339. DETERMINATION OF CRYSTAL POLARITIES OF PIEZOELECTRIC THIN FILMS USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 査読有り

    S. Kazuta, Y. Cho, H. Odagawa

    Proceedings of the 200012th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　983-986　2000年8月

  340. Simultaneous observation of nano-sized ferroelectric domains and surface morphology using scanning nonlinear dielectric microscopy 招待有り 査読有り

    H Odagawa, Y Cho

    SURFACE SCIENCE　463　(1)　L621-L625　2000年8月

    ISSN：0039-6028

  341. A THEORY FOR THE IMAGE PRODUCTION MECHANISM OF SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY AND ITS APPLICATION TO THE QUANTITATIVE EVALUATION OF LINEAR AND NONLINEAR DIELECTRIC PROPERTIES OF FERROELECTRIC AND PIEZOELECTRIC MATERIALS 査読有り

    Y. Cho, K. Ohara, S. Kazuta, H. Odagawa

    Proceedings of the 2000 12th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　991-993　2000年8月

  342. Theoretical and Experimental Study on Nanoscale Ferroelectric Domain Measurement Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Hiroyuki Odagawa, Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　39　(9B)　5719-5722　2000年6月7日

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.39.5719 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    We describe theoretical and experimental studies for nano-scale ferroelectric domain measurements using scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM). We calculate one-dimensional images of a 180<FONT SIZE="-1">º</FONT> c-c domain boundary and show that SNDM has an atomic-scale resolution theoretically. Experimental results show that we measure the c-c domain on the lead zirconate titanate (PZT) thin film with the width of 1.5 nm and that the resolution of the microscope is less than 0.5 nm.

  343. Scanning electron-beam dielectric microscopy for the investigation of the temperature coefficient distribution of dielectric ceramics 査読有り

    Y Cho, O Jintsugawa, K Yamanouchi

    JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY　83　(5)　1299-1301　2000年5月

    ISSN：0002-7820

  344. Simultaneous Observation of Ferroelectric Domain Patterns by ScanningNonlinear Dielectric Microscope and Surface Morphology by Atomic Force Microscope 査読有り

    Hiroyuki Odagawa, Yasuo Cho, Hiroshi Funakubo, Kuniharu Nagashima

    Japanese Journal of Applied Physics　39　(6B)　3808-3810　2000年3月16日

    DOI： 10.1143/JJAP.39.3808 　

  345. Determination of Electrostrictive and Third-Order Dielectric Constants of Piezoelectric Ceramics 査読有り

    Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　39　(6A)　3524-3527　2000年3月6日

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.39.3524 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    In this study, all six electrostrictive constants and all two third-order dielectric constants of lead zirconate titanate (PZT) ceramic are measured. To measure electrostrictive constants, new dynamic measuring methods to obtain capacitance variation with alternating stress and alternating electric field were used. These new methods enable us to obtain the electrostrictive constants and the third-order dielectric constants in the state of fixed polarization without an aging effect. These measured constants, defined in the d-form basic piezoelectric equation in which the electric field and stress are chosen to be independent field variables, are transformed into the constants defined in the g-form where electric displacement and stress are independent field variables for the reader's convenience.

  346. Theoretical Analysis of Surface Acoustic Wave Propagation Characteristics under Strained Media and Application for High Temperature Stable High Coupling Acoustic Wave Substrates 査読有り

    Kazuhiko Yamanouchi, Kenji Kotani, Hiroyuki Odagawa, Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　39　(5B)　3032-3035　2000年2月10日

    出版者・発行元： 社団法人応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.39.3032 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Among the important properties required for surface acoustic waves (SAW) substrates are a large electromechanical coupling coefficient ($k^{2}$), small temperature coefficient of frequency (TCF) and low propagation loss. The LiNbO3 and LiTaO3 have good properties as the SAW substrates with a large size. Unfortunately, these possess the defect of having large values of TCF@. In this paper, SAW-bonded composite substrates with a large $k^{2}$, small TCF, low propagation loss and no dispersion using conventional bonders are investigated theoretically and experimentally. The propagation characteristics of SAWs under strained piezoelectric crystals using the higher-order elasticity theory have been analyzed. The theoretical results show zero TCF on LiNbO3/SiO2 substrates. The experimental results for LiNbO3/glass substrates revealed a TCF of [${-}19$ ppm/°C]. The propagation properties were almost the same as those of the single crystal.

  347. Determination of the Polarities of ZnO Thin Films on Polar and Nonpolar Substrates Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Satoshi Kazuta, Yasuo Cho, Hiroyuki Odagawa, Michio Kadota

    Japanese Journal of Applied Physics　39　(5B)　3121-3124　2000年2月3日

    DOI： 10.1143/JJAP.39.3121 　

  348. Quantitative Measurement of Linear and Nonlinear Dielectric Characteristic Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 査読有り

    Yasuo Cho, Satoshi Kazuta, Koya Ohara, Hiroyuki Odagawa

    Japanese Journal of Applied Physics　39　(5B)　3086-3089　2000年1月20日

    DOI： 10.1143/JJAP.39.3086 　

  349. Quantitative study on the nonlinear piezoelectric effect in KNbO3 single crystals for a highly efficient surface acoustic wave elastic convolver 査読有り

    Yasuo Cho, Noriyuki Oota, Hiroyuki Odagawa, Kazuhiko Yamanouchi

    Journal of Applied Physics　87　(7)　3457-3461　2000年

    出版者・発行元： American Institute of Physics Inc.

    DOI： 10.1063/1.372366 　

    ISSN：0021-8979

  350. Scanning nonlinear dielectric microscopy with nanometer resolution 査読有り

    Yasuo Cho, Satoshi Kazuta, Kaori Matsuura

    Applied Physics Letters　75　(18)　2833-2835　1999年11月1日

    出版者・発行元： American Institute of Physics Inc.

    DOI： 10.1063/1.125165 　

    ISSN：0003-6951

  351. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Contact Sensing Mechanism for Observation of Nano-Meter Sized Ferroelectric Domains 査読有り

    Yasuo Cho, Satoshi Kazuta, Kaori Matsuura

    Japanese Journal of Applied Physics　38　(9B)　5689-5694　1999年7月

    出版者・発行元： 社団法人応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.38.5689 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    A new scanning nonlinear dielectric microscope with very highresolution for the observation of ferroelectric polarization was developed.This microscope has a newly developed contact sensing mechanism fordetecting the exact contact point of a probe needle with respect to thesurface of a specimen.This contact sensing mechanism enables us to use a probe needle with a verythin pointed end.Using the new microscope, domains in BaTiO3 single crystal and inPbTiO3 thin film were observed.By measuring the c-c domain wall of BaTiO3, the microscope wasconfirmed to have nanometer-order resolution.

  352. Determination of the temperature coefficient distribution of dielectric ceramics using scanning photothermal dielectric microscopy 査読有り

    Y Cho, T Kasahara

    JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY　82　(7)　1720-1724　1999年7月

    ISSN：0002-7820

  353. Observation of Ferroelectric Polarization in KN603 Thin Films and Surface Acoustic Wave Properties 査読有り

    Hiroyuki Odagawa, Kenji Kotani, Yasuo Cho, Kazuhiko Yamanouchi

    Japanese Journal of Applied Physics　38　(5B)　3275-3278　1999年2月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.38.3275 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    In this paper, the properties of KNbO3 films, which are deposited on SrTiO3 (STO) substrate using the metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) method, are investigated for surface acoustic wave (SAW) applications. As-grown KNbO3 films on STO substrates are sufficiently piezoelectric. The experimental results show an electromechanical coupling coefficient (k2) of 0.021 at the center frequency of 960 MHz and λ/h=0.24 (λ: SAW wavelength, h: KNbO3 film thickness). These values show fairly good agreement with theoretical ones calculated by using the piezoelectric constants of single crystals. The ferroelectric polarization distribution of KNbO3 films is also measured using a scanning nonlinear dielectric microscope. The result shows that the polarizations of the as-grown film are in the same positive direction along the surface normal.

  354. Observation of Ultrathin Single-Domain Layers Formed on LiTaO3 and LiNbO3 Surfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscope with Submicron Resolutin 査読有り

    Yasuo Cho, Kaori Matsuura, Satoshi Kazuta, Hiroyuki Odagawa, Kazuhiko Yamanouchi

    Japanese Journal of Applied Physics　38　(5B)　3279-3282　1999年2月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.38.3279 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    The formation of very thin domain layers on the surface of multidomain lithium tantalate by heat treatment is observed by scanning nonlinear dielectric microscopy. A similar phenomenon of forming a very thin single-domain layer was also observed on the surface of periodically polarized lithium niobate single crystal. By measuring the thickness of the single-domain layers, the depth sensitivity of the scanning nonlinear dielectric microscope with submicron resolution was estimated.

  355. Theoretical analysis of SAW propagation characteristics under the strained medium and applications for high temperature stable high coupling SAW substrates 査読有り

    K Yamanouchi, K Kotani, H Odagawa, Y Cho

    1999 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　239-242　1999年

    ISSN：1051-0117

  356. Scanning nonlinear dielectric microscope for investigation of ferroelectric domains 査読有り

    Y Cho, K Yamanouchi

    FERROELECTRICS　222　(1-4)　189-196　1999年

    ISSN：0015-0193

  357. Temperature coefficient image of dielectric materials using scanning photothermal dielectric microscope 査読有り

    Y Cho, K Yamanouchi

    FERROELECTRICS　223　(1-4)　337-+　1999年

    ISSN：0015-0193

  358. Measurement of Surface Impedance of Bi(Pb)-Sr-Ca-Cu-O Film under a DC Magnetic Field 査読有り

    Haruichi Kanaya, Yoshihiro Sakimoto, Yasuo Cho, Ikuo Awai

    Japanese Journal of Applied Physics　37　(2)　500-501　1998年11月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.37.500 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    The temperature and DC magnetic field dependence of surface impedance (Zs) of high temperature superconducting Bi(Pb)-Sr-Ca-Cu-O (BPSCCO) films on MgO substrate were measured at microwave frequency. At a low temperature, surface resistance (Rs) increases rapidly in the low DC magnetic field range and gradually in the high-field range. However, the surface reactance (Xs) also increases rapidly in low fields but hardly changes in high fields. At high temperature, Rs shows only a monotonic increase vs the field but Xs hardly changes.

  359. New Piezoelectric KNbO3 Films for Saw Applications 査読有り

    K.Yamanouchi, H. Odagawa, T.Kojima, Y.Cho

    Proceedings of the Eleventh IEEE International Symposium on Application of Ferroelectrics　385-388　1998年8月

  360. Scanning Nonliear Dielectric Microscope with Submicron Resolution 査読有り

    Yasuo Cho, Kaori Matsuura, K. Yamanouchi

    Proceedings of the Eleventh IEEE International Symposium on Application of Ferroelectrics　435-438　1998年8月

  361. Fundamental Studies on Scanning Electron-Beam Dielectric Microscopy 査読有り

    Yasuo Cho, Kazuhiko Yamanouchi

    Japanese Journal of Applied Physics　37　(9B)　5349-5352　1998年6月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.37.5349 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Fundamental studies on scanning electron-beam dielectric microscopy are elucidated. This microscopy is used for determining the temperature coefficient distribution of dielectric materials using an electron-beam as a heat source instead of a light source of a photothermal dielectric microscope. This microscopy, with the abilities of in situ observations of SEM images and material compositions, has an intrinsic resolution better than that of photothermal dielectric microscopy. To demonstrate the usefulness of this technique, the two-dimensional image of a two-phase composite ceramic composed of TiO2 and Bi2Ti4O11 is measured.

  362. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope for Investigation of Ferroelectric Domains 招待有り 査読有り

    Yasuo Cho, Kazuhiko Yamanouchi

    Proceedings of the Fifth International Symposium on Ferroic Domains and Mesoscopic Structures　447-454　1998年4月

  363. 走査型非線形誘電率顕微鏡 査読有り

    長 康雄

    応用物理　67　(3)　327-331　1998年3月

    DOI： 10.11470/oubutsu1932.67.327 　

  364. "Scanning Nonlinear Dieletric Microscope with Submicron Resolution" 査読有り

    Yasuo Cho, Kaori Matsuura, Jun-ichi Kushibiki

    Japanese Journal of Applied Physics　37　(5B)　3132-3133　1998年2月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.37.3132 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    A new probe using a tungsten needle for the scanning nonlinear dielectric microscope has been developed. This probe has a submicron resolution. This probe combined with a submicron stage is used to observe the distribution of domains in a lithium tantalate substrate with a proton exchanged inversion layer and also in polarized and depolarized lead zirconate titanate ceramics.

  365. "A Surface Acoustic Wave Elastic Convolver using a KNbO3 Single Crystal Substrate" 査読有り

    Kazuhiko Yamanouchi, Hiroyuki Odagawa, Kenyuu Morozumi, Yasuo Cho

    Japanese Journal of Applied Physics　37　(5B)　2933-2935　1998年2月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.37.2933 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Elastic convolvers are very important in signal processing devices of spread spectrum communication (SSC) systems. Highly efficient convolvers are required in the application of the spread spectrum and next stage communication systems. A high value of the coupling coefficient is very important for wideband and high efficiency surface acoustic wave (SAW) devices, such as SAW convolvers. Potassium niobate (KNbO3) has large piezoelectric constants and a very large electromechanical coupling coefficient (K2) of 0.53 for surface acoustic waves, which is about 10 times higher than that of LiNbO3. Therefore, highly efficient elastic SAW convolvers using KNbO3 substrates are expected in the future. In this paper, the use of the rotated 60° Y-cut, X-propagating KNbO3 substrates in convolvers is demonstrated. The experimental results show that the efficiency of the convolver using 60° Y-X KNbO3 is 15 dB higher than that of the convolver using Y-Z LiNbO3.

  366. New piezoelectric KNbO3 films for SAW device applications 査読有り

    K Yamanouchi, H Odagawa, T Kojima, Y Cho

    1998 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM - PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　203-206　1998年

    ISSN：1051-0117

  367. Quantitative study on the nonlinear piezoelectric effect of KNbO3 single crystal for super highly efficient SAW elastic convolver 査読有り

    Y Cho, N Oota, K Morozumi, H Odagawa, K Yamanouchi

    1998 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM - PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　289-292　1998年

    ISSN：1051-0117

  368. Microwave characteristics of YBaCuO coplanar waveguide resonators fabricated by the sol-gel process on polycrystalline MgO 査読有り

    H Kanaya, T Kaneyuki, H Senoh, Y Cho, Awai, I

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　36　(10)　6311-6315　1997年10月

    DOI： 10.1143/JJAP.36.6311 　

    ISSN：0021-4922

  369. Temperature Coefficient Image of Dielectvic Material 査読有り

    Yasuo Cho, Teruaki Kasahara

    Japanese Journal of Applied Physics　36　(9B)　6001-6003　1997年7月

    出版者・発行元： 社団法人応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.36.6001 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Two dimensional images of the distribution of the relative values of the temperature coefficient of the dielectric constant of a two phase composite ceramic composed of TiO2 and Bi2Ti4O11 are observed using a photothermal dielectric microscope. The images clearly show that each grain of TiO2 has a negative temperature coefficient and each of Bi2Ti4O11 a positive one, and that the macroscopic averaged temperature coefficient of the ceramic is relatively small due to the cancellation of the coefficients with opposite signs.

  370. Observation of Photothermal Dielectric Signal for Powder 査読有り

    Yasuo Cho, Tomoyuki Kumamaru, Teruaki Kasahara

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　36　(5B)　3303-3304　1997年3月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.36.3303 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    A new photothermal dielectric (PTD) technique for measuring the thermal characteristics of powder is proposed. Using this technique, the PTD signal from a PZT powder is measured. The data shows that the average grain size of the powder can be estimated by using this PTD technique.

  371. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope Using a Lumped Constant Resonator Probe and Its Application to Investigation of Ferroelectric Polarization Distributions 査読有り

    Yasuo Cho, Shigeyuki Atsumi, Kiyoshi Nakamura

    Japanese Journal of Applied Physics　36　(5B)　3152-3156　1997年2月

    出版者・発行元： 公益社団法人 応用物理学会

    DOI： 10.1143/JJAP.36.3152 　

    ISSN：0021-4922

    詳細を見る 詳細を閉じる

    A new probe using a lumped constant resonator for the scanning nonlinear dielectric microscope has been developed. This probe has sufficient resolution to observe the area distribution of ferroelectric polarization. Using this probe, the distributions of the domains in the thin film of a copolymer of vinylidene fluoride and trifluoroethylene and in a lithium niobate substrate with a titanium-diffused inversion layer are observed.

  372. Microwave measurement of coplanar-type resonator fabricated with YBCO film 査読有り

    Haruichi Kanaya, Tomohiko Kaneyuki, Hidehiro Senoh, Yasuo Cho, Ikuo Awai

    Applied Superconductivity　5　(1-6)　193-199　1997年

    出版者・発行元： Elsevier Ltd

    DOI： 10.1016/S0964-1807(98)00025-8 　

    ISSN：0964-1807

  373. Observation of ferroelectric polarization in the noncontact mode of a scanning nonlinear dielectric microscope 査読有り

    Y. Cho, A Kirihara, T Saeki

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　36　(1A)　360-363　1997年1月

    DOI： 10.1143/JJAP.36.360 　

    ISSN：0021-4922

  374. High efficiency elastic convolver using KNbO3 substrate 査読有り

    K Yamanouchi, H Odagawa, K Morozumi, Y Cho

    1997 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1 & 2　335-338　1997年

  375. New photothermal technique using photothermal dielectric effect 査読有り

    Y. Cho, T Kumamaru

    PROGRESS IN NATURAL SCIENCE　6　S647-S652　1996年12月

    ISSN：1002-0071

  376. Photothermal dielectric effect with liquid 査読有り

    Y Cho, T Kumamaru

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　35　(5B)　2907-2911　1996年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.35.2907 　

    ISSN：0021-4922

  377. New photothermal technique using photothermal dielectric effect 査読有り

    Y Cho, T Kumamaru

    9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON PHOTOACOUSTIC AND PHOTOTHERMAL PHENOMENA, CONFERENCE DIGEST　6　544-545　1996年

  378. Photothermal dielectric spectroscopic microscope 査読有り

    Y Cho, T Kumamaru

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　67　(1)　19-28　1996年1月

    DOI： 10.1063/1.1146544 　

    ISSN：0034-6748

  379. Scanning nonlinear dielectric microscope 査読有り

    Yasuo Cho, Akio Kirihara, Takahiro Saeki

    Review of Scientific Instruments　67　(6)　2297-2303　1996年

    出版者・発行元： American Institute of Physics Inc.

    DOI： 10.1063/1.1146936 　

    ISSN：0034-6748

  380. Scanning nonlinear dielectric microscope for investigation of polarization distributions 査読有り

    Y Cho, A Kirihara

    ISAF '96 - PROCEEDINGS OF THE TENTH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON APPLICATIONS OF FERROELECTRICS, VOLS 1 AND 2　1　355-358　1996年

  381. 非線形誘電率分布測定用顕微鏡 査読有り

    長 康雄, 桐原 昭雄, 佐伯 考央

    電子情報通信学会論文誌C　78C-1　(11)　593-598　1995年11月

  382. 微細加工プロセス技術とGHz帯弾性表面波変換器 査読有り

    目黒 敏靖, 長 康雄, 山之内 和彦

    日本音響学会誌　51　(10)　769-773　1995年10月

    出版者・発行元： 一般社団法人日本音響学会

    DOI： 10.20697/jasj.51.10_769 　

    ISSN：0369-4232

    詳細を見る 詳細を閉じる

    近年、移動体通信の周波数帯が、1GHz帯から、次の世代では2〜3GHzに移行しつつある。これらのGHz帯での低損失、広帯域幅の変換器とフィルタが、信号処理と電子デバイスに強く要求されている。特に、光通信のタイミング注出用のフィルタでは、10GHz帯のフィルタが要求されている。これらの要求を満たすGHz帯弾性表面波デバイスの作製に必要な超微細加工プロセス技術が種々提案されているが、その中で、リフトオフ技術はすだれ状電極弾性表面波変換器に対して最良の方法である。本論文では、電子ビーム直接露光とリフトオフ法を用いた微細加工技術と0.1μm電極幅のすだれ状電極の作製に成功し、10GHz帯で24dBの挿入損失のフィルタを得た結果について述べる。

  383. THEORETICAL AND EXPERIMENTAL STUDIES OF PHOTOTHERMAL DIELECTRIC SPECTROSCOPIC MICROSCOPE 査読有り

    Y CHO, T KUMAMARU

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　34　(5B)　2895-2899　1995年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.34.2895 　

    ISSN：0021-4922

  384. DYNAMIC MEASUREMENT OF CAPACITANCE VARIATION OF PIEZOELECTRIC CERAMICS WITH STRESS 査読有り

    Y. Cho, Y MANDAI

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　34　(3)　1591-1594　1995年3月

    DOI： 10.1143/JJAP.34.1591 　

    ISSN：0021-4922

  385. Development of nonlinear dielectric microscope and its application to measurement of ferroelectric polarization 招待有り 査読有り

    Y Cho, A Kirihara, T Saeki

    1995 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　529-534　1995年

    ISSN：1051-0117

  386. CONTROL OF NONLINEAR PIEZOELECTRICITY AND ITS APPLICATION TO EFFICIENCY IMPROVEMENT OF SURFACE-ACOUSTIC-WAVE ELASTIC CONVOLVER 査読有り

    Y CHO, S HAITSUKA, M KADOTA

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　33　(5B)　3031-3034　1994年5月

    DOI： 10.1143/JJAP.33.3031 　

    ISSN：0021-4922

  387. 20DB EFFICIENCY INCREMENT OF SURFACE-ACOUSTIC-WAVE ELASTIC CONVOLVER USING ACTIVELY CONTROLLED NONLINEAR PIEZOELECTRIC EFFECT 査読有り

    Y CHO, S HAITSUKA, M KADOTA

    1994 IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM DIGEST, VOLS 1-3　1217-1220　1994年

    ISSN：0149-645X

  388. ACTIVE CONTROL OF NONLINEAR PIEZOELECTRIC EFFECT AND ITS APPLICATION TO 20-DB EFFICIENCY IMPROVEMENT OF SAW ELASTIC CONVOLVER 査読有り

    Y. Cho, S HAITSUKA, M KADOTA

    1994 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1-3　109-113　1994年

    ISSN：1051-0117

  389. EXPERIMENTAL DEMONSTRATION OF THE REDUCTION OF THE NUMBER OF INDEPENDENT ELECTROSTRICTIVE CONSTANTS OF PIEZOELECTRIC CERAMICS 査読有り

    Y CHO, Y MANDAI

    1994 IEEE ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1-3　959-963　1994年

    ISSN：1051-0117

  390. SURFACE-ACOUSTIC-WAVE SOLITON PROPAGATING ON THE METALLIC GRATING WAVE-GUIDE 査読有り

    Y CHO, N MIYAGAWA

    APPLIED PHYSICS LETTERS　63　(9)　1188-1190　1993年8月

    ISSN：0003-6951

  391. DYNAMIC METHOD FOR MEASURING THE VELOCITY VARIATION OF ULTRASOUND IN PIEZOELECTRIC CERAMICS WITH STRESS 査読有り

    Y CHO, F MATSUNO

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS　32　(8A)　L1092-L1094　1993年8月

    ISSN：0021-4922

  392. EFFICIENCY ENLARGEMENT OF SURFACE-ACOUSTIC-WAVE ELASTIC CONVOLVER BY EMPHASIZING NONLINEAR PIEZOELECTRIC EFFECT 査読有り

    Y CHO, S HAITSUKA, M KADOTA

    ELECTRONICS LETTERS　29　(12)　1117-1119　1993年6月

    DOI： 10.1049/el:19930745 　

    ISSN：0013-5194

  393. DYNAMIC METHOD FOR MEASURING THE VELOCITY VARIATION OF ULTRASOUND IN PIEZOELECTRIC CERAMICS WITH AN ALTERNATING ELECTRIC-FIELD 査読有り

    Y CHO, F MATSUNO

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　64　(5)　1244-1247　1993年5月

    DOI： 10.1063/1.1144124 　

    ISSN：0034-6748

  394. NONLINEAR EQUIVALENT-CIRCUIT MODEL ANALYSIS OF ACOUSTIC DEVICES AND PROPAGATION OF SURFACE-ACOUSTIC-WAVE 査読有り

    Y CHO, J WAKITA, N MIYAGAWA

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　32　(5B)　2261-2264　1993年5月

    ISSN：0021-4922

  395. INFLUENCE OF RARE-EARTH IONS ON BAO-TIO2-RARE EARTH OXIDE CERAMICS FOR MICROWAVE APPLICATIONS 査読有り

    K FUKUDA, FUJII, I, R KITOH, Y CHO, AWAI, I

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　32　(4)　1712-1715　1993年4月

    DOI： 10.1143/JJAP.32.1712 　

    ISSN：0021-4922

  396. 弾性波素子の非線形等価回路 査読有り

    長 康雄, 脇田淳司

    電子情報通信学会論文誌A　J76-A　(2)　108-117　1993年2月

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN：0913-5707

    詳細を見る 詳細を閉じる

    弾性波素子の線形等価回路はメイソンの等価回路が有名であり,それを弾性表面波用に拡張したスミスの等価回路と共に弾性波素子の物理的考察に非常に有効な役割を果たしている.非線形問題においてもこのような等価回路解析の手法が確立されれば,だれにでも比較的簡単に非線形問題の正確な解が得られるようになると考えられる.本論文では,弾性波素子の非線形問題の等価回路による解析法の定式化を行う.まず最も基本となる板の縦効果厚み振動子と棒の横効果伸び振動子のメイソンの等価回路を非線形領域までに拡張する.次に,この等価回路をLiNbO_3Z-cut厚み振動子の解析に用い,共振時の高調波発生の様子を明らかにする.最後に棒の横効果伸び振動子の非線形等価回路をPZT圧電セラミックス振動子の非線形定数決定に応用し.等価回路用非線形定数を明らかにする.

  397. PZTセラミックスの非線形定数の動的測定 査読有り

    長 康雄, 松野文彦

    電子情報通信学会論文誌A　J76-A　(2)　153-160　1993年2月

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN：0913-5707

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本論文では,弾性波デバイスに用いられる圧電材料の断熱的非線形定数を決定するため,動的測定法の開発を行っている.本動的測定法は交番的に変動する物理量に対応して周波数が変動するFM波を取り扱っている.そして,これを用いて,PZTセラミックスの印加交流電界による音速変化と誘電率変化および印加交番応力による誘電率変化の測定を行う.この測定法では,印加場に対する物理量の変化の次数を分離して測定することが可能であり,その係数よりいくつかの高次(3次および4次)の定数を決定する.また本測定法は,温度変化による音速変化や誘電率変化と非線形効果によるそれとを明確に区別して測定できる特徴をもっているので,この特徴を利用して,温度を変化させたときの印加交流電界による音速変化と誘電率変化の測定を行い,PZTセラミックスのいくつかの線形定数と3次および4次の非線形定数の温度特性を明らかにする.

  398. Relations between the constants of electrostrictive materials and some examples of their application to piezoelectric ceramics 査読有り

    Yasuo Cho, Fumihiko Matsuno

    Electronics and Communications in Japan (Part III: Fundamental Electronic Science)　76　(1)　20-30　1993年

    DOI： 10.1002/ecjc.4430760103 　

    ISSN：1520-6440 1042-0967

  399. Nonlinear equivalent circuits of acoustic devices 査読有り

    Yasuo Cho, Junji Wakita

    Electronics and Communications in Japan (Part III: Fundamental Electronic Science)　76　(10)　12-23　1993年

    DOI： 10.1002/ecjc.4430761002 　

    ISSN：1520-6440 1042-0967

  400. Dynamic measurement of nonlinear constants of PZT ceramics 査読有り

    Yasuo Cho, Fumihiko Matsuno

    Electronics and Communications in Japan (Part III: Fundamental Electronic Science)　76　(7)　90-99　1993年

    DOI： 10.1002/ecjc.4430760708 　

    ISSN：1520-6440 1042-0967

  401. SURFACE-ACOUSTIC-WAVE SOLITON PROPAGATING ON THE METALLIC GRATING WAVE-GUIDE 査読有り

    Y CHO, N MIYAGAWA

    IEEE 1993 ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　63　(9)　853-858　1993年

    DOI： 10.1063/1.109766 　

    ISSN：1051-0117

  402. NONLINEAR EQUIVALENT-CIRCUITS OF ACOUSTIC DEVICES 査読有り

    Y CHO, J WAKITA

    IEEE 1993 ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　867-872　1993年

    ISSN：1051-0117

  403. SURFACE-ACOUSTIC-WAVE SOLITON PROPAGATING ON THE METALLIC GRATING WAVE-GUIDE 査読有り

    Y CHO, N MIYAGAWA

    IEEE 1993 ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　853-858　1993年

    ISSN：1051-0117

  404. DYNAMIC MEASURING METHOD OF CAPACITANCE VARIATION OF PIEZOELECTRIC CERAMICS WITH ALTERNATING ELECTRIC-FIELD 査読有り

    Y CHO, F MATSUNO

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　31　(11)　3627-3631　1992年11月

    DOI： 10.1143/JJAP.31.3627 　

    ISSN：0021-4922

  405. 電気ひずみ材料の諸定数間の関係とその圧電セラミックスへの適用例 査読有り

    長 康雄, 松野文彦

    電気情報通信学会論文誌　J75-A　(5)　875-882　1992年5月

  406. A STUDY ON THE SCALAR WAVE-EQUATION FOR NONLINEAR SURFACE ACOUSTIC-WAVE DISTORTION 査読有り

    Y CHO, K YAMANOUCHI

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　31　(1)　89-93　1992年1月

    DOI： 10.1143/JJAP.31.89 　

    ISSN：0021-4922

  407. DYNAMIC MEASURING METHOD OF VELOCITY AND CAPACITANCE VARIATION OF PIEZOELECTRIC CERAMICS WITH ALTERNATING ELECTRIC-FIELD 査読有り

    Y. Cho, F MATSUNO

    IEEE 1992 ULTRASONICS SYMPOSIUM : PROCEEDINGS, VOLS 1 AND 2　1029-1034　1992年

    ISSN：1051-0117

  408. SURFACE ACOUSTIC-WAVE PARAMAGNETIC-RESONANCE IN IRON DOPED-LINBO3 査読有り

    Y CHO, H HORIE, K YAMANOUCHI

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　29　19-21　1990年

    ISSN：0021-4922

  409. SHF-Range Surface Acoustic Wave Inter-Digital Transducers Using Electron Beam Exposure 査読有り

    K.Yamanouchi, Y.Cho, T.Meguro

    IEEE 1988 ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS　115-118　1988年11月

  410. THEORETICAL AND EXPERIMENTAL STUDIES OF LINBO3 DEGENERATE ACOUSTIC ELASTIC CONVOLVER 査読有り

    Y CHO, K YAMANOUCHI

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　61　(5)　1728-1739　1987年3月

    DOI： 10.1063/1.338070 　

    ISSN：0021-8979

  411. NONLINEAR, ELASTIC, PIEZOELECTRIC, ELECTROSTRICTIVE, AND DIELECTRIC-CONSTANTS OF LITHIUM-NIOBATE 査読有り

    Y CHO, K YAMANOUCHI

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　61　(3)　875-887　1987年2月

    DOI： 10.1063/1.338138 　

    ISSN：0021-8979

  412. Nonlinear Constants of Lithium Niobate 査読有り

    Y.Cho, K.Yamanouchi

    IEEE 1986 ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS　1083-1088　1986年11月

  413. Theoretical and Experimental Studies of Transverse-HorizontalConvolver 査読有り

    Y.Cho, K.Yamanouchi

    IEEE 1986 ULTRASONICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS　153-156　1986年11月

  414. THEORETICAL AND EXPERIMENTAL-STUDY OF TRANSVERSE-HORIZONTAL CONVOLVER 査読有り

    Y CHO, K YAMANOUCHI

    ELECTRONICS LETTERS　22　(16)　835-836　1986年7月

    DOI： 10.1049/el:19860572 　

    ISSN：0013-5194

  415. ELECTROSTRICTIVE AND 3RD-ORDER DIELECTRIC-CONSTANTS OF LITHIUM-NIOBATE 査読有り

    Y CHO, K YAMANOUCHI

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS　24　76-79　1985年

    ISSN：0021-4922

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

MISC 129

  1. Simultaneous Local Capacitance-Voltage Profiling and Deep Level Transient Spectroscopy Using Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際誌 査読有り

    Yasuo Cho

    ELECTRONIC DEVICE FAILURE ANALYSIS　24　(1)　17-28　2022年2月

    出版者・発行元： Electronic Device Failure Analysis Society(EDFAS)

  2. 強誘電体薄膜における分極反転挙動のナノスケールマッピング

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　68th　2021年

    ISSN： 2436-7613

  3. 局所C-Vマッピングにおける主成分分析によるノイズ除去

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　82nd　2021年

    ISSN： 2436-7613

  4. 傾斜格子歪み希土類鉄ガーネットにおけるフレクソ分極とフェリ磁性の共存

    山原弘靖, SHAMIM S. Md, 関宗俊, 長康雄, 田畑仁

    応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　80th　2019年

    ISSN： 2758-4704

  5. 走査型プローブ顕微鏡(非線形誘電率顕微鏡)を用いたデバイス観察 招待有り

    長 康雄

    表面と真空　61　(4)　221-226　2018年4月

    DOI： 10.1380/vss.61.221 　

  6. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSiO2上剥離WSe2観察におけるキャリア分布の直流バイアス依存性

    山末耕平, 加藤俊顕, 金子俊郎, 長康雄

    応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　65th　ROMBUNNO.20p‐C202‐7　2018年3月5日

  7. Ferroelectric Materials and Their Applications FOREWORD

    Yoshihiro Kuroiwa, Akira Ando, Yasuo Cho, Norifumi Fujimura, Makoto Iwata, Ken-ichi Kakimoto, Kazumi Kato, Hajime Nagata, Masaru Shimizu, Takaaki Tsurumi

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　56　(10)　2017年10月

    DOI： 10.7567/JJAP.56.10P001 　

    ISSN： 0021-4922

    eISSN： 1347-4065

  8. 走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)の紹介と電子デバイス・材料評価への応用 招待有り 査読有り

    山末 耕平, 茅根 慎通, 長 康雄

    電気学会誌　137　(10)　697-700　2017年10月

    出版者・発行元： 一般社団法人 電気学会

    DOI： 10.1541/ieejjournal.137.697 　

    ISSN： 1340-5551

    詳細を見る 詳細を閉じる

    <p>1．はじめに</p><p>Siに代表される既存材料を用いた電子デバイスは物性に起因する性能の限界を迎えつつあるといわれ，新規材料を用いて限界克服を目指す研究が活発になされている。例えば，ワイドバンドギャップ半導体を用いたパワーデバイス（1）や2次元材料を用いた超高速デバイス（2）が研究されて</p>

  9. SNDM強誘電体プローブメモリ

    長 康雄

    まぐね　12　(3)　109-114　2017年5月

    出版者・発行元： 公益財団法人 日本磁気学会

    ISSN： 1880-7208

  10. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたナノスケール分極反転過程の動的観察

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　64th　2017年

    ISSN： 2436-7613

  11. 強誘電性HfO2薄膜におけるナノスケール分極反転ドット書き込み

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　78th　2017年

    ISSN： 2436-7613

  12. Y添加HfO₂薄膜における強誘電ドメイン反転のSNDM観察 (磁気記録・情報ストレージ)

    平永 良臣, 長 康雄, 三村 和仙, 清水 荘雄, 舟窪 浩

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　116　(348)　35-39　2016年12月8日

    出版者・発行元： 電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

  13. Y添加HfO₂薄膜における強誘電ドメイン反転のSNDM観察 (マルチメディアストレージ)

    平永 良臣, 長 康雄, 三村 和仙, 清水 荘雄, 舟窪 浩

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　40　(44)　35-39　2016年12月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  14. 走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)による半導体微細構造の高分解能評価

    長 康雄

    応用物理　85　(7)　560-567　2016年7月

    出版者・発行元： 応用物理学会

    ISSN： 0369-8009

  15. 強誘電性Y:HfO₂薄膜におけるナノスケールドメイン反転 (磁気記録・情報ストレージ)

    陳 舟, 平永 良臣, 清水 荘雄, 片山 きりは, 三村 和仙, 舟窪 浩, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　115　(490)　29-32　2016年3月4日

    出版者・発行元： 電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

  16. 強誘電性Y:HfO₂薄膜におけるナノスケールドメイン反転 (マルチメディアストレージ)

    陳 舟, 平永 良臣, 清水 荘雄, 片山 きりは, 三村 和仙, 舟窪 浩, 長 康雄

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　40　(7)　29-32　2016年3月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  17. 走査型非線形誘電率顕微鏡における強誘電性Y:HfO2薄膜のドメイン反転

    CHEN Zhou, 平永良臣, 清水荘雄, 片山きりは, 三村和仙, 舟窪浩, 長康雄

    応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　63rd　2016年

    ISSN： 2436-7613

  18. 強誘電体プローブデータストレージ : 現状と今後の展開 (磁気記録・情報ストレージ)

    平永 良臣, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　115　(356)　31-36　2015年12月10日

    出版者・発行元： 電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

  19. 強誘電体プローブデータストレージ : 現状と今後の展開 (マルチメディアストレージ)

    平永 良臣, 長 康雄

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　39　(48)　31-36　2015年12月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  20. 3J1-5 走査型非線形誘電率顕微法による層状極性反転圧電膜の層厚の定量測定

    寺田 浩士朗, 西川 宏明, 田中 陽平, 小田川 裕之, 柳谷 隆彦, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集　36　"3J1-5-1"-"3J1-5-2"　2015年11月5日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

    ISSN： 1348-8236

    詳細を見る 詳細を閉じる

    In this paper, the method for obtaining thickness of polarity inverted structure in a layered ferroelectric and/or piezoelectric thin film using SNDM is proposed. It showed that layer thickness can be estimated from the output signal of SNDM by choosing an appropriate tip radius. Also, we showed an experimental result in AlN films which have polarity-inverted layer fabricated by RF magnetron sputtering. This method can be applied to multi layered structure by measuring with various probe tips having different tip radius and by analyzing the results.

