研究者詳細

顔写真

タカハシ　ユキオ
髙橋　幸生
Yukio Takahashi
所属
国際放射光イノベーション・スマート研究センター　横幹研究部門　データ可視化スマートラボ
職名
教授
学位

  • 博士（工学）（東北大学）

  • 修士（工学）（東北大学）

e-Rad 研究者番号
00415217
Researcher ID
F-4634-2011

経歴 11

  • 2022年4月 ～ 継続中
    東北大学　金属材料研究所 先端エネルギー材料理工共創研究センター　教授

  • 2021年10月 ～ 継続中
    北海道大学　触媒科学研究所 附属触媒連携研究センター　客員教授

  • 2020年7月 ～ 継続中
    東北大学　国際放射光イノベーション・スマート研究センター　教授

  • 2019年4月 ～ 継続中
    東北大学 多元物質科学研究所　教授

  • 2014年4月 ～ 継続中
    理化学研究所　放射光科学研究センター　チームリーダー

  • 2019年4月 ～ 2023年3月
    大阪大学　大学院工学研究科　招へい教授

  • 2011年4月 ～ 2018年3月
    大阪大学　大学院工学研究科　准教授

  • 2007年4月 ～ 2011年3月
    大阪大学　大学院工学研究科　特任講師

  • 2005年4月 ～ 2007年3月
    理化学研究所　基礎科学特別研究員

  • 2004年10月 ～ 2005年3月
    日本学術振興会　特別研究員(PD)

  • 2002年4月 ～ 2004年9月
    日本学術振興会　特別研究員(DC1)

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学歴 2

  • 東北大学　大学院工学研究科　材料物性学専攻

    2000年4月 ～ 2004年9月

  • 東北大学　工学部　マテリアル開発系

    1996年4月 ～ 2000年3月

委員歴 13

  • 日本光学会 Ｘ線・EUV結像光学研究グループ　幹事

    2024年8月 ～ 継続中

  • 日本放射光学会　第4世代大型放射光源計画に関する特別委員会

    2023年12月 ～ 継続中

  • National Synchrotron Light Source II　NEXT-III Project Beamline Advisory Team

    2023年7月 ～ 継続中

  • 日本金属学会　東北支部代議員

    2023年4月 ～ 継続中

  • Coherence Workshop, International Advisory Committee

    2017年6月 ～ 2024年6月

  • 日本放射光学会　データ構造化諮問委員会

    2022年4月 ～ 2023年9月

  • 日本顕微鏡学会　第78回日本顕微鏡学会プログラム委員

    2021年6月 ～ 2022年5月

  • SRI2021 Programme Committee

    2020年8月 ～ 2022年4月

  • 日本放射光学会 プログラム委員

    2020年6月 ～ 2022年1月

  • 文部科学省 科学技術・学術政策研究所 科学技術予測センター 専門調査員

    2018年4月 ～ 2019年3月

  • 日本放射光学会　プログラム委員

    2015年6月 ～ 2017年1月

  • 日本顕微鏡学会　様々な極微イメージング技術研究部会 幹事

    2013年4月 ～ 2016年3月

  • 日本放射光学会　行事委員

    2013年10月 ～ 2015年9月

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所属学協会 5

  • 日本顕微鏡学会

  • SPring-8利用者懇談会

  • 日本金属学会

  • 日本物理学会

  • 日本放射光学会

研究キーワード 6

  • コヒーレント回折イメージング

  • 位相回復

  • タイコグラフィ

  • 放射光

  • Holography

  • X-ray

研究分野 3

  • ナノテク・材料 / ナノ構造物理 /

  • ナノテク・材料 / 無機材料、物性 /

  • エネルギー / 量子ビーム科学 /

受賞 21

  1. 第２回日本放射光学会高良・佐々木賞

    2024年1月　日本放射光学会　コヒーレントX線回折によるナノ構造イメージングの新原理開拓とその応用展開

  2. 大阪大学総長奨励賞(研究部門)

    2015年7月　大阪大学

  3. 大阪大学総長奨励賞(研究部門)

    2014年7月　大阪大学

  4. 大阪大学総長奨励賞(研究部門)

    2013年10月　大阪大学

  5. 第34回本多記念研究奨励賞

    2013年5月　本多記念会　放射光コヒーレント回折を利用した新しいナノ組織解析法に関する研究

  6. 大阪大学総長奨励賞(研究部門)

    2012年8月　大阪大学

  7. 日本金属学会秋期大会 優秀ポスター賞

    2011年11月　日本金属学会

  8. 平成23年度文部科学大臣表彰若手科学者賞

    2011年4月　文部科学省

  9. Annual Report of Osaka University -Academic Achievement- 2009-2010 論文100選

    2011年3月　大阪大学

  10. 第61回金属組織写真賞奨励賞(顕微鏡関連部門)

    2011年3月　日本金属学会

  11. 平成21年度 財団法人光科学技術研究振興財団 研究表彰

    2010年3月　光科学技術研究振興財団　高分解能コヒーレントＸ線回折顕微法の開発とヒト染色体の三次元イメージングへの応用

  12. 第4回 Joint JIM/TMS Young Leader International Scholar

    2010年2月　The Minerals, Metals&Materials Society

  13. 第14回 日本放射光学会奨励賞

    2010年1月　日本放射光学会　コヒーレントＸ線散乱・回折イメージング技術の開発と応用

  14. 第15回 コニカミノルタ画像科学奨励賞

    2009年2月　コニカミノルタ画像科学振興財団　Ｘ線回折顕微法のための超解像位相回復アルゴリズムの開発と金属材料のナノ組織解析への応用

  15. 第22回日本放射光学会ポスター賞

    2009年1月　日本放射光学会

  16. 第18回 日本金属学会奨励賞(物性部門)

    2008年9月　日本金属学会

  17. 日本金属学会奨励賞(物性部門)

    2008年9月　日本金属学会

  18. Denver x-ray conference, BEST XRF POSTER AWARD

    2004年8月　DXC Organizing Committee　Evaluation of local short-range order around Fe atoms in FePt films by x-ray fluorescence holography

  19. 第17回放射光学会年会・合同シンポジウム, 学生会員口頭発表賞受賞

    2004年1月　日本放射光学会　複素X線ホログラフィー法の開発

  20. Jerome B. Cohen student award

    2003年8月　Denver x-ray conference

  21. Nanostructured advanced magnetic materials, Poster Prize

    2002年6月　United Engineering Foundation, Inc.

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論文 116

  1. Multidimensional Tracking and Clustering of Electrochemical Reactions in the Positive Electrode of Lithium-Ion Batteries via Operando X-ray Nanoscale Chemical Imaging 査読有り

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Kosuke Kawai, Yuhei Sasaki, Oki Sekizawa, Masashi Okubo, Yukio Takahashi

    Chemical & Biomedical Imaging　2025年8月5日

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/cbmi.5c00036 　

    ISSN：2832-3637

    eISSN：2832-3637

  2. Activation of Anionic Redox for Stoichiometric and Li-Excess Metal Sulfides through Structural Disordering: Joint Experimental and Theoretical Study 査読有り

    Miyuki Shinoda, Koki Matsunoshita, Masanobu Nakayama, Satoshi Hiroi, Koji Ohara, Masaki Abe, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi, Gen Hasegawa, Naoaki Kuwata, Tsukasa Iwama, Takuya Masuda, Kosuke Suzuki, Hirofumi Ishii, Yu-Cheng Shao, Daisuke Shibata, Akinori Irizawa, Toshiaki Ohta, Itsuki Konuma, Teppei Ohno, Yosuke Ugata, Naoaki Yabuuchi

    Journal of the American Chemical Society　2025年7月15日

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/jacs.5c04018 　

    ISSN：0002-7863

    eISSN：1520-5126

  3. Development of Operando Hard X-ray Ptychography: Application to Thin-Film All-Solid-State Lithium-Ion Batteries 査読有り

    Yuhei Sasaki, Nozomu Ishiguro, Hideshi Uematsu, Shuntaro Takazawa, Masaki Abe, Naru Okawa, Yasuhiro Suzuki, Kyosuke Ozaki, Kazuo Kobayashi, Haruki Nishino, Yoshiaki Honjo, Yasumasa Joti, Takaki Hatsui, Yasutoshi Iriyama, Yukio Takahashi

    The Journal of Physical Chemistry C　129　(23)　10624-10632　2025年6月3日

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/acs.jpcc.4c08299 　

    ISSN：1932-7447

    eISSN：1932-7455

  4. PID3Net: a deep learning approach for single-shot coherent X-ray diffraction imaging of dynamic phenomena 査読有り

    Tien-Sinh Vu, Minh-Quyet Ha, Adam Mukharil Bachtiar, Duc-Anh Dao, Truyen Tran, Hiori Kino, Shuntaro Takazawa, Nozomu Ishiguro, Yuhei Sasaki, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Naru Okawa, Kyosuke Ozaki, Kazuo Kobayashi, Yoshiaki Honjo, Haruki Nishino, Yasumasa Joti, Takaki Hatsui, Yukio Takahashi, Hieu-Chi Dam

    npj Computational Materials　11　(1)　2025年3月12日

    出版者・発行元： Springer Science and Business Media LLC

    DOI： 10.1038/s41524-025-01549-x 　

    eISSN：2057-3960

  5. Guided-image-filtering-assisted phase retrieval for amplitude reconstruction in single-frame coherent diffraction imaging 査読有り

    Masaki Abe, Shuntaro Takazawa, Hideshi Uematsu, Yuhei Sasaki, Naru Okawa, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Optica　11　(12)　1708-1708　2024年12月13日

    出版者・発行元： Optica Publishing Group

    DOI： 10.1364/optica.542299 　

    eISSN：2334-2536

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    Coherent diffraction imaging enables high-resolution sample observations to surpass lens performance limitations. However, accurate reconstruction of amplitude images from a single diffraction intensity pattern remains challenging, hindering its application to dynamic chemical process observation. We propose a phase retrieval method that enhances amplitude image reconstruction by exploiting the structural similarity between phase and amplitude images using guided image filtering. Numerical simulations and synchrotron radiation experiments demonstrate that it can reconstruct amplitude images with quantitative accuracy comparable to that of ptychography and attain a spatial resolution equivalent to that of phase images. This technique can potentially revolutionize material characterization by improving the temporal resolution of nanoscale chemical-state imaging.