  21. イオンビーム照射による薄膜強誘電体記録媒体の表面層の除去 (磁気記録・情報ストレージ)

    平永 良臣, 陳 一桐, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　115　(71)　31-36　2015年6月4日

    出版者・発行元： 電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

  22. イオンビーム照射による薄膜強誘電体記録媒体の表面層の除去 (マルチメディアストレージ)

    平永 良臣, 陳 一桐, 長 康雄

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　39　(19)　31-36　2015年6月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  23. 走査型非線形誘電率顕微鏡法(SNDM)－次世代パワーデバイス(SiC, GaN& Si系パワーデバイス及び太陽電池,etc.)評価用最強ツールとして－”

    長康雄

    分析サロン　7　1-6　2015年2月

    出版者・発行元： ナノエレクトロニクス計測分析技術研究会

  24. 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる4H-SiC(000<span style=text-decoration:overline>1</span>)上グラフェンの観察

    山末耕平, 吹留博一, 舩窪一智, 末光眞希, 長康雄

    応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　76th　2015年

  25. A-siteが変位する強磁性強誘電体:La2NiMnO6薄膜

    高橋竜太, 大久保勇男, 大久保勇男, 山内邦彦, 北村未歩, 桜井康成, 尾嶋正治, 小口多美夫, 小口多美夫, 長康雄, MIKK Lippmaa

    応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　76th　2015年

  26. ハードディスクドライブ型強誘電体記録における更なる高密度化の達成と記録・再生の一連動作の実現 (磁気記録・情報ストレージ)

    青木 朋徳, 平永 良臣, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　114　(355)　29-33　2014年12月11日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電体記録は,強誘電自発分極の方向でビット情報を記録する方式である.情報の読み出しには,走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)を用いる.強誘電体の特徴としてドメイン壁は数格子層と極めて薄いことから高密度記録に有利であることが期待できる.これまでの報告でHDD型強誘電体記録装置を用いて,2Tbit/inch^2級の記録が可能であることを示してきた.本研究では,更なる記録密度の向上を行い3Tbit/inch^2級の記録が可能であることを実証した.また,一連の記録・再生動作を行い,ビット間距離25.8nm(1Tbit/inch^2相当)のビット列の再生に成功した.

  27. ハードディスクドライブ型強誘電体記録における更なる高密度化の達成と記録・再生の一連動作の実現 (マルチメディアストレージ)

    青木 朋徳, 平永 良臣, 長 康雄

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　38　(50)　29-33　2014年12月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  28. Study on PZT thin films for ultra-high density ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy (磁気記録・情報ストレージ)

    陳 一桐, 平永 良臣, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　114　(327)　17-22　2014年11月25日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    チタン酸ジルコン酸鉛(Pb(Zr,Ti)O_3:PZT)は,強誘電体材料の一つとして,自発分極の方向で情報を記録することができる.この特性を利用するために,低電圧を印加して,高速かつ微小ドメイン反転できる高品質のPZT薄膜の開発が必要である.そして,走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)では,記録した情報の読み出すことができる.本論文では,RFマグネトロンスパッタ法でPbの供給量と薄膜の厚さを調整して,PZT薄膜を作製した.薄膜の測定によって,薄膜品質と薄膜記録を議論する.

  29. 非線形誘電率顕微法を用いた超高密度PZT薄膜材料記録に関する研究 (マルチメディアストレージ)

    陳 一桐, 平永 良臣, 長 康雄

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　38　(45)　17-22　2014年11月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  30. 強誘電体プローブデータストレージ用記録媒体の非線形誘電率の測定 (磁気記録・情報ストレージ)

    平永 良臣, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報　114　(77)　1-5　2014年6月12日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電体プローブデータストレージにおけるビット再生速度の向上のためには,大きな非線形誘電率を有する強誘電体材料の開発が求められる.そこでこれに関する知見を得ること目的として,ゾルゲル法によりPb(Zr,Ti)O_3(PZT)を作製し,本記録方式のおける記録媒体への応用に関する研究を行った.組成の異なる一連のPZT薄膜の非線形誘電率を動的測定法によって測定した結果,Zr/Ti=52/48において最大値50aF/Vを示すことが分かった.これは単結晶LiTaO_3の値に比べ約70倍大きな値である.したがって,PZT薄膜を強誘電体プローブデータストレージの記録媒体に使用することより,再生速度の大幅な改善が期待できる.

  31. 強誘電体プローブデータストレージ用記録媒体の非線形誘電率の測定 (マルチメディアストレージ)

    平永 良臣, 長 康雄

    映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report　38　(22)　1-5　2014年6月

    出版者・発行元： 映像情報メディア学会

    ISSN： 1342-6893

  32. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡による水素インターカレートされた4H-SiC(0001)上グラフェンの観察

    山末耕平, 吹留博一, 舩窪一智, 末光眞希, 長康雄

    応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　75th　2014年

  33. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡による4H-SiC(0001)上グラフェンの高分解能観察

    山末耕平, 吹留博一, 舩窪一智, 末光眞希, 長康雄

    応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　61st　2014年

  34. La2NiMnO6薄膜の強誘電性

    高橋竜太, 大久保勇男, 大久保勇男, 北村未歩, 桜井康成, 尾嶋正治, 尾嶋正治, 長康雄, LIPPMAA Mikk

    応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)　61st　2014年

  35. 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察

    本田 耕一郎, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性　111　(33)　7-12　2011年5月6日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    フラッシュメモリは注入電荷を利用してセルトランジスタの閾値電圧を変化させることでメモリ素子として動作させるため,電荷の蓄積位置を明らかにすることは重要である.この電荷の可視化手段として,マイクロ波顕微鏡技術の一種である非線形誘電率顕微鏡法(Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: SNDM)はきわめて有効な手段である.このSNDMを応用したMetal-SiO_2-SiN-SiO_2-Semiconductors (MONOS)型メモリの蓄積電荷の可視化に関して報告する.まずSNDMにより,どのように固定電荷の電子とホールを検出することができるかを説明する.さらにこの方法を発展させ,DCバイアスを印加しながら測定することでセルTrのVth分布やProgram Disturbにかかわる電荷の再分布などの情報が得られことを示す.この技術はデバイス解析に大きく寄与すると期待できる.

  36. 24pYE-7 非線形誘電率顕微鏡でみる分域(強誘電体分域の測定法の新展開と新しい分域像,シンポジウム,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

    平永 良臣, 長 康雄

    日本物理学会講演概要集　63　(1)　935-935　2008年2月29日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  37. 26pTD-8 非接触型非線形誘電率顕微鏡によるフラーレン分子の観察(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)

    小林 慎一郎, 長 康雄

    日本物理学会講演概要集　63　(1)　908-908　2008年2月29日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  38. Synthesis and characterization of Bi(Ni0.5Ti0.5)O-3

    Hiroyuki Saitoh, Kazuya Kitada, Masafumi Kobune, Wataru Adachi, Tetsuo Yazawa, Kenya Ishikawa, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Katsutoshi Aoki

    ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES　64　C522-C523　2008年

    DOI： 10.1107/S0108767308083220 　

    ISSN： 2053-2733

  39. Ferromagnetism and Ferroelectricity in BiFeO3/BiCrO3 Artificial 1/1 Superlattice

    Noriya Ichikawa, Yusuke Imai, Kei Hagiwara, Masaya Arai, Atsushi Tanokura, Hiroshi Sakama, Masaki Azuma, Yuichi Shimakawa, Mikio Takano, Yasutoshi Kotaka, Masashi Yonetani, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu, Kenya Ishikawa, Yasuo Cho

    Mater. Res. Soc. Symp. Proc.　1110E　(1)　C03-15　2008年

  40. 23pYJ-5 走査型非線形誘電率顕微法による原子スケール像観察(領域9シンポジウム主題:探針型プローブ-表面間相互作用の新展開,領域9,表面・界面,結晶成長)

    長 康雄, 廣瀬 龍介, 小林 慎一郎, 齋藤 晃央

    日本物理学会講演概要集　62　(2)　958-958　2007年8月21日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  41. INV-1 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡(招待講演1)

    長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集　27　21-24　2006年11月15日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

    ISSN： 1348-8236

    詳細を見る 詳細を閉じる

    Scanning nonlinear dielectric microscopy (SNDM) with super-high resolution is described. At first, experimental results for ferroelectric domain and the visualization of charge stored in flash memories are shown, following the description of theory and principle of SNDM. Next, higher-order nonlinear dielectric imaging method and non-contact SNDM (nc-SNDM) are proposed. Using this nc-SNDM technique, the first achievement of atomic resolution in capacitance measurement is successfully demonstrated. In addition to this technique, a new 3D-type of SNDM to measure the 3D distribution of ferroelectric polarization has been developed. Finally, a very high density ferroelectric data storage based on SNDM with the density of 10 T-bits/inch^2 is demonstrated.

  42. C-6-5 回転ディスク型非接触強誘電体記録装置の開発(C-6.電子部品・材料,一般講演)

    夘田 知也, 平永 良臣, 長 康雄

    電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集　2006　(2)　12-12　2006年9月7日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

  43. 10項 超音波エレクトロニクス研究会(3節 工学研究会,第5章 国際会議・シンポジウム等)

    長 康雄, 大原 鉱也

    東北大学電気通信研究所研究活動報告　12　276-277　2006年8月1日

  44. 10項 超音波エレクトロニクス研究会(3節 工学研究会,第5章 国際会議・シンポジウム等)

    長 康雄, 平永 良臣

    東北大学電気通信研究所研究活動報告　13　284-285　2006年1月1日

  45. P3-11 非接触型走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた表面形状及び誘電率分布の同時計測(ポスターセッション3(概要講演))

    大原 鉱也, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集　26　361-362　2005年11月16日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

    ISSN： 1348-8236

  46. P3-15 水熱合成法によるエピタキシャルPbTiO_3薄膜の圧電特性(ポスターセッション3(概要講演))

    森田 剛, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集　26　369-370　2005年11月16日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

    ISSN： 1348-8236

  47. 圧電・超音波材料 非線形誘電率顕微鏡を用いた3次元分極方位の絶対計測--3次元ドメイン構造の可視化

    杉原 智之, 小田川 裕之, 長 康雄

    超音波techno　17　(3)　46-50　2005年5月

    出版者・発行元： 日本工業出版

    ISSN： 0916-2410

  48. 非線形誘電率顕微鏡を用いた超高密度強誘電体記録

    長 康雄

    表面科学　26　(4)　220-225　2005年4月

    出版者・発行元： 日本表面科学会

    DOI： 10.1380/jsssj.26.220 　

  49. SNDM強誘電体プローブメモリによる超高密度デジタルデータ記録再生

    藤本 健二郎, 前田 孝則, 高橋 宏和, 尾上 篤, 長 康雄

    電子情報通信学会技術研究報告. MR, 磁気記録　104　(547)　25-29　2005年1月7日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    筆者らは, 次世代の超高密度ストレージシステムの実現を目的とし, 走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)法を再生方法とした強誘電体プローブメモリに関する研究を行っており, これまでに, 一致溶融組成LiTaO_3(CLT)を記録媒体とすることで1 Tbit/inch^2を超える超高密度記録が可能であることを実験的に示した.本稿では, CLTの強誘電特性をさらに詳細に検討し, 記録密度が高いだけでなくナノセカンドオーダーの高速記録も可能であることを見出し, CLTが超高密度記録媒体として適することを示した.さらに, 初めて実際の超高密度強誘電体デジタルデータ記録再生に近い形での実験を行い, 線記録密度726Mbpiで記録したデータトラックを1回スキャンするだけで, 良好にデジタル的な再生を実現可能であることを示した.

  50. Diamond probe with silicon-based piezo strain gauge for high density data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Hirokazu Takahashi, Atsushi Onoe, Takahito Ono, Yasuo Cho, Masayoshi Esashi

    Digest of Technical Papers - International Conference on Solid State Sensors and Actuators and Microsystems, TRANSDUCERS '05　2　1338-1341　2005年

    DOI： 10.1109/SENSOR.2005.1497328 　

  51. 非線形誘電率顕微鏡

    長 康雄

    顕微鏡　40　(1)　33-36　2005年

    出版者・発行元： 日本顕微鏡学会

    DOI： 10.11410/kenbikyo2004.40.33 　

    ISSN： 1349-0958

  52. B-3 非線形誘電率顕微鏡を用いた3次元分極方位の絶対計測(超音波物性,超音波材料)

    杉原 智之, 小田川 裕之, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集　25　9-10　2004年10月27日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

    ISSN： 1348-8236

  53. 非線形誘電率顕微鏡を用いたTbits/inch^2の記録密度をもつ強誘電体記録

    長 康雄, 平永 良臣

    電子情報通信学会技術研究報告. OME, 有機エレクトロニクス　104　(285)　37-42　2004年9月2日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)は,強誘電体の分極分布を高分解能に観測できる顕微鏡で,分解能は現在サブナノメートルオーダーに達している.私たちはこれまで,この顕微鏡を用いて強誘電体高密度記録に関する研究を行ってきた.強誘電体記録媒体として用いた材料は,定比組成及び一致溶融組成のLiTaO_3単結晶である.定比組成LiTaO_3(SLT)における書き込み実験では,分極反転特性に関する詳細な実験を行い,その結果,半径6nmという非常に微小な分極反転領域を生成することに成功した.また,生成した分極反転領域の保持特性に関する実験も行った.一方,一致溶融組成LiTaO_3(CLT)における書き込み実験では,1.5Tbit/inch^2の高密度記録を実現した.また実記録を行い258Gbit/inch^2の記録密度でビット誤り率1.2×10^<-3>を達成した.

  54. Diamond probe for ultra-high-density ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy 査読有り

    Hirokazu Takahashi, Takahito Ono, Yasuo Cho, Masayoshi Esashi

    Proceedings of the IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS)　536-539　2004年

    ISSN： 1084-6999

  55. A-3 強誘電体ナノドメインの超高速スイッチング特性(基礎)

    藤本 健二郎, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集　24　5-6　2003年11月12日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

    ISSN： 1348-8236

  56. 強誘電ナノ・ドメイン・エンジニアリング

    北村健二, 寺部一弥, 長 康雄

    機能材料　23　(10)　46-54　2003年10月

    出版者・発行元： シーエムシー出版

    ISSN： 0286-4835

  57. 非線形誘電率顕微鏡の開発と電子材料への展開

    長 康雄

    セラミックス　38　(10)　786-790　2003年10月

    出版者・発行元： 日本セラミックス協会

    ISSN： 0009-031X

  58. C-6-11 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリング状分極反転現象

    加藤 未来, 森田 剛, 長 康雄

    電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集　2003　(2)　14-14　2003年9月10日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

  59. C-6-12 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた Si_3N_4/SiO_2/Si 半導体基板への電荷記録

    橋本 直, 平永 良臣, 長 康雄, 本田 耕一郎

    電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集　2003　(2)　15-15　2003年9月10日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

  60. C-7-1 強誘電微小分極反転ドメインの生成とデータストレージシステムの試作

    平永 良臣, 我妻 康夫, 長 康雄, 尾上 篤

    電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集　2003　(2)　18-18　2003年9月10日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

  61. C-6-10 3 次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電分極分布測定における印加電界の補正

    杉原 智之, 小田川 裕之, 長 康雄

    電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集　2003　(2)　13-13　2003年9月10日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

  62. 21pXC-8 非線形誘電率顕微鏡とナノドメインエンジニアリング

    長 康雄

    日本物理学会講演概要集　58　(2)　862-862　2003年8月15日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  63. 非線形誘電率顕微鏡を用いたドメイン構造観察

    長 康雄

    機能材料　22　(12)　12-17　2002年12月

    出版者・発行元： シーエムシー出版

    ISSN： 0286-4835

  64. 走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電ドメインの観測

    長 康雄

    まてりあ　41　(12)　852-853　2002年12月

    出版者・発行元： 日本金属学会

    DOI： 10.2320/materia.41.852 　

    ISSN： 1340-2625

  65. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡

    長 康雄

    応用物理　71　(1)　62-65　2002年1月

    出版者・発行元： 応用物理学会

    DOI： 10.11470/oubutsu1932.71.62 　

  66. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体記録に関する基礎的検討

    長 康雄, 松浦 かおり, 数田 聡, 北村 健二

    電子情報通信学会技術研究報告. MR, 磁気記録　101　(105)　49-56　2001年5月31日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電体の分極分布を純粋に電気信号のみで観測する方法として, 著者らはこれまでに走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)を開発しその分解能は現在ではサブナノメータにまで達している. また本顕微鏡プローブは強誘電体中へナノスケールドメインを純電気的に高速に書き込み読みとりするピックアップに簡単に改造可能という比類ない特長も持っている. 本報告では, まず, 本顕微鏡の動作原理を概説し, 本顕微鏡が強誘電分極ドメインの観測に有効であることのみならず, 超高密度情報記録装置としても大きな可能性を持っていることを示すために, SNDMを用いてPZT薄膜中に分極ドットの書き込み読み取り実験を行い, 25nmφ程度の微小ドメインドットの形成に成功した結果及びストイキオメトリックLiTaO3単結晶へのナノドメインエンジニアリングを行い印加電圧及び電圧印加時間とドメインドットの大きさをそれぞれ調べた結果について報告する.

  67. 29pYR-4 非線形誘電率顕微鏡法による分域構造の観察

    長 康雄

    日本物理学会講演概要集　56　(1)　876-876　2001年3月9日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  68. 走査型非線型誘電率顕微鏡を用いた強誘電体層状化合物の原子分解測定

    長康雄, 松浦かおり, 舟窪浩, 入江寛, 宮山勝, 野口祐ニ

    応用物理学会春期発表会　30p-YC-2　563　2001年

  69. OB01 非線形誘電率応答と圧電応答による強誘電分極分布の観測(材料・計測)

    松浦 かおり, 長 康雄, 小田川 裕之

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(21)　11-12　2000年11月6日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  70. PB01 走査型非線形誘電率顕微鏡の高次非線形モードと垂直距離分解能(ポスターセッションI)

    長 康雄, 大原 鉱也, 小池 敦, 小田川 裕之

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(21)　87-88　2000年11月6日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  71. 走査型非線形誘電率顕微鏡－圧電デバイスをミクロに探る

    長 康雄

    日本音響学会誌　56　(10)　721-726　2000年10月

    出版者・発行元： 日本音響学会

    DOI： 10.20697/jasj.56.10_721 　

    ISSN： 0369-4232

  72. 非線形誘電率応答と圧電応答を用いた強誘電分極分布の観測

    松浦 かおり, 長 康雄, 小田川 裕之

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　100　(291)　1-7　2000年9月12日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電体の分極分布を純粋に電気信号のみで観測する方法として, 著者らはこれまでに走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)を開発している.またSNDMの探針に導電性のカンチレバーを用いることにより, その分解能は現在ではサブナノメータにまで達している.一方強誘電材料の分極分布を比較的高分解能に観測する方法として, 圧電応答を検出する方法が良く用いられているが, 今回このSNDMによる分極分布観測像が圧電応答による分極観測像より高分解能であることを示す.またSNDMを強誘電メモリの書き込み・読み出し装置へと応用するための基礎的実験も行った.

  73. 走査型非線形誘電率顕微鏡の高次非線形モードと垂直距離分解能

    長 康雄, 大原 鉱也, 小池 敦, 小田川 裕之

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　100　(291)　9-15　2000年9月12日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

    詳細を見る 詳細を閉じる

    誘電・強誘電材料の分極分布測定が行える走査型非線形誘電率顕微鏡の新しい機能利用法について述べる.今回, 高次非線形誘電率計測法と顕微鏡の垂直距離分解能について理論的, 実験的に調べた.高次非線形誘電率計測では, 今までよりも高分解能な像を得ることが期待され, 又, 高い垂直距離分解能の利用ではトポ像等をとる顕微鏡や微小変位センサへの応用が期待される.

  74. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた極微小振動の検出

    長 康雄, 小池 敦, 大原 鉱也, 小田川 裕之

    日本音響学会研究発表会講演論文集　2000　(2)　913-914　2000年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  75. 23aX-7 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電ドメイン観測

    長 康雄, 小田川 裕之, 数田 聡, 大原 鉱也

    日本物理学会講演概要集　55　(1)　823-823　2000年3月10日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  76. PF-3 走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメイン像とAFMによるトポグラフィの同時観測

    小田川 裕之, 長 康雄, 舟窪 浩, 長島 邦治

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(20)　243-244　1999年11月17日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  77. PF-2 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたZnO圧電薄膜の面方位決定

    数田 聡, 長 康雄, 小田川 裕之, 門田 道雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(20)　241-242　1999年11月17日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  78. F-3 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定量計測

    長 康雄, 数田 聡, 大原 鉱也, 小田川 裕之

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(20)　303-304　1999年11月17日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  79. PC-5 応力下での弾性表面波の伝搬特性と複合構造零温度特性基板への応用

    山之内 和彦, 小谷 謙司, 小田川 裕之, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(20)　51-52　1999年11月17日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  80. 走査型電子線誘電率顕微鏡による誘電率温度係数像の撮影

    長 康雄, 神通川 治, 佐藤 聡, 山之内 和彦

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　99　(314)　45-51　1999年9月21日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    ISSN： 0913-5685

  81. ニオブ酸カリウムの非線形圧電定数とコンボルバへの応用 (特集 21世紀を拓く革新的超音波材料群)

    長 康雄, 太田 憲行, 小田川 裕之

    超音波techno　11　(9)　27-31　1999年9月

    出版者・発行元： 日本工業出版

    ISSN： 0916-2410

  82. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたZnO圧電薄膜の面方位決定

    長 康雄, 数田 聡, 小田川 裕之, 門田 道雄

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1999　(2)　1013-1014　1999年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  83. 走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメイン像とAFMによるトポグラフィの同時観測

    小田川 裕之, 長 康雄

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1999　(2)　1015-1016　1999年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  84. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定量計測

    長 康雄, 大原 鉱也, 数田 聡, 小田川 裕之

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1999　(2)　1039-1040　1999年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  85. 高安定高結合弾性表面波複合型基板

    小谷 謙司, 長 康雄, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1999　(1)　831-832　1999年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  86. 2ターゲットRFマグネトロンスパッタによるKNbO_3薄膜の作製と弾性表面波励振特性

    小田川 裕之, 野原 庸平, 長 康雄, 我妻 康夫, 山之内 和彦

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1999　(1)　1009-1010　1999年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  87. OE9 KNbO_3単結晶の非線形圧電定数の定量評価(材料・評価,SAWデバイス,口頭発表)

    太田 憲行, 長 康雄, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(19)　23-24　1998年11月26日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  88. PE7 KNbO_3圧電性薄膜の分極分布と弾性表面波伝搬特性(SAWデバイス,ポスターセッション1)

    小谷 謙司, 小田川 裕之, 長 康雄, 山之内 和彦

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(19)　85-86　1998年11月26日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  89. PE8 LiTaO_3, LiNbO_3表面に形成される極薄単分域層(SAWデバイス,ポスターセッション1)

    長 康雄, 松浦 かおり, 数田 聡, 山之内 和彦

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(19)　87-88　1998年11月26日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  90. KNbO_3単結晶の非線形圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 長 康雄, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　98　(271)　9-15　1998年9月18日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    KNbO_3単結晶は大きな圧電性を示すことからSAWデバイス用基板として注目を集めている.KNbO_3を用いた非線形SAWデバイスとして高効率エラスティックコンボルバへの応用が検討されている.エラスティックコンボルバの効率は3次の圧電定数に大きく依存する.本報告ではKNbO_3単結晶の3次の圧電定数e_<355>, e_<344>について交番印加電界による音速変化の動的測定法を用いて測定を行った結果を示すともに, それらのコンボルバの効率との関連について調べた結果について述べる.

  91. KNbO_3圧電性薄膜の分極分布と弾性表面波伝搬特性

    小谷 謙司, 小田川 裕之, 長 康雄, 山之内 和彦

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　98　(270)　45-50　1998年9月17日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    SrTiO_3基板上にMOCVD法で作製されたKNbO_3薄膜の分極分布を, 走査型非線形誘電率顕微鏡により観測し, それに対応させてSAWの励振・伝搬特性を調べた。この結果, KNbO_3薄膜作製において, 特に分極操作を行わなくても, ある程度の分極が基板の裏から表面の方向に向いており, その分極状態は室温ではかなり安定であることがわかった。また, 成膜後, 基板を加熱した状態で電圧を印加することで分極操作を行った薄膜について, 同様に走査型非線形誘電率顕微鏡により分極分布を測定し, SAWの伝搬特性と対応させて検討した。

  92. KNbO_3圧電性薄膜の分極分布と弾性表面波伝搬特性

    小田川 裕之, 小谷 謙司, 長 康雄, 山之内 和彦

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1998　(2)　1061-1062　1998年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  93. KNbO_3単結晶の非線形圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 長 康雄, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1998　(2)　1181-1182　1998年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  94. MOCVD法を用いたKNbO_3圧電性薄膜の作製と弾性表面波変換器への応用

    山之内 和彦, 小島 俊之, 小田川 裕之, 長 康雄, 尾上 篤, 吉田 綾子, 竹間 清文

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1998　(1)　963-964　1998年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  95. 走査型電子線誘電率顕微鏡

    長 康雄, 永野 浩之, 山之内 和彦

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1998　(1)　889-890　1998年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  96. 走査型非線形誘電率顕微鏡

    長 康雄

    応用物理　67　(3)　327-331　1998年3月

    出版者・発行元： 応用物理学会

    DOI： 10.11470/oubutsu1932.67.327 　

    ISSN： 0369-8009

  97. OE1 KNbO_3単結晶基板を用いた弾性表面波エラスティックコンボルバ(SAWデバイス)

    山之内 和彦, 両角 賢友, 小田川 裕之, 長 康雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(18)　1-2　1997年11月12日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  98. OB5 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡(計測)

    長 康雄, 松浦 かおり

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(18)　233-234　1997年11月12日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  99. KNbO_3単結晶基板を用いた弾性表面波エラスティックコンボルバ

    両角 賢友, 小田川 裕之, 長 康雄, 山之内 和彦

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　97　(276)　25-30　1997年9月25日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    KNbO_3単結晶は大きな圧電性をもち, 電気機械結合係数がLiNbO_3の約10倍(K^2=0.53)を持つことが分かっている. このため, フィルタなどの広帯域, 高機能特性を有するデバイスが実現可能であり, 弾性表面波用材料として注目されている. 今回我々は, 高結合特性をもつKNbO_3基板の非線形性デバイスへの応用として, エラスティックコンボルバについての検討を行った. 実験の結果, 60゜Y-X KNbO_3を用いたコンボルバは, Y-Z LiNbO_3を用いた場合と比べて, およそ15dB効率のよいコンボリューション出力が得られたので報告する.

  100. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメインの観測

    長 康雄, 松浦 かおり

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1997　(2)　1049-1050　1997年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  101. KNbO_3を用いた弾性表面波エラスティックコンボルバ

    両角 賢友, 小田川 裕之, 山之内 和彦, 長 康雄

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1997　(2)　981-982　1997年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  102. YBCO膜によるコプレーナ型共振器のQ測定

    兼行 智彦, 金谷 晴一, 長 康雄, 粟井 郁雄

    電子情報通信学会総合大会講演論文集　1997　(1)　144-144　1997年3月6日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    最近, 高温超伝導体(HTS)の優れた特性を生かして, 高周波回路に応用しようとする研究が盛んに行われている。筆者らはこれまでにマイクロ波回路素子の材料となるHTS(YBCO)の作製及び基本的なマイクロ波回路について報告してきた。今回はSol-Gel法により作製された, TCO膜を用いて種々の共振周波数を持つコプレーナ型(CPW)共振器を構成し, それらについて検討を行う。

  103. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電分極像の観察

    長 康雄, 厚見 茂幸

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1997　(2)　1017-1018　1997年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  104. KNbO_3単結晶弾性表面波コンボルバ

    山之内 和彦, 小田川 裕之, 両角 賢友, 長 康雄

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1997　(2)　1019-1020　1997年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  105. 光熱誘電率顕微鏡を用いた誘電率温度係数像の測定

    長 康雄, 笠原 輝昭

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1997　(2)　1015-1016　1997年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  106. YBCO膜を用いたコプレーナ型マイクロ波デバイスの開発

    兼行 智彦, 妹尾 英博, 金谷 晴一, 長 康雄, 粟井 郁雄

    電子情報通信学会技術研究報告. A・P, アンテナ・伝播　96　(374)　107-112　1996年11月22日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    高温超伝導体は通常の金属に比べてマイクロ波帯においても非常に低損失であることから、フィルタなどの高周波回路に応用可能である。本報告では、始めに高温超伝導体であるYBCO膜をSol-Gel法により作製し、TE_<011>モード誘電体共振器法を用いてマイクロ波領域で膜の特性を評価した。次に作製したYBCO膜を用いて、共振周波数が2GHz付近のコプレーナ型共振器、及びBPFを試作し、測定した。その結果Cuの場合よりも優れた特性のBPFが実現された。

  107. マイクロ波技術を用いた強誘電分極分布の純電気的測定法

    長 康雄, 厚見 茂幸

    電子情報通信学会技術研究報告. A・P, アンテナ・伝播　96　(374)　85-92　1996年11月22日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    マイクロ波技術を応用した強誘電分極分布の純電気的計測法(走査型非線形誘電率顕微鏡)について述べている. 本計測法の原理は非線形誘電率のミクロな分布の計測から強誘電分極分布像を得るものである. 特に今回超小型の集中定数型プローブを開発する事により高分解能な分極像を得たのでその結果について詳述する.

  108. OC4 集中定数型走査型非線形誘電率顕微鏡(計測)

    長 康雄, 厚見 茂幸

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(17)　119-120　1996年10月23日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  109. OD5 粉体の光熱誘電率信号の計測(光超音波エレクトロニクス)

    長 康雄, 熊丸 知之, 笠原 輝昭

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(17)　9-10　1996年10月23日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  110. 複合材料中の非線形波動の一次元シミュレーション

    長 康雄, 井手上 公太郎, BREAZEALE M. A.

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1996　(2)　1041-1042　1996年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  111. 光熱誘電率顕微鏡を用いた粉体の粒径推定

    長 康雄, 熊丸 知之, 笠原 輝昭

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1996　(2)　955-956　1996年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  112. PA5 液体の光熱誘電率信号の計測(ポスターセッション1-概要講演・展示)

    長 康雄, 熊丸 知之

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(16)　63-64　1995年11月27日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  113. 光熱誘電率分光顕微鏡を用いた光学用材料の分光測定

    長 康雄, 熊丸 知之

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1995　(2)　1099-1100　1995年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  114. 非線型誘電率顕微鏡の非接触モードによる強誘電分極の観測

    長 康雄, 桐原 昭雄, 佐伯 考央

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1995　(2)　1097-1098　1995年9月1日

    ISSN： 1340-3168

  115. 非線形誘電率顕微鏡によるP(VDF-T_rFE)膜の計測

    長 康雄, 桐原 昭雄, 佐伯 考央

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1995　(1)　1061-1062　1995年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  116. 液体及び粉体用光熱誘導率顕微鏡の試作

    長 康雄, 熊丸 知之, 小田 俊介

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1995　(1)　1059-1060　1995年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  117. 光熱誘電率顕微鏡を用いた誘電材料の誘電率温度特性の評価

    長 康雄, 横山 浩二

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1995　(1)　989-990　1995年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  118. 光熱誘電率分光顕微鏡による遷移金属ドープ材料の測定

    長 康雄, 熊丸 和之, 小田 俊介

    日本音響学会研究発表会講演論文集　1995　(1)　987-988　1995年3月1日

    ISSN： 1340-3168

  119. J-5 光誘電率分光顕微鏡(J.光音響技術)

    長 康雄, 熊丸 知之

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(15)　297-298　1994年11月28日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  120. 光熱誘電率顕微鏡を用いたマイクロ波用誘電セラミックスの誘電率温度特性の評価技術の開発

    長 康雄, 横山 浩二, 熊丸 知之, 桐原 昭雄

    電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波　94　(375)　1-6　1994年11月25日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    著者らが開発した光熱誘電率顕微鏡を改良し,新たにマイクロ波用誘電セラミックスの誘電率温度特性が評価できる光熱誘電率顕微鏡を作製する.本顕微鏡はマイクロ波領域で動作する為非常に高感度であり,これを用いてマイクロ波用誘電セラミックスの誘電率温度特性の評価を行い,定性的には充分な性能がある事を実証する.

  121. 非線形誘電率顕微鏡

    長 康雄, 桐原 昭雄, 佐伯 考央

    電子情報通信学会技術研究報告. US, 超音波　94　(330)　17-22　1994年11月16日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電材料の永久分極の状態や結晶性を評価する全く新しい原理に基づく顕微鏡システムを開発した.非線形誘電率は線形誘電率と異なり永久分極の正負や結晶性に大きく依存する性質を持っており,本顕微鏡はその非線形誘電率のミクロな分布を計測する装置である.本報告ではこの原理について述べ,これを用いた強誘電材料の分極分布の計測を行った結果について述べる.

  122. 光誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    長 康雄, 熊丸 知之

    電子情報通信学会秋季大会講演論文集　1994　(2)　44-44　1994年9月26日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    最近,著者らは圧電材料や誘電材料に光を照射すると光吸収による試料の局所的温度変化を原因とする誘電率の交番的変化が起こり,この変化が充分な感度で検出可能である事を見い出した.この原理を応用して分光法(Photodielectric Spectroscopy,PDS)や顕微鏡(Photodielectric Microscope,PDM)が実現できると考え,基礎的な実験と,理論的検討を行い,ほぼ満足できる結果を得たので以下報告する.

  123. 非線形誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    長 康雄, 桐原 昭雄, 佐伯 考央

    電子情報通信学会秋季大会講演論文集　1994　(2)　45-45　1994年9月26日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    近年,機能性材料として種々の強誘電性単結晶やセラミックスが開発され,また最近ではその薄膜化の研究も大きな進歩を遂げ,一部次世代の超高密度メモリーへの応用も開始されている.このような材料の永久分極の分布の計測は非常に重要と考えられるが,超音波顕微鏡やトンネル音響顕微鏡による評価法が報告されている程度で,あまり多くの研究報告はないようである.一方著者らは,近年強誘電材料をその非線形特性から評価しており,その結果,線形誘電率(2階のテンソル量)は材料の永久分極の状態や結晶性にあまり大きく依存しないが,非線形誘電率(3階のテンソル量)は極端に大きく依存する事を見いだした.今回この原理を応用した顕微鏡システムを試作し,その動作の基本特性を調べたので以下報告する.

  124. 薄いBSCCO厚膜の作製とそのマイクロ波応用

    磯山 伸治, 長 康雄, 粟井 郁雄

    電子情報通信学会技術研究報告. SCE, 超伝導エレクトロニクス　94　(8)　15-20　1994年4月20日

    出版者・発行元： 一般社団法人電子情報通信学会

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本研究の目的は,BSCCO厚膜の高周波回路応用である.最初に,溶融法によって多結晶MgO基板上にBSCCO厚膜(2212相)を作製した.しかし,その厚膜は100〜200μm程度と厚すぎたために精度の高いエッチングができなかった.そこで,グリセリンと原料粉末の混合溶液をスピン・コーティングによって基板上に薄く塗り,厚膜の薄膜化を行った.その結果,5〜30μm程度の薄いBSCCO厚膜が得られた.次に,TE_011>モード誘電体円柱共振器法を用いて作製した厚膜の10.3GHz付近での表面インピーダンスを測定した.最後に,高周波回路の基本となる線路と共振器の試作をコプレーナ型で行った.

  125. PC25 非線形圧電性の制御とその弾性表面波エラスティックコンボルバの高効率化への応用(ポスタセッションC-概要講演・展示)

    長 康雄, 灰塚 真一, 門田 道雄

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(14)　249-250　1993年12月7日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  126. PA16 弾性波素子及び弾性表面波伝搬の非線形等価回路解析(ポスターセッションA)

    長 康雄, 脇田 淳司, 宮川 望

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(13)　63-64　1992年11月30日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  127. 1-B-3 鉄属イオンドープLiNbO_3単結晶の弾性表面波常磁性共鳴(B.音波物性)

    長 康雄, 堀江 秀善, 山之内 和彦

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演予稿集　(10)　15-16　1989年11月7日

    出版者・発行元： 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会

  128. NONLINEAR CONSTANTS OF LITHIUM-NIOBATE

    Y CHO, K YAMANOUCHI

    IEEE TRANSACTIONS ON ULTRASONICS FERROELECTRICS AND FREQUENCY CONTROL　34　(3)　389-389　1987年5月

    ISSN： 0885-3010

  129. InSb/LiNbO3構造弾性表面波非線形デバイス

    山之内 和彦, 長 康雄, 稲田 勉

    東北大学電通談話会記録　51　(2)　p50-57　1982年8月

    出版者・発行元： 東北大学電気通信研究所工学研究会

    ISSN： 0385-7719

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

書籍等出版物 19

  1. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy - Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices -

    Yasuo Cho

    ELSEVIER　2020年5月21日

    ISBN: 9780128172469

  2. マイクロビームアナリシス・ハンドブック

    日本学術振興会, マイクロビームアナリシス, 委員会

    オーム社　2014年6月30日

    ISBN: 9784274504969

  3. Innovative Graphene Technologies: Evaluation and Applications Volume 2

    Shin-ichiro Kobayashi, Yasuo Cho

    SMITHERS RAPRA TECHNOLOGY LTD, 2013　2013年9月

    ISBN: 9781909030213

  4. Applied Scanning Probe Methods X-Biomimetics and Industrial Applications-

    Yasuo Cho

    Springer　2008年

    ISBN: 9783540740841

  5. Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    共著

    Springer (Germany)　2006年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    通研インポート200703

  6. Polar Oxides - Properties, Characterization, and Imaging

    EDITED BY R.Waser, U.BÖttger, Y. Cho

    S.Tiedke(Germany)　2005年

  7. Ferroelectric Thun Films – Basic Properties and Device Physics for Memory Applications

    EDITED BY, M.Okuyama, Y.Ishibashi(Japa, Yasuo Cho

    Springer(Germany)　2005年

  8. 分極反転デバイスの基礎と応用

    宮澤信太郎, 栗村直 監修, 長 康雄

    オプトロニクス社　2005年

  9. 走査プローブ顕微鏡と局所分光

    重川秀美, 吉村雅満, 坂田亮, 川津璋 編, 長 康雄

    裳華房　2005年

  10. 走査型プローブ顕微鏡 最新技術と未来予測

    森田清三, 編著, 長 康雄

    丸善　2005年

  11. 強誘電体メモリーの新展開

    石原宏監修, 長 康雄

    シーエムシー出版　2004年

  12. Nanoscale Characterization of Ferroelectric Materials-Scanning Probe Microscopy Approach

    EDITED BY, M.Alexe, A.Gruverman, Y.Cho

    Springer(New York)　2004年

  13. Ferroelectric Random Access Memories –Fundamentals and Applications

    EDITED BY, Hiroshi Ishiwara, Masanori Okuyama, Yoshihiro Arimoto, Yasuo Cho

    Springer(New York)　2004年

  14. Advances in IMAGING and ELECTRON PHYSICS

    EDITED BY, PETER W. HAWKES, YASUO CHO

    Academic Press(New York)　2003年

  15. ナノテクノロジー大事典

    川合 知二監修, 長 康雄

    工業調査会　2003年

  16. 誘電体材料の特性と測定・評価および応用技術

    技術情報協会, 長 康雄

    技術情報協会　2001年

  17. 超音波便覧

    超音波便覧編集委員会編, 長 康雄

    丸善　1999年

  18. 弾性波素子技術ハンドブック

    長 康雄

    1991年

  19. Properties of Lithium Niobate

    CHO Yasuo

    1989年

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

講演・口頭発表等 950

  1. Nanosecond Dielectric Response by Optical Irradiation for High Speed SNDM Probe Memory 国際会議 招待有り

    長康雄

    ISyDMA’9　2025年5月8日

  2. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2/SiC の温度制御局所DLTS測定

    山末耕平, 長康雄

    第72回回応用物理学会春季学術講演会　2025年3月17日

  3. 熱アシスト誘電体記録における光照射ナノ秒誘電応答

    長 康雄, 山末耕平

    第72回回応用物理学会春季学術講演会　2025年3月15日

  4. SAWデバイスに多用される多結晶金属材料の非線形弾性定数の決定

    長 康雄, 中川 亮, 米田 年麿, 中尾 武志, 池浦 守

    第72回回応用物理学会春季学術講演会　2025年3月15日

  5. MOS Interface Charge State Mapping by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議 招待有り

    Yasuo Cho

    INEC 2025　2025年1月4日

  6. Combined Local DLTS/CV Measurement of Al2O3/OH-Diamond (111) Interface by Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yasuo Cho

    MRS Fall Meeting & Exhibit 2024　2024年12月4日

  7. Determination of Nonlinear Elastic Constants of Polycrystalline Metallic Materials Used in Surface Acoustic Wave Devices 国際会議

    Yasuo Cho

    UFFC-JS 2024 (Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control Joint Symposium)　2024年9月26日

  8. Measurement of Stress Free Electrostrictive Constants and Nonlinear Dielectric Constants of LiNbO3 Single Crystal 国際会議

    Yasuo Cho

    UFFC-JS 2024 (Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control Joint Symposium)　2024年9月24日

  9. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるAl2O3/OHダイヤモンド(111)の局所DLTS/CV特性同時測定

    山末 耕平, 松本 翼, 德田 規夫, 長 康雄

    第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月19日

  10. 第一原理計算を用いた Si(111)-(7x7)表面における表面双極子の可視化

    住吉 晶, 山末 耕平, 長 康雄, 中村 淳

    第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月18日

  11. 実用的強誘電体記録を目指したPZT大面積記録媒体の開発

    長 康雄, 平永 良臣

    第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月17日

  12. HAFeR技術開発の為の時間分解SNDM法

    長 康雄, 山末 耕平

    第85回応用物理学会秋季学術講演会　2024年9月17日

  13. Nanoscale probing of charge states at the Al2O3/OH-diamond (111) interface and their impact on diamond MOSFET performance 国際会議

    Kohei Yamasue, Yu Ogata, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda, Yasuo Cho

    The 14th International Conference on Nitride Semiconductors (ICDCM2024)　2024年9月4日

  14. Heat Assisted Ferroelectric Reading for High Speed SNDM Ferroelectric Probe Data Storage 国際会議

    Yasuo Cho

    ECOSS-37 : European Conference on Surface Science　2024年6月20日

  15. Heat‐Assisted Ferroelectric Reading for High-Speed Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Ultrahigh‐Density Ferroelectric Data Storage 国際会議 招待有り

    Yasuo Cho

    ISyDMA’8 : 8th International Symposium on Dielectric Materials and Applications　2024年5月14日

  16. 局所C-Vマップの画像処理に基づくナノスケール強誘電分極反転ダイナミクスの解析

    平永 良臣, 三村 和仙, 清水 荘雄, 舟窪 浩, 長 康雄

    第71回応用物理学会春季学術講演会　2024年3月24日

  17. 周期的傾斜分極反転構造とベタ電極からなるSAWデバイス

    松村 理司, 島野 耀康, 大野 直輝, 柳谷 隆彦, 長 康雄

    第71回応用物理学会春季学術講演会　2024年3月24日

  18. LiNbO3単結晶のstress free電歪定数と非線形誘電定数の計測

    長 康雄, 中川 亮, 米田 年麿, 中尾 武志, 池浦 守

    第71回応用物理学会春季学術講演会　2024年3月23日

  19. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡による局所MOS容量-電圧特性測定とゆらぎ解析

    山末耕平, 長康雄

    第71回応用物理学会春季学術講演会　2024年3月23日

  20. 走査型プローブ顕微鏡が切り開く表面科学と電子デバイス応用への展開～走査型非線形誘電率顕微鏡を中心として～ 招待有り

    長 康雄

    第68回数理工学センター(MCME)セミナー　2024年3月11日

  21. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたGaN-MOSの高性能化に資する計測評価

    長 康雄

    INNOPELシンポジウム2023　2024年2月28日

  22. SAWデバイスの非線形性に関するこれまでの研究 招待有り

    中川 亮, 長 康雄

    圧電材料・デバイスシンポジウム2024　2024年1月30日

  23. 周期的傾斜分極反転構造を用いたベタ電極によるSAWの励振

    松村 理司, 島野 耀康, 大野 直輝, 柳谷 隆彦, 長 康雄

    圧電材料・デバイスシンポジウム2024　2024年1月29日

  24. LiTaO3単結晶の総ての非線形定数の決定 招待有り

    長康雄

    圧電材料・デバイスシンポジウム2024　2024年1月29日

  25. A simulation for the in-plane distribution of the surface dipole moment using DFT calculations 国際会議

    Akira Sumiyoshi, Kohei Yamasue, Yasuo Cho, Jun Nakamura

    The 31st International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM31)　2023年12月8日

  26. Heat Assisted Ferroelectric Reading for High Speed Ferroelectric Probe Data Storage 国際会議

    Yasuo Cho

    2023 MRS Fall Meeting & Exhibit　2023年11月30日

  27. Local Capacitance-Voltage Profiling of Al2O3/OH-Diamond (111) by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yu Ogata, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokunaga, Yasuo Cho

    2023 MRS Fall Meeting & Exhibit　2023年11月29日

  28. Nanoscale Fluctuation Analysis on Capacitance-Voltage Profiles of Semiconductors by Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2023 MRS Fall Meeting & Exhibit　2023年11月28日

  29. SNDM Study on Cubic and Hexagonal Epitaxially Stacked SiC MOS Interfaces 国際会議

    Yasuo Cho, Hiroyuki Nagasawa, Masao Sakuraba, Shigeo Sato

    2023 MRS Fall Meeting & Exhibit　2023年11月28日

  30. Determination of Nonlinear Dielectric and Electrostrictive Constants of Lithium Tantalate Single Crystal 国際会議

    Yasuo Cho, Ryo Nakagawa, Toshimaro Yoneda, Takeshi Nakao, Mamoru Ikeura

    2023 MRS Fall Meeting & Exhibit　2023年11月28日

  31. Microscopic evaluation of SiO2/GaN interface for power device applications by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Katsunori Ueno, Tsurugi Kondo, Ryo Tanaka, Shinya Takasima, Yasuo Cho

    The 14th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-14)　2023年11月16日

  32. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡によるAl2O3/ダイヤモンドの局所容量-電圧特性のナノスケールゆらぎ評価

    山末 耕平, 尾形 結友, 松本 翼, 德田 規夫, 長 康雄

    第43回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2023)　2023年11月7日

  33. Heat-assisted Ferroelectric Reading for High Speed Ultrahigh-density Ferroelectric Data Storage 国際会議

    Yasuo Cho

    MS&T 23　2023年10月2日

  34. 熱アシストSNDM強誘電体プローブメモリ

    長 康雄

    第84回応用物理学会秋季学術講演会　2023年9月22日

  35. 第一原理計算を用いたSi(111)-(2x2)表面における表面双極子の可視化

    住吉 晶, 山末 耕平, 長 康雄, 中村 淳

    第84回応用物理学会秋季学術講演会　2023年9月22日

  36. 時間分解SNDMによるAl2O3/ダイヤモンドの局所MOS容量-電圧特性測定

    山末 耕平, 尾形 結友, 松本 翼, 德田 規夫, 長 康雄

    第84回応用物理学会秋季学術講演会　2023年9月21日

  37. 3C-SiC/4H-SiC積層構造MOS界面のSNDM評価

    長 康雄, 長澤 弘幸, 櫻庭 政夫, 佐藤 茂雄

    第84回応用物理学会秋季学術講演会　2023年9月21日

  38. LiTaO3単結晶の非線形定数の計測

    長 康雄, 中川 亮, 米田 年麿, 中尾 武志, 池浦 守

    第84回応用物理学会秋季学術講演会　2023年9月20日

  39. Capacitance Variation Under Applied Electric Field and Stress for Nonlinear Dielectric and Electrostrictive Constants of Lithium Tantalate Single Crystal 国際会議

    Yasuo Cho, Ryo Nakagawa, Toshimaro Yoneda, Takeshi Nakao, Mamoru Ikeura

    IUS 2023　2023年9月6日

  40. Velocity Variation Under Applied Electric Field and Stress for Nonlinear Piezoelectric and Elastic Constants of Lithium Tantalate Single Crystal 国際会議

    Yasuo Cho, Ryo Nakagawa, Toshimaro Yoneda, Takeshi Nakao, Mamoru Ikeura

    IUS 2023　2023年9月5日

  41. Carrier distribution in mechanicallyexfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 measured by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Yasuo Cho

    ecoss 36　2023年8月31日

  42. Heat-Assisted Ferroelectric Reading for Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Probe Memory 国際会議

    Yasuo Cho, Yoshiomi Hiranaga

    IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF2023)　2023年7月27日

  43. Dynamic Measurement of Capacitance Variation Under Applied Electric Field for Lithium Tantalate Single Crystal with Nonlinear Dielectric Constants 国際会議

    Yasuo Cho, Ryo Nakagawa, Toshimaro Yoneda, Takeshi Nakao, Mamoru Ikeura

    IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF2023)　2023年7月25日

  44. Research on Correlation Between Grain Boundaries and Ferroelectric Switching Behaviors Through Statistical Analysis of Local C-V Map Datasets 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yuki Noguchi, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF2023)　2023年7月24日

  45. 時間分解SNDMによる界面欠陥準位の可視化 招待有り

    長 康雄

    日本顕微鏡学会第79回学術講演会　2023年6月27日

  46. 傾斜歪希土類鉄ガーネット薄膜におけるフレクソエレクトリック分極 招待有り

    山原 弘靖, Feng Bing, 関 宗俊, 足立 真輝, Shamim Sarker, 武田 崇仁, 小林 正起, 石川 亮, 幾原 雄一, 長 康雄, 田畑 仁

    第70回応用物理学会春季学術講演会　2023年3月17日

  47. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるブラックシリコン太陽電池のキャリア分布イメージング 国際共著

    長 康雄, Iandolo Beniamino, Hansen Ole

    第70回応用物理学会春季学術講演会　2023年3月17日

  48. 局所C-Vマップの機械学習解析に基づくグレイン境界と強誘電ドメイン挙動の相関に関する統計的評価

    平永 良臣, 野口 雄貴, 三村 和仙, 清水 荘雄

    第70回応用物理学会春季学術講演会　2023年3月16日

  49. SNDMプローブメモリ用定比組組成LiNbO3記録媒体の開発検討

    Nana Sun, Kanamori Hiroaki, Iizuka Takeshi, Konishi Akio, Yasuo Cho

    第70回応用物理学会春季学術講演会　2023年3月15日

  50. SNDM強誘電体プローブメモリにおける超高速再生法の提案

    長 康雄, 平永 良臣

    第70回応用物理学会春季学術講演会　2023年3月15日

  51. Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO2/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    7th IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing(EDTM) Conference 2023　2023年3月10日

  52. LiTaO3単結晶の総ての非線形定数の決定 招待有り

    長 康雄

    圧電材料・デバイスシンポジウム2024　2023年1月29日

  53. Statistical analysis of local C-V map data for ferroelectric thin films 国際会議 招待有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    2022年12月6日

  54. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Mechanically Exfoliated WSe2/SiO2 and Suspended WSe2 国際会議

    2022年11月30日

  55. Microscopic carrier distribution imaging of black silicon solar cell by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議 国際共著

    Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen

    The 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)　2022年11月16日

  56. Experimental research on curved photovoltaic modules : effects of hot spots, interconnect schemes and curvature on electrical PV performance 国際会議 国際共著

    Sachiko Jonai, Haruto Morishita, Yasuo Cho, Diego Bronneberg, Martin Huijzer, Angèle Reinders

    The 33rd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVSEC-33)　2022年11月15日

  57. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2/SiC の局所容量-電圧特性のナノスケールゆらぎ解析

    山末 耕平, 長 康雄

    第42回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2022)　2022年11月8日

  58. 半導体材料・デバイス評価・解析のための走査型プローブ顕微鏡技術 招待有り

    長 康雄

    第42回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2022)　2022年11月8日

  59. Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al2O3/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    International Workshop on Nitride Semiconductor(IWN2022)　2022年10月12日

  60. 局所C-Vマッピング法による強誘電体薄膜のナノスケール分極反転ダイナミクスのクラスタ解析

    平永 良臣, 三村 和仙, 清水 荘雄, 舟窪 浩, 長 康雄

    第83回応用物理学会秋季学術講演会　2022年9月20日

  61. Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    2022年9月12日

  62. Quantitative measurement of active dopant density distribution in black silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議 国際共著

    Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen

    49th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC 49)　2022年6月7日

  63. Carrier Profile Mapping in a 3D Flash Memory Cell using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議 招待有り

    Jun Hirota, Ken Hoshino, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 6th Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM 2022)　2022年3月9日

  64. Local Capacitance-Voltage Profiling on MoS2/SiO2 and MoS2/h-BN/SiO2 by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Assisted with an Insulating Tip 国際会議

    Taiyo Ishizuka, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 6th Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM 2022)　2022年3月8日

  65. Recording Medium Design Aiming at Realizing Ferroelectric Probe Data Storage 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    The Sixth International Symposium on Dielectric Materials and Applications　2021年12月17日

  66. Nanoscale Domain Dynamics Characterization Using Local C-V Mapping 国際会議 招待有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    The Sixth International Symposium on Dielectric Materials and Applications　2021年12月15日

  67. Nanoscale study on surface potential fluctuations of SiO2/SiC interfaces by time­resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    52th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2021年12月11日

  68. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Active Dopant Density Distribution in Black Silicon Solar Cell 国際会議 国際共著

    Yasuo Cho, Beniamino Iandolo, Ole Hansen

    2021 MRS Fall Meeting & Exhibit　2021年12月1日

  69. Microscopic Carrier Distribution Imaging of Atomically-Thin van der Waals Semiconductor by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yasuo Cho, Kohei Yamasue

    2021 MRS Fall Meeting & Exhibit　2021年12月2日

  70. A Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Al2O3/Diamond MOS Interfaces 国際会議

    Yasuo Cho, Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda

    2021 MRS Fall Meeting & Exhibit　2021年12月1日

  71. Simultaneous interface defect density and differential capacitance imaging by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis Conference(ISTFA2021)　2021年11月1日

  72. Surface potential fluctuations of SiO2/SiC interfaces investigated by local capacitance-voltage profiling based on time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. YAMASUE, Y.CHO

    ECSCRM 2021　2021年10月27日

  73. Nanoscale evaluation of Al2O3/diamond MOS interfaces using time-resolved scanning nonlinar dielectric microscopy 国際会議

    Y. OGATA, K. YAMASUE, X. ZHANG, T. MATSUMOTO, N. TOKUDA, Y. CHO

    ECSCRM 2021　2021年10月27日

  74. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡による直流バイアスストレス印加時のhigh-κ/SiO2/Siにおける局所容量-電圧特性測定

    鈴木小春, 山末耕平, 長 康雄

    第41回ナノテスティングシンポジウム,　2021年10月27日

  75. 時間分解SNDMを用いたダイヤモンドMOS界面の界面準位密度評価に関する検討

    尾形結友, 山末耕平, 張旭芳, 松本翼, 徳田規夫, 長康雄

    第41回ナノテスティングシンポジウム,　2021年10月27日

  76. 時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2/SiC界面のナノスケールキャリダイナミクスの可視化

    山末耕平, 長 康雄

    第41回ナノテスティングシンポジウム　2021年10月25日

  77. Local Capacitance-Voltage Profiling and Deep Level Transient Spectroscopy of SiO2/SiC Interfaces by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    IPFA2021　2021年9月14日

  78. Nanoscale characterization techniques for ultra-thin van der Waals semiconductors based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議 招待有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 5th international symposium on“Elucidation of Next Generation Functional Materials・Surface and Interface Properties”　2021年10月8日

  79. Nanoscale capacitance-voltage profiling of DC bias induced stress on a high-κ/SiO2/Si gate stack 国際会議

    Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ESREF2021　2021年10月7日

  80. Local capacitance-voltage profiling and high voltage stress effect study of SiO2/SiC structures by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Koharu Suzuki, Yasuo Cho

    ESREF2021　2021年10月5日

  81. Nanoscale analysis of unintentional p- to n-type transition on ultrathin MoS2 layers 国際会議

    Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, Yasuo Cho

    ICN+T 2021　2021年7月14日

  82. Nanoscale capacitance-voltage characteristics measurement of a high-κ/SiO2/Si gate stack effected by DC bias stress 国際会議

    Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ICN+T 2021　2021年7月14日

  83. 内因的非線形誘電率の温度依存性と強誘電体プローブデータストレージにおける媒体材料設計

    平永良臣, 長康雄

    第38回強誘電体会議　2021年6月3日

  84. 局所 C-V 曲線で観るナノスケール強誘電分極反転挙動

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    第38回強誘電体会議　2021年6月2日

  85. Downscaling and Low Temperature Deposition of Ferroelectric (Al1-xScx)N Thin Films Deposited by Dual Sputtering 国際会議

    Shinnosuke Yasuoka, Takao Shimizu, Masato Uehara, Hiroshi Yamada, Morito Akiyama, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Hiroshi Funakubo

    IEEE ISAF-ISIF-PFM 2021 Virtual Conference　2021年5月19日

  86. Local C-V Characterization for Ferroelectric Films 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Takanori Mimura, Takao Shimizu, Hiroshi Funakubo, Yasuo Cho

    IEEE ISAF-ISIF-PFM 2021 Virtual Conference　2021年5月19日

  87. 局所C-Vマッピングを用いた強誘電分極反転挙動のナノスケール評価

    平永 良臣, 長 康雄

    第68回応用物理学会春季学術講演会　2021年3月18日

  88. 強誘電体薄膜における分極反転挙動のナノスケールマッピング

    平永 良臣, 三村 和仙, 清水 荘雄, 舟窪 浩, 長 康雄

    第68回応用物理学会春季学術講演会　2021年3月16日

  89. Microscopic capacitance­voltage characteristics measurement of a SiO2/SiC MOS structure by time­resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    51th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2020年12月17日

  90. Nanoscale Evaluation of DC Bias Stress Induced Interface Defect Density of a High-κ/SiO2/Si Gate Stacks using Time­Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K.Suzuki, K. Yamasue, Y. Cho

    51th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2020年12月17日

  91. Nanoscale comparison of bias dependent carrier distributions in mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K.Takano, K. Yamasue, T.Kato, T. Kaneko, Y. Cho

    51th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2020年12月16日

  92. A Scanning Nonlinear Dielectric Microscopic Investigation of Potential-Induced Degradation in Monocrystalline Silicon Solar Cells 国際会議

    Yasuo Cho, Sachiko Jonai, Atsushi Masuda

    2020 VIRTUAL MRS SPRING/FALL MEETING & EXHIBIT　2020年11月28日

  93. SNDMによる半導体材料・素子評価の将来展望 招待有り

    長康雄

    第40回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2020)　2020年11月16日

  94. Spatial scale dependent impact of non-uniform interface defect distribution on field effect mobility in SiC MOSFETs 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    31ST EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS(ESREF 2020)　2020年10月6日

  95. Profiling of carriers in a 3D flash memory cell with nanometer-level resolution using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Jun Hirota, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    31ST EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS(ESREF 2020)　2020年10月5日

  96. Intirinsic Nonlinear Permittivity Enhancement Through Curie-Point Control Aimimg at Improving Readout Speed in Ferroelectric Probe Data Storage 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    IEEE IFCS-ISAF 2020 Virtual Conference　2020年7月20日

  97. Atomic resolution studies on surface dipoles by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy and potentiometry 国際会議 招待有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    IEEE IFCS-ISAF 2020 Virtual Conference　2020年7月23日

  98. 内因的非線形誘電率の温度依存性と強誘電体プローブデータストレージにおける媒体材料設計

    平永良臣, 長康雄

    第37回強誘電体会議　2020年5月27日

  99. Scanning nonlinear dielectric microscopy nano science and technology for next generation ultra-high density ferroelectric data storage beyond hard disk drive and flash memory 国際会議 招待有り

    Yasuo Cho

    ISyDMA’5 Virtual Edition　2020年4月15日

  100. 時間分解・局所DLTS法 を⽤いたマクロステップ を有する SiO2/SiC の界⾯準位密度分布の測定(2) 国際共著

    保坂杏奈, 山末耕平, Judith Woerl, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, 長康雄

    第67回応用物理学会春季学術講演会　2020年3月15日

  101. ⾛査型⾮線形誘電率顕微鏡による機械剥離WSe2/SiO2と架橋型WSe2のキャリア分布の観察

    高野幸喜,山末耕平,加藤俊顕,金子俊郎,長康雄

    第67回応用物理学会春季学術講演会　2020年3月15日

  102. キュリー点制御による内因的⾮線形誘電率の増⼤とその強誘電体プローブデータストレージへの応⽤

    平永良臣,長康雄

    第67回応用物理学会春季学術講演会　2020年3月14日

  103. 界⾯⽋陥分布の空間スケールとSiC MOSFETの電界効果移動度の関係に関する数値的検討

    山末耕平,長康雄

    第67回応用物理学会春季学術講演会　2020年3月13日

  104. 2D Interface Defect Density Evaluation on Macrostepped SiO2/SiC Using Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    A. Hosaka, K. Yamasue, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, Y. Cho

    50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2019年12月12日

  105. A New Evaluation Technique for Interface Defect Density on High-κ/SiO2/Si and SiO2/Si Gate Stacks using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Suzuki, K. Yamasue, Y. Cho

    50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2019年12月12日

  106. High resolution characterizations of fine structure of electric devices and materials using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議 招待有り

    Yasuo Cho

    High Frequency Scanning Probe Microscopy Workshop　2019年12月12日

  107. Nanoscale carrier distribution imaging on atomically-thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議 招待有り

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 4th international symposium on “Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface”　2019年12月9日

  108. Unintentional n-Type Doping on Single Layer Nb-Doped MoS2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2019 MRS Fall Meeting & Exhibit　2019年12月5日

  109. 走査型非線形誘電率顕微鏡による半導体キャリア分布観察のための絶縁膜付き探針の開発と層状半導体評価への応用

    高野幸喜, 山末耕平, 長 康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム, (NANOTS2019)　2019年11月19日

  110. 間欠接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた半導体キャリア分布観察における信号雑音比の改善

    山末耕平, 長 康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム, (NANOTS2019)　2019年11月19日

  111. 高調波∂C/∂z-SNDM信号を用いた半導体評価

    平永良臣, 長康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム, (NANOTS2019)　2019年11月18日

  112. 時間分解・局所DLTS 法 を用いた マクロステップ を有する SiO2/SiCの界面準位密度分布評価

    保坂杏奈, 山末耕平, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, 長 康雄

    第39回ナノテスティングシンポジウム (NANOTS2019)　2019年11月18日

  113. Carrier profiling of the 10-nm-order structure in a 3D Flash memory cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Jun Hirota, Ken Hoshino, Tsukasa Nakai, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    International Symposium for Testing and Failure Analysis 2019 (ISTFA 2019)　2019年11月14日

  114. Unintentional doping effects on atomically-thin Nb-doped MoS2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    International Symposium for Testing and Failure Analysis 2019 (ISTFA 2019)　2019年11月13日

  115. Carrier Distribution Investigation of Potential-Induced Degradation in Monocrystalline Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yasuo Cho

    The 29th International PV Science and Engineering Conference (PVSEC-29)　2019年11月7日

  116. Boxcar averaging based scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to carrier distribution imaging on 2D semiconductors 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2019 International Integrated Reliability Workshop (IIRW)　2019年10月

  117. A study on evaluation of interface defect density on high-κ/SiO2/Si and SiO2/Si gate stacks using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2019 International Integrated Reliability Workshop (IIRW)　2019年10月

  118. Spatially-resolved evaluation of interface defect density on macrostepped SiO2/SiC using local deep level transient spectroscopy 国際会議 国際共著

    Anna Hosaka, Kohei Yamasue, Judith Woerle, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, Yasuo Cho

    2019 International Integrated Reliability Workshop (IIRW)　2019年10月

  119. Spatially Resolved Defect Mapping of the SiO2/4H-SiC Interface

    Judith Woerle, Brett Johnson, Corrado Bongiorno, Kohei Yamasue, Gabriel Ferro, Dipanwita Dutta, Yasuo Cho, Ulrike Grossner, Massimo Camarda

    International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019)　2019年10月2日

  120. Flexoelectricity and magnetism in strain-gradient rare-earth iron garnet thin films 国際会議

    Hiroyasu Yamahara, Sarker Md Shamim, Munetoshi Seki, Yasuo Cho, Hitoshi Tabata

    26th International Workshop on Oxide Electronics (iWOE26)　2019年10月1日

  121. Influence of non-uniform interface defect distribution on channel mobility in SiC MOSFETs investigated by local deep level transient spectroscopy and device simulation 国際会議

    Kohei Yamasue, Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019)　2019年10月1日

  122. Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis(ESREF 2019)　2019年9月25日

  123. SNDM強誘電体プローブデータストレージの再生信号強度に関する現象論的考察

    平永 良臣, 長 康雄

    第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月19日

  124. 不均一な界面欠陥分布がSiC MOSFETのチャネル移動度に及ぼす影響 ― 局所DLTS測定とデバイスシミュレーションに基づく検討 ―

    山末 耕平, 山岸 裕史, 長 康雄

    第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月19日

  125. 局所DLTS法を用いたマクロステップを有するSiCにおける界面準位密度分布の測定

    保坂 杏奈, 山末 耕平, Judith Woerle, Corrado Bongiorno, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, 長 康雄

    第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月19日

  126. 傾斜格子歪み希土類鉄ガーネットにおけるフレクソ分極とフェリ磁性の共存

    山原 弘靖, Sarker Md. Shamim, 関 宗俊, 長 康雄, 田畑 仁

    第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月18日

  127. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSiO2/Siにおける界面状態不均一の可視化に関する検討

    鈴木 小春, 山末 耕平, 長 康雄

    第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月18日

  128. 絶縁膜付き探針を用いた層状半導体のSNDM観察

    高野 幸喜, 山末 耕平, 長 康雄

    第80回応用物理学会秋季学術講演会　2019年9月18日

  129. Improvement of Signal-to-Noise Ratio in Carrier Distribution Imaging in Intermittent Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Based on Boxcar Integration 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    18th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII)　2019年9月10日

  130. High-Resolution Observation of Ferroelectric Domains Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy With Ultra Sharp Diamond Probe 国際会議

    Tomotaka Ishida, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    Asia-Pacific PFM 2019　2019年8月12日

  131. ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Linear Permittivity Imaging 国際会議 招待有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    Asia-Pacific PFM 2019　2019年8月12日

  132. High Resolution Mapping of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local-DLTS Based on Time Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    The International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA ) 2019　2019年7月5日

  133. Surface dipole induced potentials on metals observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    The 17th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI-17)　2019年6月27日

  134. 二重バイアス変調静電気力顕微鏡を用いた局所誘電緩和測定

    平永 良臣, 長 康雄

    第36回強誘電体応用会議　2019年5月30日

  135. High Resolution Observation of Subsurface Defects at SiO2/4H-SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    山岸裕史, 長康雄

    IRPS 2019　2019年3月31日

  136. 極細導電性探針を用いた高分解能強誘電ドメイン観察

    石田知嵩, 平永良臣, 長康雄

    第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月11日

  137. 二重バイアス変調静電引力顕微鏡を用いたポリフッ化ビニリデンの誘電緩和測定

    平永良臣, 長康雄

    第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月11日

  138. 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる金属表面の双極子誘起電位の観察

    山末耕平, 長康雄

    第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月11日

  139. 走査型非線形誘電率顕微鏡による半導体キャリア分布観察のための絶縁膜付きカンチレバーの開発 (2)

    高野幸喜, 山末耕平, 長康雄

    第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月10日

  140. 高調波∂C/∂z-SNDM信号を用いた半導体キャリア分布観察

    平永良臣, 長康雄

    第66回応用物理学会春季学術講演会　2019年3月9日

  141. 走査型非線形誘電率顕微鏡 招待有り

    長 康雄

    第23回結晶工学セミナー　2018年12月21日

  142. High Resolution Mapping of Subsurface Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y. Yamagishi, Y. Cho

    SISC 2018　2018年12月8日

  143. Local Evaluation of Non-Uniform Charge Distribution in Al2O3 Passivation Layers for Silicon Solar Cells Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    2018 MRS Fall Meeting & Exhibit　2018年11月29日

  144. Nanoscale Linear Dielectric Constant Imaging Using ∂C/∂z -Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    2018 MRS Fall Meeting & Exhibit　2018年11月28日

  145. High-Resolution Observation of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    2018 MRS Fall Meeting & Exhibit　2018年11月27日

  146. Electric Field Effects on Few-Layer WSe2/SiO2 Investigated by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, Yasuo Cho

    2018 MRS Fall Meeting & Exhibit　2018年11月25日

  147. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法による結晶シリコン太陽電池用Al2O3パッシベーション膜の微視的評価