  6. In situ heating coherent X-ray diffraction imaging for visualizing nanometer-scale structural changes in metallic materials 査読有り

    Shuntaro Takazawa, Yuhei Sasaki, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Naru Okawa, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Materialia　102311-102311　2024年12月

    出版者・発行元： Elsevier BV

    DOI： 10.1016/j.mtla.2024.102311 　

    ISSN：2589-1529

  7. Real-Time Phase Retrieval Using On-the-Fly Training of Sample-Specific Surrogate Models 査読有り

    Ryota Koda, Keichi Takahashi, Hiroyuki Takizawa, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    2024 Twelfth International Symposium on Computing and Networking (CANDAR)　59-66　2024年11月26日

    出版者・発行元： IEEE

    DOI： 10.1109/candar64496.2024.00015 　

  8. Three-Dimensional Nanoscale Imaging of SiO2 Nanofiller in Styrene-Butadiene Rubber with High-Resolution and High-Sensitivity Ptychographic X-ray Computed Tomography 査読有り

    Naru Okawa, Nozomu Ishiguro, Shuntaro Takazawa, Hideshi Uematsu, Yuhei Sasaki, Masaki Abe, Kyosuke Ozaki, Yoshiaki Honjo, Haruki Nishino, Yasumasa Joti, Takaki Hatsui, Yukio Takahashi

    Microscopy and Microanalysis　30　(5)　836-843　2024年9月19日

    出版者・発行元： Oxford University Press (OUP)

    DOI： 10.1093/mam/ozae094 　

    ISSN：1431-9276

    eISSN：1435-8115

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    Abstract SiO2 aggregates in styrene-butadiene rubber (SBR) were observed using ptychographic X-ray computed tomography (PXCT). The rubber composites were illuminated with X-rays focused by total reflection focusing mirrors, and the ptychographic diffraction patterns were collected using a CITIUS detector in the range of −75° to +75° angle of incidence. The projection images of the rubber composites were reconstructed with a two-dimensional resolution of 76 nm, and no significant structural changes were observed during the PXCT measurements. A three-dimensional image of the rubber composite was reconstructed with an isotropic resolution of 98 nm. Segmentation of SiO2 from the SBR, based on a histogram analysis of the phase shift, revealed a fragmented network structure of interconnected SiO2 aggregates.

  9. Impact of corner radius of the aperture on the accuracy of phase retrieval analysis in single-frame CDI for nanomaterials 査読有り

    Adam Mukharil Bachtiar, Tien-Sinh Vu, Minh-Quyet Ha, Shuntaro Takazawa, Yukio Takahashi, Hieu-Chi Dam

    Molecular Physics　2024年8月13日

    出版者・発行元： Informa UK Limited

    DOI： 10.1080/00268976.2024.2388303 　

    ISSN：0026-8976

    eISSN：1362-3028

  10. Towards Sub-10 nm Spatial Resolution by Tender X-ray Ptychographic Coherent Diffraction Imaging 査読有り

    Nozomu Ishiguro, Fusae Kaneko, Masaki Abe, Yuki Takayama, Junya Yoshida, Taiki Hoshino, Shuntaro Takazawa, Hideshi Uematsu, Yuhei Sasaki, Naru Okawa, Keichi Takahashi, Hiroyuki Takizawa, Hiroyuki Kishimoto, Yukio Takahashi

    Applied Physics Express　17　052006-1-052006-5　2024年5月7日

    出版者・発行元： IOP Publishing

    DOI： 10.35848/1882-0786/ad4846 　

    ISSN：1882-0778

    eISSN：1882-0786

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    Abstract As the first experiment at BL10U in NanoTerasu, tender X-ray ptychographic coherent diffraction imaging (PCDI) was conducted using a photon energy of 3.5 keV. The ptychographic diffraction patterns from a 200 nm-thick Ta test chart and a micrometer-sized particle of sulfurized polymer were collected. Subsequently, phase images were reconstructed with resolutions of sub-20 nm and sub-50 nm, respectively. In the near future, tender X-ray PCDI with sub-10 nm resolution is anticipated that can potentially revolutionize the visualization of nanoscale structures and chemical states in various functional materials composed of light elements.

  11. Coupling x-ray photon correlation spectroscopy and dynamic coherent x-ray diffraction imaging: Particle motion analysis from nano-to-micrometer scale 査読有り

    Shuntaro Takazawa, Duc-Anh Dao, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Taiki Hoshino, Hieu Chi Dam, Yukio Takahashi

    Physical Review Research　5　L042019　2023年11月

    DOI： 10.1103/PhysRevResearch.5.L042019 　

  12. Nondestructive observation of nanopipe in GaN crystal by x-ray ptychographic coherent diffraction imaging 査読有り

    Yuhei Sasaki, Hideshi Uematsu, Shuntaro Takazawa, Masaki Abe, Nozomu Ishiguro, Jun Koyama, Norihito Mayama, Yuji Terui, Yukio Takahashi

    PROCEEDINGS OF THE 15TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY – XRM2022　2023年9月

    出版者・発行元： AIP Publishing

    DOI： 10.1063/5.0168127 　

    ISSN：0094-243X

  13. Development and application of X-ray spectroscopic ptychography at SPring-8 招待有り

    Yukio Takahashi

    Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances　79　(a2)　C558-C558　2023年8月22日

    出版者・発行元： International Union of Crystallography (IUCr)

    DOI： 10.1107/s2053273323090587 　

    ISSN：2053-2733

  14. The 17 400 frames s−1 X-ray imaging detector CITIUS with a linear response up to 945 Mcps per pixel (18 Tcps cm−2): evaluation in ptychography

    K. Ozaki, Y. Honjo, T. N. Hiraki, H. Nishino, Y. Sasaki, H. Uematsu, S. Takazawa, N. Ishiguro, Y. Takahashi, Y. Kohmura, Y. Joti, T. Hatsui

    Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances　79　(a2)　C1240-C1240　2023年8月22日

    出版者・発行元： International Union of Crystallography (IUCr)

    DOI： 10.1107/s205327332308381x 　

    ISSN：2053-2733

  15. Comprehensive Operando Visualization of the Electrochemical Events in the Cathode/Anode Layers in Thin-Film-Type All-Solid-State Lithium-Ion Batteries 査読有り

    Nozomu Ishiguro, Tsutomu Totsuka, Hideshi Uematsu, Oki Sekizawa, Kazuo Yamamoto, Yasutoshi Iriyama, Yukio Takahashi

    ACS Applied Energy Materials　6　(15)　8306-8315　2023年8月1日

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/acsaem.3c01441 　

    ISSN：2574-0962

    eISSN：2574-0962

  16. High-resolution and high-sensitivity X-ray ptychographic coherent diffraction imaging using the CITIUS detector 査読有り

    Yukio Takahashi, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Shuntaro Takazawa, Yuhei Sasaki, Nozomu Ishiguro, Kyosuke Ozaki, Yoshiaki Honjo, Haruki Nishino, Kazuo Kobayashi, Toshiyuki Nishiyama Hiraki, Yasumasa Joti, Takaki Hatsui

    Journal of Synchrotron Radiation　30　(5)　2023年8月1日

    出版者・発行元： International Union of Crystallography (IUCr)

    DOI： 10.1107/s1600577523004897 　

    eISSN：1600-5775

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    Ptychographic coherent diffraction imaging (PCDI) is a synchrotron X-ray microscopy technique that provides high spatial resolution and a wide field of view. To improve the performance of PCDI, the performance of the synchrotron radiation source and imaging detector should be improved. In this study, ptychographic diffraction pattern measurements using the CITIUS high-speed X-ray image detector and the corresponding image reconstruction are reported. X-rays with an energy of 6.5 keV were focused by total reflection focusing mirrors, and a flux of ∼2.6 × 1010 photons s−1 was obtained at the sample plane. Diffraction intensity data were collected at up to ∼250 Mcounts s−1 pixel−1 without saturation of the detector. Measurements of tantalum test charts and silica particles and the reconstruction of phase images were performed. A resolution of ∼10 nm and a phase sensitivity of ∼0.01 rad were obtained. The CITIUS detector can be applied to the PCDI observation of various samples using low-emittance synchrotron radiation sources and to the stability evaluation of light sources.

  17. X-ray ptychographic and fluorescence microscopy using virtual single-pixel imaging based deconvolution with accurate probe images 査読有り

    Masaki Abe, Nozomu Ishiguro, Hideshi Uematsu, Shuntaro Takazawa, Fusae Kaneko, Yukio Takahashi

    Optics Express　31　(16)　26027-26027　2023年7月20日

    出版者・発行元： Optica Publishing Group

    DOI： 10.1364/oe.495733 　

    eISSN：1094-4087

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    Simultaneous measurement of X-ray ptychography and fluorescence microscopy allows high-resolution and high-sensitivity observations of the microstructure and trace-element distribution of a sample. In this paper, we propose a method for improving scanning fluorescence X-ray microscopy (SFXM) images, in which the SFXM image is deconvolved via virtual single-pixel imaging using different probe images for each scanning point obtained by X-ray ptychographic reconstruction. Numerical simulations confirmed that this method can increase the spatial resolution while suppressing artifacts caused by probe imprecision, e.g., probe position errors and wavefront changes. The method also worked well in synchrotron radiation experiments to increase the spatial resolution and was applied to the observation of S element maps of ZnS particles.

  18. Nanoscale domain imaging of Li-rich disordered rocksalt-type cathode materials with X-ray spectroscopic ptychography 査読有り

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Masaki Abe, Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Itsuki Konuma, Naoaki Yabuuchi, Yukio Takahashi

    Physical Chemistry Chemical Physics　25　(5)　3867-3874　2023年2月

    出版者・発行元： Royal Society of Chemistry (RSC)

    DOI： 10.1039/d2cp04087e 　

    ISSN：1463-9076

    eISSN：1463-9084

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    Domain structure in Li-rich disordered rocksalt-type cathode particles is visualized using X-ray spectroscopic ptychography and clustering analysis.