    柿川 賢斗, 山岸 裕史, 棚橋 克人, 高遠 秀尚, 長 康雄

    第38回ナノテスティングシンポジウム　2018年11月20日

  148. 走査型非線形誘電率顕微鏡による数層MoS2のキャリア分布観察における信号強度の改善

    山末耕平, 長康雄

    第38回ナノテスティングシンポジウム　2018年11月20日

  149. ∂C/∂z-SNDM による半導体評価に関する数値シミュレーション

    平永 良臣, 長 康雄

    第38回ナノテスティングシンポジウム　2018年11月19日

  150. High resolution mapping of subsurface defects at SiO2/SiC interfaces by local deep level transient spectroscopy

    Y. Yamagishi, Y. Cho

    第38回ナノテスティングシンポジウム　2018年11月19日

  151. Novel carrier measurement methodology for floating gate of sub-20 nm node flash memory using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Jun Hirota, Yuji Yamagishi, Shiro Takeno, Yasuo Cho

    ISTFA 2018　2018年10月29日

  152. High resolution mapping of subsurface defects at SiO2/SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    ISTFA 2018　2018年10月29日

  153. Quantitative imaging of carrier distribution in silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    ISTFA 2018　2018年10月29日

  154. Nanoscale Permittivity Imaging Using ∂C/∂z-mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y. Hiranaga, Y. Cho

    ACSIN-14 & ICSPM26　2018年10月25日

  155. Evaluation of Local Charge State in Al2O3 Passivation Layers of Silicon Solar Cells Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Kakikawa, Y. Yamagishi, K. Tanahashi, H. Takato, Y. Cho

    ACSIN-14 & ICSPM26　2018年10月23日

  156. Few-layer WSe2 on SiO2 Observed by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Electrostatic Force Microscopy 国際会議

    K. Yamasue, T. Kato, T. Kaneko, Y. Cho

    ACSIN-14 & ICSPM26　2018年10月22日

  157. High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    ESREF2018　2018年10月4日

  158. ブラックシリコンのキャリア分布評価に向けた非線形誘電率顕微鏡法の適用可能性の検討

    柿川 賢斗, 長 康雄

    第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月20日

  159. ∂C/∂z-SNDM法による半導体ドーパント濃度測定に関する数値シミュレーション

    平永 良臣, 長 康雄

    第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月19日

  160. High resolution characterizations of fine structure of semiconductor device and material using scanning nonlinear dielectric microscopy 招待有り

    長 康雄

    第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月19日

  161. 走査型非線形誘電率顕微鏡による半導体キャリア分布観察のための絶縁膜付きカンチレバーの開発

    高野 幸喜, 山末 耕平, 長 康雄

    第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月18日

  162. 走査型非線形誘電率顕微鏡と静電気力顕微鏡を用いたSiO2上剥離WSe2におけるキャリア分布観察

    山末 耕平, 加藤 俊顕, 金子 俊郎, 長 康雄

    第79回応用物理学会秋季学術講演会　2018年9月18日

  163. High-resolution observation of defects at nitride SiO2/4H-SiC interfaces by local deep level transient spectroscopy 国際会議

    Y. Yamagishi, K. Yamasue, Y. Cho

    ECSCRM2018　2018年9月4日

  164. DC bias dependent nanoscale carrier distribution on a few-layer WSe2 on SiO2 observed by scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, Yasuo Cho

    ecoss34　2018年8月29日

  165. Nanoscale Linear Permittivity Imaging Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議 招待有り

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    IUMRS-ICEM 2018　2018年8月21日

  166. ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy for imaging nanoscale linear permittivity 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    ICN+T2018　2018年7月27日

  167. Scanning nonlinear dielectric microscopy study on nanoscale carrier distribution in two dimensional semiconductors 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ICN+T2018　2018年7月24日

  168. Development of time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to local deep level transient spectroscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    ICN+T2018　2018年7月23日

  169. Quantitative Imaging of MOS Interface Trap Distribution by Using Local Deep Level Transient Spectroscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    IPFA 2018　2018年7月18日

  170. Quantitative Evaluation of Carrier Distribution in Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    IPFA 2018　2018年7月18日

  171. Imaging of nanoscale linear permittivity by using ∂C/∂z-mode scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    Electroceramics XVI　2018年7月9日

  172. ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Local Permittivity Imaging 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    ECAPD-2018　2018年6月27日

  173. Measurement Method of Depth Profile in Polarity-Inverted Layered Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Soft Probe tip 国際会議

    Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho

    ECAPD-2018　2018年6月27日

  174. Improved readout speed in ferroelectric probe data storage with large nonlinear permittivity media 国際会議

    Reshan Maduka Abeysinghe, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    ECAPD-2018　2018年6月25日

  175. ∂C/∂z-mode SNDM for imaging nanoscale linear permittivity 国際会議 招待有り

    Yoshiomi HIRANAGA, Yasuo CHO

    The 3rd International Symposium on“Recent Trends in the Elucidation and Function Discovery of Next Generation Functional Materials of Surface / Interface Properties　2018年6月19日

  176. Local Evaluation of Al2O3 Passivation Layers for Crystalline Silicon Solar Cells by Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kento Kakikawa, Yuji Yamagishi, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    World Conference on Photovoltaic Energy Conversion(WCPEC7)　2018年6月14日

  177. Local Permittivity Measurement Using ∂C/∂z-Mode Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y. HIRANAGA, Y. CHO

    2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference　2018年5月31日

  178. HDD Type High Speed Data Readout Demonstrations in Ferroelectric Data Storage Using Pb(Zr,Ti)O3 Recording Medium 国際会議

    R. M. ABEYSINGHE, Y. HIRANAGA, Y. CHO

    2018 ISAF-FMA-AMF-AMEC-PFM Joint Conference　2018年5月31日

  179. Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    長 康雄

    TechConnect World 2018　2018年5月16日

  180. Scanning nonlinear dielectric microscopy in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides 国際会議

    長 康雄

    ISPM2018　2018年5月11日

  181. Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric 国際会議

    Hiroyuki Odagawa, Yohei Tanaka, Yasuo Cho

    Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications　2018年4月19日

  182. Nanoscale Linear Permittivity Measurement Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議 招待有り

    長 康雄

    Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications　2018年4月19日

  183. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSiO2上剥離WSe2観察におけるキャリア分布の直流バイアス依存性

    山末 耕平, 加藤 俊顕, 金子 俊郎, 長 康雄

    第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月20日

  184. 低温局所DLTS法による伝導帯近傍の界面準位分布の可視化 (2)

    阿部貴之, 山岸裕史, 長 康雄

    第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月20日

  185. 高分解能局所DLTSによるSiO2/4H-SiC界面の欠陥分布観察

    山岸裕史, 長 康雄

    第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月20日

  186. 走査型非線形誘電率常磁性共鳴顕微鏡法の開発に関する理論的検討

    原田 明永, 山岸 裕史, 長 康雄

    第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月19日

  187. 超高次非線形誘電率顕微鏡法によるシリコン太陽電池用Al2O3パッシベーション膜の微視的評価

    柿川 賢斗, 山岸 裕史, 棚橋 克人, 高遠 秀尚, 長 康雄

    第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月19日

  188. バイアス掃引SNDM法による分極反転特性の面内分布観察

    平永 良臣, 長 康雄

    第65回応用物理学会春季学術講演会　2018年3月19日

  189. Charge State Evaluation of Passivation Layers for Silicon Solar Cells by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    IRPS2018　2018年3月14日

  190. Nanoscale carrier distribution imaging of layered semiconductor materials using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    PCSI 25　2018年1月14日

  191. Local deep level transient spectroscopy imaging for MOS interface trap distribution 国際会議

    N. Chinone, Y. Cho

    PCSI 25　2018年1月14日

  192. Demonstration of High Speed Reading in Ferroelectric Data Storage Using Pb(Zr,Ti)O3 Recording Medium

    Reshan Maduka Abeysinghe, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会(MR)　2017年12月7日

  193. Local evaluation of Al2O3 passivation layers crystalline silicon solar cells by super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Kakikawa, Y. Yamagishi, H. Takato, K. Tanahashi, Y. Cho

    ICSPM25　2017年12月7日

  194. Local Carrier Distribution Imaging of Two-Dimensional Semiconductors by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    ICSPM25　2017年12月7日

  195. Visualization of Traps at SiO2/SiC Interfaces near the Conduction Band by Local Deep Level Transient Spectroscopy at Low Temperatures 国際会議

    T. Abe, Y. Yamagishi, Y. Cho

    ICSPM25　2017年12月7日

  196. Quantitative imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, Y. Cho

    48th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference　2017年12月6日

  197. Quantitative Measurement of Active Dopant Density Distribution and Evaluation of Effective Diffusivities in Phosphorus-Implanted Monocrystalline Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    2017 MRS fall meeting　2017年11月26日

  198. Quantitative Imaging of SiO2/SiC Interface Trap Density Using Local Deep Level Transient Spectroscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    2017 MRS fall meeting　2017年11月26日

  199. EVALUATION OF EFFECTIVE DIFFUSIVITIES AND THREE-DIMENSIONAL SIMULATION OF CARRIER DISTRIBUTION IN PHOSPHORUS-IMPLANTED EMITTER OF SI SOLAR CELL USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    PVSEC-27　2017年11月12日

  200. 局所DLTS法を用いたSiO2/SiC界面欠陥密度の定量イメージング

    茅根慎通, 長 康雄

    第37回ナノテスティングシンポジウム　2017年11月8日

  201. 高度な欠陥分布評価のための局所DLTSの高度化

    山岸裕史, 長 康雄

    第37回ナノテスティングシンポジウム　2017年11月8日

  202. Imaging of MOS Interface Trap Distribution using Local Deep Level Transient Spectroscopy Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    N. Chinone, Y. Cho

    AVS 64th International Symposium & Exhibition　2017年10月31日

  203. Local Carrier and Charge Distribution Imaging on Molybdenum Disulfide by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    ISSS-8 2017　2017年10月22日

  204. Alternative Storage Technology Study about Ferro-Electric Recording 国際会議

    Yasuo Cho

    ASTC Fall 2017 Research Review Meeting　2017年10月16日

  205. Two‐dimensional imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, Y. Cho

    DRIP XVII　2017年10月8日

  206. DC bias dependence of local deep level transient spectroscopy spectrum and quantitative two-dimensional imaging of SiO2/SiC interface trap density2 国際会議

    N. Chinone, R. Kosugi, S. Harada, Y. Tanaka, H. Okumura, Y. Cho

    ESREF2017　2017年9月25日

  207. Improvement of Local Deep Level Transient Spectroscopy for Microscopic Evaluation of SiO2/4H-SiC Interfaces 国際会議

    Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

    ICSCRM2017　2017年9月17日

  208. DC bias dependence of local deep level transient spectroscopy signal and quantitative two-dimensional imaging of SiO2/SiC interface trap density 国際会議

    N. Chinone, R. Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, Y. Cho

    ICSCRM2017　2017年9月17日

  209. Atomic resolution imaging and carrier type determination of Molybdenum disulfide by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ecoss33　2017年8月27日

  210. 走査型プローブ顕微鏡(非線形誘電率顕微鏡)を用いたデバイス観察

    2017年真空・表面科学合同講演会　2017年8月17日

  211. Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional MOS interface characterization based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, Y. Cho

    16th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces(icsfi2017)　2017年7月2日

  212. Quantitative Analysis of Active Dopant Distribution and Estimation of Effective Diffusivity in Phosphorus-Implanted Emitter of Si Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    IEEE PVSC-44　2017年6月25日

  213. SNDMによる分極反転過程の動的観察

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    第34回強誘電体応用会議　2017年5月31日

  214. 走査型非線形誘電率顕微法による層状極性反転圧電薄膜の層厚の定量測定

    小田川裕之, 田中陽平, 寺田浩史士, 西川宏明, 柳谷隆彦, 長康雄

    第34回強誘電体応用会議　2017年5月31日

  215. Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging on Trap Distribution in SiC MOS Interface Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    N. Chinone, Y. Cho

    The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference　2017年5月16日

  216. Atomic Resolution Imaging of MoS2 by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K.Yamasue, Y. Cho

    The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference　2017年5月16日

  217. Dynamic Observation of Nanoscale Domain Switching Behaviors in Ferroelectric HfO2 films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y. Hiranaga, T. Mimura, T. Shimizu, H. Funakubo, Y. Cho

    2017 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM　2017年5月7日

  218. Ferroelectric Probe Data Storage Using HfO2-Based Thin-Film Recording Media 国際会議

    Y. Hiranaga, T. Mimura, T. Shimizu, H. Funakubo, Y. Cho

    2017 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM　2017年5月7日

  219. Measurement Method of Multi-layer Piezoelectric Polarity-inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    H. Odagawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani, Y. Cho

    2017 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM　2017年5月7日

  220. 走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)による半導体MOS界面評価

    日本学術振興会ワイドギャップ半導体光・電子デバイス第162委員会第103回研究会　2017年4月28日

  221. Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional trap distribution in MOS interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    The 20th Microscopy of Semi Conducting Materials　2017年4月9日

  222. 走査型非線形誘電率ポテンショメトリを用いたGaN の自発分極測定に関する実験的検討

    山末耕平, 長康雄

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月14日

  223. ∂C/∂z-SNDM法によるナノスケール線形誘電率分布の定量測定

    平永良臣, 茅根慎通, 長康雄

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月14日

  224. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリンイオン注入単結晶Si太陽電池の活性化ドーパント分布の定量評価及び実効拡散係数の推定

    廣瀬光太郎, 棚橋克人, 高遠秀尚, 長康雄

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月14日

  225. 電流計測AFMとSNDMによるSiO2/4H-SiC界面の不均一性評価

    山岸裕史, 茅根慎通, 長 康雄

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月14日

  226. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた局所DLTSによる界面トラップ分布の時定数依存性の観察

    茅根慎通, 小杉亮治, 田中保宣, 原田信介, 奥村元, 長康雄

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月14日

  227. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたナノスケール分極反転過程の動的観察

    平永良臣, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩, 長康雄

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月14日

  228. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたパワーデバイス中の電荷分布の評価・解析

    日本パワーデバイス用シリコンおよび関連半導体材料に関する研究会　2017年2月22日

  229. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡・ポテンショメトリを用いた表面原子双極子モーメントの観測

    日本顕微鏡学会走査型プローブ顕微鏡分科会研究会　2017年2月3日

  230. Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    The 2nd International Symposium on “Recent Trends in Analysis Techniques for Functional Materials and Devices　2017年1月17日

  231. Polarization Charge Density Measurement by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    ICSPM24　2016年12月14日

  232. Y添加HfO2薄膜における強誘電ドメイン反転のSNDM観察

    平永良臣, 長康雄, 三村和仙, 清水荘雄, 舟窪浩

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会(MR)　2016年12月8日

  233. Local deep level Transient Spectroscopy Imaging for Characterization of Two-Dimensional Trap Distribution in SiO2/SiC Interface Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasuonori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    2016 MRS fall meeting　2016年11月27日

  234. Universal Parameter Characterizing SiO2/SiC Interface Quality Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi, Yasuonori Tanaka, Shinsuke Harada, Yuji Kiuchi, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    2016 MRS fall meeting　2016年11月27日

  235. 走査型非線形誘電率顕微鏡法による局所DLTS法の提案とSiO2/SiC界面欠陥の高空間分解能可視化技術への応用

    茅根慎通, 小杉亮治, 田中保宣, 原田信介, 奥村 元, 長 康雄

    第36回ナノテスティングシンポジウム　2016年11月9日

  236. 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるシリコン太陽電池のキャリア濃度の定量評価

    廣瀬光太郎, 棚橋克人, 高遠秀尚, 長 康雄

    第36回ナノテスティングシンポジウム　2016年11月9日

  237. Two-dimensional local deep level transient spectroscopy imaging using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, R.Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, Y. Cho

    ISTFA2016　2016年11月6日

  238. Quantitative Analysis of Two-dimensional Carrier Concentration in Phosphorus-implanted Emitter Solar Cell using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Yasuo Cho

    PVSEC26　2016年10月24日

  239. Two-dimensional imaging of trap distribution in SiO2 /SiC interface using local deep level transient spectroscopy based on super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, R.Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, Y. Cho

    ecscrm2016　2016年9月25日

  240. Universal parameter evaluating SiO2 /SiC interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, A. Nayak, R.Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, Y. Kiuchi, H. Okumura, Y. Cho

    ecscrm2016　2016年9月25日

  241. Local deep level transient spectroscopy using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinske Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    ESREF2016　2016年9月19日

  242. SNDM線形誘電率ナノイメージングにおける高調波信号像

    平永良臣, 茅根慎通, 長 康雄

    第77回応用物理学会秋季学術講演会　2016年9月13日

  243. 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによるSi(111)-(7x7)表面における分極電荷密度の原子スケール観察

    山末耕平, 長康雄

    第77回応用物理学会秋季学術講演会　2016年9月13日

  244. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2/4H-SiC界面の局所容量特性評価

    山岸裕史, 茅根慎通, 長康雄

    第77回応用物理学会秋季学術講演会　2016年9月13日

  245. SiO2/SiC界面欠陥由来による局所DLTS像の直流バイアス依存性観測

    茅根慎通, 小杉亮治, 田中保宣, 原田信介, 奥村元, 長康雄

    第77回応用物理学会秋季学術講演会　2016年9月13日

  246. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた単結晶シリコン太陽電池のリンイオン注入エミッタにおけるドーパント分布の定量測定

    廣瀬光太郎, 棚橋克人, 高遠秀尚, 長康雄

    第77回応用物理学会秋季学術講演会　2016年9月13日

  247. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた次世代パワーエレクトロニクス用半導体素子の観測

    第29回公益社団法人日本セラミックス協会秋季シンポジウム　2016年9月7日

  248. 非線形誘電率顕微鏡（SNDM）の原理とデバイス計測への応用

    JASIS2016　2016年9月6日

  249. Surface polarization on a Si(111) reconstructed surface measured by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    ecoss32　2016年8月28日

  250. Nanoscaled Permittivity Distribution Imaging Using an SNDM Probe 国際会議

    Y. Hiranaga, N. Chinone, K. Hirose, Y. Cho

    2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference　2016年8月21日

  251. Ferroelectric Nanodomain Observation in Yttrium-Doped HfO2 Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Z. Chen, Y. Hiranaga, T. Shimizu, K. Katayama, T. Mimura, H. Funakubo, Y. Cho

    2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference　2016年8月21日

  252. Quantitative thickness measurement in polarity-inverted piezoelectric layered thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    H. Odagawa, K. Terada, H. Nishikawa, Y. Tanaka, T. Yanagitani, Y. Cho

    2016 Joint ISAF/ECAPD/PFM Conference　2016年8月21日

  253. Surface polarization measurement on a reconstructed Si(111) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry 国際会議

    K. Yamasue, Y. Cho

    NC-AFM 2016　2016年7月25日

  254. Proposal of Local Deep Level Transient Spectroscopy Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and 2-Dimensional Imaging of Trap Distribution in SiO2 /SiC Interface 国際会議

    N. Chinone, R.Kosugi, Y. Tanaka, S. Harada, H. Okumura, Y. Cho

    IPFA 2016　2016年7月18日

  255. Two-Dimensional Characterization of Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter of Silicon Solar Cell Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Hirose, N. Chinone, Y. Cho

    EU PVSEC 2016　2016年6月20日

  256. Two-Dimensional Characterization of Active Dopant Distribution in a p-i-n Structured Amorphous Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Hirose, N. Chinone, Y. Cho

    EU PVSEC 2016　2016年6月20日

  257. An Universal Parameter Showing SiO2/SiC Interface Quality of Both Silicon and Carbon-face based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Alpana Nayak, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Yuji Kiuchi, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    ISCSI-VII/ ISTDM 2016　2016年6月7日

  258. Two-dimensional Analysis of Carrier Distribution in Phosphorus-Implanted Emitter and Phosphorus-Diffused Emitter using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Katsuto Tanahashi, Hidetaka Takato, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    43rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference　2016年6月5日

  259. SNDMによる線形誘電率ナノイメージング

    平永良臣, 茅根慎通, 廣瀬光太郎, 長康雄

    第33回強誘電体応用会議　2016年5月25日

  260. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたdC/dVとdC/dz測定によるキャリア濃度の定量化に関する研究

    劉彬, 平永良臣, 茅根慎通, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  261. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた単結晶シリコン太陽電池のリンイオン注入エミッタ層におけるキャリア分布の可視化

    廣瀬光太郎, 棚橋克人, 高遠秀尚, 茅根慎通, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  262. 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いた局所DLTS法の提案とSiO2/SiC界面評価への応用

    茅根慎通, 小杉亮治, 田中保宣, 原田信介, 奥村元, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  263. SNDM線形誘電率ナノイメージングにおける空間分解能の数値解析

    平永良臣, 茅根慎通, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  264. 走査型非線形誘電率顕微鏡における強誘電性Y:HfO2薄膜のドメイン反転

    陳舟, 平永良臣, 清水荘雄, 片山きりは, 三村和仙, 舟窪浩, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  265. 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリとケルビンプローブフォース顕微鏡法の実験的比較

    向出周太, 山末耕平, 阿部真之, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  266. 走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる表面自発分極の測定に関する検討

    山末耕平, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  267. SNDM線形誘電率ナノイメージングに関する有限要素法シミュレーション

    平永良臣, 茅根慎通, 長康雄

    第63回応用物理学会春季学術講演会　2016年3月19日

  268. 強誘電性Y:fO2薄膜におけるナノスケールドメイン反転

    陳舟, 平永良臣

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会(MR)　2016年3月4日

  269. 強誘電体プローブデータストレージ～現状と今後の展開～

    平永良臣, 長康雄

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会(MR)　2015年12月10日

  270. Two dimensional electron gas and polarization measurement in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Hirose, Y. Goto, N. Chinone, Y. Cho

    ICSPM23　2015年12月10日

  271. Graphene on C-terminated Face of 4H-SiC Observed by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry 国際会議

    K. Yamasue, H. Fukidome, K. Tashima, M. Suemitsu, Y. Cho

    ICSPM23　2015年12月10日

  272. Simultaneous Imaging of Atomically Resolved Topography and Potential of Graphene on C-Terminated Face of SiC Using Scanning Nonlinear Dielectric Potentiometry 国際会議

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  273. Polarization and Two Dimensional Electron Gas Visualization in AlGaN/GaN Heterostructure 国際会議

    Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasunori Goto, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  274. Negligible Covalent Bonding in Proper Ferroelectric Ferromagnet: Strained La2NiMnO6 Thin Film 国際会議

    Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Kunihiko Yamauchi, Miho Kitamura, Yasunari Sakurai, Masaharu Oshima, Tamio Oguchi, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  275. Hard-Disk-Drive-Type Ferroelectric Data Recording with Memory Density over 1 Tbit/inch2 Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Tomonori Aoki, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  276. Local and Nondestructive Evaluation of SiO2/SiC Interface Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasuonori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  277. Investigation of Oxygen Adsorbed Si(100)-(2x1) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  278. Dopant Profiling Analysis of P-I-N Structure in Thin-Film Amorphous Silicon Solar Cell Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  279. Visualization of Carrier Distribution in Operated SiC Power-MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    2015 MRS fall meeting　2015年11月29日

  280. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法によるSiC-DMOSFET断面キャリア分布のGS間電圧依存性解析

    茅根慎通, 長康雄

    第35回ナノテスティングシンポジウム　2015年11月11日

  281. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法によるSiCパワートランジスタ内pn接合位置の同定手法に関する検討

    茅根慎通, 後藤安則, 長康雄

    第35回ナノテスティングシンポジウム　2015年11月11日

  282. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いたAlGan/GaNヘテロ結合の2次元電子ガス及び分極の測定

    廣瀬光太郎, 後藤安則, 茅根慎通, 長康雄

    第35回ナノテスティングシンポジウム　2015年11月11日

  283. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いたアモルファスシリコン太陽電池のpin接合の断面測定

    廣瀬光太郎, 茅根慎通, 長康雄

    第35回ナノテスティングシンポジウム　2015年11月11日

  284. 走査型非線形誘電率顕微鏡

    長康雄

    第35回ナノテスティングシンポジウム　2015年11月11日

  285. Carrier redistribution analysis of gate-biased SiC power-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    ISTFA 2015　2015年11月1日

  286. Observation of polarization and two dimensional electron gas in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    ISTFA 2015　2015年11月1日

  287. 走査型非線形誘電率顕微鏡法による極性反転層状構造圧電膜の層厚の定量測定

    寺田浩士朗, 西川宏明, 田中陽平, 小田川裕之, 柳谷隆彦, 長康雄

    電子情報通信学会超音波研究会(US)　2015年10月9日

  288. Visualization of gate-bias dependent carrier distribution in SiC power-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    ESREF 2015　2015年10月5日

  289. Microscopic investigation of SiO2/SiC interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    ESREF 2015　2015年10月5日

  290. Visualization of polarization and two dimensional electron gas distribution in AlGaN/GaN heterostructure using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kotaro Hirose, Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    ICSCRM 2015　2015年10月4日

  291. Nondestructive and local evaluation of SiO2/SiC interface using superhigher-order scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Ryoji Kosugi, Yasunori Tanaka, Shinsuke Harada, Hajime Okumura, Yasuo Cho

    ICSCRM 2015　2015年10月4日

  292. A-siteが変位する強磁性強誘電体：La2NiMnO6薄膜

    高橋竜太, 大久保勇男, 山内邦彦, 北村未歩, 桜井康成, 尾嶋正治, 小口多美夫, 長 康雄

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  293. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡による単結晶Si太陽電池の光照射によるキャリア分布変化の測定

    廣瀬光太郎, 茅根慎通, 長康雄

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  294. 超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法による次世代パワー半導体デバイスの評価と走査型非線形誘電率ポテンショメトリの提案

    長康雄, 茅根慎通, 廣瀬光太郎, 山末耕平

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  295. 非接触走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる4H-SiC(000\bar{1})上グラフェンの観察

    山末耕平, 吹留博一, 舩窪一智, 末光眞希, 長 康雄

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  296. 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiO2/SiC界面評価技術の検討

    茅根慎通, 小杉亮治, 田中保宣, 原田信介, 奥村元, 長康雄

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  297. SNDMプローブによる線形誘電率分布の新規測定法を用いた誘電体薄膜の評価

    平永良臣, 茅根慎通, 廣瀬光太郎, 長 康雄

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  298. SNDMプローブを用いたナノスケール線形誘電率分布マッピング

    平永良臣, 茅根慎通, 廣瀬光太郎, 長 康雄

    第76回応用物理学会秋季学術講演会　2015年9月13日

  299. Observation of graphene on C-terminated face of SiC using noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry 国際会議

    K. Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, Y. Cho

    nc AFM 2015　2015年9月7日

  300. Oxygen adsorption on a Si(100)-(2×1) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    M. Suzuki, K. Yamasue, Y. Cho

    nc AFM 2015　2015年9月7日

  301. Graphene on C-terminated face of 4H-SiC studied by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry 国際会議

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    ECOSS-31　2015年8月31日

  302. Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy study of oxygen-adsorption on a Si(100)-(2×1) surface 国際会議

    Kohei Yamasue, Masataka Suzuki, Yasuo Cho

    ECOSS-31　2015年8月31日

  303. Charge Gradient Microscopy : Electromechanical Charge Scraping and Refill of Screening Charges 国際会議

    Seungbum Hong, Sheng Tong, Yoon-Young Choi, Woon Ik Park, Liliana Stan, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho

    MMC 2015　2015年6月29日

  304. Read/Write Demonstration of Ferroelectric Probe Data Storage with a Density Exceeding 1 Tbit/inch2 国際会議

    T. Aoki, Y. Hiranaga, Y. Cho

    13th EUROPEAN MEETING ON FERROELECTRICITY　2015年6月28日

  305. Method for Measuring Polarity-Inverted Layered Structure in Dielectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    H.Odagawa, K.Terada, H.Nishikawa, T.Yanagitani, Y. Cho

    13th EUROPEAN MEETING ON FERROELECTRICITY　2015年6月28日

  306. Surface Analytical Study on Ferroelectric Recording Media Using XPS and SNDM 国際会議

    Y. Hiranaga, Y. T. Chen, Y. Cho

    13th EUROPEAN MEETING ON FERROELECTRICITY　2015年6月28日

  307. HYDROGEN-INTERCALATED GRAPHENE ON SiC STUDIED BY NONCONTACT SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC POTENTIOMETRY 国際会議

    Cho Y, Yamasue K, Fukidome H, Funakubo K, Suemitsu M

    International Scanning Probe Microscopy Rio 2015　2015年6月21日

  308. SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC POTENTIOMETRY：NEW STRATEGY FOR MESURING DIPOLE-INDUCED POTENTIALS IN ATOIMIC SCALE 国際会議

    Cho Y, Yamasue K

    International Scanning Probe Microscopy Rio 2015　2015年6月21日

  309. Gate-bias dependent carrier distribution visualization in SiC power-MOSFET using super-higher-order SNDM 国際会議

    Norimichi Chinone, Yasuo Cho

    EMN CANCUN MEETING 2015　2015年6月8日

  310. イオンビーム照射による薄膜強誘電体記録媒体の表面層の除去

    平永良臣, 長康雄

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会(MR)　2015年6月4日

  311. Data Bit Recording with a Density Exceeding 1 Tbit/inch2 Using an HDD-Type Ferroelectric Probe Data Storage Unit 国際会議

    T. Aoki, Y. Hiranaga, Y. Cho

    2015 JOINT ISAF-ISIF-PFM CONFERENCE　2015年5月24日

  312. Effect of Ion Beam Irradiation on Recording Media of Ferroelectric Probe Data Storage 国際会議

    Y. Hiranaga, Y. T. Chen, Y. Cho

    2015 JOINT ISAF-ISIF-PFM CONFERENCE　2015年5月24日

  313. X線光電子分光法によるPZT薄膜記録媒体の分析とイオンビーム照射による表面層の除去

    平永良臣, 陳一桐, 長康雄

    第32回強誘電体応用会議　2015年5月20日

  314. HDD型強誘電体プローブデータストレージ試験装置における高密度ビット列の記録・再生

    青木朋徳, 平永良臣, 長康雄

    第32回強誘電体応用会議　2015年5月20日

  315. 強誘電体プローブデータストレージ

    平永良臣, 青木 朋徳, 陳 一桐, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  316. 強誘電体プローブデータストレージ用PZT 薄膜媒体の表面層のXPS 測定

    平永良臣, 陳 一桐, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  317. 走査型非線形誘電率ポテンショメトリによる自発分極誘起電位の選択的測定

    山末耕平, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  318. 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いた交流バイアス印加によるSiC-DMOSFET断面におけるキャリア分布のゲート電圧依存性の解析

    茅根慎通, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  319. ハードディスクドライブ型強誘電体記録装置における更なる高密度化とビット列の実時間再生

    青木 朋徳, 平永良臣, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  320. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた酸素吸着Si(100)-2×1 表面における電気双極子モーメント分布の観察

    鈴木将敬, 山末耕平, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  321. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるAlGaN/GaN構造の2次元電子ガス及び分極の評価

    廣瀬光太郎, 茅根慎通, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  322. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるアモルファスシリコン太陽電池のpin接合の可視化

    廣瀬光太郎, 茅根慎通, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    講演奨励賞受賞記念講演

  323. 非線形誘電率顕微鏡法による低濃度ドーパントプロファイル評価

    広田潤, 鷹野 正宗, 竹野史郎, 赤堀浩史, 茅根慎通, 長康雄

    第62回応用物理学会春季学術講演会　2015年3月11日

  324. Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale 国際会議

    S. Hong, S. Tong, Y. Choi, W. Park, Y. Hiranaga, Y. Cho, A. Roelofs

    EMA2015　2015年1月21日

  325. ハードディスクドライブ型強誘電体記録における更なる高密度化の達成と記録・再生の一連動作の実現

    青木朋徳, 平永良臣, 長康雄

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会　2014年12月11日

  326. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Visualization of Dopant Distribution in Amorphous Silicon Solar Cells 国際会議

    K. Hirose, N. Chinone, Y. Cho

    ICSPM22　2014年12月11日

  327. Simultaneous Observation of Topography and Electric Dipole Moments on Si(100)-2×1 Surface Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    2014 MRS fall meeting　2014年11月30日

  328. Dipole-Induced Potential Measurement Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    2014 MRS fall meeting　2014年11月30日

  329. Comparative Study on Pristine and Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    2014 MRS fall meeting　2014年11月30日

  330. 非線形誘電率顕微鏡法を用いたPZT薄膜材料記録に関する研究

    陳一桐, 平永良臣, 長康雄

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会　2014年11月25日

  331. 超高次非線形誘電率顕微鏡法によるSiC-DMOSFETの断面計測

    茅根慎通, 長康雄

    先進パワー半導体分科会第1回講演会　2014年11月19日

  332. 超高次非線形誘電率顕微鏡法によるバイアス印加状態におけるSiC-DMOSFET断面の空乏層分布の観察

    茅根慎通, 長康雄

    第34回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2014)　2014年11月12日

  333. Evaluation of Power SiC -MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Imaging of Carrier Distribution and Depletion Layer 国際会議

    N. Chinone, T. Nakamura, Y. Cho

    ISTFA 2014　2014年11月9日

  334. High resolution imaging of dopant and depletion layer distribution in SiC power MOSFET using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Takashi Nakamura

    ESREF2014　2014年9月29日

  335. 超高次非線形誘電率顕微鏡を用いた実動作中SiC-DMOSFETの断面観察

    茅根慎通, 長康雄

    第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月17日

  336. RFマグネトロンスパッタ法により作製したPZT薄膜媒体へのナノドメインドットの書き込み

    平永良臣, 長康雄

    第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月17日

  337. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡による水素インターカレートされた4H-SiC(0001)上グラフェンの観察

    山末耕平, 吹留博一, 舩窪一智, 末光眞希, 長康雄

    第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月17日

  338. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるアモルファスシリコン太陽電池のpin接合の可視化

    廣瀬光太郎, 茅根慎通, 長康雄

    第75回応用物理学会秋季学術講演会　2014年9月17日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    【講演奨励賞】

  339. Investigation of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    ecoss30　2014年8月31日

  340. A New Atomically Resolved Potentiometry for Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ecoss30　2014年8月31日

  341. Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    ecoss30　2014年8月31日

  342. Noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy study of graphene on 4H-SiC(0001) and its hydrogen-intercalation 国際会議

    Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho

    NC-AFM 2014　2014年8月4日

  343. Surface potentiometry based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    NC-AFM 2014　2014年8月4日

  344. Observation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface by using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho

    NC-AFM 2014　2014年8月4日

  345. Charge gradient microscopy: high-speed visualization of polarization charges using a nanoscale probe 国際会議

    Seungbum Hong, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Andreas Roelofs

    NSS8 2014　2014年7月28日

  346. High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, H. Fukudome, K.Funakubo, M.Suemitsu, Y.Cho

    ICN+T 2014　2014年7月20日

  347. A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    ICN+T 2014　2014年7月20日

  348. Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Masataka Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, Y. Cho

    ICN+T 2014　2014年7月20日

  349. Conduction in nanodomain inversion dots in congruent lithium tantalate single crystal 国際会議

    Conference on Application of Polar Dielectrics 2014　2014年7月7日

  350. Measurement of Polarization Structure in Layered Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    H. Odagawa, T. Yanagitani

    Conference on Application of Polar Dielectrics 2014　2014年7月7日

  351. 強誘電体プローブデータストレージ用記録媒体の非線形誘電率の測定

    平永良臣

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会　2014年6月12日

  352. RFマグネトロンスパッタ法によるプローブデータストレージ用PZT薄膜媒体の作製

    平永良臣

    第31回強誘電体応用会議　2014年5月28日

  353. 一致溶融組成LiTaO3単結晶中に形成されたナノドメインの電気伝導

    長康雄

    第31回強誘電体応用会議　2014年5月28日

  354. Measurement of Nonlinear Dielectric Constants of PZT Thin Films used in Ferroelectric Probe Data Storage Technology 国際会議

    Y. Hiranaga, Y. Cho

    2014 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM　2014年5月12日

  355. Pyroelectric Detection of Spontaneous Polarization in Multiferroic La2NiMnO6 Thin Films 国際会議

    Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Miho Kitamura, Masaharu Oshima