  19. Visualization of Sulfur Chemical State of Cathode Active Materials for Lithium–Sulfur Batteries by Tender X-ray Spectroscopic Ptychography 査読有り

    Masaki Abe, Fusae Kaneko, Nozomu Ishiguro, Tatsuya Kubo, Fumiya Chujo, Yusuke Tamenori, Hiroyuki Kishimoto, Yukio Takahashi

    The Journal of Physical Chemistry C　2022年8月11日

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/acs.jpcc.2c02795 　

    ISSN：1932-7447

    eISSN：1932-7455

  20. Method for restoration of X-ray absorption fine structure in sparse spectroscopic ptychography 査読有り

    Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Journal of Applied Crystallography　55　(4)　929-943　2022年8月1日

    出版者・発行元： International Union of Crystallography (IUCr)

    DOI： 10.1107/s1600576722006380 　

    eISSN：1600-5767

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    The spectroscopic ptychography method, a technique combining X-ray ptychography imaging and X-ray absorption spectroscopy, is one of the most promising and powerful tools for studying the chemical states and morphological structures of bulk materials at high resolutions. However, this technique still requires long measurement periods because of insufficient coherent X-ray intensity. Although the improvements in hardware represent a critical solution, breakthroughs in software for experiments and analyses are also required. This paper proposes a novel method for restoring the spectrum structures from spectroscopic ptychography measurements with reduced energy points, by utilizing the Kramers–Kronig relationship. First, a numerical simulation is performed of the spectrum restoration for the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) oscillation from the thinned theoretical absorption and phase spectra. Then, this algorithm is extended by binning the noise removal to handle actual experimental spectral data. Spectrum restoration for the experimental EXAFS data obtained from spectroscopic ptychography measurements is also successfully demonstrated. The proposed restoration will help shorten the time required for spectroscopic ptychography single measurements and increase the throughput of the entire experiment under limited time resources.

  21. Development and application of a tender X-ray ptychographic coherent diffraction imaging system on BL27SU at SPring-8 査読有り

    Masaki Abe, Fusae Kaneko, Nozomu Ishiguro, Togo Kudo, Takahiro Matsumoto, Takaki Hatsui, Yusuke Tamenori, Hiroyuki Kishimoto, Yukio Takahashi

    Journal of Synchrotron Radiation　28　(5)　1610-1615　2021年9月1日

    出版者・発行元： International Union of Crystallography (IUCr)

    DOI： 10.1107/s1600577521006263 　

    eISSN：1600-5775

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    Ptychographic coherent diffraction imaging (CDI) allows the visualization of both the structure and chemical state of materials on the nanoscale, and has been developed for use in the soft and hard X-ray regions. In this study, a ptychographic CDI system with pinhole or Fresnel zone-plate optics for use in the tender X-ray region (2–5 keV) was developed on beamline BL27SU at SPring-8, in which high-precision pinholes optimized for the tender energy range were used to obtain diffraction intensity patterns with a low background, and a temperature stabilization system was developed to reduce the drift of the sample position. A ptychography measurement of a 200 nm thick tantalum test chart was performed at an incident X-ray energy of 2.500 keV, and the phase image of the test chart was successfully reconstructed with approximately 50 nm resolution. As an application to practical materials, a sulfur polymer material was measured in the range of 2.465 to 2.500 keV including the sulfur <italic>K</italic> absorption edge, and the phase and absorption images were successfully reconstructed and the nanoscale absorption/phase spectra were derived from images at multiple energies. In 3 GeV synchrotron radiation facilities with a low-emittance storage ring, the use of the present system will allow the visualization on the nanoscale of the chemical states of various light elements that play important roles in materials science, biology and environmental science.

  22. Visualization of Structural Heterogeneities in Particles of Lithium Nickel Manganese Oxide Cathode Materials by Ptychographic X-ray Absorption Fine Structure 査読有り

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Masaki Abe, Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Eiji Hosono, Nguyen Duong Nguyen, Hieu Chi Dam, Masashi Okubo, Yukio Takahashi

    The Journal of Physical Chemistry Letters　12　(24)　5781-5788　2021年6月24日

    出版者・発行元： American Chemical Society (ACS)

    DOI： 10.1021/acs.jpclett.1c01445 　

    ISSN：1948-7185

    eISSN：1948-7185

  23. Demonstration of single-frame coherent X-ray diffraction imaging using triangular aperture: Towards dynamic nanoimaging of extended objects 査読有り

    Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Optics Express　29　(10)　14394-14394　2021年5月10日

    出版者・発行元： The Optical Society

    DOI： 10.1364/oe.419998 　

    eISSN：1094-4087

  24. Single-frame coherent diffraction imaging of extended objects using triangular aperture 査読有り

    Jungmin Kang, Shuntaro Takazawa, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Optics Express　29　(2)　1441-1441　2021年1月18日

    出版者・発行元： The Optical Society

    DOI： 10.1364/oe.414341 　

    eISSN：1094-4087

  25. Nanoscale Visualization of Phase Transition in Melting of Sn–Bi Particles by In situ Hard X-ray Ptychographic Coherent Diffraction Imaging 査読有り

    Nozomu Ishiguro, Takaya Higashino, Makoto Hirose, Yukio Takahashi

    Microscopy and Microanalysis　26　(5)　878-885　2020年10月

    出版者・発行元： Cambridge University Press (CUP)

    DOI： 10.1017/s1431927620024332 　

    ISSN：1431-9276

    eISSN：1435-8115

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    <title>Abstract</title><fig position="anchor"><graphic xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" mime-subtype="png" mimetype="image" xlink:href="S1431927620024332_figAb.png" /></fig>

  26. Nanoscale determination of interatomic distance by ptychography-EXAFS method using advanced Kirkpatrick–Baez mirror focusing optics 査読有り

    Makoto Hirose, Kei Shimomura, Takaya Higashino, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Journal of Synchrotron Radiation　27　(2)　455-461　2020年3月1日

    出版者・発行元： International Union of Crystallography (IUCr)

    DOI： 10.1107/s1600577519017004 　

    eISSN：1600-5775

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    This work demonstrates a combination technique of X-ray ptychography and the extended X-ray absorption fine structure (ptychography-EXAFS) method, which can determine the interatomic distances of bulk materials at the nanoscale. In the high-resolution ptychography-EXAFS method, it is necessary to use high-intense coherent X-rays with a uniform wavefront in a wide energy range, hence a ptychographic measurement system installed with advanced Kirkpatrick–Baez mirror focusing optics is developed and its performance is evaluated. Ptychographic diffraction patterns of micrometre-size MnO particles are collected by using this system at 139 energies between 6.504 keV and 7.114 keV including the Mn <italic>K</italic> absorption edge, and then the EXAFS of MnO is derived from the reconstructed images. By analyzing the EXAFS spectra obtained from a 48 nm × 48 nm region, the nanoscale bond lengths of the first and second coordination shells of MnO are determined. The present approach has great potential to elucidate the unclarified relationship among the morphology, electronic state and atomic arrangement of inhomogeneous bulk materials with high spatial resolution.

  27. Multibeam ptychography with synchrotron hard X-rays 査読有り

    Makoto Hirose, Takaya Higashino, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Optics Express　28　(2)　1216-1216　2020年1月20日

    出版者・発行元： The Optical Society

    DOI： 10.1364/oe.378083 　

    eISSN：1094-4087

  28. Focusing mirror for coherent hard X-rays

    Kazuto Yamauchi, Hidekazu Mimura, Satoshi Matsuyama, Hirokatsu Yumoto, Takashi Kimura, Yukio Takahashi, Kenji Tamasaku, Tetsuya Ishikawa

    Synchrotron Light Sources and Free-Electron Lasers: Accelerator Physics, Instrumentation and Science Applications　1093-1122　2020年1月1日

    DOI： 10.1007/978-3-030-23201-6_54 　

  29. The Next Generation 3GeV Synchrotron Radiation Facility Project in Japan 招待有り 査読有り

    Masaki Takata, Sachiko Maki, Kiyoshi Kanie, Masashi Watanabe, Tadashi Abukawa, Wataru Yashiro, Yukio Takahashi, Hiroyuki Fukuyama, Atsushi Muramatsu, Wataru Utsumi, Hitoshi Tanaka, Nobuyuki Nishimori, Masamitu Takahasi, Masataka Kado

    AAPPS Bulletin　29　(5)　26-30　2019年10月

  30. Oxygen-diffusion-driven oxidation behavior and tracking areas visualized by X-ray spectro-ptychography with unsupervised learning 査読有り

    Makoto Hirose, Nozomu Ishiguro, Kei Shimomura, Duong-Nguyen Nguyen, Hirosuke Matsui, Hieu Chi Dam, Mizuki Tada, Yukio Takahashi

    COMMUNICATIONS CHEMISTRY　2　50　2019年4月

    DOI： 10.1038/s42004-019-0147-y 　

    ISSN：2399-3669

  31. Three-dimensional iterative multislice reconstruction for ptychographic X-ray computed tomography 査読有り

    Kei Shimomura, Makoto Hirose, Takaya Higashino, Yukio Takahashi

    Optics Express　26　(24)　31199-31208　2018年12月

    DOI： 10.1364/OE.26.031199 　

  32. Nanoscale Chemical Imaging of Three-Way Catalyst Pt/Ce2Zr2Ox particles by Ptychographic-XAFS 査読有り

    Makoto Hirose, Nozomu Ishiguro, Kei Shimomura, Hirosuke Matsui, Mizuki Tada, Yukio Takahashi

    Microscopy and Microanalysis　24　12-13　2018年8月

    DOI： 10.1017/S1431927618012497 　

  33. Multislice imaging of integrated circuits by X-ray ptychography 査読有り

    Kei Shimomura, Makoto Hirose, Takaya Higashino, Yukio Takahashi

    Microscopy and Microanalysis　24　26-27　2018年8月

    DOI： 10.1017/S1431927618012552 　

  34. Visualization of Heterogeneous Oxygen Storage Behavior in Platinum-Supported Cerium-Zirconium Oxide Three-Way Catalyst Particles by Hard X-ray Spectro-Ptychography 査読有り

    Makoto Hirose, Nozomu Ishiguro, Kei Shimomura, Nicolas Burdet, Hirosuke Matsui, Mizuki Tada, Yukio Takahashi

    Angewandte Chemie - International Edition　57　(6)　1474-1479　2018年2月5日

    出版者・発行元： Wiley-VCH Verlag

    DOI： 10.1002/anie.201710798 　

    ISSN：1521-3773 1433-7851

  35. Visualization of Heterogeneous Oxygen Storage Behavior in Platinum-Supported Cerium-Zirconium Oxide Three-Way Catalyst particles by Hard X-ray Spectro-Ptychography 査読有り