    2014 MRS Spring Meeting　2014年4月21日

  356. Charge Gradient Microscopy: A Method to Image Ferroelectric and Piezoelectric Domains 国際会議

    Andreas Roelofs, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Seungbum Hong

    2014 MRS Spring Meeting　2014年4月21日

  357. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡による４H- SiC (0001) 上グラフェンの高分解能観察

    山末耕平, 吹留博一, 船窪一智, 末光眞希

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  358. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi (100) ‐2×1表面における双極子モーメントの観察

    鈴木将敬, 山末耕平, 阿部真之, 杉本宣昭

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  359. プローブデータストレージ用PZT薄膜媒体の非線形誘電率分布

    平永良臣

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  360. ハードディスクドライブ型強誘電体記録装置を用いた高密度記録

    青木朋徳, 平永良臣

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  361. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡による形状・表面電位の同時観察

    山末耕平

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  362. 超高次非線形誘電率顕微鏡によるSiC-DMOSFETの空乏層の可視化

    茅根慎通, 中村孝

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  363. La2NiMnO6薄膜の強誘電性

    高橋竜太, 大久保勇男, 北村未歩, 桜井康成, 尾嶋正治

    第61回応用物理学会春季学術講演会　2014年3月17日

  364. 2Tbit/inch2の記録密度を持つハードディスクドライブ型強誘電体記録に関する基礎実験

    青木朋徳, 平永良臣

    電子情報通信学会磁気記録・情報ストレージ研究会　2014年1月24日

  365. Conduction in Nanodomains in Lithium Tantalate Single Crystal 国際会議

    ICSS 2013　2013年12月15日

  366. Interfacial Capacitance between an Fe3O4Film and a Nb:TiO3 Substrate 国際会議

    Ryota Takahashi, Mikk Lippmaa

    2013 MRS fall meeting　2013年12月1日

  367. High Resolution Visualization of Carrier Distribution in SiC-MOSFET Using Super-Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Norimichi Chinone, Takashi Nakamura

    2013 MRS fall meeting　2013年12月1日

  368. Current Conduction around Nanodomain Inversion Dot in Lithium Tantalate Single Crystal Studied by Using C-AFM and SNDM 国際会議

    2013 MRS fall meeting　2013年12月1日

  369. Site Specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Local Surface Potentials on Si(111)-(7×7) Surface by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto

    2013 MRS fall meeting　2013年12月1日

  370. 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiC-パワーMOSFET 断面におけるキャリヤ分布の可視化

    茅根慎通, 中村孝

    第33回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2013)　2013年11月13日

  371. Site-specific Measurement of Atomic Dipole Moment Induced Surface Potential on Si(111)-(7×7) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto

    ACSIN-12 & ICSPM21　2013年11月4日

  372. Effectiveness of the scanning nonlinear dielectric microscopy on the failure analysis of semiconductor devices 国際会議

    Koichiro Honda

    24th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis.　2013年9月30日

  373. SrTiO3基板上に成膜したPZT薄膜の非線形誘電率測定

    平永良臣

    第74回応用物理学会秋季学術講演会　2013年9月16日

  374. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi(111)-(7×7)表面における表面電位のサイト依存性測定

    山末耕平, 阿部真之, 杉本宣昭

    第74回応用物理学会秋季学術講演会　2013年9月16日

  375. 超高次非線形誘電率顕微鏡法のパワーデバイス評価への応用―SiC-MOSFETの断面測定―

    茅根慎通, 中村孝

    第74回応用物理学会秋季学術講演会　2013年9月16日

  376. Atomic dipole moment induced variation of local surface potential on Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K.Yamasue

    19th International Vacuum Congress　2013年9月9日

  377. Observation of atomic dipole moment on hydrogen and oxygen adsorbed Si(111)-7×7 surfaces by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    D. Mizuno, K.Yamasue

    19th International Vacuum Congress　2013年9月9日

  378. CURRENT CONDUCTION AROUND NANODOMAIN INVERSION DOT IN LITHIUM TANTALATE SINGLE CRYSTAL 国際会議

    13th International Meeting on Ferroelectricity / IMF-13　2013年9月2日

  379. Bias voltage dependence of atomic dipole moment and topography on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface studied by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Daisuke Mizuno

    NC-AFM 2013　2013年8月5日

  380. Site specific measurement of surface potential shift on Si(111)-(7x7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto

    NC-AFM 2013　2013年8月5日

  381. Nano-Domains and Their Related Phenomena in LiTaOCH3 Single Crystal Studied by Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    2013 Joint UFFC, EFTF and PFM Symposium(IEEE 2013)　2013年7月21日

  382. 動的測定法による強誘電体薄膜の非線形誘電率測定

    平永良臣

    第30回強誘電体応用会議　2013年5月22日

  383. High resolution imaging of cross section of metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    N. Chinone, K. Yamasue, K. Honda, AND Y, Cho

    18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting　2013年4月7日

  384. Investigation of physical and electrical properties of hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    DAISUKE MIZUNO, KOHEI YAMASUE, AND YASUO CHO

    18th Microscopy of Semiconducting Materials Meeting　2013年4月7日

  385. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた水素吸着Si(111)-7×7表面の形状像と双極子モーー面と像の外部電場依存性の観察

    水野大督, 山末耕平

    第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月27日

  386. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi(111)-7×7表面の双極子モーメント像と表面電位像の同時観察

    山末耕平

    第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月27日

  387. 非線形誘電率顕微鏡によるNAND-Flashメモリ中の蓄積電子の観察

    本田耕一郎

    第60回応用物理学関係連合講演会　2013年3月27日

  388. Electronic state of carbon material surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Shin-ichiro Kobayashi

    APS March Meeting 2013　2013年3月18日

  389. Atomic dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-7×7 surface observed by using noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Daisuke Mizuno

    The 20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　2012年12月17日

  390. Scanning nonlinear dielectric microscopy nano science and technology 国際会議

    EMN FALL 2012　2012年11月29日

  391. Super Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy with Super High Resolution 国際会議

    Norimichi Chinone, Kohei Yamasue, Yoshiomi Hiranaga, Koichiro Honda

    2012 MRS fall meeting　2012年11月25日

  392. Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Studies of Atomic Dipole Moments on Hydrogen-adsorbed Si(111)‐(7×7) Surface 国際会議

    Daisuke Mizuno, Kohei Yamasue

    2012 MRS fall meeting　2012年11月25日

  393. Observing of Threshold Voltage Distribution of Transistors in a Metal-SiO2-SiN-SiO2-semiconductor Flash Memory Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koichiro Honda

    2012 MRS fall meeting　2012年11月25日

  394. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた高次非線形誘電率測定によるMONOS型メモリの蓄積電荷観察

    本田耕一郎

    第32回LSIテスティングシンポジウム　2012年11月7日

  395. Observing of charges stored in metal-oxide-nitride-oxide semiconductor flash memory by using higher order nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Honda, T. Iwai

    The 15th European Microscopy Congress 2012 manchester　2012年9月16日

  396. Resolution improvement of scanning nonlinear dielectric microscopy by measuring the super higher-order nonlinear dielectric constants 国際会議

    N.Chinone, K. Yamasue, Y. Hiranaga, K.Honda

    The 15th European Microscopy Congress 2012 manchester　2012年9月16日

  397. 動的測定法によるPZT薄膜の非線形誘電率測定

    平永良臣

    第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月11日

  398. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi(111)再構成表面観察における双極子モーメント分布の可視化メカニズムに関する検討

    山末耕平

    第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月11日

  399. 超高次非線形誘電率顕微鏡によるMOS型電界効果トランジスタ断面の高分解能観察

    茅根慎通, 山末耕平, 本田耕一郎

    第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月11日

  400. 非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリの蓄積電子の高分解能観察

    本田耕一郎

    第73回応用物理学会学術講演会　2012年9月11日

  401. Atomic electric dipole moment visualization using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Joint International Symposium ISFD-11th-RCBJSF　2012年8月20日

  402. Super-higher order nonlinear dielectric microscopy studies on ferroelectric materials and semiconductor devices 国際会議

    N.CHINONE, K. YAMASUE, Y. HIRANAGA, K.HONDA

    International Conference on Nanoscience + Technology 2012　2012年7月23日

  403. Simultaneous imaging of current and local dipole moments of Si(111)-(7×7) surface by noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    山末耕平

    15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy　2012年7月1日

  404. Observation of dipole moments on hydrogen-adsorbed Si(111)-(7×7) surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    水野大督, 山末耕平

    15th International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy　2012年7月1日

  405. 超高次非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電体ナノ分極の観察

    茅根慎通, 山末耕平, 平永良臣

    第29回強誘電体応用会議　2012年5月23日

  406. 高次非線形誘電率計測による走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化

    茅根慎通, 山末耕平

    第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月14日

  407. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた水素吸着Si(111)-7×7表面の観察

    水野大督, 山末耕平

    第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月14日

  408. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたSi(111)-7×7表面の非線形誘電率像/電流像同時観察

    山末耕平

    第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月14日

  409. 高次非線形誘電率顕微鏡によるMONOS型メモリの蓄積電荷の高分解能観察

    本田耕一郎, 岩井敏彦

    第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月14日

  410. 原子間顕微鏡を用いた電界ドーピングによるNiO薄膜のキャリア濃度制御

    木下健太郎, 依田貴稔, 澤井暢大, 本田耕一郎

    第59回応用物理学関係連合講演会　2012年3月14日

  411. 原子分解能を持つ走査型非線形誘電率顕微鏡

    「原子分解能顕微鏡の歴史と最先端」公開研究会　2012年2月10日

  412. Super Higher-Order Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    N.Chinone, K.Yamasue, Y.Hiranaga, Y.Cho

    The 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　2011年12月20日

  413. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡の開発と応用

    第31回表面科学学術講演会　2011年12月17日

  414. Visualization of Electrons Localized in Metal-SiO2-SiN-SiO2-Semiconductor Flash Memory Thin Gate Films by Detecting the Higher-Order Nonlinear Dielectric Constant Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koichiro Honda, Yasuo Cho

    2011 MRS fall meeting　2011年11月28日

  415. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるMONOS型メモリのVth 分布観察

    本田耕一郎, 長康雄

    第31回LSIテスティングシンポジウム　2011年11月11日

  416. Observation of local dipole moments on cleaned Si(111)surface with defects by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kohei Yamasue, Yasuo Cho

    14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy　2011年9月19日

  417. 完全暗状態でのKFM測定の実現～SNDMによるカンチレバー変位検出～

    廣瀬龍介, 山岡武博, 長康雄

    第72回応用物理学関係連合講演会　2011年8月31日

  418. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)表面の電荷分布に関する検討

    山末耕平, 長康雄

    第72回応用物理学関係連合講演会　2011年8月31日

  419. Study of TiO2(100) Reconstructed Surfaces by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Nobuhiro Sawai, Yasuo Cho

    7th NANOSCIENCE and NANOTECHNOLOGY CONFERENCE　2011年6月27日

  420. 走査型非線形誘電率顕微鏡にｙるSi(111)表面の分布観察

    山末耕平

    第28回 強誘電体応用会議講演予稿集　2011年5月25日

  421. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)表面の分極分布観察

    山末耕平

    第28回 強誘電体応用会議講演予稿集　2011年5月25日

  422. Scanning nonlinear dielectric microscopy with high resolution and its application to next generation high density ferroelectric data storage 国際会議

    E-MRS ICAM IUMRS 2011 Spring Meeting　2011年5月9日

  423. 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth 分布観察

    電子情報通信学会技術研究報告　2011年5月

  424. 集中定数回路型LCマイクロ波共振器を用いた非標識バイオアフィニティーセンサーの開発

    岡崎紀明, 西野泰斗, 知京豊裕

    第58回応用物理学関係連合講演会　2011年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    発表会は東日本大震災のため中止，講演会は成立

  425. 強誘電体ドメインのナノスケール選択エッチング

    平永良臣

    第58回応用物理学関係連合講演会　2011年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    発表会は東日本大震災のため中止，講演会は成立

  426. 強誘電体回転ディスク記録方式におけるシングルトラック記録・再生

    木本康宏, 平永良臣

    第58回応用物理学関係連合講演会　2011年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    発表会は東日本大震災のため中止，講演会は成立

  427. 強誘電体ディスクリート記録媒体に関する基礎的研究

    隅山直樹, 平永良臣

    第58回応用物理学関係連合講演会　2011年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    発表会は東日本大震災のため中止，講演会は成立

  428. 非接触走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)表面のドメイン境界観察

    山末耕平

    第58回応用物理学関係連合講演会　2011年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    発表会は東日本大震災のため中止，講演会は成立

  429. 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVｔｈ分布観察

    本田耕一郎, 樋口治

    第58回応用物理学関係連合講演会　2011年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    発表会は東日本大震災のため中止，講演会は成立

  430. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kenkou Tanaka

    2010 MRS Fall Meeting　2010年11月29日

  431. Ferroelectric Super-High Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    The 3rd International Symposium on Innovations in Advanced Materials for Optics & Electronics　2010年10月17日

  432. SNDM Ferroelectric Data Storage with Servo-Controlled Tracking Technique 国際会議

    Kenkou Tanaka

    19th International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　2010年8月9日

  433. Ferroeloctric data recording using servo-controlled tracking technique 国際会議

    田中健巧

    22nd International Symposium on Integrated Functionalities 2010　2010年6月13日

  434. 強誘電体記録方式サーボ・トラッキング法を用いたデータ記録

    田中健巧

    第2７回強誘電体応用会議　2010年5月26日

  435. Non-contact SNDMによるSrTiO3表面像観察とそのメカニズムの考察

    金暢大

    第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月17日

  436. サーボ・トラッキング法を用いた強誘電体高密度記録

    田中健巧

    第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月17日

  437. 強誘電体ディスクリート媒体の作製とデータ記録に関する研究

    隅山直樹, 平永良臣

    第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月17日

  438. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた電界効果トランジスタの2次元ドーパントプロファイリング

    樋口治, 本田耕一郎

    第57回応用物理学関係連合講演会　2010年3月17日

  439. Acoustic Wave Devices composed Periodical Poled Z-cut LiTaO3 Plate 国際会議

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto, Yasuo Cho

    Fourth International Symposium on Acoustic Wave Devices for Future Mobile Communication Systems (Third International Workshop on Piezo-Devices Based on Latest MEMS Technologies)　2010年3月3日

  440. Development of Ferroelectric Data Storage Test System for High - Density and High - Speed Read/Write 国際会議

    平永良臣

    2009 MRS fall meeting　2009年11月30日

  441. Study of TiO2(100)1×1 and 1×3 Surfaces by Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Combined with Scanning Tunneling Microscopy 国際会議

    金暢大

    2009 MRS fall meeting　2009年11月30日

  442. Observation of Dopant Profile of Transistors Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    本田耕一郎

    2009 MRS fall meeting　2009年11月30日

  443. 走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM)による誘電率分布計測の試み

    廣瀬龍介, 安武正敏, 山岡武博, 長康雄

    第70回応用物理学会学術講演会　2009年9月8日

  444. Nano-Domain Formation on Ferroelectrics and Development of HDD-Type Ferroelectric Data Storage Test system 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Tomoya Uda, Yuichi Kurihashi, Yasuo Cho, Michio Kadota, Hikari Tochisita

    21st International Symposium on Integrated Ferroelectric and Functionalities　2009年9月

  445. Non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy imaging of TiO2(110) surfaces 国際会議

    N.Kin

    12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy (NC-AFM)　2009年8月10日

  446. Characterizations of Carbon Material by Non-contact Scanning Non-linear Dielectric Microscopy 国際会議

    S.Kobayashi

    12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy (NC-AFM)　2009年8月10日

  447. 強誘電ナノ分極反転とHDD型強誘電体記録デバイスの開発

    平永良臣, 夘田知也, 栗橋悠一, 村田製作所, 門田道雄, 栃下光

    第26回強誘電体応用会議　2009年5月

  448. 分極反転弾性波デバイス

    門田道雄, 小上貴史, 山本観照, 株, 村田製作所

    第38回 EMシンポジウム　2009年5月

  449. Acoustic Wave Devices using Periodical Poled Z-cut LiTaO3 Plate 国際会議

    Michio Kadota, Takashi Ogami, Kansho Yamamoto

    EFTF-IFCS 2009 joint-conference　2009年4月

  450. Observation of Dopant Profile Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koichiro Honda, Kenya Ishikawa

    Microcopy of Semiconducting Materials (MSM) XVI　2009年3月

  451. LiTaOR#D3薄膜への高密度記録及びデータ再生試験

    木本康宏, 栗橋悠一, 平永良臣, 村田製作所, 門田道雄, 栃下光

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  452. ハードディスクドライブ型SNDM強誘電体記録装置を用いた高速記録・再生試験

    栗橋悠一, 平永良臣, 村田製作所, 門田道雄, 栃下光

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  453. 湿度制御化におけるナノドメイン反転

    平永良臣

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  454. 非接触状態における高密度強誘電体記録

    田中健巧, 夘田知也

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  455. 非接触-走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi（110）-16x2構造の観察

    長侑平, 金暢大

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  456. 非接触型-非線形誘電率顕微鏡によるHOPG表面の観察

    小林慎一郎

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  457. Non-contact SNDM によるルチルTiO2表面構造の観察

    金暢大

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  458. 非接触型-非線形誘電率顕微鏡によるフラーレン分子とSi表面との界面評価

    小林慎一郎

    第56回応用物理学関係連合講演会　2009年3月

  459. Ferromagnetism and Ferroelectricity in BiFeO3/BiCrO3 Artificial 1/1 Superlattice 国際会議

    Noriya Ichikawa, Yusuke Imai, Kei Hagiwara, Masaya Arai, Atsushi Tanokura, Hiroshi Sakuma, Masaki Azuma, Yuichi Shimakawa, Mikio Takano, Yasutoshi Kotaka, Masashi Yonetani, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu, Kenya Ishikawa

    2008 MRS Fall Meeting　2008年12月1日

  460. Observation of a local dipole moment of Si atoms on Si(100) surfaces using non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Nobuhiro Kin, Yuhei Osa

    2008 MRS Fall Meeting　2008年12月1日

  461. SNDMのドーパントプロファイル計測への応用

    本田耕一郎, 石川健哉

    第28回LSIテスティングシンポジウム　2008年11月12日

  462. Next Generation Ferroelectric high Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenkou Tanaka, Yuichi Kurihashi, Tomoya Uda

    The 2nd IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference　2008年10月20日

  463. 定比組成LiTaO3単結晶分極反転特性に対するイオンビーム照射の影響

    畑中佑紀, 平永良臣

    第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月2日

  464. 4 Tbit/inch2 記録密度の強誘電体実データ記録

    田中健巧

    第69回応用物理学会学術講演会　2008年9月2日

  465. Noncontact probe control of ferroelectric data storage system based on SNDM 国際会議

    Tomoya Uda, Yoshiomi Hiranaga

    The 7th Korea-Japan Conference on Ferroelectricity　2008年8月6日

  466. High Speed Read/Write Using HDD-type SNDM Ferroelectric Data Storage System with Single Probe 国際会議

    Yuichi Kurihashi, Yoshiomi Hiranaga

    The 7th Korea-Japan Conference on Ferroelectricity　2008年8月6日

  467. Instrumentation of the Highly Sensitive Scanning Nonlinear Dielectric Microscope 国際会議

    M. Yasutake, R. Hirose

    International Conference on Nanoscience + Technology 2008　2008年7月20日

  468. Scanning nonlinear dielectric microscopy with super high resolution

    Ryusuke Hirose, Shin-ichiro Kobayashi, Nobuhiro Kin

    第27回電子材料シンポジウム　2008年7月9日

  469. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nano Science and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage 国際会議

    Kenkou Tanaka, Yuichi Kurihashi, Tomoya Uda, Yasuhiro Daimon, Nozomi Odagawa, Ryusuke Hirose, Yoshiomi Hiranaga

    20th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2008年6月9日

  470. Actual Information Storage with a Recording Density of Above 1 Tbpsi 国際会議

    Kenkou Tanaka

    20th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2008年6月9日

  471. Fast Data Read/Write Using Novel HDD-Type Ferroelectrics Data Storage System 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga

    20th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2008年6月9日

  472. HDD型強誘電体記録デバイスにおける高速記録再生

    平永良臣, 夘田知也, 栗橋悠一

    第25回強誘電体応用会議　2008年5月28日

  473. Nano Dot Manipulation with memory density of above 1Tbit/inch2 in Ferroelectric Data Storage System 国際会議

    T. Kenkou

    2008 MRS Spring Meeting　2008年3月24日

  474. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Nanoscience and Technology for Next Generation High Density Ferroelectric Data Storage 国際会議

    2008 MRS Spring Meeting,　2008年3月24日

    詳細を見る 詳細を閉じる

    tutorial

  475. 非接触型非線形誘電率顕微鏡によるフラーレン分子の観察

    小林慎一郎

    日本物理学会第63回年次大会　2008年3月

  476. 間欠接触走査型非線形誘電率顕微鏡の開発

    平永良臣

    第55回応用物理学関係連合講演会　2008年3月

  477. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた電界効果トランジスタのドーパントプロファイリング

    石川健哉, 本田耕一郎

    第55回応用物理学関係連合講演会　2008年3月

  478. 非接触‐走査型非線形誘電率顕微鏡によるSi(100)-2x1構の観察

    長侑平, 金暢大

    第55回応用物理学関係連合講演会　2008年3月

  479. NC-SNDM法を用いた強誘電体記録における非接触書き込み(2)

    夘田知也, 平永良臣

    第55回応用物理学関係連合講演会　2008年3月

  480. 強誘電体材料を用いた薄片化単結晶記録媒体の大面積化

    ブイヤン モイヌル, 平永良臣

    第55回応用物理学関係連合講演会　2008年3月

  481. Atomic Dipole Moment Distributions on Semiconductor and Insulator Surface Studied using Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Ryusuke Hirose

    2007 MRS Fall Meeting　2007年11月26日

  482. Visualization of Charges Localized in the Thin Gate Film of Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor Type Flash Memory using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy – Detecting the Higher Order Nonlinear Dielectric Constant 国際会議

    Koichiro Honda

    2007 MRS Fall Meeting　2007年11月26日

  483. Nanoscale Structure of a Ferroelectric Domain Wall using Scanning Probe Microscopy 国際会議

    Lili Tian, Sergei Kalinin, Eugene Eliseev, Anna Mozorovska, Nozomi Odagawa, Venkatraman Gopalan

    2007 MRS Fall Meeting　2007年11月26日

  484. Quantitative Measurement of Dopant Concentration Profiling by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kenya Ishikawa, Koichiro Honda

    2007 MRS Fall Meeting　2007年11月26日

  485. Observation of Atomic Dipole Moment on GaAs(110) Cleavage Surface using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Akio Saito, Ryusuke Hirose

    2007 MRS Fall Meeting　2007年11月26日

  486. Scanning nonlinear dielectric microscopy with atomic resolution 国際会議

    13th US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Ceramics　2007年11月4日

  487. Atomic dipole moment observation of Si(111)7x7 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Ryusuke Hirose

    The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy　2007年9月16日

  488. Observation of atomic structure of SrTiO3 insulating surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Ryusuke Hirose

    The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy　2007年9月16日

  489. Single organic molecule observation using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Shin-ichiro Kobayashi

    The 10th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy　2007年9月16日

  490. Recent progress on ultra high density SNDM ferroelectric probe memory 国際会議

    Y. Hiranaga, K. Tanaka, N. Odagawa, T. Uda, Y. Kurihashi

    Materials Today Asia　2007年9月3日

  491. 一致溶融組成LiTaO3上に形成したナノドットの長期安定性の初期ドット半径依存性の定式化

    小田川望

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  492. NC-SNDMによるGaAs(110)劈開面の原子双極子モーメント分布観察

    齋藤晃央, 廣瀬龍介

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  493. 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるドーパント濃度プロファイル計測

    石川健哉, 本田耕一郎

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  494. 非接触方非線形誘電率顕微鏡によるSi(111)7×7構造上のC60分子の観察

    小林慎一郎

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  495. NC-SNDMによるSrTiO３の原子分解能観察

    廣瀬龍介

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  496. NC-SNDM法を用いた強誘電体記録における非接触書き込み

    夘田知也, 平永良臣

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  497. オフセット電圧印加法を用いた極微小ドメインの形成

    田中健巧

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  498. ハードディスクドライブ型強誘電体記録装置を用いた高速再生試験

    栗橋悠一, 平永良臣

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  499. 高次非線形透磁率顕微鏡法における探針磁化効果と非接触計測への応用

    高橋和志, 石川健哉, 平永良臣, 廣瀬龍介, 遠藤誠

    第68回応用物理学会学術講演会　2007年9月

  500. 走査型非線形誘電率顕微法による原子スケール像観察

    日本物理学会第62回年次大会　2007年9月

  501. Cross-sectional observation of nano-domain dots formed in lithium tantalite single crystal 国際会議

    Yasuhiro Daimon

    International Conference on Nanoscience and Technology 2007　2007年7月2日

  502. Electric dipole moment observation of single si atom on Si(111)7×7 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Ryusuke Hirose

    International Conference on Nanoscience and Technology 2007　2007年7月2日

  503. Organic surface observation using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Shin-ichiro Kobayashi

    International Conference on Nanoscience and Technology 2007　2007年7月2日

  504. Visualization of charges localized in the thin gate film of Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor type Flash memory using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy – detecting the higher order nonlinear dielectric constant 国際会議

    Koichiro Honda

    International Conference on Nanoscience and Technology 2007　2007年7月2日

  505. Non-Contact Probe Control and High-Speed Writing for Rotated-Disk-Type Ferroelectric Data Storage Devices 国際会議

    Y. Hiranaga, T. Uda, Y. Kurihashi, K. Tanaka, N. Odagawa

    The 16th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　2007年5月27日

  506. Study of Long-Term-Retention Characteristics and Wall Behavior of Nano-Inverted domains on Congruent Single-Crystal LiTaO3 Based on Wall Energy 国際会議

    Nozomi Odagawa

    The 16th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　2007年5月27日

  507. Basic Study On The Long Term Stability Of Small Inverted Domains Formed On Congruent Single-Crystal LiTaO3 国際会議

    Nozomi Odagawa

    19th International Symposium of Integrated Ferroelectrics　2007年5月8日

  508. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy With Atomic Resolution For High Density Ferroelectric Data Storage 国際会議

    Ryusuke Hirose, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    19th International Symposium of Integrated Ferroelectrics　2007年5月8日

  509. 非接触型走査型非線形誘電率顕微鏡による原子分解能観察

    廣瀬龍介

    第24回強誘電体応用会議　2007年5月

  510. 非接触－走査型非線形誘電率顕微法によるTGS (010) 劈開面の観察

    齋藤晃央, 廣瀬龍介

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  511. 一致溶融組成LiTaO3上に形成した微小分極反転ドットの長期安定性の初期ドット半径依存性

    小田川望

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  512. 回転ディスク型強誘電体記録装置を用いた高速記録試験

    栗橋悠一, 平永良臣

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  513. NC-SNDM法を用いた回転ディスク型強誘電体記録再生装置の非接触制御

    夘田知也, 平永良臣

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  514. 強誘電体記録におけるプローブの位置制御

    田中健巧

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  515. 定比タンタル酸リチウム結晶に形成されたナノドメイン反転ドットの断面計測

    大門靖裕

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  516. NC-SNDMによるSi(111)7×7表面の原子双極子モーメント分布観察

    廣瀬龍介

    第54回応用物理学関係連合講演会　2007年3月

  517. 非接触型走査型非線形誘電率顕微鏡による原子分解能観察

    廣瀬龍介

    圧電材料・デバイスシンポジウム2007　2007年1月

  518. Ferroelectric nano-domain manipulation for next generation ultrahigh density data storage 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenkou Tanaka, Nozomi Odagawa

    The 17th Symposium of The Materials Research Society of Japan　2006年12月8日

  519. 非線形誘電率顕微鏡を用いた超高密度強誘電体データストレージ

    応用電子物性分科会　2006年12月

  520. Cross-sectional Observation of Nano-domain Dots Formed in Congruent Single-crystal LiTaO3 国際会議

    Yasuhiro Daimon

    2006 MRS Fall Meeting　2006年11月27日

  521. Simultaneous Observation of Surface Morphology and Dielectric Properties Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Atomic Resolution 国際会議

    Ryusuke Hirose

    2006 MRS Fall Meeting　2006年11月27日

  522. Long Term Retention Characteristic of Small Inverted Dots Formed on Congruent Single-Crystal LiTaO3 国際会議

    Nozomi Odagawa

    2006 MRS Fall Meeting　2006年11月27日

  523. Visualization Using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy of Electrons and Holes Localized in the Thin Gate Film of Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Semiconductor Type Flash Memory 国際会議

    Koichiro Honda

    2006 Non-Volatile Memory Technology Symposium　2006年11月5日

  524. Ferroelectric Ultra High-Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    2006 Non-Volatile Memory Technology Symposium　2006年11月5日

  525. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡

    第27回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　2006年11月

  526. Ferroelectric Ultra High-Density Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    International Probe Storage Workshop Ⅳ　2006年10月12日

  527. Ferroelectric nano-domain manipulation for next generation ultrahigh density data storage 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenkou Tanaka, Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa

    8th European Conference on Applications of Polar Dielectrics　2006年9月5日

  528. Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy utilizing Higher Order Nonlinear Dielectric Signal Detection 国際会議

    Koya Ohara, Ryusuke Hirose

    16th International Microscopy Congress　2006年9月3日

  529. 誘電計測で電子デバイス開発から原子観測まで

    第44回茅コンファレンス　2006年9月

  530. 回転ディスク型非接触強誘電体記録装置の開発

    夘田知也, 平永良臣

    2006年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会　2006年9月

  531. Ferroelectric Data Storage with 10 Tbit/Inch2 Memory Density and Sub Nano-Second Domain Switching Time 国際会議

    Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    The 6th Japan-Korea Conference on Ferroelectrics　2006年8月17日

  532. 大面積を有するプローブメモリ用強誘電体単結晶記録媒体の作製と評価

    平永良臣

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  533. 強誘電体媒体に形成されたナノドメイン反転ドットの断面計測

    大門靖裕

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  534. ナノスケール周期分極反転リチウムタンタレートの作製

    田中健巧

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  535. 非接触－走査型非線形誘電率顕微鏡法によるSi(111)7×7構造の観察

    廣瀬龍介

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  536. 導電性CNTプローブを用いたSNDM測定によるFG型フラッシュメモリの蓄積電荷の観察

    石川健哉, 本田耕一郎

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  537. 強誘電体を記録媒体とした高密度デジタルデータ記録再生

    藤本健二郎, 前田孝則, 尾上 篤

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  538. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたKTa1-XNbxO3(KTN)結晶の相転移温度測定

    坂本 尊, 中村孝一郎, 藤浦和夫

    第67回応用物理学会学術講演会　2006年8月

  539. Nanodomain Manipulation for Ferroelectric Data Storage with High Recording Density, Fast Domain Switching and Low Bit Error Rate 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka

    15th International Symposium on the Applications of Ferroelectrics　2006年7月31日

  540. Ferroelectric Nano-Domain Manipulation for Next Generation Ultrahigh Density Data Storage 国際会議

    Y. Hiranaga, K. Tanaka, S. Hashimoto, N. Odagawa

    International Conference on Nanoscience and Technology 2006　2006年7月30日

  541. Non-Contact Nonlinear Dielectric Microscopy with Atomic Resolution 国際会議

    R. Hirose, K. Ohara

    International Conference on Nanoscience and Technology 2006　2006年7月30日

  542. Scanning Nonlinear Magnetic Microscopy 国際会議

    M. Endo

    International Conference on Nanoscience and Technology 2006　2006年7月30日

  543. Visualization Using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy of Electrons and Holes Localized in the Thin Gate Film Of Metal-Oxide-Nitride-Oxide- Semiconductor Type Flash Memory 国際会議

    K. Honda

    International Conference on Nanoscience and Technology 2006　2006年7月30日

  544. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope for Imaging Ferroelectric Domain Patterns in Various Environments 国際会議

    M. Yasutake, K. Watanabe, S. Hasumura

    International Conference on Nanoscience and Technology 2006　2006年7月30日

  545. Simultaneous observation of dielectric properties and tunneling current using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Ryusuke Hirose, Koya Ohara

    9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　2006年7月16日

  546. Scanning Nonlinear Magnetic microscopy 国際会議

    Makoto Endo, Koya Ohara

    9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　2006年7月16日

  547. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope using Electro-Conductive Carbon Nanotube Probe Tip 国際会議

    Kenya Ishikawa

    9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　2006年7月16日

  548. Visualization of charges localized in the thin gate film of Metal-Oxide-Nitride-Oxide- Semiconductor type Flash memory using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy – detecting the higher order nonlinear dielectric constant 国際会議

    Koichiro Honda

    9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy　2006年7月16日

  549. Ferroelectric domain engineering for the ultra high-density data storage 国際会議

    Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    The 9th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures　2006年6月26日

  550. Cross-sectional observation of nano-domain dots 国際会議

    Yasuhiro Daimon

    The 9th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures　2006年6月26日

  551. Nano Scale Periodically Poled Structure Formed in Lithium Tantalate 国際会議

    Kenkou Tanaka

    The 9th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures　2006年6月26日

  552. Very high-density digital image data recording using ferroelectric medium 国際会議

    Kenjiro Fujimoto, Takanori Maeda, Atsushi Onoe

    The 9th International Symposium on Ferroic Domains and Micro-to Nanoscopic Structures　2006年6月26日

  553. 一致溶融組成LiTaO3上に形成した微小分極反転ドットの長期保持特性

    小田川 望

    第23回強誘電体応用会議　2006年5月

  554. 回転ディスク型SNDM強誘電体プローブメモリの試作

    平永良臣

    第23回強誘電体応用会議　2006年5月

  555. 3D-SNDMを用いたリラクサー型強誘電体Pb(Zn1/3Nb2/3)O3-PbTiO3の観察

    杉原智之

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  556. AuナノクラスターによるSNDM信号強度の増大

    齋藤晃央, 大原鉱也

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  557. 強誘電体記録媒体へのデジタル画像データの高密度記録・再生

    藤本健二郎, 前田孝則, 尾上 篤

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  558. 一致融解組成LiTaO3におけるナノドメイン反転ドットの断面計測(2)

    大門靖裕

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  559. 一致融解組成LiTaO3上に形成した微小分極反転ドットの長期保持特性の観測

    小田川望

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  560. 走査型非線形透磁率顕微鏡による磁界分布計測

    遠藤 誠, 大原鉱也, 村岡裕明, 山川清志

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  561. 導電性CNTカンチレバーによるSNDM測定の分解能向上

    石川健哉

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  562. “非線形誘電率顕微鏡による有機シラン系化合物薄膜の観測

    小林慎一郎, 大原鉱也, 西川尚男, 小川 智

    第53回応用物理学関係連合講演会　2006年3月

  563. Three-dimensional observation of nano-scale ferroelectric domain using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Tomoyuki Sugihara

    2005 MRS Fall Meeting　2005年11月28日

  564. Real Information Recording in Ferroelectric Data Stroage Medium with Memory Density of 1 Tbit/inch2 国際会議

    Tanaka Kenkou, Hiranaga Yoshiomi

    2005 MRS Fall Meeting　2005年11月28日

  565. 10Tbit/inch2 Ferroelectric Data Storage with Offset Voltage Application Method 国際会議

    Sunao Hashimoto

    2005 MRS Fall Meeting　2005年11月28日

  566. Surface Potential Investigation on Nano Domain Formation in Lithium Tantable Single Crystal 国際会議

    Mirai Katoh

    2005 MRS Fall Meeting　2005年11月28日

  567. Nanoscale Pieezoelectric and Nonlinear Dielectric Response across a Single 180°Ferroelectric Domain Wall 国際会議

    Lili Tian, Venkatraman Gopalan, David A. Scrymgeour, Tomoyuki Sugihara, Koya Ohara

    2005 MRS Fall Meeting　2005年11月28日

  568. Visualization of Charges Stored in Flash memories using in Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koichiro Honda, Sunao Hashimoto

    2005 MRS Fall Meeting　2005年11月28日

  569. 非接触型走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた表面形状及び誘電率分布の同時計測(Simultaneous measurement of topography and dielectric constant distribution by NC-SNDM with sub-nanometer order height resolution) 国際会議

    大原鉱也

    Ultrason. Electron Symposium　2005年11月16日

  570. Ferroelectric Domain Engineering for the Ultra High-Density Data Storage with 10Tbit/inch2 Memory Density and Sub Nano-Second Switching Time 国際会議

    S. Hashimoto, N. Odagawa, K. Tanaka, Y. Hiranaga

    International Symposium Micro- and Nano-scale Domain Structuring in Ferroelectrics (ISDS’05)　2005年11月15日

  571. Real Information Storage Using Ferroelectrics with the Density of 1 Tbit/ inch2 国際会議

    K. Tanaka, Y. Hiranaga

    International Symposium Micro- and Nano-scale Domain Structuring in Ferroelectrics (ISDS’05)　2005年11月15日

  572. Study on Nano-Scale Ferroelectric Domains Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    6th Pacific Rim Conference on Ceramic and Glass Technology　2005年9月11日

  573. NON-CONTACT SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY UTILIZING HIGHER ORDER NONLINEAR DIELECTRIC CONSTANT DETECTION 国際会議

    Koya Ohara

    11th International Meeting on Ferroelectricity　2005年9月5日

  574. TERABIT PER SQUARE INCH INFORMATION DATA STORAGE ON FERROELECTRICS WITH BIT ERROR RATE 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga

    11th International Meeting on Ferroelectricity　2005年9月5日

  575. KFMによる電界分布補正機構付きSNDMを用いた強誘電体分極の面内計測

    杉原智之

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  576. 一致溶融組成LiTaO3上に形成した微小分極反転ドットの長期保持特性の観測

    小田川望

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  577. 強誘電体高密度実データ記録のビット誤り率の向上

    田中健巧, 平永良臣

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  578. 探針下での強誘電体ナノ分極反転の湿度依存症

    加藤未来

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  579. 一致溶融組成LiTaO3におけるナノドメイン反転ドットの断面計測

    大門靖裕

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  580. オフセット電圧印加法による10Tbit/inch2超級の強誘電記録の達成

    橋本直

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  581. 非接触強誘電体記録におけるナノドメイン反転特性の空隙依存性

    佐々木裕紀, 大原鉱也

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  582. 走査型非線形誘電率顕微鏡

    遠藤 誠, 大原鉱也

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  583. 縦振動型AFMを用いた日接触型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発

    齋藤晃央, 大原鉱也

    第66回応用物理学会学術講演会　2005年9月

  584. Ferroelectric data storage with 10Tbit/inch2 class memory density and sub-nanosecond switching time 国際会議

    Sunao Hashimoto, Nozomi Odagawa, Kenkou Tanaka, Yoshiomi Hiranaga

    8th International Conference on non-contract Atomic Force Microscopy　2005年8月15日

  585. Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with sub-nanometer high resolution 国際会議

    Koya Ohara

    8th International Conference on non-contract Atomic Force Microscopy　2005年8月15日

  586. Three-Dimensional Observation of Nano-scale Ferroelectric Domain using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Electric Field Correction by Kelvin Prove Force Microscopy 国際会議

    Tomoyuki Sugihara

    8th International Conference on non-contract Atomic Force Microscopy　2005年8月15日

  587. Achievement of Low Bit Error Rate in Ferroelectric Ultrahigh-density Data Storage 国際会議

    Y. Hiranaga, K. Tanaka

    13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques & 13th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　2005年7月3日

  588. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Observation of Nano-scale Three-dimensional Ferroelectric Domain Structure 国際会議

    Tomoyuki Sugihara

    13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques & 13th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　2005年7月3日

  589. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたナノスケール強誘電体ドメイン構造の３次元観測

    杉原智之

    第２２回強誘電体応用会議　2005年5月

  590. 低ビット誤り率特性を有する超高密度強誘電体記録

    平永良臣

    第２２回強誘電体応用会議　2005年5月

  591. 誘電率を測る

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  592. 一致溶融組成LiTaO３におけるピコセカンドナノドメイン反転

    小田川望

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  593. 1 Tbit/inch2 の記録密度を持つ強誘電体実データ記録

    田中健巧, 平永良臣

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  594. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた10Tbit/inch2級の強誘電体超高密度記録

    橋本直

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  595. ３次元ベクトル非線形誘電率顕微鏡を用いたマルチドメインLiTaO3の計測

    杉原智之

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  596. 強誘電体ナノドメイン生成時に生じる表面電位分布の観測

    加藤未来, 森田 剛

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  597. 強誘電体高密度記録における10-5オーダーのビット誤り率の達成

    平永良臣

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  598. 強誘電体記録媒体への高密度デジタルデータ記録再生

    藤本健二郎, 前田孝則, 高橋宏和, 尾上篤

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  599. 高次非線形誘電率顕微法を用いた非接触型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発(Ⅱ)

    大原鉱也

    第52回応用物理学関係連合講演会　2005年3月

  600. DIAMOND PROBE FOR ULTRA-HIGH-DENSITY FERROELECTRIC DATE STORAGE BASED ON SCANNING NONLINER DIELECTRIC MICROSCOPY 国際会議

    Hiroyuki Takahashi, Takahito Ono, Masayoshi Esashi

    17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems, (Maastricht MEMS 2004 TECHNICAL DIGEST)　2005年1月25日

  601. Next Generation Ferroelectric Data Storage with The Density of Tbits/inch2 国際会議

    Y. Hiranaga

    The 15th Symposium of The Material Research Society of Japan　2004年12月23日

  602. Development of Ultra-High Vacuum Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Near Atomic Scale Observation of Ferroelectric Material Surfaces 国際会議

    Hiroyuki Odagawa

    2004 MRS Fall Meeting　2004年11月29日

  603. Absolute Measurement of Three-dimensional Polarization Direction Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Tomoyuki Sugihara

    2004 MRS Fall Meeting　2004年11月29日

  604. Simultaneous Observation of Topography and Polarization Using Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koya Ohara

    2004 MRS Fall Meeting　2004年11月29日

  605. Bit Error Evaluation of Tbit/inch2 Ferroelectric Data Storage 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga

    2004 MRS Fall Meeting　2004年11月29日

  606. Perfectly c-axis oriented epitaxial lead titanate thin film deposited by a hydrothermal method for a data storage 国際会議

    Takeshi Morita

    2004 MRS Fall Meeting　2004年11月29日

  607. 非線形誘電率顕微鏡を用いた３次元分極方位の絶対計測

    杉原智之, 小田川裕之

    第２５回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　2004年10月

  608. Ultra High Density Ferroelectric Data Storage Based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y. Hiranaga

    Seventh International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy　2004年9月12日

  609. Visualization using the Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy of electrons and holes localized in the thin gate film of Metal-Oxide-Semiconductor type flash memory 国際会議

    Koichiro Honda, Sunao Hashimoto

    Seventh International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy　2004年9月12日

  610. Non-contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koya Ohara

    Seventh International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy　2004年9月12日

  611. Three-dimensional measurement of ferroelectric polarization using 3D-type scanning nonlinear dielectric microscopy with and electric filed correction 国際会議

    Tomoyuki Sugihara, Hiroyuki Odagawa

    Seventh International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy　2004年9月12日

  612. 簡易真空ＳＮＤＭの開発と表面吸着層の観測

    間宮卓郎, 森田剛, 大原鉱也

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  613. ３Ｄ型非線形誘電率顕微鏡を用いた３次元分極分布の絶対測

    杉原智之, 小田川裕之

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  614. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定比組成LiNbO3単結晶における微小分極反転

    橋本 直, 尾上 篤

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  615. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたLiTaO3単結晶記録媒体への高速データ記録

    田中健巧, 平永良臣

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  616. 強誘電体記録におけるビット誤り率の自動評価

    平永良臣

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  617. 菱面体ＰＺＴ（１１１）薄膜の超高密度記録媒体への応用

    大門靖裕, 森田 剛

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  618. 水熱合成法によるエピタキシャルPbTiO3薄膜の基板依存性

    森田 剛

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  619. 高次非線形誘電率顕微鏡法を用いた非接触型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発

    大原鉱也

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  620. 超高真空走査型非線形誘電率顕微鏡による絶縁物表面の格子レベル観察

    小田川裕之

    第６５回応用物理学会学術講演会　2004年9月

  621. 非線形誘電率顕微鏡を用いたTbits/inch2の記録密度をもつ強誘電体記録

    平永良臣

    電子情報通信学会　2004年9月

  622. Polarization Reversal Mechanism of a Ring-Shaped Ferroelectric Domain Dot 国際会議

    Takeshi MORITA, Mirai KATOH

    The 8th International Symposium on Ferroic Domains and Micro- to Nanoscopic Structures　2004年8月24日

  623. Ferroelectric Properties of an Epitaxial PbTiO3 Thin Film Deposited by a Hydrothermal Method 国際会議

    Takeshi MORITA

    The 8th International Symposium on Ferroic Domains and Micro- to Nanoscopic Structures　2004年8月24日

  624. Nano-Sized domain Inversion Characteristics in LiNbO3 Group Single Crystals Using SNDM 国際会議

    Atsushi Onoe, Sunao Hashimoto

    The 8th International Symposium on Ferroic Domains and Micro- to Nanoscopic Structures　2004年8月24日

  625. High-Speed Switching of Nano-Scale Ferroelectric Domains in Congruent Single Crystal LiTaO3 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenjiro Fujimoto

    The 8th International Symposium on Ferroic Domains and Micro- to Nanoscopic Structures　2004年8月24日

  626. Hydrothermally Deposited PbTiO3 Epitaxial Thin Film 国際会議

    Takeshi MORITA

    5th Korea-Japan Conference on Ferroelectricity　2004年8月18日

  627. 水熱合成法によるエピタキシャルチタン酸鉛（ＰｂＴｉＯ３）薄膜－ＳＮＤＭを用いた超高密度記録媒体への応用－

    森田剛

    第２１回強誘電体応用会議　2004年5月

  628. 分極制御ウエットエッチング法による強誘電体単結晶記録媒体の作製と記録特性の評価

    平永良臣

    第２１回強誘電体応用会議　2004年5月

  629. Observation of a ring shaped domain pattern using a Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Mirai KATOH, Takeshi MORITA

    The 16th International Symposium on Integrated Ferroelectrics (ISIF2004) Symposium　2004年4月5日

  630. NOVEL PREPARATION METHOD FOR FERROELECTRIC SINGLE CRYSTAL DATA STORAGE MEDIA 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Wagatsuma

    The 16th International Symposium on Integrated Ferroelectrics (ISIF2004) Symposium　2004年4月5日

  631. CHARACTERIZATION OF EPITAXIAL GROWTH OF PbTiO3 THIN FILMS ON (001)Nb-SrTiO3 FABRICATED BY HYDROTHERMAL SYNTHESIS METHOD 国際会議

    W. W. Jung, S. K. Choi, W. S. Ahn, S. H. Ahn

    The 16th International Symposium on Integrated Ferroelectrics (ISIF2004) Symposium Abstracts　2004年4月5日

  632. CHOHYDROTHERMALLY DEPOSITED EPITAXIAL LEAD TITANATE THIN FILMS ON STRONTIUM RUTHENIUM OXIDE BOTTOM ELECTRODE 国際会議

    Takeshi MORITA

    The 16th International Symposium on Integrated Ferroelectrics (ISIF2004) Symposium Abstracts　2004年4月5日

  633. SNDM STUDY ON NANOSECOND SWITCHING OF NANOSCALE FERROELECTRIC DOMAINS IN CONGRUENT LiTaO3 SINGLE-CRYSTAL 国際会議

    Kenjiro FUJIMOTO

    The 16th International Symposium on Integrated Ferroelectrics (ISIF2004) Symposium　2004年4月5日

  634. Ultra high density information storage technology 国際会議

    The 16th International Symposium on Integrated Ferroelectrics (ISIF2004) Symposium　2004年4月5日

  635. 一致溶融組成LiTaO3上に形成した微小分極反転ドットの長期保持特性の観測

    小田川望

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  636. 分極制御ウエットエッチング法により作製したLiTaO3単結晶記録媒体に対するデータ記録

    平永良臣

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  637. 走査型非線形誘電率顕微鏡の信号への表面吸着水の影響

    大原鉱也

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  638. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリング状分極反転現象の観測

    加藤未来, 森田 剛

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  639. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたLiNbO3単結晶における微小分極反転

    橋本直, 尾上篤

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  640. 水熱合成法によるチタン酸鉛エピタキシャル薄膜の成膜

    森田剛

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  641. ３次元ベクトル走査型非線形誘電率顕微鏡の印加電界補正機構と分極分布計測

    杉原智之, 小田川裕之

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  642. 非線形誘電率顕微鏡によるMONOS型Flashメモリ中の蓄積電荷の可視化

    本田耕一郎

    第５１回応用物理学関係連合講演会　2004年3月

  643. ウエットエッチング法による大面積強誘電体単結晶記録媒体の作製

    平永良臣, 我妻康夫

    圧電材料・デバイスシンポジウム　2004年1月26日

  644. STUDY ON NANO-DOMAIN FORMATION FOR FEROELECTRIC DATA STRAGE WITH THE DENSITY ABOVE 1 RBIT/INC2 国際会議

    K.FUJIMOTO, Y.HIRANAGA, Y.WAGATSUMA AND, A.ONOE

    4th Asian Meeting on Ferroelectrics(AMF-4)　2003年12月12日

  645. The Observation of Surface Polarization Distribution Using Temperature Controlled Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K.Ohara

    The 11th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　2003年12月11日

  646. Development of Ultra-high Vacuum Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Observation of Ferroelectric Polarization Distribution in Ferroelectric Thin Films and Single Crystals 国際会議

    Hiroyuki Odagawa

    2003 MRS Fall Meeting　2003年12月1日

  647. Polarization Reversal Anti-parallel to the Applied Electric Field Observed Using a Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Takeshi Morita

    2003 MRS Fall Meeting　2003年12月1日

  648. Ferroelectric Properties of a Lead Zirconate Titanate Film Deposited by a Hydrothermal Method 国際会議

    Takeshi Morita, Yasuo Wagatsuma, Hitoshi Morioka, Hiroshi Funakubo, Nava Setter

    2003 MRS Fall Meeting　2003年12月1日

  649. First Prototype of High-Density Ferroelectric Data Storage System 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Wagatsuma

    2003 MRS Fall Meeting　2003年12月1日

  650. Temperature Controlled Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koya Ohara

    2003 MRS Fall Meeting　2003年12月1日

  651. Visualization of electron and holes localized in the gate thin film of Metal-Oxide-Nitride-Semiconductor type flash memory using the Scanning Non Dielectric Microscopy 国際会議

    Koichiro Honda

    2003 MRS Fall Meeting　2003年12月1日

  652. 強誘電体ナノドメインの超高速スイッチング特性

    藤本健二郎

    第２４回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　2003年11月

  653. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy -A High Resolution Tool for Observing Ferroelectric Domains and Nano-Domain Engineering 国際会議

    The fall meeting of Korea Ceramic Society 2003　2003年10月17日

  654. SNDM Nanodomain Engineering for Ultra High-Density Ferroelectric Data Storage 国際会議

    The 8th IUMRS International Conference on Advanced Materials (IUMRS-ICAM 2003)　2003年10月8日

  655. ３次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電ドメイン観察

    小田川裕之, 杉原智之

    第６４回応用物理学会学術講演会　2003年9月

  656. 水熱合成法によるエピタキシャルＰＺＴ薄膜の強誘電特性の測定

    森田剛, 我妻康夫, 森岡仁, 舟窪浩, N.Setter

    第６４回応用物理学会学術講演会　2003年9月

  657. 非線形誘電率顕微鏡とナノドメインエンジニアリング

    日本物理学会　2003年9月

  658. ３次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電分極分布測定における印加電界の補正

    杉原智之, 小田川裕之

    ２００３年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会　2003年9月

  659. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリング状分極反転現象

    加藤未来, 森田剛

    ２００３年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会　2003年9月

  660. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたＳｉ３Ｎ４／ＳｉＯ２／Ｓｉ半導体基板への電荷記録

    橋本直, 平永良臣, 本田耕一郎

    ２００３年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会　2003年9月

  661. 強誘電微小分極反転ドメインの生成とデータストレージシステムの試作

    平永良臣, 我妻康夫, 尾上篤

    ２００３年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会　2003年9月

  662. Tbit/inch2 Ferroelectric Data Storage Using SNDM Nano Domain Engineering System 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenjiro Fujimoto, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    The 10th European Meeting on Ferroelectricity　2003年8月3日

  663. ウエットエッチング法による大面積強誘電体単結晶記録媒体の作製

    平永良臣, 我妻康夫

    第６４回応用物理学会学術講演会　2003年8月

  664. 一致溶融組成LiTaO3単結晶のP-Eヒステリシスと内部電界

    藤本健二郎, 平永良臣

    第６４回応用物理学会学術講演会　2003年8月

  665. 走査型非線形誘電率顕微鏡法による強誘電体中のドメイン構造解析

    第６４回応用物理学会学術講演会　2003年8月

  666. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope 国際会議

    Characterization and Imaging Symposium　2003年6月8日

  667. 分極反転のリアルタイム計測

    森田 剛

    第２０回強誘電体応用会議　2003年5月

  668. 非線形誘電率顕微鏡を用いた超高密度強誘電体記録再生

    平永良臣, 藤本健二郎, 我妻康夫, 尾上篤

    第２０回強誘電体応用会議　2003年5月

  669. 温度制御型走査型非線形誘電率顕微鏡

    大原鉱也, 我妻 康夫

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  670. 走査型マイクロ波顕微鏡によるLiNbO3-LiTaO3コンポジションスプレッド薄膜の特性評価

    岡崎壮平, 岡崎紀明, 樋熊弘子, 宮下章志, 村上真, 松本祐司, 鯉沼秀臣, 長谷川哲也

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  671. 強誘電体高密度データストレージシステムの試作

    平永良臣, 我妻康夫, 尾上篤

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  672. 強誘電体ナノドメインの超高速スイッチング特性

    藤本健二郎, 森田 剛

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  673. 超高真空走査型非線形誘電率顕微鏡の開発

    小田川裕之, 大原鉱也

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  674. 非線形誘電率顕微鏡のＦＥＭ数値解析

    吉岡 毅, 大原鉱也, 森田 剛

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  675. 非線形誘電率顕微鏡を用いた分極反転リアルタイム計測

    森田 剛

    第５０回応用物理学関係連合講演会　2003年3月

  676. 非線形誘電率顕微鏡を用いたTbit/inch2超の記録密度をもつ強誘電体記録

    平永 良臣, 藤本健二郎

    圧電材料・デバイスシンポジウム２００３　2003年2月

  677. Tbit/inch2 ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenjiro Fujimoto, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    The 14th Symposium of The Material Research Society of Japan　2002年12月20日

  678. Measurement of Three Dimensional Polarization Direction in Ferroelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Rotating Electric Field 国際会議

    Hiroyuki Odagawa

    2002 MRS Fall Meeting　2002年11月

  679. Basic Study on High-density Ferroelectric Data Storage Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Kenjiro Fujimoto, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    2002 MRS Fall Meeting　2002年11月

  680. Ferroelectric nano-domain engineering 国際会議

    Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    International Symposium on Nano-Intelligent Materials/ System (ISNIMS)　2002年10月30日

  681. Tbit/inch2 data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Fujimoto, Y. Hiranaga, Y. Wagatsuma, A. Onoe, K. Terabe, K. Kitamura

    7th International Symposium on Ferroic Domains and Mesoscopic Structures (ISFD7)　2002年9月15日

  682. Direct domain wall thickness measurement using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K. Matsuura, N. Valanoor, R. Ramesh

    th International Symposium on Ferroic Domains and Mesoscopic Structures (ISFD7)　2002年9月15日

  683. Tbit/inch2 ferroelectric data storage using SNDM nano domain engineering system 国際会議

    Kenjiro Fujimoto, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    Trend in Nanotechnology 2002 (TNT2002)　2002年9月9日

  684. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた一致溶融組成LiTaO3における1.5Tbit/inch2高密度記録

    劉杰, 藤本健二郎, 平永良臣, 我妻康夫, 尾上篤

    第６３回応用物理学会学術講演会　2002年9月

  685. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたＰＺＴへのナノサイズ分極反転ドメインの生成

    藤本健二郎

    第６３回応用物理学会学術講演会　2002年9月

  686. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電体高密度記録に関する基礎的研究

    平永良臣, 我妻康夫, 尾上篤, 寺部一弥, 北村健二

    第６３回応用物理学会学術講演会　2002年9月

  687. Tbit/inch2 Ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Kenjiro Fujimoto, Yoshiomi Hiranaga, Jie Liu, Yasuo Wagatsuma, Atsushi Onoe, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    2002 2nd IEEE Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO 2002)　2002年8月26日

  688. Three dimensional polarization direction measurement using scanning nonlinear dielectric microscopy with rotating electric filed 国際会議

    Hiroyuki Odagawa

    The 4th Japan-Korea Conference on Ferroelectrics　2002年8月21日

  689. Basic study on high-density ferroelectric data storage using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    Y. Hiranaga, K. Fujimoto, Y. Wagatsuma, A. Onoe, K. Terabe, K. Kitamura

    The 4th Japan-Korea Conference on Ferroelectrics　2002年8月21日

  690. Observation of Ferroelectric Nano-Domains Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    The 8th IUMRS International Conference on Electronic Materials IUMRS-ICEM2002　2002年6月10日

  691. 非線形誘電率顕微鏡を用いたTbit/inch2の記録密度をもつ強誘電体記録

    平永良臣, 藤本健二郎, 我妻康夫, 尾上篤, 寺部一弥, 北村健二

    電子情報通信学会　2002年6月

  692. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy –A High Resolution Tool for Observing Ferroelectric Domains and Nano-Domain Engineering- 国際会議

    International Joint Conference on the Application of Ferroelectrics 2002 (IFFF2002)　2002年5月28日

  693. Quantitative Measurement of Dielectric Properties Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Electro-Conductive Cantilever 国際会議

    K. Ohara

    International Joint Conference on the Application of Ferroelectrics 2002 (IFFF2002)　2002年5月28日

  694. Nano-Sized Inverted Domain Dot Formation in Stoichiometric LiTaO3 Single Crystal Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y. Hiranaga, Y. Wagatsuma, K. Terabe, K. Kitamura

    International Joint Conference on the Application of Ferroelectrics 2002 (IFFF2002)　2002年5月28日

  695. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたＰＺＴ薄膜のa-c,c-cドメイン壁の観測

    松浦かおり, N. Valanoor, R. Ramesh

    第４９回応用物理学関係連合講演会　2002年4月

  696. カンチレバーを用いた走査型非線形誘電率顕微鏡による誘電特性の定量評価(2)

    大原鉱也

    第４９回応用物理学関係連合講演会　2002年4月

  697. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定比組成LiTaO3単結晶におけるナノサイズ分極反転ドットの生成

    平永良臣, 数田聡, 寺部一弥, 北村建二

    第４９回応用物理学関係連合講演会　2002年4月

  698. 走査型マイクロ波プローブ顕微鏡による多成分コンポジションスプレッド誘電体薄膜の迅速評価

    岡崎紀明, 長谷川顕, アヘメト・バールハット, 鯉沼秀臣, 知京豊裕, 長谷川哲也

    第４９回応用物理学関係連合講演会　2002年4月

  699. 相変化膜記録ピットの走査型非線形誘電率顕微鏡による観察

    西村敏哉, 渡辺和俊, 安武正敏

    第４９回応用物理学関係連合講演会　2002年4月

  700. ＳＮＤＭを用いた強誘電体の観察とナノドメインエンジニアリング

    第４９回応用物理学関係連合講演会　2002年4月

  701. Recent Progress on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    The 13th Symposium of The Material Research Society of Japan　2001年12月20日

  702. Quantitative Measurement of Dielectric Properties Using Electro-Conductive Cantilever 国際会議

    K.Ohara

    The 9th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　2001年12月

  703. Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Koya Ohara

    MRS 2001 Fall Meeting　2001年11月26日

  704. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy Study on Periodically Poled LiNbO3 for High Performance QPM Devices 国際会議

    Koya Ohara, Satoshi Kazuta, Hiromasa Itoh

    MRS 2001 Fall Meeting　2001年11月26日

  705. Small Inverted Domain Dot Formation in Stoichiometric LiTaO3 Single Crystal Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Yoshiomi Hiranaga, Satoshi Kazuta, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    MRS 2001 Fall Meeting　2001年11月26日

  706. Scanning Electron-Beam Dielectric Microscopy for the Temperature Coefficient Distribution of Dielectric Materials 国際会議

    MRS 2001 Fall Meeting　2001年11月26日

  707. Development of Scanning Microwave Microscope for High-Throughput Characterization of Combinatorial Dielectric Thin Film 国際会議

    Noriaki Okazaki, Hiroyuki Odagawa, Tomoteru Fukumura, Masashi Kawasaki, Makoto Ohtani, Hideomi Koinuma, Tetsuya Hasegawa

    MRS 2001 Fall Meeting　2001年11月26日

  708. Small Inverted Domain Dot Formation in Ferroelectric Single Crystal Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Y.Hiranaga, S. Kazuta, K.Terabe, K.Kitamura

    Ist International Meeting on Ferroelectric Random Access Memories　2001年11月19日

  709. Higher Order Nonlinear Dielectric Microscopy

    Koya Ohara

    Ist International Meeting on Ferroelectric Random Access Memories　2001年11月19日

  710. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Investigation of Ferroelectric Materials with Sub-nanometer Resolution 国際会議

    Ist International Meeting on Ferroelectric Random Access Memories　2001年11月19日

  711. High-Resolution Observation of Ferroelectric Domains Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kaori Matsuura

    Ist International Meeting on Ferroelectric Random Access Memories　2001年11月19日

  712. カンチレバーを用いた走査型非線形誘電率顕微鏡による誘電率定量計測

    大原鉱也

    東北大学電気通信研究所第３３回超音波エレクトロニクス研究会　2001年11月

  713. Nano Domain Engineering Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    Kaori Matsuura, Satoshi Kazuta, Hiroyuki Odagawa, Kazuya Terabe, Kenji Kitamura

    the 2001 Ist IEEE Conference on Nanotechnology　2001年10月28日

  714. Recent progress on scanning nonlinear dielectric microscopy with sub-nanometer resolution 国際会議

    The 8th Workshop on Oxide Electronics　2001年9月27日

  715. "NANOSCALE MEASUREMENT OF THREE DIMENSIONAL FERROELECTRIC POLARIZATION DISTRIBUTION USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 国際会議

    H. Odagawa

    the 10th International Meeting on Ferroelectricity　2001年9月3日

  716. STUDY ON THE PERIODICALLY POLED LiNbO3 FOR HIGH PERFORMANCE QPM DEVICE USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 国際会議

    S. Kazuta, H. Ito

    the 10th International Meeting on Ferroelectricity　2001年9月3日

  717. HIGHER ORDER NONLINEAR DIELECTRIC IMAGING 国際会議

    K. Ohara, H. Odagawa

    the 10th International Meeting on Ferroelectricity　2001年9月3日

  718. SMALL INVERTED DOMAIN FORMATION IN STOICHIOMETRIC LiTaO3 SINGLE CRYSTAL USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 国際会議

    S. Kazuta, H. Odagawa, K. Terabe, K. Kitamura

    the 10th International Meeting on Ferroelectricity　2001年9月3日

  719. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたLiTaO3における微小分極ドットの生成と安定性

    平永良臣, 寺部一弥, 北村健二

    第６２回応用物理学会学術講演会　2001年9月

  720. 走査型非線形誘電率顕微鏡用多点同時測定プローブの開発

    藤本健二郎, 小田川裕之, 松浦かおり, 大原鉱也

    第６２回応用物理学会学術講演会　2001年9月

  721. 走査型マイクロ波プローブ顕微鏡によるコンビナトリアル誘電体薄膜試料の定量評価

    岡崎紀明, 小田川裕之, 大谷亮, 福村知昭, 松本祐司, 川崎雅司, 鯉沼秀臣, 長谷川哲也

    第６２回応用物理学会学術講演会　2001年9月

  722. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるPZT薄膜とPN接合の観察

    安武正敏, 渡部和俊, 西村敏哉

    第６２回応用物理学会学術講演会　2001年9月

  723. Observation of Ferroelectric Nano-Domains using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K. Matsuura

    4th international Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy　2001年9月1日

  724. 高次非線形誘電率顕微法を用いた強誘電体表面に関する基礎的研究

    大原鉱也

    平成13年度電気関係学会東北支部連合大会　2001年8月

  725. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたLiTaO3における微小分極反転ドットの生成

    平永良臣, 数田聡, 寺部一弥, 北村建二

    平成13年度電気関係学会東北支部連合大会　2001年8月

  726. 査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電層状構造化合物Bi4Ti3O12の原子分解能観察

    松浦かおり, 舟窪浩, 入江寛, 野口祐二

    平成13年度電気関係学会東北支部連合大会　2001年8月

  727. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体記録に関する基礎的検討

    松浦かおり, 数田 聡, 北村健二

    電子情報通信学会　2001年6月

  728. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた高次非線形誘電率計測

    大原鉱也

    第１８回強誘電体応用会議　2001年5月

  729. Small Inverted Domain Formation in LiNbO3 and LiTaO3 Single Crystals Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    S. Kazuta, K. Kitamura

    13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2001年3月11日

  730. Observation of Artificial Nano-Domains in Ferroelectric Thin Films Using Nonlinear Dielectric Imaging and Piezo Imaging 国際会議

    K. Mastuura

    13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2001年3月11日

  731. Higher Order Nonlinear Dielectric Imaging 国際会議

    K. Ohara

    13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2001年3月11日

  732. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた水平方向の分極評価用プローブの作製と計測

    小田川裕之

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  733. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電層状構造化合物の原子分解能観測

    松浦かおり, 舟窪浩, 入江寛, 宮山勝, 野口祐二

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  734. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた高次非線形誘電率計測（２）

    大原鉱也

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  735. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電体のTOPOGRAPHY測定

    小池敦, 小田川裕之

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  736. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電体単結晶ドメインエンジニアリング

    数田聡, 小田川裕之, 北村健二

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  737. 走査型マイクロ波プローブ顕微鏡によるコンビナトリアル誘電体試料の迅速評価

    岡崎紀明, 小田川裕之, P.Ahmet, 知京豊裕, 小宮山大補, 鯉田崇, 福村知昭, 松本祐司, 川崎雅司, 鯉沼秀臣, 長谷川哲也

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  738. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたPPLNの表面層の観測

    数田聡, 大原鉱也

    第４８回応用物理学関係連合講演会　2001年3月

  739. Fundamental study on nano-domain engineering using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    K.Matsuura, H.Odagawa

    The 8th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy and Asian SPM(3)　2000年12月

  740. Higher Order Nonlinear Dielectric Imaging Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    K.Ohara

    The 8th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy and Asian SPM(3)　2000年12月

  741. 走査型非線形誘電率顕微鏡の高次非線形モードと垂直距離分解能

    大原鉱也, 小池 敦, 小田川裕之

    第２１回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　2000年11月

  742. 非線形誘電率応答と圧電応答による強誘電分極分布の観測

    松浦かおり, 小田川裕之

    第２１回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　2000年11月

  743. RECENT PROGRESS ON SCANNING NONLIEAR DIELECTRIC MICROSCOPY WITH SUB-NANOMETER RESOLUTION 国際会議

    H.Odagawa, K.Matsuura, S.Kazuta, K.Ohara

    MRS 2000 Fall Meeting　2000年11月

  744. NANOMATER SCALE DOMAIN MEASUREMENT ON FERROELECTRIC THIN FILMS USING SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY 国際会議

    H.Odagawa, K. Matsuura

    MRS 2000 Fall Meeting　2000年11月

  745. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた極微小振動の検出

    小池敦, 大原鉱也, 小田川裕之

    日本音響学会　2000年9月21日

  746. 走査型電子線誘電率顕微鏡の高次非線形モードと垂直距離分解能

    大原鉱也, 小池敦, 小田川裕之

    電子情報通信学会　2000年9月

  747. 非線形誘電率応答と圧電応答を用いた強誘電分極分布の観測

    松浦かおり, 小田川裕之

    電子情報通信学会　2000年9月

  748. 走査型非線形誘電率顕微鏡と圧電応答によるＰＺＴ薄膜の分極ドメイン観測

    松浦かおり, 小田川裕之

    第６1回応用物理学会学術講演会　2000年9月

  749. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた高次非線形誘電率像計測

    大原鉱也, 数田聡, 小田川裕之

    第６1回応用物理学会学術講演会　2000年9月

  750. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電体単結晶への微小分極情報書き込み(2)

    数田聡, 小田川裕之, 北村健二

    第６1回応用物理学会学術講演会　2000年9月

  751. 走査型非線形誘電率顕微鏡の垂直距離分解能

    小池敦, 大原鉱也, 小田川裕之

    第６1回応用物理学会学術講演会　2000年9月

  752. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy wit Nanometer Resolution 国際会議

    S. Kazuta, K. Mastuura

    Electro CERAMICS VII 2000　2000年9月

  753. The Image Production Mechanism of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Its Application to the Quantitative Evaluation of Linear and Nonlinear Dielecrtric Properties 国際会議

    K.Ohara, S.Kazuta, H.Odagawa

    Electro CERAMICS VII 2000　2000年9月

  754. Scanning Electron-Beam Dielectric Microscopy for the Investigation of the Tenperature Coefficient Distribution of Dielectric Ceramics 国際会議

    O.Jintsugawa, A.Satoh, K.Yamanouchi

    Electro CERAMICS VII 2000　2000年9月

  755. Determication of Crystal Polarities of Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    S. Kazuta, H.Odagawa

    Electro CERAMICS VII 2000　2000年9月

  756. Simultaneous Observation of Ferroelectric Domains and Surface Morphology Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    H.Odagawa

    Electro CERAMICS VII 2000　2000年9月

  757. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体単結晶への微小分極書き込み

    数田 聡, 小田川裕之

    平成12年度電気関係学会東北支部連合大会　2000年8月

  758. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた高次非線形誘電率像計測

    大原鉱也, 数田聡, 小田川裕之

    平成12年度電気関係学会東北支部連合大会　2000年8月

  759. 走査型非線形誘電率顕微鏡と圧電応答による強 誘電体薄膜の分極ドメイン観測

    松浦かおり, 小田川裕之

    平成12年度電気関係学会東北支部連合大会　2000年8月

  760. 走査型非線形誘電率顕微鏡との垂直分解能

    小池敦, 大原鉱也, 小田川裕之

    平成12年度電気関係学会東北支部連合大会　2000年8月

  761. Single crystal growth of KNbO3 and Application to surface acoustic wave devices 国際会議

    K.Yamanouchi, Y.Wagatsuma, H.Odagawa

    International Conference on Microwave Materials and Their Applications (MMA2000)　2000年8月

  762. Microscopic Observation of the Temperature Coefficient Distribution of Microwave Materials Using Scanning Electron-Beam Dielectric Microscopy 国際会議

    A. Satoh, H.Odagawa

    International Conference on Microwave Materials and Their Applications (MMA2000)　2000年8月

  763. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Nanometer Resolution 国際会議

    S.Kazuta, K.Matsuura

    12th IEEE Internationl Symposium on the Applications of Ferroelectrics (ISAF2000)　2000年7月

  764. Dtermination of Crystal Polarities of Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    S.Kazuta, H.Odagawa

    12th IEEE Internationl Symposium on the Applications of Ferroelectrics (ISAF2000)　2000年7月

  765. Simultaneous Observation of Ferroelectric Domains and Surface Morphology Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    H.Odagawa

    12th IEEE Internationl Symposium on the Applications of Ferroelectrics (ISAF2000)　2000年7月