    Makoto Hirose, Nozomu Ishiguro, Kei Shimomura, Nicolas Burdet, Hirosuke Matsui, Mizuki Tada, Yukio Takahashi

    Angewandte Chemie International Edition　130　1490-1495　2018年1月

    DOI： 10.1002/ange.201710798 　

  36. Multislice imaging of integrated circuits by precession X-ray ptychography 査読有り

    Kei Shimomura, Makoto Hirose, Yukio Takahashi

    Acta Crystallographica Section A: Foundations and Advances　74　(1)　66-70　2018年1月1日

    DOI： 10.1107/S205327331701525X 　

    ISSN：2053-2733

  37. Use of Kramers-Kronig relation in phase retrieval calculation in X-ray spectro-ptychography 査読有り

    Makoto Hirose, Kei Shimomura, Nicolas Burdet, Yukio Takahashi

    OPTICS EXPRESS　25　(8)　8593-8603　2017年4月

    DOI： 10.1364/OE.25.008593 　

    ISSN：1094-4087

  38. Dark-field X-ray ptychography: Towards high-resolution imaging of thick and unstained biological specimens 査読有り

    Akihiro Suzuki, Kei Shimomura, Makoto Hirose, Nicolas Burdet, Yukio Takahashi

    SCIENTIFIC REPORTS　6　(35060)　1-9　2016年10月

    DOI： 10.1038/srep35060 　

    ISSN：2045-2322

  39. Multiple defocused coherent diffraction imaging: Method for simultaneously reconstructing objects and probe using X-ray free-electron lasers 査読有り

    Makoto Hirose, Kei Shimomura, Akihiro Suzuki, Nicolas Burdet, Yukio Takahashi

    OPTICS EXPRESS　24　(11)　1917-1925　2016年5月

    DOI： 10.1364/OE.24.011917 　

    ISSN：1094-4087

  40. Efficient use of coherent X-rays in ptychography: Towards high-resolution and high-throughput observation of weak-phase objects

    Nicolas Burdet, Kei Shimomura, Makoto Hirose, Akihiro Suzuki, Yukio Takahashi

    APPLIED PHYSICS LETTERS　108　(7)　071103　2016年2月

    DOI： 10.1063/1.4942105 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  41. Focusing mirror for coherent hard X-rays 査読有り

    Kazuto Yamauchi, Hidekazu Mimura, Satoshi Matsuyama, Hirokatsu Yumoto, Takashi Kimura, Yukio Takahashi, Kenji Tamasaku, Tetsuya Ishikawa

    Synchrotron Light Sources and Free-Electron Lasers: Accelerator Physics, Instrumentation and Science Applications　927-956　2016年1月1日

    出版者・発行元： Springer International Publishing

    DOI： 10.1007/978-3-319-14394-1_54 　

  42. 高分解能コヒーレントX線回折イメージング：ナノ構造のその場観察を目指して

    高橋 幸生

    日本物理学会講演概要集　71　2475-2476　2016年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    DOI： 10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2475 　

  43. Grain rotation and lattice deformation during photoinduced chemical reactions revealed by in situ X-ray nanodiffraction 査読有り

    Zhifeng Huang, Matthias Bartels, Rui Xu, Markus Osterhoff, Sebastian Kalbfleisch, Michael Sprung, Akihiro Suzuki, Yukio Takahashi, Thomas N. Blanton, Tim Salditt, Jianwei Miao

    NATURE MATERIALS　14　(7)　691-+　2015年7月

    DOI： 10.1038/NMAT4311 　

    ISSN：1476-1122

    eISSN：1476-4660

  44. Precession x-ray ptychography with multislice approach 査読有り

    Kei Shimomura, Akihiro Suzuki, Makoto Hirose, Yukio Takahashi

    PHYSICAL REVIEW B　91　(21)　214114　2015年6月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.91.214114 　

    ISSN：1098-0121

    eISSN：1550-235X

  45. Dark-field X-ray ptychography 査読有り

    Akihiro Suzuki, Yukio Takahashi

    OPTICS EXPRESS　23　(12)　16429-16438　2015年6月

    DOI： 10.1364/OE.23.016429 　

    ISSN：1094-4087

  46. Single-shot three-dimensional structure determination of nanocrystals with femtosecond X-ray free-electron laser pulses 査読有り

    Rui Xu, Huaidong Jiang, Changyong Song, Jose A. Rodriguez, Zhifeng Huang, Chien-Chun Chen, Daewoong Nam, Jaehyun Park, Marcus Gallagher-Jones, Sangsoo Kim, Sunam Kim, Akihiro Suzuki, Yuki Takayama, Tomotaka Oroguchi, Yukio Takahashi, Jiadong Fan, Yunfei Zou, Takaki Hatsui, Yuichi Inubushi, Takashi Kameshima, Koji Yonekura, Kensuke Tono, Tadashi Togashi, Takahiro Sato, Masaki Yamamoto, Masayoshi Nakasako, Makina Yabashi, Tetsuya Ishikawa, Jianwei Miao

    NATURE COMMUNICATIONS　5　(4061)　2014年6月

    DOI： 10.1038/ncomms5061 　

    ISSN：2041-1723

  47. Coherent Diffraction Imaging Analysis of Shape-Controlled Nanoparticles with Focused Hard X-ray Free-Electron Laser Pulses (vol 13, pg 6028, 2013) 査読有り

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Nobuyuki Zettsu, Tomotaka Oroguchi, Yuki Takayama, Yuki Sekiguchi, Amane Kobayashi, Masaki Yamamoto, Masayoshi Nakasako

    NANO LETTERS　14　(4)　2231-2231　2014年4月

    DOI： 10.1021/nl500845v 　

    ISSN：1530-6984

    eISSN：1530-6992

  48. High-Resolution Multislice X-Ray Ptychography of Extended Thick Objects 査読有り

    Akihiro Suzuki, Shin Furutaku, Kei Shimomura, Kazuto Yamauchi, Yoshiki Kohmura, Tetsuya Ishikawa, Yukio Takahashi

    PHYSICAL REVIEW LETTERS　112　(5)　2014年2月

    DOI： 10.1103/PhysRevLett.112.053903 　

    ISSN：0031-9007

    eISSN：1079-7114

  49. コヒーレントX線が拓く新しい3次元イメージング

    高橋 幸生

    日本結晶学会誌　56　s10-s10　2014年

    出版者・発行元： The Crystallographic Society of Japan

    DOI： 10.5940/jcrsj.56.s10 　

    ISSN：0369-4585

  50. X線タイコグラフィによる磁性細菌の観察 査読有り

    鈴木明大, 下村啓, 古宅伸, 高橋幸生

    医学生物学電子顕微鏡技術学会誌　(28)　12-15　2014年

  51. Coherent Diffraction Imaging Analysis of Shape-Controlled Nanoparticles with Focused Hard X-ray Free-Electron Laser Pulses 査読有り

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Nobuyuki Zettsu, Tomotaka Oroguchi, Yuki Takayama, Yuki Sekiguchi, Amane Kobayashi, Masaki Yamamoto, Masayoshi Nakasako

    NANO LETTERS　13　(12)　6028-6032　2013年12月

    DOI： 10.1021/nl403247x 　

    ISSN：1530-6984

    eISSN：1530-6992

  52. KOTOBUKI-1 apparatus for cryogenic coherent X-ray diffraction imaging 査読有り

    Masayoshi Nakasako, Yuki Takayama, Tomotaka Oroguchi, Yuki Sekiguchi, Amane Kobayashi, Keiya Shirahama, Masaki Yamamoto, Takaaki Hikima, Koji Yonekura, Saori Maki-Yonekura, Yoshiki Kohmura, Yuichi Inubushi, Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Sachihiro Matsunaga, Yayoi Inui, Kensuke Tono, Takashi Kameshima, Yasumasa Joti, Takahiko Hoshi

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　84　(9)　2013年9月

    DOI： 10.1063/1.4822123 　

    ISSN：0034-6748

    eISSN：1089-7623

  53. Bragg x-ray ptychography of a silicon crystal: Visualization of the dislocation strain field and the production of a vortex beam 査読有り

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Shin Furutaku, Kazuto Yamauchi, Yoshiki Kohmura, Tetsuya Ishikawa

    Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　87　(12)　2013年3月7日

    DOI： 10.1103/PhysRevB.87.121201 　

    ISSN：1098-0121 1550-235X

  54. Bragg x-ray ptychography of a silicon crystal: Visualization of the dislocation strain field and the production of a vortex beam 査読有り

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Shin Furutaku, Kazuto Yamauchi, Yoshiki Kohmura, Tetsuya Ishikawa

    PHYSICAL REVIEW B　87　(12)　2013年3月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.87.121201 　

    ISSN：2469-9950

    eISSN：2469-9969

  55. High-resolution and high-sensitivity phase-contrast imaging by focused hard x-ray ptychography with a spatial filter 査読有り

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Shin Furutaku, Kazuto Yamauchi, Yoshiki Kohmura, Tetsuya Ishikawa

    APPLIED PHYSICS LETTERS　102　(9)　2013年3月

    DOI： 10.1063/1.4794063 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  56. Development of high-accuracy X-ray ptychography apparatus 査読有り

    Akihiro Suzuki, Yasunori Senba, Haruhiko Ohashi, Yoshiki Kohmura, Kazuto Yamauchi, Tetsuya Ishikawa, Yukio Takahashi

    11TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY (XRM2012)　463　(012039)　2013年

    DOI： 10.1088/1742-6596/463/1/012039 　

    ISSN：1742-6588

  57. Human mitotic chromosomes consist predominantly of irregularly folded nucleosome fibres without a 30-nm chromatin structure 査読有り

    Yoshinori Nishino, Mikhail Eltsov, Yasumasa Joti, Kazuki Ito, Hideaki Takata, Yukio Takahashi, Saera Hihara, Achilleas S. Frangakis, Naoko Imamoto, Tetsuya Ishikawa, Kazuhiro Maeshima

    EMBO JOURNAL　31　(7)　1644-1653　2012年4月

    DOI： 10.1038/emboj.2012.35 　

    ISSN：0261-4189

  58. 2D1522 SACLAにおける非結晶粒子の低温X線回折イメージング実験(計測,口頭発表,日本生物物理学会第50回年会(2012年度))