  766. ATheory for the Image Production Mechanism of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and its Application to the Quantitative Evaluation of Linear and Nonlinear Dielectric Properties of Derroelectric and Piezoelectric Matrials 国際会議

    K.Ohara, S.Kazuta, H.Odagawa

    12th IEEE Internationl Symposium on the Applications of Ferroelectrics (ISAF2000)　2000年7月

  767. Scanning Electron Beam Dielectrc Microscopy for the Temperature Coefficient Distribution of Dielectric Ceramics 国際会議

    O. Jintsugawa, A. Satoh, H. Odagawa, K.Yamanouchi

    11th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena　2000年6月

  768. Simultaneous observation of ferroelectric domains and surface morphology using scanning nonlinear dielectric microscopy 国際会議

    H. Odagawa

    The Sixth international Symposium on Ferroic Domains and Mesoscopic Structures　2000年5月29日

  769. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるナノメータ分極ドメインとトポグラフィの同時観測

    小田川 裕之

    第１７回強誘電体応用会議　2000年5月

  770. Scanning nonlinear dielectric microscopy for investigation of nano-sized ferroelectric domains and local crystal anisotoropy

    The Sixth international Symposium on Ferroic Domains and Mesoscopic Structures　2000年5月

  771. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電ドメイン観測

    小田川 裕之, 数田 聡, 大原 鉱也

    日本物理学会　2000年3月

  772. Determination of Crystal Polaritiy of Piezoelectric Thin Film Deposited on Polar Substrate Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy 国際会議

    S.KAZUTA, H.ODAGAWA, M.KADOTA

    12th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2000年3月

  773. mage Production Mechanisum for Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Super High Resolution and Its Application to Quantitative Evaluation of Linear and Nonlinear Dielectric Properties of Ferroelectric Materials 国際会議

    K.OHARA, S.KAZUTA, H.ODAGAWA

    12th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2000年3月

  774. Simultaneous Observation of Nano-Sized Ferroelectric Domains and Surface Morphology Using Scanning Nonlinear dielectric Microscopy 国際会議

    H.ODAGAWA

    12th International Symposium on Integrated Ferroelectrics　2000年3月

  775. 走査型電子線誘電率顕微鏡による２次元誘電率温度係数像の実時間計測

    佐藤 聡, 小田川 裕之

    第47回応用物理学関連連合講演会　2000年3月

  776. 走査型非線形誘電率顕微鏡によるＰＺＴ薄膜のナノスケール分極ドメインの観測

    小田川 裕之

    第47回応用物理学関連連合講演会　2000年3月

  777. 走査型非線形誘電率顕微鏡法による局所異方性検出に関する基礎的検討

    大原 鉱也, 我妻 康夫, 数田 聡, 小田川 裕之

    第47回応用物理学関連連合講演会　2000年3月

  778. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電体単結晶への微小分極情報の書き込み

    数田 聡, 小田川 裕之

    第47回応用物理学関連連合講演会　2000年3月

  779. SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPY FOR INVESTIGATION OF NANO-SIZED FERROELETRIC POLARIZATION 国際会議

    S.Kazuta, K. Matsuura, H.Odagawa

    The 7th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　1999年12月

  780. Simultaneous Observation of Ferroelectric Domain Patterns by Scanning Nonlinear Dielectric Microscope and Surface Morphology by Atomic Force Microscope 国際会議

    H.Odagawa

    The 7th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy　1999年12月

  781. 走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメイン像とAFMによるトポグラフィの同時観測

    小田川 裕之

    第２０回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1999年11月

  782. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたZnO圧電薄膜の面方位決定

    数田 聡, 小田川 裕之, 門田 道雄

    第２０回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1999年11月

  783. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定量計測

    数田 聡, 大原 鉱也小田川

    第２０回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1999年11月

  784. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた圧電薄膜の 面方位決定

    数田 聡, 門田 道雄

    第６０回応用物理学会学術講演会　1999年9月

  785. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた線形・非線形誘電率の定量計測

    大原 鉱也, 数田 聡

    第６０回応用物理学会学術講演会　1999年9月

  786. 走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメイン像とAFM 像の同時計測

    小田川 裕之

    第６０回応用物理学会学術講演会　1999年9月

  787. KNbO3単結晶の圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    第６０回応用物理学会学術講演会　1999年9月

  788. 電子線誘電率信号の実時間計測に関する基礎的検討

    佐藤 聡

    第６０回応用物理学会学術講演会　1999年9月

  789. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたZnO圧電薄膜の面方位決定

    数田 聡, 小田川 裕之, 門田 道雄

    日本音響学会　1999年9月

  790. 走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメイン像とAFMによるトポグラフィの同時観測

    小田川 裕之

    日本音響学会　1999年9月

  791. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた定量計測

    大原 鉱也, 数田 聡, 小田川 裕之

    日本音響学会　1999年9月

  792. 走査型電子線誘電率顕微鏡による誘電率温度係数像の撮影

    神通川 治, 佐藤 聡, 山之内 和彦

    電子情報通信学会　1999年9月

  793. 走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメイン像とAFM像の同時観測

    小田川 裕之

    平成11年度電気関係学会東北支部連合大会　1999年8月

  794. 走査型非線形誘電率顕微鏡を 用いた定量計測

    大原 鉱也, 数田 聡, 小田川 裕之

    平成11年度電気関係学会東北支部連合大会　1999年8月

  795. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたBaTiO3の 分極分布観測

    数田 聡, 小田川 裕之

    平成11年度電気関係学会東北支部連合大会　1999年8月

  796. 高分解能走査型電子線誘電率顕微鏡による微小領域誘電率温度係数像の撮影と実時間計測

    神通川 治, 佐藤 聡, 小田川 裕之

    平成11年度電気関係学会東北支部連合大会　1999年8月

  797. KNbO3単結晶の非線形圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    平成11年度電気関係学会東北支部連合大会　1999年8月

  798. New Piezoelectric KNbO3 Films for Saw Applications 国際会議

    K.Yamanouchi, H. Odagawa, T.Kojima

    the Eleventh IEEE International Symposium on Application of Ferroelectrics　1999年8月

  799. Scanning Nonliear Dielectric Microscope with Submicron Resolution 国際会議

    Kaori Matsuura, K. Yamanouchi

    the Eleventh IEEE International Symposium on Application of Ferroelectrics　1999年8月

  800. LN・LT強誘電分極壁のモルフォロジー不定比組成依存性

    北村 健二, 古川 保典, 竹川 俊二, 畑中 孝明, 伊藤 弘昌

    日本結晶成長学会　1999年7月

  801. ナノメータ分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメインの観測

    松浦 かおり, 数田 聡

    第１６回強誘電体応用会議　1999年5月

  802. 高安定高結合弾性表面波複合型基板

    小谷 謙司, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    日本音響学会　1999年3月

  803. ２ターゲットRFマグネトロンスパッタによるKNbO3薄膜の作製と弾性表面波励振特性

    小田川 裕之, 野原 庸平, 山之内 和彦

    日本音響学会　1999年3月

  804. 走査型電子線誘電率顕微鏡の高分解能化

    神通川 治, 山之内 和彦

    第４６回応用物理学関連連合講演会　1999年3月

  805. 走査型非線形誘電率顕微鏡に

    数田 聡, 松浦 かおり, 山之内 和彦

    第４６回応用物理学関連連合講演会　1999年3月

  806. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡によるBaTiO3単結晶ドメインの観測

    松浦 かおり, 数田 聡, 山之内 和彦

    第４６回応用物理学関連連合講演会　1999年3月

  807. 周期分極反転LiNbO3と擬似位相整合光パラメトリック発振

    畑中 孝明, 宇佐美 威, 柴崎 浩樹, 中村 孝一郎, 伊藤 宏昌

    第４６回応用物理学関連連合講演会　1999年3月

  808. KNbO3単結晶の非線形圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    第１９回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1998年11月

  809. LiTaO3,LiNbO3表面に形成される極薄単分域層

    松浦 かおり, 数田 聡, 山之内 和彦

    第１９回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1998年11月

  810. KNbO3圧電性薄膜の分極分布と弾性表面波伝搬特性

    小谷 謙司, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    第１９回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1998年11月

  811. New Piezoelectric KNBO3 Film for SAW Device Application 国際会議

    K.Yamanouchi, H.Odagawa, T.Kojima

    1998 IEEE Ultrasonics Symposium　1998年10月

  812. QUANTITATIVE STUDY ON THE NONLINEAR PIEZOELECTRIC EFFECT OF KNbO3 SINGLE CRYSTAL FOR SUPER HIGHLY EFFICIENT SAW ELASTIC CONVOLVER 国際会議

    N.Oota, K.Morozumi, H.Odagawa, K.Yamanouchi

    1998 IEEE Ultrasonics Symposium　1998年10月

  813. KNbO3圧電性薄膜の分極分布と弾性表面波伝搬特性

    小谷 謙司, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    電子情報通信学会　1998年9月

  814. KNbO3単結晶の非線形圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    電子情報通信学会　1998年9月

  815. ε311型非線形誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    松浦 かおり, 西中 篤司, 山之内 和彦

    第５９回応用物理学会学術講演会　1998年9月

  816. 多分域LiTaO3単結晶の熱処理による単分域表面層の形成

    松浦 かおり, 数田 聡, 山之内 和彦

    第５９回応用物理学会学術講演会　1998年9月

  817. 光熱誘電率信号の実時間計測に関する基礎的検討

    加島 隆行, 神通川 治, 山之内 和彦

    第５９回応用物理学会学術講演会　1998年9月

  818. KNbO3圧電薄膜の分極分布と弾性表面波伝搬特性

    小田川 裕之, 小谷 謙司, 山之内 和彦

    日本音響学会　1998年9月

  819. KNbO3単結晶の非線形圧電定数の定量評価

    太田 憲行, 小田川 裕之, 山之内 和彦

    日本音響学会　1998年9月

  820. SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPE WITH SUBMICRON RESOLUTION 国際会議

    K. Yamanouchi

    ECAPD Ⅳ'98, ISAF Ⅺ '98, Electroceramics Ⅵ'98　1998年6月

  821. 走査型電子線誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    山之内 和彦

    第１５回強誘電体応用会議　1998年5月

  822. SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC MICROSCOPE FOR INVESTIGATION OF FERROELECTRIC DOMAINS 国際会議

    K.YAMANOUCHI

    The Fifth International Symposium on Ferroic Domains and Mesoscopic Structures　1998年4月6日

  823. 走査型電子線誘電率顕微鏡

    永野 浩之, 山之内 和彦

    日本音響学会　1998年3月

  824. 走査型電子線誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    永野 浩之, 山之内 和彦

    第４５回応用物理学関連連合講演会　1998年3月

  825. KNbO3単結晶基板を用いた弾性表面波エラスティックコンボルバ

    山之内 和彦, 両角 賢友, 小田川 裕之

    第１８回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1997年11月

  826. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡

    松浦かおり

    第１８回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1997年11月

  827. 非線形誘電率の残留分極依存性の計測

    厳 忠友

    第５８回応用物理学会学術講演会　1997年10月

  828. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電分域の観測

    松浦かおり

    第５８回応用物理学会学術講演会　1997年10月

  829. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡による分極ドメインの観測

    松浦かおり

    日本音響学会　1997年9月

  830. "Observation of Dielectric temperature Coefficient Image Using Photothermal Dielectric Microscope 国際会議

    T. Kasahara

    1997 URSI North American Radio Science Meeting　1997年7月

  831. MICROSCOPIC OBSERVATION OF THE TEMPERATURE COEFFICIENT DISTRIBUTION OF DIELECTRIC MATERIAL FOR MICROWAVE APPLICATION USING SCANNING PHOTOTHRMAL DIELECTRIC MICROSCOPE 国際会議

    T. Kasahara, K. Fukuda

    1997 IEEE MTT-S International Microwave Symposium　1997年6月

  832. 光熱誘電率顕微鏡を用いた誘電率温度係数像の測定

    笠原 輝昭

    第１４回強誘電体応用会議　1997年5月

  833. 光熱誘電率顕微鏡を用いた誘電率温度係数像の測定

    笠原 輝昭

    日本音響学会　1997年3月

  834. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電分極像の観察

    厚見 茂幸

    日本音響学会　1997年3月

  835. 非線形誘電率の計測による強誘電体記録の再生に関する基 礎的実験

    松浦かおり

    第４４回応用物理学関連連合講演会　1997年3月

  836. 光熱誘電率顕微鏡を用いた誘電率温度係数像の計測

    笠原 輝昭

    第４４回応用物理学関連連合講演会　1997年3月

  837. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた強誘電分極像の観察

    厚見 茂幸

    第４４回応用物理学関連連合講演会　1997年3月

  838. YBCO膜の作成及び平面型マイクロ波デバイスの試作

    金谷 晴一, 兼行 智彦, 妹尾 英博

    第４４回応用物理学関連連合講演会　1997年3月

  839. マイクロ波技術を用いた強誘電分極分布の純電気的測定法

    厚見 茂幸

    電子情報通信学会　1996年11月

  840. YBCO膜を用いたコプレーナ型マイクロ波デバイスの開発

    兼行 智彦, 金谷 晴一, 粟井 郁雄

    電子情報通信学会　1996年11月

  841. 粉体の光熱誘電率信号の計測

    熊丸 知之, 笠原 輝昭

    第１７回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1996年10月

  842. 集中定数型走査型非線形誘電率顕微鏡

    厚見 茂幸

    第１７回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1996年10月

  843. 多結晶MgO基板上に作製したPb置換Bi系高温超伝導膜の高周波表面抵抗

    崎本 吉大, 金谷 晴一, 粟井 郁雄

    平成８年度電気・情報関連学会中国支部連合 大会　1996年10月

  844. Y系高温超伝導膜の作製及び高周波デバイスへの応用

    兼行 智彦, 金谷 晴一, 粟井 郁雄

    平成８年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1996年10月

  845. 集中定数型走査型非線形誘電率顕微鏡による強誘電分極の観察

    厚見 茂幸, 中村 僖良

    平成８年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1996年10月

  846. 光熱誘電率分光顕微鏡を用いた粉体の粒径推定

    熊丸 知之

    第５７回応用物理学会学術講演会　1996年9月

  847. Sol-Gel法によるＹＢＣＯ膜の作製及び高周波特性

    兼行智彦, 金谷晴一, 粟井郁雄

    第５７回応用物理学会学術講演会　1996年9月

  848. 光熱誘電率顕微鏡を用いた粉体の粒径推定

    熊丸 知之, 笠原 輝昭

    日本音響学会　1996年9月

  849. 複合材料中の非線形波動の一次元シミ ュレーション

    井手上 公太郎, M.A.Breazaele

    日本音響学会　1996年9月

  850. Scanning Nonlinear Dielectric Microscope for Investigation of Polarization Distributions 国際会議

    A.Kirihara

    The Tenth International Symposium on Applications of Ferroelectrics　1996年8月

  851. New Photothermal Technique Using Photothermal Dielectric 国際会議

    T.Kumamaru

    9th International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena　1996年6月

  852. 走査型非線形誘電率顕微鏡の非接触モードによる

    桐原 昭雄, 佐伯考央

    第１３回強誘電体応用会議　1996年5月

  853. 光熱誘電率分光顕微鏡による機能性材料の評価法の開発

    熊丸 知之

    平 成７年度東北大学電気通信研究所共同プロジェクトＡ−９フォノン集積デバイス・材料の研究　1996年3月

  854. 光熱誘電率分光顕微鏡を用いた機能性材料の評価法の開発

    熊丸 知之

    日本学術振興会弾性波素子技術第１５０委員会第４6回研究会　1996年1月

  855. Development of Nonlinear Dielectric Microscope and Its Application to Measurement of Ferroelectric Polarization 国際会議

    A.Kirihara, T.Saeki

    1995 IEEE Ultrasonics Symposium　1995年11月

  856. 液体の光熱誘電率信号の計測

    熊丸 知之

    第１６回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1995年11月

  857. 光熱誘電率分光顕微鏡を用いた光学用材料の分光測定

    熊丸 知之

    日本音響学会　1995年9月

  858. 非線形誘電率顕微鏡の非接触モードによる強誘電分極の観測

    桐原 昭雄, 佐伯 考央

    日本音響学会　1995年9月

  859. Dynamic Measurement of The Temperature Characteristic of Dielectric Material for Microwave Application Using Photo Thermal Dielectric Microscope 国際会議

    K.Yokoyma, T.Kumamaru, A.Kirihara

    1995 IEEE MTT-S International Microwave Symposium　1995年5月

  860. 非線形誘電率顕微鏡によるＰ（ＶＤＦ−ＴｒＦＥ）膜の計測

    桐原 昭雄, 佐伯 考央

    日本音響学会　1995年3月

  861. 液体及び粉体用光M誘電率顕微鏡の試作

    熊丸 知之, 小田 俊介

    日本音響学会　1995年3月

  862. 光熱誘電率顕微鏡を用いた誘電材料の誘電率温度特性の評価

    横山 浩二

    日本音響学会　1995年3月

  863. 光熱誘電率分光顕微鏡による遷移金属ドープ材料の測定

    熊丸 知之, 小田 俊介

    日本音響学会　1995年3月

  864. 光誘電率分光顕微鏡の基本特性評価

    熊丸 知之, 横山 浩二, 小田 俊介, 桐原 昭雄

    電子情報通信学会　1995年2月

  865. 非線形誘電率顕微鏡

    桐原 昭雄, 佐伯 孝央

    日本学術振興会弾性波素子技術第１５０委員会第４２回研究会　1995年1月

  866. 光熱誘電率分光顕微鏡

    熊丸 知之, 横山 浩二, 小田 俊介

    日本学術振興会弾性波素子技術第１５０委員会第４２回研究会　1995年1月

  867. 光誘電率顕微鏡

    熊丸 知之

    日本音響学会　1994年11月

  868. 非線形領域におけるＳＡＷの分散と減衰に関する一考察

    宮川 望

    日本音響学会　1994年11月

  869. ４次の非線形定数の対称性

    万代 幸広

    日本音響学会　1994年11月

  870. Active Control of Nonlinear Piezoelectric Effect and Its Appliaction to 20dB Efficiency Improvement of SAW Elastic Convolver 国際会議

    S.Haitsuka, M.Kadota

    1994 IEEE Ultrasonics Symposium　1994年11月

  871. Experimental Demonstration of the Reduction of The Number of Independent Electrostrictive Constants of Piezoelectric Ceramics 国際会議

    Y.Mandai

    1994 IEEE Ultrasonics Symposium　1994年11月

  872. 非線形誘電率顕微鏡

    桐原 昭雄, 佐伯 孝央

    電子情報通信学会　1994年11月

  873. 光熱誘電率顕微鏡を用いたマイクロ波用誘電セラミックスの誘電率温度特性の評価技術の開発

    横山 浩二, 熊丸 知之, 桐原 昭雄

    電子情報通信学会　1994年11月

  874. 光誘電率分光顕微鏡

    熊丸 知之

    第１５回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1994年11月

  875. ＢＳＣＣＯ厚膜の表面抵抗の測定と高周波デバイスへの応用

    西村 匡夫, 粟井 郁雄

    平成６年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1994年10月

  876. 非線形誘電率顕微鏡

    桐原 昭雄, 佐伯 孝央

    日本音響学会　1994年10月

  877. 圧電Zラミックスの電歪定数の独立数の減少に関する実験的検証

    万代 幸広

    日本学術振興会弾性波素子技術第１５０委員会第４０回研究会　1994年9月

  878. 光誘電率分光法

    熊丸 知之

    第５５回応用物理学会学術講演会　1994年9月

  879. 光誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    熊丸 知之

    電子情報通信学会１９９４年秋季大会　1994年9月

  880. 非線形誘電率顕微鏡に関する基礎的検討

    桐原 昭雄, 佐伯孝央

    電子情報通信学会１９９４年秋季大会　1994年9月

  881. 圧電セラミックスの印加応力による誘電率変化の動的測定と電歪定数の独立数に関する検討

    万代 幸広

    非線形音響研究会　1994年8月

  882. 圧電セラミックスの印加応力による誘電率変化の動的測定と電歪定数の独立数に関する検討

    万代幸広

    電子情報通信学会　1994年6月

  883. 20dB Efficiency Increment of Surface Acoustic Wave Elastic Convolver Using Actively Coltrolled Nonlinear Piezoelecric Effect 国際会議

    S.Haitsuka, M.Kadota

    1994 IEEE MTT-S International Microwave Symposium　1994年5月

  884. 薄いＢＳＣＣＯ厚膜の作製とそのマイクロ波応用

    磯山伸治, 粟井郁雄

    電子情報通信学会　1994年4月

  885. 層状構造基板上を伝搬するＳＡＷソリトンに関する基礎的検討

    宮川 望

    日本音響学会　1994年3月

  886. 非線形圧電定数の簡易計測ノよる圧電セラミックスコンボルバの基本特性評価

    灰塚 真一, 門田 道雄

    日本音響学会　1994年3月

  887. 圧電セラミックスの非線形定数の独立数に関する一検討

    万代 幸広

    第４１回応用物理学関係連合講演会　1994年3月

  888. 非線形圧電性の制御とその弾性表面波エラスティックコンボルバの高効率化への応用

    灰塚 真一, 門田 道雄

    第１４回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1993年12月

  889. 圧電セラミックスの非線形圧電性の制御とそのＳＡＷエラスティックコンボルバの高効率化への応用

    灰塚 真一, 門田 道雄

    日本学術振興会弾性波素子技術第１５０委員会第３７回研究会　1993年11月

  890. Nonlinear Equivalent Circuits of Acoustic Devices 国際会議

    J.Wakita

    IEEE 1993 Ultrasonics Symposium　1993年11月

  891. Surface Acoustic Wave Soliton Propagating on the Metallic

    N.Miyagawa

    IEEE 1993 Ultrasonics Symposium　1993年11月

  892. ＢaＴiＯ3の相転移点に於ける非線形誘電率の異常現象

    脇田 淳司

    日本音響学会　1993年10月

  893. ＡＴカット水晶振動子と縦水晶振動子の非線形等価回路の定式化と４次の弾性定数の推定

    脇田 淳司

    日本音響学会　1993年10月

  894. ＳＡＷソリトン発生用導波路の分散性に関する一考察

    宮川 望

    平成５年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1993年10月

  895. 薄いＢＳＣＣＯ厚膜の作製と高周波線路への応用

    磯山 伸治, 粟井 郁雄

    平成５年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1993年10月

  896. Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法によるＢｉ系超伝導薄膜の作製とコプレーナ線路への応用

    西村 匡夫, 粟井 郁雄

    平成５年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1993年10月

  897. 非線形圧電性強調効果を用いたＳＡＷコンボルバの高効率化

    灰塚 真一, 門田 道雄

    日本音響学会　1993年3月

  898. 圧電セラミックスの印加応力による音速変化の動的測定

    松野 文彦

    日本音響学会　1993年3月

  899. 金属グレーティング導波路上を伝搬するＳＡＷソリトンに関する実験的検討

    宮川 望

    日本音響学会　1993年3月

  900. 金属グレーeィング導波路上を伝搬するＳＡＷソリトンに関する基礎的検討

    宮川 望

    日本学術振興会　1993年1月

  901. 棒の伸び振動子における電場と音波の非線形相互作用の等価回路解析

    脇田 淳司

    超音波における多波混合と位相共役波発生講演論　1992年11月

  902. 弾性波素子及び弾性表面波伝搬の非線形等価回路解析

    脇田 淳司, 宮川 望

    第１３回超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1992年11月

  903. 金属グレーティング導波路上を伝搬するＳＡＷソリトンの等価回路解析

    宮川 望

    日本音響学会　1992年10月

  904. ＰＺＴセラミクスの非線形定数の温度特性

    松野 文彦

    日本音響学会　1992年10月

  905. 弾性波素子の非線形等価回路用定数の測定

    脇田 淳司

    日本音響学会　1992年10月

  906. 静磁波トランスバーサルフィルタ

    井上 貴章, 粟井 郁雄

    平成４年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1992年10月

  907. Dynamic Measuring Method of Velocity and Capacitance Variation of Piezoelectric Ceramics with Alternating Electric Field

    F.Matsuno

    IEEE 1992 Ultrasonics Symposium　1992年10月

  908. 弾性波素子の非線形等価回路の定式化とその応用例

    脇田 淳司

    日本学術振興会　1992年7月

  909. 弾性波素子の非線形等価回路

    第１６回非線形音響研究会　1992年7月

  910. 弾性波素子の非線形等価回路による解析

    樋野 哲也

    電子情報通信学会春季大会　1992年3月

  911. 弾性波素子の非線形等価回路

    樋野 哲也

    日本音響学会　1992年3月

  912. 圧電材料の動的応力印加による非線形定数の測定法

    松野 文彦, 脇田 淳司, 桐原 昭雄

    日本音響学会　1992年3月

  913. ＰＺＴセラミックスの印加電界による音速変化の動的測定

    松野 文彦, 脇田 淳司

    電気関係学会関西支部連合大会　1991年11月

  914. 圧電セラミックスの印加電界による音速及び誘電率化の動的測定法

    松野 文彦, 脇田 淳司

    日本学術振興会　1991年11月

  915. 連続波動作可能なマイクロ波超音波発生用凹形空洞共振器の試作

    森本 茂生

    平成３年度電気・情報関連学会中国支部連合大会　1991年10月

  916. 高次の誘電率の断面的測定

    松野 文彦

    電気・情報関連学会中国支部連合大会　1991年10月

  917. ３次の圧電定数の断熱的測定法

    日本音響学会　1991年10月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    松野 文彦

  918. 電歪材料の諸定数間の関係とその圧電セラミックスへの適用範囲

    松野 文彦

    電子情報通信学会　1991年7月

  919. 圧電セラミックスの非線形定数の測定

    松野 文彦, 粟井 郁雄

    電子情報通信学会春期全国大会　1991年3月

  920. 圧電セラミクスの非線形定数に関する一考察

    電気関係学会中国支部連合大会　1990年10月

  921. 鉄属イオンドープLiNbO3単結晶の弾性表面波常磁性共鳴

    堀江 秀善, 山之内 和彦

    日本音響学会　1990年3月

  922. 鉄属イオンドープLiNbO3単結晶の弾性表面波常磁性共鳴

    堀江 秀善, 山之内 和彦

    超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム　1989年11月

  923. 非線形定数の決定法

    山之内 和彦

    第25回東北大通研シンポジウム　1989年2月

  924. SHF-Range Surface Acoustic Wave Inter-Digital Transducers Using Electron Beam Exposure 国際会議

    K.Yamanouchi, T.Meguro

    IEEE 1988 ULTRASONICS SYMPOSIUM　1988年11月

  925. ＳＨＦ帯弾性表面波の音響常磁性共鳴による吸収及び誘導放出

    堀江 秀善, 山之内 和彦

    日本音響学会　1988年10月

  926. ＳＨＦ帯弾性表面波の音響常磁性共鳴による吸収及び誘導放出

    堀江 秀善, 山之内 和彦

    電子情報通信学会　1988年9月

  927. 水平取り出しエラステックコンボルバの高効率化に関する一考察

    山之内 和彦

    日本音響学会　1987年3月

  928. ナノメータ加工技術をpいたＳＨＦ帯弾性表面波変換器

    山之内 和彦

    日本音響学会　1987年3月

  929. Nonlinear Constants of Lithium Niobate 国際会議

    K.Yamanouchi

    IEEE 1986 ULTRASONICS SYMPOSIUM　1986年11月

  930. Theoretical and Experimental Studies of Transverse- 国際会議

    K.Yamanouchi

    IEEE 1986 ULTRASONICS SYMPOSIUM　1986年11月

  931. LiNbO3単結晶上を伝搬する弾性表面波に対する非線形スカラー波動方程式の一考察

    山之内 和彦

    日本音響学会　1986年10月

  932. LiNbO3単結晶上を伝搬する弾性表面波ノ対する非線形スカラー波動方程式の一考察

    山之内 和彦

    電子通信学会　1986年9月

  933. LiNbO3単結晶の非線形定数の決定と非線形弾性波デバイスへの応用

    山之内 和彦

    電子通信学会　1986年7月

  934. LiNbO3エラステックコンボルバの最適カット

    山之内 和彦

    日本学術振興会弾性波素技術第150委員会研究会　1986年5月

  935. LiNbO3単結晶の３次の弾性・圧電・誘電定数及び電歪定数の測定・評価

    山之内 和彦

    日本音響学会　1986年3月

  936. 水平取り出しエラステックコンボルバの性能指数

    山之内 和彦

    日本音響学会　1986年3月

  937. 水平電界型コンボルバの動作解析と実験−LiNbO3単結晶基板についての検討−

    山之内 和彦

    東北大学電気通信研究所音響工学研究会　1986年2月

  938. ３次の誘電・電歪・圧電及び弾性定数の解析と測定法−LiNbO3に対する測定・評価−

    山之内 和彦

    電子通信学会　1985年9月

  939. LiNbO3単結晶の高次の諸定数の測定

    山之内 和彦

    第５回強誘電体応用会議　1985年5月

  940. LiNbO3単結晶の非線形定数の測定

    鈴木 嘉久, 山之内 和彦

    日本音響学会　1985年3月

  941. 弾性表面波を用いた薄膜状態に於ける粘性定数の測定法

    鈴木 嘉久, 山之内 和彦

    日本音響学会　1984年10月

  942. LiNbO3コンボルバの性能指数フ測定と３次の圧電定数の評価

    山之内 和彦

    日本音響学会　1984年10月

  943. LiNbO3コンボルバの性能指数のカット面及び伝搬方向依存性の実験的検討と３次の電圧定数の評価

    山之内 和彦

    電子通信学会　1984年6月

  944. LiNbO3コンボルバの性\指数のカット面及び伝搬方向依存性の実験的検討

    山之内 和彦

    日本音響学会　1984年3月

  945. LiIO3単結晶の弾性表面波伝搬特性及び非線形効果

    依田 文夫, 山之内 和彦

    日本音響学会　1983年10月

  946. 超高周波用コンボルバの取り出し電極に関する一考察

    山之内 和彦

    電子通信学会総合全国大会　1983年3月

  947. ＧＨｚ帯でのＡｌ薄膜による弾性表面波の減衰特性

    山之内 和彦

    応用物理学会　1983年3月

  948. エラステックコンボルバの性能指数の回転角依存性

    山之内 和彦

    日本音響学会　1982年10月

  949. 弾性表面波と半導体キャリヤとの相互作用を用いた非線形縦効果デバイス

    山之内 和彦

    日本音響学会　1982年3月

  950. Nondestructive Measurements of Double-Layered Piezoelectric Polarity-Inverted Structure Using Scanning Nonlinear Dielectricy 国際会議

    長 康雄

    Third International Symposium on Dielectric Materials and Applications

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

産業財産権 60

  1. 記録再生ヘッド及び記録再生装置

    長康雄, 尾上篤

    産業財産権の種類: 特許権

  2. 走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式

    長康雄外

    産業財産権の種類: 特許権

  3. 誘電測定装置，誘電測定方法,及び情報記録・再生装置

    長康雄外

    産業財産権の種類: 特許権

  4. 透磁率測定装置

    長康雄

    産業財産権の種類: 特許権

  5. 圧電薄膜弾性波素子及びこれを用いた情報処理装置

    芝隆司外

    産業財産権の種類: 特許権

  6. 誘電体記録・再生装置及び記録方法ならびにその電極

    長康雄

    産業財産権の種類: 特許権

  7. 探針空隙制御方法，及び，記録再生装置

    長康雄

    産業財産権の種類: 特許権

  8. PbTiO3またはPb(ZrTi)O3の強誘電体薄膜単結晶の製造方法

    森田剛外

    産業財産権の種類: 特許権

  9. 強誘電体記録媒体用の情報再生装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4328355

    産業財産権の種類: 特許権

  10. 強誘電体薄膜製造方法，電圧印加エッチング装置，強誘電体結晶薄膜基板及び強誘電体結晶ウエハ

    長康雄, 尾上篤

    産業財産権の種類: 特許権

  11. 信号検出方法及び装置,並びに情報再生装置及び方法

    長康雄, 尾上篤

    産業財産権の種類: 特許権

  12. 誘電率測定装置，誘電体測定方法，及び情報記録再生装置

    長康雄外

    産業財産権の種類: 特許権

  13. 針状部材を用いたデータ記録再生装置及びデータ記録再生方法

    長康雄外

    産業財産権の種類: 特許権

  14. 誘電体記録再生ヘッド及び誘電体記録再生装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第3968196号

    産業財産権の種類: 特許権

  15. 誘電体再生装置,誘電体記録装置及び誘電体記録再生装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4098689号

    産業財産権の種類: 特許権

  16. 誘電体記録装置,誘電体再生装置及び誘電体記録再生装置

    長康雄外

    産業財産権の種類: 特許権

  17. 誘電体記録再生ヘッド及びトラッキング方法

    尾上篤, 長康雄

    特許第4017104号

    産業財産権の種類: 特許権

  18. ピックアップ装置

    尾上篤, 長康雄

    特許第3954456号

    産業財産権の種類: 特許権

  19. 誘電体記録媒体及び誘電体記録再生装置

    尾上篤, 長康雄

    特許第3964457号

    産業財産権の種類: 特許権

  20. 記録再生ヘッド及びその製造方法

    長康雄, 尾上篤

    特許第4082947号

    産業財産権の種類: 特許権

  21. 誘電体記録再生ヘッド，誘電体記録媒体ユニット及び誘電体記録再生装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4141745号

    産業財産権の種類: 特許権

  22. 誘電体記録媒体の記録条件抽出システム及び記録条件抽出方法ならびに情報記録装置

    長康雄外

    産業財産権の種類: 特許権

  23. 誘電体記録媒体とその製造方法及びその製造装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4109475号

    産業財産権の種類: 特許権

  24. 誘電体記録媒体とその製造方法及びその製造装置

    長康雄, 尾上篤

    産業財産権の種類: 特許権

  25. 誘電体記録媒体とその製造方法及びその製造装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4082911号

    産業財産権の種類: 特許権

  26. 誘電体情報装置，テープ状媒体記録再生装置及びディスク状媒体記録再生装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4771324号

    産業財産権の種類: 特許権

  27. 走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式

    長康雄, 安武正敏, 渡部和俊

    特許第4673446号

    産業財産権の種類: 特許権

  28. 高次非線形誘電率を計測する走査型非線形誘電率顕微鏡

    長康雄, 安武正敏, 渡部和俊

    特許第4693270号

    産業財産権の種類: 特許権

  29. 三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡

    長康雄, 小田川裕之, 安武正敏, 渡部和俊

    特許第4445149号

    産業財産権の種類: 特許権

  30. 高安定高結合弾性表面波基板とそれを用いた弾性表面波フィルタ及び弾性表面波機能素子

    長康雄, 山之内和彦

    産業財産権の種類: 特許権

  31. 誘電率温度係数測定装置

    長康雄

    特許第3204851号

    産業財産権の種類: 特許権

  32. 非線形誘電率測定装置

    長康雄

    特許第3204852号

    産業財産権の種類: 特許権

  33. エラスティックコンボルバ装置

    長康雄

    特許第3222965号

    産業財産権の種類: 特許権

  34. 透磁率測定装置

    長康雄

    特許第5050208

    産業財産権の種類: 特許権

  35. DATA RECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND METHOD USING NEEDLE-SHAPED MEMBER

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 8004,948,B2

    産業財産権の種類: 特許権

  36. PERMRABILITY MEASURERMENT APPARATUS

    Yasuo Cho

    US 7,816,917 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  37. DIELECTRIC RECORDING MEDIUM, AND METHOD OF AND APPARATUS FOR PRODUCING THE SAME

    Atsushi Onoe, Yasuo Cho

    US7272,173,B2

    産業財産権の種類: 特許権

  38. 強誘電体薄膜製造方法，電圧印加エッチング装置，強誘電体結晶薄膜基板及び強誘電体結晶ウエハ

    長康雄, 尾上篤

    特許第4641943号

    産業財産権の種類: 特許権

  39. 信号検出方法及び装置,並びに情報再生装置及び方法

    長康雄, 尾上篤

    特許第4326007号

    産業財産権の種類: 特許権

  40. Recording/reproducing head and recording/reproducing apparatus

    Atsushi Onoe, Yasuo Cho

    GB2415827

    産業財産権の種類: 特許権

  41. 記録再生ヘッド及び記録再生装置

    長康雄, 尾上篤

    特許第4274571号

    産業財産権の種類: 特許権

  42. SIGNAL DETECTING METHOD AND APPARATUS AND INFORMATION REPRODUCING APPARATUS AND METHOD

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    7,590,040

    産業財産権の種類: 特許権

  43. DATA RECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND METHOD USING NEEDLE-SHAPED MEMBER

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 7.385.901 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  44. DATA RTECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND METHOD USING NEEDLE-SHAPED MEMBER

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 7,385,901 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  45. SIGNAL DETECTING METHOD AND APPARATUS AND INFORMATION REPRODUCING APPRATUS AND METHOD

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 7,590,040 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  46. DATA RECORDING / REPRODUCING APPARATUS AND METHOD USING NEEDLE-SHAPED MEMBER

    Cho Yasuo, Pioneer Corporation

    1486966

    産業財産権の種類: 特許権

  47. DIELECTRIC RECORDING/REPROCUCING HEAD AND DIELECTRIC RECORDING/REPRODUCING APPARATUS

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US7,151,739 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  48. DIELECTRIC REPRODUCING APPARATUS, DIELECTRIC RECORDING APPARATUS, AND DIELECTRIC RECORDING/REPRODUCING APPARATUS

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 7,336,590 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  49. DIELECTRIC RECORDING APPARATUS, DIELECTRIC REPRODUCING APPARATUS, AND DIELECTRIC RECORDING / REPRODUCING APPARATUS

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 7.227.830 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  50. DIELECTRIC RECORDING APPARATUS DIELECTRIC REPRODUCING APPARATUS,AND DIELECTRIC RECORDING/REPRODUCING APPARATUS

    Cho Yasuo, Onoe Atsushi

    1 398 780

    産業財産権の種類: 特許権

  51. DIELECTRIC REPRODUCING APPARATUS, DIELECTRIC RECORDING APPARATUS, AND DIELECTRIC RECORDING/ REPRODUCING APPARATUS

    Cho Yasuo

    1398779

    産業財産権の種類: 特許権

  52. RECORDING/REPRODUCING HEAD

    Atsushi Onoe, Yasuo Cho

    US 7.283.453 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  53. DIELECTRIC RECORDING/PEPRODUCING HEAD AND TRACKING METHOD

    Yasuo Cho

    1 394 789

    産業財産権の種類: 特許権

  54. DIELECTRIC RECORDING/REPRODUCING HEAD AND TRACKING METHOD

    Yasuo Cho

    1 752 981

    産業財産権の種類: 特許権

  55. Record condition extraction system and method of dielectric recording medium, and information recording apparatus

    Cho,Yasuo, Onoe Atsushi

    No.1333436

    産業財産権の種類: 特許権

  56. DIELECTRIC RECORDING MEDIUM AND APPARATUS FOR PRODUCING THE SAME

    Atsushi Onoe, Yasuo Cho

    US6942914 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  57. PICKUP DEVICE

    Atsushi Onoe, Yasuo Cho

    US7,221,639 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  58. DIELECTRIC CONSTANT MEASURING APPARATUS DIELECTRIC CONSTANT MEASURING METHOD, AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING APPARATUS

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US 7,218,600 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  59. DIELECTRIC INFORMATION APPARATUS, TAPE-LIKE MEDIUM RECORDING/REPRODUCING APPARATUS AND DISC-LIKE MEDIUM RECORDING/REPRODUCING APPARATUS

    Yasuo Cho, Atsushi Onoe

    US7,242,661 B2

    産業財産権の種類: 特許権

  60. DIELECTRIC CONSTANT MEASURING APPARATUS, DIELECTRIC CONSTANT MEASURING METHOD, AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING APPARATUS

    Onoe Atsushi, Cho Yasuo

    1435003

    産業財産権の種類: 特許権

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

共同研究・競争的資金等の研究課題 57

  1. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたGaN-MOSの高性能化に資する計測評価 競争的資金

    長康雄, 山末耕平

    2021年8月 ～ 2023年3月

  2. キャリアトラップサイトの原子構造とダイナミクスの解明 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)

    研究機関：Tohoku University

    2021年7月 ～ 2023年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    まず走査型非線形誘電率常磁性共鳴顕微鏡（SNDMR）装置を開発を継続している，電子スピン共鳴により励起された反平行スピンを持つ電子がMOS界面の１電子界面準位に更にもう一つトラップされ，トラップされた電荷の増加による空乏層の拡張を起源とした静電容量変化信号（局所ESR信号：SNDMR信号）の検出を行う事を目的に装置の開発を行った．現状ではまだ目的とする信号を得ていないが更なる高感度化に向けて装置の調整を行っている．次に超高周波帯で動作する時間分解(Time Resolved) SNDM装置(TR-SNDM)を新規に設計・製作し，高速な静電容量変化を局所的に検出できるようにした． 磁場は360℃回転でき最大5000Gまでかけられ，温度は極低温（５０K)から常温迄コントロール可能とした． SNDM本体の感度はまだ不足気味であるが，10の－20乗オーダーである． マイクロ波９GHz～１０GHzでESRを観測できるように設計しその後ほぼ完成した。

  3. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明 競争的資金

    長 康雄, 山末 耕平, 平永 良臣

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research (S)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (S)

    研究機関：Tohoku University

    2016年5月 ～ 2022年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    ①H29年度に引き続き高度化した超高次非線形誘電率顕微鏡法を種々の計測対象に適用した．具体的にはPotential Induced Degradation （PID)を起こした太陽電池の評価や太陽電池のパッシベーション界面の分析を行い太陽電池の性能劣化の一因に関する知見を得た．具体的にはPIDを起こした太陽電池はキャリ濃度が激減し，その結果空乏層の広がりが観測された．またパッシベーションにより発生する固定電荷密度を定量した．本研究は翌年度も継続する． ② MoS2,WSe2等の新規２次元層状構造化合物のキャリアタイプの原子層数依存性やバイアス依存性を明らかにし，2次元層状構造物質特有の知見を得た．具体的には層が薄くなるほどキャリア濃度が小さくなること，p型のMoS2の場合層数が小さくなるとn型に変化することなどが明らかになった．本研究は次年度も精力的に展開していく予定． ③H28年度開発した局所DLTS法を用いてSiO2/SiC界面の極界面準位密度の2次元分布の計測を継続し,更にH29度開発した時間分解SNDM法（Tr-SNDM)法を用いてより高度な計測を行った． ④界面準位密度の２次元分布計測に加え，その起源を明らかにするためのSNDM ベースの装置の開発を継続している． ⑤H29年度開発したdC/dz-SNDM法を用い種々の材料の線形誘電率の分布計測を行い大きな成果を得た．この成果のより従来dC/dV法であるSNDMの弱点であった線形誘電率分布の高精度で簡易な計測が可能となり，SNDMの誘電体研究及び半導体研究への適用範囲が大きく広がった．

  4. 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiC基板材料及びパワーエレクトロニクス素子の高性能化に資する評価技術の開発 競争的資金

    長 康雄

    2014年 ～ 2019年3月

  5. 走査型非線形誘電率顕微法による極性反転圧電薄膜の層状構造測定法の研究

    小田川 裕之, 柳谷 隆彦, 長 康雄

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)

    研究機関：National Institute of Technology, Kumamoto College

    2015年4月 ～ 2018年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    最近の研究で、ZnO やAlNなどの圧電薄膜を用いて、層状に極性反転した構造の作製が可能になってきており、今後の圧電デバイスの開発に重要である。本研究では、走査型非線形誘電率顕微法（SNDM）を応用し、非破壊で表面から層構造を測定する方法の開発を行った。その結果、反転層が1層ある場合については、具体的な測定と層厚の決定手順を確立した。実験結果は実際の層厚によく一致し、更に、層厚の面内分布の計測も可能となった。次に、反転層が2層ある場合についても同様に検討した。探針の押し込み量を調節して電界分布を変える実験を行い、押し込み量による出力信号の変化を確認し、多層構造での層厚推定の可能性を示した。

  6. 界面電荷輸送現象解明のための高機能走査型非線形誘電率顕微鏡群の研究開発 競争的資金

    長 康雄, 山末 耕平, 平永 良臣

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research (A)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (A)

    研究機関：Tohoku University

    2016年4月 ～ 2017年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明のための，新規多機能・高性能走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM）群を研究開発する．具体的には局所Deep-level transient spectroscopy(DLTS)法の行えるSNDM装置と走査型非線形誘電率常磁性共鳴顕微鏡法（SNDMR）を新規に開発のする.また近年開発してきた走査型非線形誘電率ポテンショメトリ（SNDP）法や，原子分解能非接触走査型非線形誘電率顕微鏡（NC-SNDM）法，超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法（SHO-SNDM）の更なる高度化を図りそれらを総て組み合わせ，半導体MOS界面やグラフェン/SiCの移動度低下の原因を特定し，半ば永遠の工学的問題とされて来た問題を一挙に解決できる装置群とする．ひいては界面（表面）を使った半導体デバイスや伝導デバイスの性能を飛躍的に向上させる事に貢献する事を目的とする． この目的を達成するため本年度は ①超高次非線形誘電率顕微鏡法（SHO-SNDM）の更なる高度化. ②原子分解能非接触SNDM(NC-SNDM)法並びに界面評価用非線形誘電率ポテンショメリ（SNDP）の高度化． ③局所DLTS法の開発. を行う予定であったが研究を開始した直後，基盤研究（S）に採択され，重複制限に該当するため本基盤研究(A)は取り消しとなった．そのため実質的に研究できる期間は皆無であり，当然のことながら研究実績も一切無い.

  7. 非線形誘電率顕微鏡の高機能化及び電子デバイスへの応用

    長 康雄, 山末 耕平, 平永 良臣

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research (S)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (S)

    研究機関：Tohoku University

    2011年4月 ～ 2016年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    次数の高い高次微分項まで計測し，より詳細な物理情報が取得できる新しいSNDM 法（超高次走査型非線形誘電率顕微鏡法（SHO-SNDM 法）を開発した．本手法を用いると，計測ピクセルごとに局所C - V 曲線を再構成することが簡単に行え，分析能力が飛躍的に増大する．次に双極子モーメント由来の発生電位を原子分解能で可視化する走査型非線形誘電率ポテンショメトリ（SNDP）が開発された．本手法を用いて，4H-SiC(0001)基板上に形成された単層グラフェンの形状像と表面電位分布の同時観察に成功した．最後に回転ディスク型強誘電体記録再生方式において3.4Tbit/inch2の超高密度記録を実現した．

  8. 非線形誘電率顕微鏡を用いた原子双極子モーメントの可視化と原子種の同定 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究機関：Tohoku University

    2012年4月 ～ 2015年3月

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本研究では非接触走査型非線形誘電率顕微鏡の高機能化・高性能化を図り，それを用いて様々な材料の原子分解能計測を行い，原子種の同定も併せて行える事を目的とし，走査型非線形誘電率ポテンショメトリの発明・開発，Si(111)面上で水素吸着サイトの同定，Si(100)面で酸素吸着サイトの同定と吸着のモデルの推定を行った．更にSiC上に作製されたグラフェンのバッファ層とSiC間の界面状態を原子レベルで明らかにした．まだ限られたサンプル種ではあるが，原子種の同定及びそれらの基板との結合状態を明らかにする成果を得た.

  9. SiCパワーデバイス高精度定量測定技術の開発 競争的資金

    長 康雄

    2014年 ～ 2014年

  10. 非線形誘電率顕微鏡を用いた次世代超高密度強誘電体記録 競争的資金

    長 康雄, 廣瀬 龍介, 平永 良臣, 金 暢大, 山末 耕平

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Specially Promoted Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Specially Promoted Research

    研究機関：Tohoku University

    2006年 ～ 2010年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    次世代超高密度強誘電体記録に関する研究を行い,世界最小の2.8nmφの単一ドメインドットの生成に成功した.また直径7nmの一次元ナノドメインドットアレイの形成及び15nmφのドメインドット列の生成・消去実験にも成功した.更に多数の記録ビットからなる実情報(画像情報)記録に於いて強誘電体記録では世界最高の4Tbit/inch^2の記録密度を達成した.そしてハードディスクドライブ型シングルプローブメモリを用いて,書き込み速度に関しては20Mbpsの高速性を実証した.

  11. 複合型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発 競争的資金

    長 康雄

    2004年 ～ 2009年3月

  12. 超高密度強誘電体記録の実用化研究 競争的資金

    長 康雄

    2006年 ～ 2008年

  13. ＳＮＤＭ強誘電体プローブメモリ 競争的資金

    2003年 ～ 2006年3月

  14. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた超高密度超高速強誘電体記録 競争的資金

    2003年 ～ 2006年3月

  15. 1平方インチ当たり１０テラビットの記録密度を持つＳＮＤＭ強誘電体プローブメモリ 競争的資金

    2006年 ～

    詳細を見る 詳細を閉じる

    特別推進研究採択のため中止

  16. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた強誘電体中のドメイン構造の解析 競争的資金

    2000年 ～ 2004年3月

  17. 強誘電体薄膜の物性制御と次世代メモリデバイスへの応用

    奥山 雅則, 石橋 善弘, 藤村 紀文, 長 康雄, 安田 直彦, 清水 勝

    2004年 ～ 2004年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    今日、高度化されまた今後も拡大化の続く情報化社会を支えるのがまさにコンピュータと通信機器であるが、特に記憶を司るメモリデバイスが非常に重要である。この半導体メモリの中で電源を切っても忘れない不揮発性メモリとして強誘電体メモリ(FeRAM)があり、その研究開発が進められている。しかし、強誘電体薄膜を信頼性の高いメモリデバイスに応用するには、多くの問題点が存在する。高集積化に伴う超微細化によって数十nmの厚さの強誘電体薄膜における分極反転の反復による強誘電性の劣化、分極履歴のシフト、分極の時間的劣化、絶縁性の劣化などである。これらの問題点は、微細な強誘電体薄膜の特性評価をし、薄膜作製法の改良と最適化で克服されようと多くの努力が払われているが、表面的改良ではなく、強誘電体ならびにその薄膜に起こる現象を根本的に理解し、種々の物性や素子特性を根本的に解明、制御する必要がある。 本領域研究では薄膜での強誘電性の基本的要因を明確にし、これらを薄膜特有の現象や物性と絡み合わせながら、実験的に起こる様々な問題点を解決し、次世代強誘電体メモリデバイスの実用化をはかるべく、基礎的な性質を検討してきた。そこで、これらの成果を取りまとめ、平成12年度から15年度までの本領域の研究成果を広く公開するために、以下のような公開シンポジウムを開催した。さらに、成果を取りまとめ、英文単行本にまとめSpringerより出版した。 公開シンポジウム 「強誘電体薄膜の物性制御と次世代メモリデバイスへの応用」成果報告会(公開) 日時 平成16年12月10、11日 場所 大阪大学中之島センター 出席者 専門家など30名 講演件数 14および研究評価 英文単行本 題目 「Ferroelectric Thin Films-Basic Properties and Device Physics for Memory Applications-」 総ページ数 258

  18. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた電気双極子モーメントメモリー 競争的資金

    2001年 ～ 2003年3月

  19. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた超高密度強誘電体記録用材料の研究 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：日本板硝子材料工学助成会

    制度名：平成１５年度日本板硝子材料工学助成

    2003年 ～ 2003年

  20. 非線形誘電率顕微鏡の高性能化に関する研究 競争的資金

    2001年 ～ 2002年3月

  21. 走査型非線形誘電率顕微鏡法を用いた単一永久双極子モーメントの可視化 競争的資金

    2000年 ～ 2002年3月

  22. KNbO_3単結晶を用いたIOGH_2広帯域SAWデバイスと製造プロセスの最適化

    小田川 裕之, 山之内 和彦, 長 康雄

    2000年 ～ 2002年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本研究は,最近研究者らにより,弾性表面波(SAW)の電気機械結合係数が従来の単結晶に比ベて約10倍大きいことが明らかになったKNbO_3圧電単結晶基板を用いて,次世代情報通信用10GHz帯SAWデバイスを実現することを目指して行われる研究である。そのためには,ラインアンドスペース0.1μmの周期電極を作製する必要があり,KNbO_3に最適なプロセス技術の検討を行った。 KNbO_3は225℃に相転移点が存在するため,作製プロセス中の基板温度を低温に抑える必要がある。そこで,電子線を用いた直接露光において,プロセス温度を低下させる研究を行い,150℃でラインアンドスペース0.1μmのアルミニウムの周期電極をKNbO_3単結晶上に作製することが可能となったが,SAWの送受特性は予想したものではなかった。その原因は,基板の極表面付近の強誘電分極の状態が不均一になっているためであることがことがわかった。KNbO_3は180°分域の他に90゜分域や60゜分域も有するため,走査型非線形誘電率顕微鏡でそれらが計測できるようなシステムの開発が本研究を進めるために必要であるという結論を得た。従来の走査型非線形誘電率顕微鏡は,基板表面に垂直な分極成分を主として計測しているため,面内方向に分極が向いている場合の計測が困難であるため,面内方向の分極成分を計測できる新しいプローブの開発と,走査型非線形誘電率顕微鏡システムの研究が不可欠であると考え,その研究を行った。これにより,面内方向の分極も計測できる走査型非線形誘電率顕微鏡の原型を得ることに成功した。この成果については,近日中に論文として投稿する予定である。 来年度は,本システムを用いて分極の面内方向成分も含めて計測し,基板表面の分極状態が温度と共にどのように変化するかに調べることで,プロセス条件の最適化の研究を引き続き推進する予定である。

  23. UMS技術を用いた超高周波SAWデバイス用単結晶基板表面の評価技術の開発

    櫛引 淳一, 松本 泰, 高長 和泉, 荒川 元孝, 小田川 裕之, 長 康雄, 宮下 雅仁

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

    研究機関：Tohoku University

    2000年 ～ 2002年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本研究は、本研究代表者らが発明・開発した超音波マイクロスペクトロスコピー(UMS)技術を超高周波(SHF)帯の弾性表面波(SAW)デバイス用LiNbO_3、LiTaO_3単結晶基板の均一性とその表面加工層・変質層の問題に適用し、その定量的解析・評価技術の確立を目指して行った。 1.LFB-UMCシステムにより測定される漏洩弾性表面波(LSAW)伝搬特性の相対的・絶対的測定精度を向上させた。 2.LiNbO_3とLiTaO_3単結晶のコングルエント組成比付近における音響関連物理定数の化学組成比依存性を決定し、任意の化学組成比の結晶に対するLSAWおよびSAWの伝搬特性の理論値の計算を可能にした。 3.LiNbO_3とLiTaO_3単結晶基板に対して、LSAW速度、キュリー温度、格子定数などの諸特性値間の実験的関係(検量線)を求め、各特性値をLSAW速度により統一的に評価できるようにした。 4.市販の光学用LiTaO_3単結晶インゴット内のLSAW速度による化学組成分布評価を通して、結晶育成条件の改良法を提案し、より均一な結晶育成に成功した。 5.表面加工層モデル試料として、プロトン交換層、分極反転層を有するLiTaO_3基板を取り上げ、作製・評価を行った。LSAW速度による表層厚に対する分解能はナノメーターオーダーであることを明らかにした。 6.走査型非線形誘電率顕微鏡システムの分解能を向上させた。 7.LSAW速度測定により予め化学組成比分布を把握したLiTaO_3ウェハ基板に対し、0.5、1.2GHz帯のSAWフィルタを作製し、その中心周波数およびSAW速度を測定した。その結果、特に高周波において、LSAW速度(化学組成比)分布に起因する変化以上の中心周波数のばらつきや、SAW速度の計算値からのずれが大きくなる傾向を捉えた。これは表面加工層に起因する問題を捉えたものと考える。

  24. 走査型電子線誘電率顕微鏡 競争的資金

    1998年 ～ 2000年3月

  25. 高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡の開発とその強誘電体記録への展開 競争的資金

    1997年 ～ 2000年3月

  26. 強誘電体単結晶を用いた双極子記録メディアの基礎的検討

    小田川 裕之, 長 康雄

    2000年 ～ 2000年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本研究では,磁気記録の記録密度を遙かに上回ると予想される,強誘電体のミクロな分極(双極子)を用いた高密度記録実現のひとつのステップとして,薄膜ではなく,強誘電体単結晶の表面を用いた新しい方法を提案し,微小領域への書き込み特性,及び将来の可能性を調べることを目的として行った。一般には,強誘電体記録には微小領域への書き込みを可能にするため薄膜を用いる方法が考えられているが,本研究は,容易に安定した表面が得られる単結晶基板を用いることを試みた。 探針に電圧を印加する方法では,単結晶を非常に薄くすることで,実験的にサブミクロンの微小な書き込み領域を得ることが可能になった。しかし表面を改質する方法については,十分な成果は得ることができなかった。だが,単結晶表面に,バルクと異なった性質を有する薄い表面層が存在することを示唆する実験結果が得られており,今後より詳細な研究が必要であることがわかり,新たな研究課題を見いだすことができた。 更に,今後表面層のミクロな分極状態を調べる研究を発展させるためには,分極の計測に今回の研究と同様,走査型非線形誘電率顕微鏡を用いることが不可欠であるが,今までの走査型非線形誘電率顕微鏡では困難であった試料表面の面内方向の分極成分を高い空間分解能で計測する必要があると考えられ,それを可能にするプローブにつても検討を行った。その結果,面内方向の分極成分を計測できるプローブの原型を得ることに成功した。これらの研究成果については,近日中に論文として投稿する予定である。

  27. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた単一永久双極子モーメントの可視化 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：日本原子力研究所

    制度名：平成１２年度黎明研究

    2000年 ～ 2000年

  28. KNbO_3圧電薄膜の作製と次世代移動体通信用弾性表面波デバイスの研究

    小田川 裕之, 山之内 和彦, 長 康雄

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (B).

    研究機関：Tohoku University

    1999年 ～ 2000年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    本研究では,まず,SrTiO_3及びSi基板にKNbO_3薄膜成膜したときのSAW伝搬特性を検討した結果,下地基板と成膜するKNbO_3の格子定数から,実現が期待できる組み合わせでは,(001)<100>KNbO_3//(110)<1-10>SrTiO_3が波長に対する規格化膜厚1で電気機械結合係数がk^2=10.4%であることがわった。 ターゲットには,K_2CO_3:Nb_2O_5=1:0とK_2CO_3:Nb_2O_5=3:1のターゲットの組を用いる方法が有効であった。成膜条件を検討することにより,当初より結晶性のよい膜を得ることが可能になった。SAWデバイスの低損失化,及び非線形デバイスとしての応用に向けては,更に結晶性を向上する必要があるなど,新たな研究課題が見つかった。 次に,KNbO_3薄膜の分極特性とSAWデバイスとしての特性の対応がSAWデバイスの特性向上に重要であるとの観点から,SrTiO_3基板上にMOCVD法で作製されたKNbO_3薄膜の分極分布を,非線形誘電率顕微鏡により観測し,それに対応させてSAWの励振・伝搬特性を調べた。この結果,KNbO_3薄膜作製において,特に分極操作を行わなくてもある程度の分極が基板の裏から表面の方向に向いており,その分極状態は室温ではかなり安定であることがわかった。また,成膜条件によっては,分極の大きさに分布が生じることが,非線形誘電率顕微鏡により観測された。分極に分布がある部分のSAWの特性の差は挿入損失で約3dBであった。 また,SAW材料としての特性向上のため,薄膜を加熱した状態で電圧を印加することで,分極操作を行うことを検討した。as grownの状態で分極に分布があった基板に分極操作を行った結果,as grownの状態で分極分布がない基板とほぼ同じ状態になった。このことから,成膜後の分極操作が可能であることがわかった。

  29. 強誘電体超高密度記録 競争的資金

    2000年1月 ～

  30. 強誘電体中の単一双極子モーメントの可視化と単一双極子メモリーに関する研究 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：小笠原科学技術振興財団

    制度名：研究助成

    1999年 ～ 1999年

  31. サブナノメータ分解能を持つ走査型非線形誘電率顕微鏡の開発と単一双極子の可視化 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：カシオ科学振興財団

    制度名：第１７回研究助成

    1999年 ～ 1999年

  32. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた単一永久双極子モーメントの可視化 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：住友財団

    制度名：基礎科学研究助成

    1999年 ～ 1999年

  33. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡の開発とその強誘電体記録への応用」 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：石田（實）記念財団

    制度名：研究助成

    1999年 ～ 1999年

  34. 超高結合弾性表面波デバイスと高度情報通信システムへの応用

    山之内 和彦, 小田川 裕之, 高野 剛, 目黒 敏靖, 長 康雄

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

    1998年 ～ 1999年

    詳細を見る 詳細を閉じる

    弾性表面波機能素子は高性能・超小型の電子・情報・通信の機能素子、特に移動体通信のキーデバイスとして盛んに研究が行われているが、更に21世紀の高度情報通信に対応するためには、その基礎である材料の研究開発と機能素子への応用、及びそれに適したシステムの開発が是非必要である。このような要求を満たす材料として、超高結合のKNbO_3単結晶基板、即ち、これまでレイリー波モードで、最も大きな電気機械結合係数をもつLiNbO_3基板の約10倍の値をもつKNbO_3基板を見いだしたことを元に、この基板の特性と応用について研究を本科学研究費の基に行い、以下のような研究成果を得た。 (1)大型KNbO_3単結晶の育成 高性能基板の実用化に当たっては、大型の単結晶基板を得ることが必要である。本研究では、60mmφの大型の白金ルツボを用い、融液面下で育成を行う方法を用いて、50mm角で長さ15mmと大型のKNbO_3単結晶の育成に成功した[1]。また、非線形誘電率顕微鏡[2]を用いて、分極軸について検討し、弾性表面波デバイスに応用可能な単結晶基板を得た。 (2)零温度特性基板の発見 回転Y板-X伝搬のKNbO_3基板の周波数温度特性を測定し、60度カット角付近の基板が室温付近で零温度特性[4]をもつことを見いだした。この成果は、今後の通信システムでの周波数有効利用と高速信号伝送のキーデバイスとして実用化が期待される。 (3)広帯域フィルタの研究 低損失の弾性表面波フィルタとして、弾性表面波共振器をラダー型に構成したフィルタが実用化されているが、KNbO_3基板を用いたフィルタを作製し[4]、従来の約3倍の17%の帯域幅をもつフィルタを得た。 (4)高効率エラスティックコンボルバーの研究 KNbO_3単結晶の非線形定数を測定し[3]、大きな値をもつことを見出とともに、弾性表面波エラスティックコンボルバを作製、これまで最も大きな効率であるLiNbO_3より約15dB大きな高効率のコンボルバ[5]を得た。これは、スペクトル拡散通信のキーデバイスとして今後の発展が期待される。 以上の研究成果を元に高密度・高速・高性能通信システム対応する、更にはシステムに変革をもたらすデバイスの研究開発[6]を進める。

  35. 走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその強誘電体記録への応用 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：稲盛財団助成金

    1997年 ～ 1997年

  36. 非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその誘電体記録への応用 競争的資金

    1996年 ～ 1996年3月

  37. 走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその強誘電体記録への応用 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：村田学術振興財団

    制度名：（第１２回）研究助成

    1996年 ～ 1996年

  38. 機能性材料の非線形特性の動的計測法の確立と非線形性出現機構の解明 競争的資金

    1994年 ～ 1995年3月

  39. 機能性セラミックスの誘電・圧電・電歪及び弾性的非線形特性の断熱的計測法による評価と非線形性出現機構の解明 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：財団法人中国電力技術研究財団

    制度名：試験研究助成

    1995年 ～ 1995年

  40. 金属グレーティング導波路上を伝搬するＳＡＷソリトンの実験的検証 競争的資金

    1993年 ～ 1994年3月

  41. 機能性材料の非線形性出現機構の解明とその電気通信デバイXの高性能化への応用

    1994年 ～ 1994年

  42. 非線形誘電率顕微鏡の開発 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：川崎製鉄

    制度名：川鉄２１世紀財団技術研究助成金

    1994年 ～ 1994年

  43. None 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：電気通信普及財団

    制度名：海外渡航旅費援助

    1994年 ～

  44. None 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：Ｃ＆Ｃ振興財団

    制度名：国際会議論文発表者助成

    1994年 ～

  45. 機能性セラミックスの誘電・圧電・電歪及び弾性的非線形特性の断熱的計測法による評価と非線形性出現機構の解明 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：財団法人中国電力技術研究財団

    制度名：試験研究助成

    1994年 ～

  46. 音響常磁性共鳴と光ポンピング法を用いたサーフェスフォノンメーザに関する研究 競争的資金

    1992年 ～ 1993年3月

  47. None 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：東電記念科学技術研究所

    制度名：国際技術交流援助

    1993年 ～

  48. 音響常磁性共鳴と光ポンピング法を用いたサーフェスフォノンメーザに関する研究 競争的資金

    1991年 ～ 1992年3月

  49. None 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：中国電力技術研究財団

    制度名：国際交流活動助成

    1992年 ～

  50. 音響常磁性共鳴と光ポンピング法を用いたサーフェXフォノンメーザに関する研究 競争的資金

    1990年 ～ 1991年3月

  51. 圧電セラミックスの断熱的非線形定数の測定法の確立 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：村田学術振興財団

    制度名：村田学術振興財団（第７回）研究助成

    1991年 ～

  52. フォノンメーザ用材料に関する基礎的研究 競争的資金

    長 康雄

    提供機関：徳山科学技術振興財団

    制度名：徳山科学技術振興財団（第３回）研究助成

    1991年 ～

  53. 音響常磁性共鳴によるサーフェスフォノンの吸収及び発生増幅 競争的資金

    1989年 ～ 1990年3月

  54. フォノンメーザ用材料に関する研究 競争的資金

    長 康雄

    制度名：マツダ研究助成（第６回）

    1990年 ～

  55. 「音響常磁性共鳴と光ポンピング法を用いたフォノンメーザに関する研究」放送文化基金奨励研究 競争的資金

    長 康雄

    制度名：放送文化基金奨励研究

    1990年 ～

  56. 音響常磁性共鳴によるサーフェスフォノンの吸収及び発生増幅 競争的資金

    1988年 ～ 1989年3月

  57. 音響常磁性共鳴によるサーフェスフォノンの吸収及び発生増幅 競争的資金

    1987年 ～ 1988年3月

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示

担当経験のある科目(授業) 4

  1. 先端超高速情報工学講義　東北大学工学研究科

  2. 固体電気音響デバイス工学　東北大学工学研究科

  3. 電磁気学Ⅰ　東北大学工学部

  4. 先端超高周波情報工学　東北大学工学研究科

社会貢献活動 2

  1. 研究者を生きる

    2019年度平生中学校キャリア教育講演会　山口県平生町

    2019年5月17日 ～ 2019年5月17日

  2. 走査型非線形誘電率顕微鏡

    第23回結晶工学セミナー　産総研臨海副都心センター別館,東京都

    2018年12月21日 ～ 2018年12月21日

その他 25

  1. SiCパワーデバイス高精度定量測定技術の開発

    詳細を見る 詳細を閉じる

    拡散層の高精度な可視化の可能性あるSHO-SNDM法の検討

  2. 超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiC基板材料及びパワーエレクトロニクス素子の高性能化に資する評価技術の開発

    詳細を見る 詳細を閉じる

    超高次非線形誘電率顕微鏡法(SHO-SNDM)を用いてSiCパワーMOSFETの評価を前提にSiCウエハや高性能なSiCパワーデバイスの開発に資することを目的として研究開発を行う

  3. 「Development of Ferroelectric Probe Data Storage」

    詳細を見る 詳細を閉じる

    次世代強誘電体高密度記録

  4. SNDM測定を用いた半導体ドーパントプロファイル計測に関する研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    東北大長研究室保有の高感度SNDM装置を用いて、特に低濃度(15cm-3)領域の拡散層評価環境を構築する

  5. 超高密度強誘電体記録の実用化研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    超高密度強誘電体記録の実用化研究について

  6. 複合型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発

    詳細を見る 詳細を閉じる

    複合型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発について

  7. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた超高密度強誘電体記録用材料の研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    非線形誘電率顕微鏡法を用いた超高密度強誘電体記録用材料の研究について

  8. ＳＮＤＭ強誘電体プローブメモリ

    詳細を見る 詳細を閉じる

    ＳＮＤＭ強誘電体プローブメモリについて

  9. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた電気双極子モーメントメモリー

    詳細を見る 詳細を閉じる

    非線形誘電率顕微鏡法を用いた電気双極子モーメントメモリーについて

  10. 非線形誘電率顕微鏡の高性能化に関する研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    非線形誘電率顕微鏡の高性能化に関する研究について

  11. 非線形誘電率顕微鏡法を用いた単一永久双極子モーメントの可視化

    詳細を見る 詳細を閉じる

    非線形誘電率顕微鏡法を用いた単一永久双極子モーメントの可視化について

  12. 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた単一永久双極子モーメントの可視化

    詳細を見る 詳細を閉じる

    走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた単一永久双極子モーメントの可視化について

  13. サブナノメータ分解能を持つ走査型非線形誘電率顕微鏡の開発と単一双極子の可視化

    詳細を見る 詳細を閉じる

    サブナノメータ分解能を持つ走査型非線形誘電率顕微鏡の開発と単一双極子の可視化について

  14. 強誘電体中の単一双極子モーメントの可視化と単一双極子メモリーに関する研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    強誘電体中の単一双極子モーメントの可視化と単一双極子メモリーに関する研究

  15. 超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡の開発とその強誘電体記録への応用

    詳細を見る 詳細を閉じる

    超高分解能走査型非線形誘電率顕微鏡の開発とその強誘電体記録への応用について

  16. 走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその強誘電体記録への応用

    詳細を見る 詳細を閉じる

    走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその強誘電体記録への応用について

  17. 走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその強誘電体記録への応用

    詳細を見る 詳細を閉じる

    走査型非線形誘電率顕微鏡の高分解能化の達成とその強誘電体記録への応用について

  18. 機能性セラミックスの誘電・圧電・電歪及び弾性的非線形特性の断熱的計測法による評価と非線形性出現機構の解明

    詳細を見る 詳細を閉じる

    機能性セラミックスの誘電・圧電・電歪及び弾性的非線形特性の断熱的計測法による評価と非線形性出現機構の解明について

  19. 機能性セラミックスの誘電・圧電・電歪及び弾性的非線形特性の断熱的計測法による評価と非線形性出現機構の解明

    詳細を見る 詳細を閉じる

    機能性セラミックスの誘電・圧電・電歪及び弾性的非線形特性の断熱的計測法による評価と非線形性出現機構の解明について

  20. 機能性材料の非線形性出現機構の解明とその電気通信デバイXの高性能化への応用

    詳細を見る 詳細を閉じる

    機能性材料の非線形性出現機構の解明とその電気通信デバイXの高性能化への応用について

  21. 非線形誘電率顕微鏡の開発

    詳細を見る 詳細を閉じる

    非線形誘電率顕微鏡の開発について

  22. フォノンメーザ用材料に関する基礎的研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    フォノンメーザ用材料に関する基礎的研究について

  23. 圧電セラミックスの断熱的非線形定数の測定法の確立

    詳細を見る 詳細を閉じる

    圧電セラミックスの断熱的非線形定数の測定法の確立について

  24. 音響常磁性共鳴と光ポンピング法を用いたフォノンメーザに関する研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    音響常磁性共鳴と光ポンピング法を用いたフォノンメーザに関する研究について

  25. フォノンメーザ用材料に関する研究

    詳細を見る 詳細を閉じる

    フォノンメーザ用材料に関する研究について

︎全件表示 ︎最初の5件までを表示