    Nakasako Masayoshi, Takayama Yuki, Oroguchi Tomotaka, Sekiguchi Yuki, Yamamoto Masaki, Yonekura Koji, Hikima Takaaki, Maki-Yonekura Saori, Takahashi Yukio, Suzuki Akihiro, Matsunaga Sachihiro, Kato Shoichi, Hoshi Takahiko

    生物物理　52　S44-S45　2012年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本生物物理学会

    DOI： 10.2142/biophys.52.S44_6 　

  59. Multiscale element mapping of buried structures by ptychographic x-ray diffraction microscopy using anomalous scattering 査読有り

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Nobuyuki Zettsu, Yoshiki Kohmura, Kazuto Yamauchi, Tetsuya Ishikawa

    APPLIED PHYSICS LETTERS　99　(13)　2011年9月

    DOI： 10.1063/1.3644396 　

    ISSN：0003-6951

    eISSN：1077-3118

  60. Towards high-resolution ptychographic x-ray diffraction microscopy

    Yukio Takahashi, Akihiro Suzuki, Nobuyuki Zettsu, Yoshiki Kohmura, Yasunori Senba, Haruhiko Ohashi, Kazuto Yamauchi, Tetsuya Ishikawa

    PHYSICAL REVIEW B　83　(21)　2011年6月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.83.214109 　

    ISSN：1098-0121

    eISSN：1550-235X

  61. Element-specific High-resolution Diffraction Microscopy using Focused Hard X-ray Beam 査読有り

    Y. Takahashi, Y. Nishino, R. Tsutsumi, H. Kubo, N. Zettsu, K. Yamauchi, T. Ishikawa, E. Matsubara

    Diamond Light Source Proceedings　1　(e136)　1-3　2011年3月

    DOI： 10.1017/S2044820111000013 　

  62. Coherent diffraction microscopy at SPring-8: instrumentation, data acquisition and data analysis 査読有り

    Rui Xu, Sara Salha, Kevin S. Raines, Huaidong Jiang, Chien-Chun Chen, Yukio Takahashi, Yoshiki Kohmura, Yoshinori Nishino, Changyong Song, Tetsuya Ishikawa, Jianwei Miao

    JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION　18　293-298　2011年3月

    DOI： 10.1107/S0909049510051733 　

    ISSN：0909-0495

  63. Development of Coherent X-ray Diffraction Apparatus with Kirkpatrick-Baez Mirror Optics 査読有り

    Y. Takahashi, R. Tsutsumi, Y. Nishino, H. Mimura, S. Matsuyama, T. Ishikawa, K. Yamauchi

    10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY　1365　(1635)　231-234　2011年

    DOI： 10.1063/1.3625346 　

    ISSN：0094-243X

  64. High-resolution projection image reconstruction of thick objects by hard x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Ryosuke Tsutsumi, Nobuyuki Zettsu, Eiichiro Matsubara, Kazuto Yamauchi, Tetsuya Ishikawa

    PHYSICAL REVIEW B　82　(21)　2010年12月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.82.214102 　

    ISSN：1098-0121

  65. Two-dimensional measurement of focused hard X-ray beam profile using coherent X-ray diffraction of isolated nanoparticle 査読有り

    Yukio Takahashi, Hideto Kubo, Ryosuke Tsutsumi, Shigeyuki Sakaki, Nobuyuki Zettsu, Yoshinori Nishino, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi

    NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT　616　(2-3)　266-269　2010年5月

    DOI： 10.1016/j.nima.2009.10.159 　

    ISSN：0168-9002

  66. Three-Dimensional Electron Density Mapping of Shape-Controlled Nanoparticle by Focused Hard X-ray Diffraction Microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Nobuyuki Zettsu, Yoshinori Nishino, Ryosuke Tsutsumi, Eiichiro Matsubara, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi

    NANO LETTERS　10　(5)　1922-1926　2010年5月

    DOI： 10.1021/nl100891n 　

    ISSN：1530-6984

    eISSN：1530-6992

  67. An experimental procedure for precise evaluation of electron density distribution of a nanostructured material by coherent x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Hideto Kubo, Yoshinori Nishino, Hayato Furukawa, Ryosuke Tsutsumi, Kazuto Yamauchi, Tetsuya Ishikawa, Eiichiro Matsubara

    REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS　81　(3)　2010年3月

    DOI： 10.1063/1.3361265 　

    ISSN：0034-6748

  68. 放射光が拓くイメージング

    高橋 幸生

    学術の動向　15　(8)　24-27　2010年

    出版者・発行元： Japan Science Support Foundation

    DOI： 10.5363/tits.15.8_24 　

    ISSN：1342-3363

  69. High-resolution diffraction microscopy using the plane-wave field of a nearly diffraction limited focused x-ray beam 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Ryosuke Tsutsumi, Hideto Kubo, Hayato Furukawa, Hidekazu Mimura, Satoshi Matsuyama, Nobuyuki Zettsu, Eiichiro Matsubara, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi

    PHYSICAL REVIEW B　80　(5)　54103-54103　2009年8月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.80.054103 　

    ISSN：1098-0121

  70. High-resolution diffraction microscopy using the plane-wave field of a nearly diffraction limited focused x-ray beam 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Ryosuke Tsutsumi, Hideto Kubo, Hayato Furukawa, Hidekazu Mimura, Satoshi Matsuyama, Nobuyuki Zettsu, Eiichiro Matsubara, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi

    PHYSICAL REVIEW B　80　(5)　2009年8月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.80.054103 　

    ISSN：1098-0121

  71. Observation of electromigration in a Cu thin line by in situ coherent x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Hayato Furukawa, Hideto Kubo, Kazuto Yamauchi, Tetsuya Ishikawa, Eiichiro Matsubara

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　105　(12)　2009年6月

    DOI： 10.1063/1.3151855 　

    ISSN：0021-8979

  72. Feasibility study of high-resolution coherent diffraction microscopy using synchrotron x rays focused by Kirkpatrick-Baez mirrors 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Hidekazu Mimura, Ryosuke Tsutsumi, Hideto Kubo, Tetsuya Ishikawa, Kazuto Yamauchi

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　105　(8)　2009年4月

    DOI： 10.1063/1.3108997 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  73. Nanostructure analysis by coherent hard X-ray diffraction 査読有り

    Yoshinori Nishino, Yukio Takahashi, Hideto Kubo, Hayato Furukawa, Kazuto Yamauchi, Kazuhiro Maeshima, Naoko Imamoto, Ryuta Hirohata, Eiichiro Matsubara, Tetsuya Ishikawa

    9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY　186　(012056)　2009年

    DOI： 10.1088/1742-6596/186/1/012056 　

    ISSN：1742-6588

  74. Development of incident x-ray flux monitor for coherent x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Hideto Kubo, Hayato Furukawa, Kazuto Yamauchi, Eiichiro Matsubara, Tetsuya Ishikawa, Yoshinori Nishino

    9TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY　186　(012060)　2009年

    DOI： 10.1088/1742-6596/186/1/012060 　

    ISSN：1742-6588

  75. Three-Dimensional Visualization of a Human Chromosome Using Coherent X-Ray Diffraction 査読有り

    Yoshinori Nishino, Yukio Takahashi, Naoko Imamoto, Tetsuya Ishikawa, Kazuhiro Maeshima

    PHYSICAL REVIEW LETTERS　102　(1)　2009年1月

    DOI： 10.1103/PhysRevLett.102.018101 　

    ISSN：0031-9007

    eISSN：1079-7114

  76. Visualization of Cells and Cell Organelles Using Coherent X-Ray Diffraction 査読有り

    Nishino Yoshinori, Maeshima Kazuhiro, Imamoto Naoko, Hirohata Ryuta, Matsubara Eiichiro, Takahashi Yukio, Miao Jianwei, Ishikawa Tetsuya

    ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES　65　S73　2009年

    DOI： 10.1107/S0108767309098596 　

    ISSN：2053-2733

  77. Element-specific hard x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Hideto Kubo, Hayato Furukawa, Kazuto Yamauchi, Eiichiro Matsubara, Tetsuya Ishikawa, Yoshinori Nishino

    PHYSICAL REVIEW B　78　(9)　2008年9月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.78.092105 　

    ISSN：1098-0121

  78. High-sensitive measurement of uranium L-III-edge X-ray absorption near-edge structure (XANES) for the determination of the oxidation states of uranium in crustal materials 査読有り

    Yuhei Yamamoto, Yoshio Takahashi, Yutaka Kanai, Yoshio Watanabe, Tomoya Uruga, Hajime Tanida, Yasuko Terada, Hiroshi Shimizu

    APPLIED GEOCHEMISTRY　23　(8)　2452-2461　2008年8月

    DOI： 10.1016/j.apgeochem.2008.02.005 　

    ISSN：0883-2927

  79. 3D view of mesoscopic internal structure by coherent hard X-ray diffraction 査読有り

    Nishino Yoshinori, Takahashi Yukio, Maeshima Kazuhiro, Imamoto Naoko, Matsubara Eiichiro, Ishikawa Tetsuya

    ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES　64　C118　2008年8月

    DOI： 10.1107/S0108767308096190 　

    ISSN：2053-2733

  80. Coherent x-ray diffraction measurements of Cu thin lines 査読有り

    Yukio Takahashi, Hayato Furukawa, Hideto Kubo, Kazuto Yamauchi, Yoshinori Nishino, Tetsuya Ishikawa, Eiichiro Matsubara

    SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS　40　(6-7)　1046-1049　2008年6月

    DOI： 10.1002/sia.2853 　

    ISSN：0142-2421

  81. Nanoscale imaging of mineral crystals inside biological composite materials using x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Huaidong Jiang, Damien Ramunno-Johnson, Changyong Song, Bagrat Amirbekian, Yoshiki Kohmura, Yoshinori Nishino, Yukio Takahashi, Tetsuya Ishikawa, Jianwei Miao

    PHYSICAL REVIEW LETTERS　100　(3)　2008年1月

    DOI： 10.1103/PhysRevLett.100.038103 　

    ISSN：0031-9007

    eISSN：1079-7114

  82. Methods for obtaining superresolution images in coherent x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Tetsuya Ishikawa

    PHYSICAL REVIEW A　76　(3)　2007年9月

    DOI： 10.1103/PhysRevA.76.033822 　

    ISSN：1050-2947

  83. Coherent x-ray diffraction pattern of a SnZn cast alloy 査読有り

    Y. Takahashi, Y. Nishino, T. Ishikawa, E. Matsubara

    Journal of Physics: Conference Series　83　(1)　2007年6月1日

    出版者・発行元： Institute of Physics Publishing

    DOI： 10.1088/1742-6596/83/1/012018 　

    ISSN：1742-6596 1742-6588

  84. Approach for three-dimensional observation of mesoscopic precipitates in alloys by coherent x-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yukio Takahashi, Yoshinori Nishino, Tetsuya Ishikawa, Eiichiro Matsubara

    APPLIED PHYSICS LETTERS　90　(18)　2007年4月

    DOI： 10.1063/1.2735548 　

    ISSN：0003-6951

  85. Neutron diffraction studies on pseudobinary compounds Cr1-xRuxSb2 (x=0.05 and 0.2) 査読有り

    T. Harada, Y. Takahashi, Y. Yamaguchi, T. Kanomata, H. Yoshida, T. Kaneko, Y. Kawazoe

    JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS　310　(2)　1569-1571　2007年3月

    DOI： 10.1016/j.jmmm.2006.10.597 　

    ISSN：0304-8853

  86. Evaluation of in-vacuum imaging plate detector for X-ray diffraction microscopy 査読有り

    Yoshinori Nishino, Yukio Takahashi, Masaki Yamamoto, Tetsuya Ishikawa

    SYNCHROTRON RADIATION INSTRUMENTATION, PTS 1 AND 2　879　1376-+　2007年

    DOI： 10.1063/1.2436321 　

    ISSN：0094-243X

  87. Examples of structural analyses in aluminum by synchrotron and x-ray diffraction 査読有り

    Eiichiro Matsubara, Tetsu Ichitsubo, Yukio Takahashi

    Keikinzoku/Journal of Japan Institute of Light Metals　56　(11)　635-638　2006年

    DOI： 10.2464/jilm.56.635 　

    ISSN：0451-5994

  88. Reconstruction of atomic images from multiple-energy x-ray holograms of FePt films by the scattering pattern matrix method 査読有り

    Y Takahashi, E Matsubara, Y Kawazoe, K Takanashi, T Shima

    APPLIED PHYSICS LETTERS　87　(23)　234104　2005年12月

    DOI： 10.1063/1.2136431 　

    ISSN：0003-6951

  89. X-ray fluorescence holography of 0.078 wt% copper in silicon steel 査読有り

    K Hayashi, T Hayashi, Y Takahashi, S Suzuki, E Matsubara

    NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS　238　(1-4)　192-195　2005年8月

    DOI： 10.1016/j.nimb.2005.06.047 　

    ISSN：0168-583X

  90. Self-alignment of Fe nanoparticles on a tunnel barrier 査読有り

    F Ernult, S Mitani, K Takanashi, YK Takahashi, K Hono, Y Takahashi, E Matsubara

    APPLIED PHYSICS LETTERS　87　(3)　331151-331153　2005年7月

    DOI： 10.1063/1.2000339 　

    ISSN：0003-6951

  91. Atomic imaging in EBCO superconductor films by an X-ray holography system using a toroidally bent graphite analyzer 査読有り

    T Sekioka, K Hayashi, E Matsubara, Y Takahashi, T Hayashi, M Terasawa, T Mitamura, A Iwase, O Michikami

    JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION　12　530-533　2005年7月

    DOI： 10.1107/S0909049505006497 　

    ISSN：0909-0495

  92. Elemental identification of a three-dimensional environment by complex x-ray holography 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara

    PHYSICAL REVIEW B　71　(13)　2005年4月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.71.134107 　

    ISSN：2469-9950

    eISSN：2469-9969

  93. In-situ X-ray diffraction of corrosion products formed on iron surfaces 査読有り

    Y Takahashi, E Matsubara, S Suzuki, Y Okamoto, T Komatsu, H Konishi, J Mizuki, Y Waseda

    MATERIALS TRANSACTIONS　46　(3)　637-642　2005年3月

    ISSN：1345-9678

    eISSN：1347-5320

  94. Three-dimensional atomic image around Mn atoms in diluted magnetic semiconductor Zn0.4Mn0.6Te obtained by X-ray fluorescence holography 査読有り

    S Hosokawa, N Happo, K Hayashi, Y Takahashi, T Ozaki, K Horii, E Matsubara

    JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS　44　(2)　1011-1012　2005年2月

    DOI： 10.1143/JJAP.44.1011 　

    ISSN：0021-4922

  95. Elemental identification of a three-dimensional environment by complex x-ray holography 査読有り

    Yukio Takahashi, Kouichi Hayashi, Eiichiro Matsubara

    Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　71　(13)　2005年

    DOI： 10.1103/PhysRevB.71.134107 　

    ISSN：1098-0121 1550-235X

  96. X-ray fluorescence holography study on Si1-xGex single crystal 査読有り

    K Hayashi, Y Takahashi, Yonenaga, I, E Matsubara

    MATERIALS TRANSACTIONS　45　(7)　1994-1997　2004年7月

    DOI： 10.2320/matertrans.45.1994 　

    ISSN：1345-9678

    eISSN：1347-5320

  97. Influence of the buffer layers on magnetic properties of FePt(001) films sputter-deposited at reduced temperature 査読有り

    T Seki, T Shima, K Takanashi, Y Takahashi, E Matsubara, YK Takahashi, K Hono

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS　96　(2)　1127-1132　2004年7月

    DOI： 10.1063/1.1763000 　

    ISSN：0021-8979

    eISSN：1089-7550

  98. Optimum compositions for the low-temperature fabrication of highly ordered FePt(001) and FePt(110) films 査読有り

    T Seki, T Shima, K Takanashi, Y Takahashi, E Matsubara, K Hono

    IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS　40　(4)　2522-2524　2004年7月

    DOI： 10.1109/TMAG.2004.832108 　

    ISSN：0018-9464

    eISSN：1941-0069

  99. Development and application of laboratory X-ray fluorescence holography equipment 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara

    POWDER DIFFRACTION　19　(1)　77-80　2004年3月

    DOI： 10.1154/1.1649324 　

    ISSN：0885-7156

  100. Epitaxial relation and island growth of perylene-3.4.9.10-tetracarboxylic dianhydride (PTCDA) thin film crystals on a hydrogen-terminated Si(111) substrate 査読有り

    G Sazaki, T Fujino, JT Sadowski, N Usami, T Ujihara, K Fujiwara, Y Takahashi, E Matsubara, T Sakurai, K Nakajima

    JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH　262　(1-4)　196-201　2004年2月

    DOI： 10.1016/j.jcrysgro.2003.08.080 　

    ISSN：0022-0248

  101. Complex x-ray holography (vol 68, art no 052103, 2003) 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara

    PHYSICAL REVIEW B　69　(2)　29902-29902　2004年1月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.69.029902 　

    ISSN：2469-9950

    eISSN：2469-9969

  102. Complex x-ray holography 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara

    PHYSICAL REVIEW B　68　(5)　2003年8月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.68.052103 　

    ISSN：1098-0121

  103. Development of laboratory x-ray fluorescence holography equipment 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, K Wakoh, N Nishiki, E Matsubara

    JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH　18　(6)　1471-1473　2003年6月

    DOI： 10.1557/JMR.2003.0202 　

    ISSN：0884-2914

  104. 3D atomic imaging of SiGe system by X-ray fluorescence holography 査読有り

    K Hayashi, Y Takahashi, E Matsubara, K Nakajima, N Usami

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS　14　(5-7)　459-462　2003年5月

    DOI： 10.1023/A:1023993911437 　

    ISSN：0957-4522

  105. L1(0) ordering of off-stoichiometric FePt(001) thin films at reduced temperature 査読有り

    T Seki, T Shima, K Takanashi, Y Takahashi, E Matsubara, K Hono

    APPLIED PHYSICS LETTERS　82　(15)　2461-2463　2003年4月

    DOI： 10.1063/1.1567053 　

    ISSN：0003-6951

  106. A new technique for study of local atomic environment in artificially grown magnetic thin film 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara, T Shima, K Takanashi, T Mori, M Tanaka

    SCRIPTA MATERIALIA　48　(7)　975-979　2003年4月

    DOI： 10.1016/S1359-6462(02)00599-7 　

    ISSN：1359-6462

  107. Development of a new holographic method with resonant X-ray scattering 査読有り

    Y. Takahashi, K. Hayashi, E. Matsubara

    SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS　4　(5)　409-414　2003年

    DOI： 10.1016/j.stam.2003.10.001 　

    ISSN：1468-6996

    eISSN：1878-5514

  108. Peculiar structure of X-ray standing wave lines of Si : As 査読有り

    K Hayashi, Y Takahashi, E Matsubara, M Takemura, Mizushima, I, H Tanida, M Ishii

    NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS　199　382-385　2003年1月

    DOI： 10.1016/S0168-583X(02)01415-5 　

    ISSN：0168-583X

  109. X-ray fluorescence hologram data collection with a cooled avalanche photodiode 査読有り

    Kouichi Hayashi, Yukio Takahashi, Ei-ichiro Matsubara, Shunji Kishimoto, Takeharu Mori, Masahiko Tanaka

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms　196　(1-2)　180-185　2002年11月

    DOI： 10.1016/S0168-583X(02)01145-X 　

    ISSN：0168-583X

  110. Two-energy twin image removal in atomic-resolution x-ray holography

    Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi, E. Matsubara

    Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　66　(9)　921051-921054　2002年9月1日

    ISSN：0163-1829

  111. Two-energy twin image removal in atomic-resolution x-ray holography 査読有り

    Y Nishino, T Ishikawa, K Hayashi, Y Takahashi, E Matsubara

    PHYSICAL REVIEW B　66　(9)　2002年9月

    DOI： 10.1103/PhysRevB.66.092105 　

    ISSN：2469-9950

    eISSN：2469-9969

  112. Refinement of X-ray fluorescence holography for determination of local atomic environment 査読有り

    K Hayashi, Y Takahashi, E Matsubara

    MATERIALS TRANSACTIONS　43　(7)　1464-1468　2002年7月

    DOI： 10.2320/matertrans.43.1464 　

    ISSN：1345-9678

    eISSN：1347-5320

  113. Feasibility study of local structure analysis of ultrathin films by X-ray fluorescence holography 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara

    MATERIALS TRANSACTIONS　43　(7)　1475-1479　2002年7月

    ISSN：1345-9678

    eISSN：1347-5320

  114. Two-energy twin image removal in atomic-resolution x-ray holography 査読有り

    Y. Nishino, T. Ishikawa, K. Hayashi, Y. Takahashi, E. Matsubara

    Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　66　(9)　1-4　2002年

    DOI： 10.1103/PhysRevB.66.092105 　

    ISSN：1550-235X 1098-0121

  115. Development of X-ray fluorescence holography method for determination of local atomic environment 査読有り

    K Hayashi, Y Takahashi, E Matsubara, S Kishimoto, T Mori, M Tanaka, S Hayakawa, M Suzuki

    PRICM 4: FORTH PACIFIC RIM INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED MATERIALS AND PROCESSING, VOLS I AND II　567-570　2001年

  116. Feasibility study of determination of local lattice distortion by X-ray fluorescence holography 査読有り

    Y Takahashi, K Hayashi, E Matsubara

    PRICM 4: FORTH PACIFIC RIM INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED MATERIALS AND PROCESSING, VOLS I AND II　591-594　2001年

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MISC 85

  1. テンダーX線でナノを可視化：テンダーX線タイコグラフィーで10nm超分可能へ 招待有り 査読有り

    石黒 志, 金子房恵, 阿部真樹, 高山裕貴, 吉田純也, 星野大樹, 高澤駿太郎, 上松英司, 佐々木雄平, 大川 成, 高橋慧智, 滝沢寛之, 岸本浩通, 高橋幸生

    光学　54　(6)　219-219　2025年6月

  2. Chemical State Visualization of Lithium-Ion Battery Materials by X-Ray Ptychographic Coherent Diffraction Imaging

    Nozomu Ishiguro, Dam Hieu Chi, Yukio Takahashi

    The Materials Research Society Series　211-223　2024年10月15日

    出版者・発行元： Springer Nature Singapore

    DOI： 10.1007/978-981-97-6039-8_19 　

    ISSN： 2730-7360

    eISSN： 2730-7379

  3. 研究所紹介「東北大学国際放射光イノベーション・スマート研究センター(SRIS)」 招待有り

    高橋幸生

    まてりあ　63　(8)　574-574　2024年8月

  4. 第2回日本放射光学会高良・佐々木賞受賞研究報告「コヒーレント X 線回折によるナノ構造イメージングの新原理開拓とその応用展開」 招待有り

    高橋 幸生

    日本放射光学会誌　37　(2)　151-154　2024年3月

  5. X線タイコグラフィによる電池材料粒子の多次元イメージング解析 招待有り 査読有り

    石黒 志, 高橋 幸生

    電気化学　91　(2)　145-149　2023年6月5日

    出版者・発行元： The Electrochemical Society of Japan

    DOI： 10.5796/denkikagaku.23-fe0010 　

    ISSN： 2433-3255

    eISSN： 2433-3263

  6. 長期利用課題報告 テンダーX線タイコグラフィの基盤技術開発とその応用展開 招待有り

    高橋 幸生, 阿部 真樹, 石黒 志, 金子 房恵, 岸本 浩通, 松本 崇博, 工藤 統吾, 初井 宇記, 為則 雄祐

    SPring-8/SACLA利用者情報　27　(4)　336-341　2022年11月

  7. X線タイコグラフィによる三次元微細構造イメージング 招待有り

    高橋幸生

    光技術コンタクト　6　(8)　24-29　2022年8月

  8. X線ナノ動画撮像を目指して 三角形開口を用いたコヒーレントX線回折イメージング 招待有り

    高澤 駿太郎, 姜 正敏, 阿部 真樹, 上松 英司, 石黒 志, 高橋 幸生

    光学　51　(6)　272-272　2022年6月

  9. X線・極端紫外光における真の回折限界に向けて 招待有り

    篭島 靖, 上杉 健太郎, 亀島 敬, 高橋 幸生, 武市 泰男, 竹内 晃久, 原田 哲男, 松本 浩典, 三村 秀和, 矢代 航

    光学　51　(4)　167-168　2022年4月

  10. X線スペクトロタイコグラフィとデータ科学の連携による材料機能の可視化 招待有り 査読有り

    石黒志, 高橋幸生

    精密工学会誌　87　(7)　7_597-7_600　2021年7月5日

    出版者・発行元： Japan Society for Precision Engineering

    DOI： 10.2493/jjspe.87.7_597 　

    ISSN： 0912-0289

    eISSN： 1882-675X

  11. Highlights from Microscopy and Microanalysis 招待有り

    N. Ishiguro, T. Higashino, M. Hirose, Y. Takahashi

    28　(6)　58-59　2020年11月

    出版者・発行元： Cambridge University Press (CUP)

    DOI： 10.1017/s1551929520001492 　

    ISSN： 1551-9295

    eISSN： 2150-3583

  12. X線タイコグラフィによるX線吸収微細構造のナノスケール計測 査読有り

    広瀬真, 高橋幸生

    レーザー研究　(48)　414-418　2020年8月

  13. Oxygen-diffusion-driven oxidation behavior and tracking areas visualized by X-ray spectro-ptychography with unsupervised learning 招待有り

    Yukio Takahashia, Hieu Chi Damd, Mizuki Tada

    SPring-8 Research Frontiers 2019　70-71　2020年

  14. Visualization of heterogeneous oxygen storage in platinum-supported cerium-zirconium oxide three-way catalyst particles by hard X-ray spectro-ptychography

    広瀬真, 石黒志, 唯美津木, 髙橋幸生

    SPring-8 Research Frontiers 2018　84-85　2019年

  15. Use of Kramers–Kronig relation in phase retrieval calculation in X-ray spectro-ptychography

    高橋幸生, 広瀬真

    SPring-8 Research Frontiers 2017　54-55　2018年

  16. 放射光X線イメージング分光

    広瀬真, 下村啓, Nicolas Burdet, 高橋幸生

    光学　47　232　2018年

  17. X線タイコグラフィによる微細構造可視化の最前線

    高橋幸生

    日本放射光学会誌　31　111-117　2018年

  18. 高分解能X線タイコグラフィ ー厚い試料の非破壊・高分解能観察を目指してー

    高橋幸生

    非破壊検査　66　204-210　2017年

  19. 高分解能コヒーレントX線回折イメージング技術の開発と応用

    高橋幸生

    生産と技術　69　60-62　2017年

  20. Special issue on atomically controlled fabrication technology

    Yukio Takahashi, Yuji Kuwahara, Kazuto Yamauchi

    NANOSCALE RESEARCH LETTERS　9　2014年5月

    DOI： 10.1186/1556-276X-9-232 　

    ISSN： 1556-276X

  21. 走査型コヒーレントX線回折トモグラフィーによる三次元ナノメートル空間分解バイオイメージング

    高橋 幸生

    旭硝子財団助成研究成果報告　1-3　2014年

    出版者・発行元： 旭硝子財団

    ISSN： 1882-0069

  22. X線タイコグラフィによる転位ひずみ場の可視化とX線渦ビームの形成

    高橋幸生

    応用物理　83　(5)　366-370　2014年

    出版者・発行元： 応用物理学会

    ISSN： 0369-8009

  23. マルチスライス法を利用した高分解能X線タイコグラフィー

    鈴木明大, 高橋幸生

    Isotope News　9月号　(No.725)　12-14　2014年

  24. X線タイコグラフィー技術の進展

    高橋幸生

    顕微鏡　49　(2)　103-109　2014年

    出版者・発行元： 日本顕微鏡学会

    ISSN： 1349-0958

  25. X線タイコグラフィー:コヒーレントX線が拓く顕微法の新境地~

    高橋幸生

    パリティ　10　(10)　35-37　2014年

    出版者・発行元： 丸善

    ISSN： 0911-4815

  26. X線自由電子レーザーを用いた非結晶粒子のコヒーレントX線回折イメージング

    中迫雅由, 苙口友隆, 関口優希, 小林 周, 橋本早紀, 白濱圭也, 山本雅貴, 高山裕貴, 米倉功治, 眞木さおり, 引間孝明, 高橋幸生, 鈴木明大, 松永幸大, 乾 弥生, 登野健介, 亀島 敬, 城地保昌, 犬伏雄一, 星 貴彦

    日本結晶学会誌　56　27-35　2014年

  27. 高分解能コヒーレントX線回折イメージング

    高橋幸生

    テクノネット 工学研究科発　(562)　2-6　2013年

    出版者・発行元： 大阪大学工業会

  28. 高分解能・高感度X線タイコグラフィー

    高橋幸生

    表面科学　34　574-579　2013年

  29. コヒーレントX線回折イメージング

    高橋幸生

    高圧力の科学と技術　23　237-244　2013年

  30. 非結晶粒子のコヒーレントＸ線回折イメージング

    中迫雅由, 高山裕貴, 苙口友隆, 白濱圭也, 関口優希, 山本雅貴, 米倉功治, 引間孝明, 眞木さおり, 高橋幸生, 鈴木明大, 松永幸大, 加藤翔一, 星貴彦

    レーザー学会誌 レーザー研究　40　680-686　2012年

  31. X線自由電子レーザーを用いた非結晶粒子のコヒーレントX 線回折イメージング実験

    中迫雅由, 高山裕貴, 苙口友隆, 白濱圭也, 関口優希, 山本雅貴, 米倉功治, 引間孝明, 眞木さおり, 高橋幸生, 鈴木明大, 松永幸大, 加藤翔一, 星貴彦

    月刊オプトロニクス　31　101-106　2012年

  32. KBミラー集光X線を用いた高分解能走査型回折顕微法の開発

    鈴木明大, 高橋幸生, 堤良輔, 西野吉則, 松原英一郎, 山内和人, 石川哲也

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　24th　144　2011年1月7日

  33. 高分解能コヒーレントX線回折顕微法によるAu/Agナノボックス粒子の三次元電子密度マッピング

    堤良輔, 高橋幸生, 是津信行, 鈴木明大, 西野吉則, 松原英一郎, 石川哲也, 山内知人

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　24th　144　2011年1月7日

  34. コヒーレントイメージングの現状と展望

    西野吉則, 田中義人, 伊藤基巳紀, 高橋幸生, 三村秀和, 松山智至, 前島一博, 志村まり, 城地保昌, 苙口友隆, 別所義隆, 竹内昌治, 岡田真, 岡谷基弘, 野崎公彦, 大路祐介, 松下雄多, 堤良輔, 矢橋牧名, 永園充, 富樫格, 大橋治彦, 松井真二, 松原英一郎, 山内和人, 石川哲也

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　24th　50　2011年1月7日

  35. Three-dimensional Electron Density Mapping of Shape-Controlled Nanoparticle by Focused Hard X-ray Diffraction Microscopy

    高橋幸生, 是津信行

    SPring-8 Research Frontiers 2010　66-67　2011年

  36. 高分解能Ｘ線回折顕微法の開発と応用

    高橋幸生

    X線結像光学ニューズレター　32　1-3　2010年

  37. 特集1 「放射光が拓く学術：若手人材探訪」―放射光が拓くイメージング―

    高橋幸生

    学術の動向　8　124-127　2010年

  38. Ｘ線ナノ集光技術の現状とその利用に向けた将来展望「硬X線集光ビームを用いた高分解能回折顕微法の開発とその将来展望

    高橋幸生

    放射光　23　188-193　2010年

  39. 第14回日本放射光学会奨励賞受賞研究報告「コヒーレントＸ線回折・散乱イメージング技術の開発とその応用」

    高橋幸生

    放射光　23　124-127　2010年

  40. コヒーレントX線回折を用いたヒト染色体の三次元可視化

    西野吉則, 高橋幸生, 今本尚子, 石川哲也, 前島一博

    放射光　23　81-87　2010年

  41. KBミラー集光X線を用いたコヒーレントX線回折顕微法の応用

    久保英人, 高橋幸生, 是津信行, 堤良輔, 榊茂之, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎, 山内和人

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　23rd　133　2009年12月10日

  42. 高分解能コヒーレントX線回折顕微法の開発と金ナノケージの電子密度分布観察

    堤良輔, 高橋幸生, 是津信行, 久保英人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　145th　532　2009年9月15日

    ISSN： 1342-5730

  43. KBミラー集光放射光X線を用いた高分解能回折顕微法の実現可能性の検討

    堤良輔, 高橋幸生, 三村秀和, 久保英人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也

    精密工学会関西地方定期学術講演会講演論文集　2009　65-66　2009年5月7日

  44. K‐Bミラー集光コヒーレントX線回折顕微法の検討

    堤良輔, 高橋幸生, 三村秀和, 西野吉則, 古川隼人, 久保英人, 石川哲也, 山内和人

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　22nd　133　2009年

  45. 高度好熱菌丸ごと一匹プロジェクト コヒーレントX線回折を用いたヒト染色体の三次元可視化

    西野吉則, 高橋幸生, 今本尚子, 石川哲也, 前島一博

    高度好熱菌丸ごと一匹プロジェクト 第8回連携研究会 理研シンポジウム 平成21年　8　2009年

  46. コヒーレントX線回折顕微法によるエレクトロマイグレーションボイド生成過程のその場観察

    古川隼人, 高橋幸生, 久保英人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　22nd　132　2009年

  47. コヒーレントX線回折顕微法によるナノ構造物の電子密度分布定量評価法の開発

    久保英人, 高橋幸生, 古川隼人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　22nd　133　2009年

  48. コヒーレントＸ線回折顕微法の開発とその将来展望 －Ｘ線構造解析の究極を目指して－

    高橋幸生

    まてりあ　48　561-564　2009年

  49. コヒーレントX線回折顕微法による金属材料の電子密度分布定量評価法の開発

    久保英人, 高橋幸生, 古川隼人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　143rd　486　2008年9月23日

    ISSN： 1342-5730

  50. コヒーレントX線回折顕微法によるCu細線のボイド生成過程のその場観察

    古川隼人, 高橋幸生, 久保英人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　143rd　247　2008年9月23日

    ISSN： 1342-5730

  51. コヒーレントX線回折顕微法の材料科学応用に関する取組み

    高橋幸生, 古川隼人, 久保英人, 山内和人, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    KEK Proceedings　(2007-18)　27-30　2008年3月

  52. Cu細線のコヒーレントX線回折測定

    古川隼人, 高橋幸生, 久保英人, 西野吉則, 山内和人, 石川哲也, 松原英一郎

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　21st　84　2007年12月20日

  53. 元素識別コヒーレントX線回折顕微法の開発

    久保英人, 高橋幸生, 古川隼人, 西野吉則, 山内和人, 石川哲也, 松原英一郎

    日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集　21st　84　2007年12月20日

  54. コヒーレントX線回折顕微法の空間分解能向上のための新たな試み

    高橋幸生, 西野吉則, 古川隼人, 久保英人, 山内和人, 松原英一郎, 石川哲也

    日本金属学会講演概要　141st　423　2007年9月19日

    ISSN： 1342-5730

  55. コヒーレントX線回折顕微法による物質構造変化の動画化に向けた基礎研究

    古川隼人, 高橋幸生, 久保英人, 西野吉則, 山内和人, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　141st　466　2007年9月19日

    ISSN： 1342-5730

  56. 元素識別コヒーレントX線回折顕微法の開発

    久保英人, 高橋幸生, 古川隼人, 西野吉則, 山内和人, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　141st　466　2007年9月19日

    ISSN： 1342-5730

  57. Mesoscopic structure analysis of metallic materials by coherent x-ray diffraction microscopy

    高橋幸生, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    SPring-8 Research Frontiers 2007　70-71　2007年

  58. コヒーレントＸ線回折顕微法によるナノスケール内部構造の3Dイメージング

    西野吉則, 高橋幸生, 石川哲也, 松原英一郎

    まてりあ　46　829　2007年

  59. コヒーレントX線回折顕微鏡による金属材料の三次元メゾ組織観察

    高橋幸生, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　139th　383　2006年9月16日

    ISSN： 1342-5730

  60. コヒーレントX線回折顕微鏡によるSn‐Zn共晶合金の内部組織観察

    高橋幸生, 西野吉則, 石川哲也, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　139th　463　2006年9月16日

    ISSN： 1342-5730

  61. 放射光およびＸ線回折法によるアルミニウム構造解析の例

    松原英一郎, 市坪哲, 高橋幸生

    軽金属　56　635-638　2006年

  62. X線回折顕微鏡における逐次的像再生

    西野吉則, MIAO Jianwei, 香村芳樹, 高橋幸生, 山本雅貴, 小池邦昭, 戎崎俊一, 石川哲也

    KEK Proceedings　(2005-6)　12-15　2005年10月

  63. 蛍光X線ホログラフィー解析の定量化に向けた新たな試み

    高橋幸生, 松原英一郎, 嶋敏之, 高梨弘毅, 川添良幸

    日本金属学会講演概要　137th　156　2005年9月28日

    ISSN： 1342-5730

  64. 逆フーリエ変換法を用いたX線ホログラフィーにおける原子位置の定量

    林好一, 高橋幸生, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　135th　347　2004年9月28日

    ISSN： 1342-5730

  65. FePt/Feエピタキシャル薄膜の構造および磁気特性

    定方徹, 関剛斎, 高橋幸生, 嶋敏之, 高梨弘毅, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　135th　430　2004年9月28日

    ISSN： 1342-5730

  66. Evaluation of Atomic Arrangement Around Cu in Fe-Si Alloy by X-ray Fluorescence Holography.

    Kouichi Hayashi, Tetsutaro Hayashi, YUkio Takahashi, Shigeru Suzuki, Eiichiro Matsubara

    SPring-8 User Experiment Report　(11)　158-158　2004年6月

  67. 先端ナノヘテロ金属組織解析手法 第24回 最先端X線技術:蛍光X線ホログラフィー法によるエピタキシャル薄膜の構造評価

    高橋幸生, 松原英一郎

    金属　74　(4)　411-417　2004年4月1日

    ISSN： 0368-6337

  68. 蛍光X線ホログラフィーによる鉄合金中の微量銅元素周りの三次元局所構造解析

    林好一, 林徹太郎, 高橋幸生, 鈴木茂, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　134th　428　2004年3月30日

    ISSN： 1342-5730

  69. 希薄磁性半導体Zn1-xMnxTeの蛍光X線ホログラフィー

    八方直久, 細川伸也, 林好一, 高橋幸生, 尾崎徹, 松原英一郎, 堀居賢樹

    応用物理学関係連合講演会講演予稿集　51st　(1)　316　2004年3月28日

  70. Erratum: Complex x-ray holography (Physical Review B (2003) 68 (52103) DOI: 10.1103/PhysRevB.69.029902)

    Y. Takahashi, K. Hayashi, E. Matsubara

    Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics　69　299021　2004年1月1日

    ISSN： 0163-1829

  71. 蛍光Ｘ線ホログラフィー法によるエピタキシャル薄膜の構造評価

    高橋幸生, 松原英一郎

    金属　74　67-73　2004年

  72. L1_0構造を有する非化学量論組成FePt(001)薄膜の低温合成

    関 剛斎, 嶋 敏之, 高梨 弘毅, 高橋 幸生, 松原 英一郎, 宝野 和博

    日本応用磁気学会学術講演概要集 = Digest of ... annual conference on magnetics in Japan　27　221-221　2003年9月1日

    ISSN： 1340-8100

  73. 低温合成FePtスパッタ薄膜における構造および磁気特性の組成依存性

    関剛斎, 高橋幸生, 嶋敏之, 高梨弘毅, 松原英一郎, 宝野和博

    日本金属学会講演概要　132nd　190　2003年3月27日

    ISSN： 1342-5730

  74. 21pXB-4 異常散乱現象を利用した蛍光 X 線ホログラフィー技術の開発

    高橋 幸生, 林 好一, 松原 英一郎

    日本物理学会講演概要集　58　(0)　859-859　2003年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  75. 31pXD-3 三次元原子像の高度化のための複素ホログラフィー法の開発

    高橋 幸生, 林 好一, 松原 英一郎

    日本物理学会講演概要集　58　(0)　931-931　2003年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  76. 蛍光Ｘ線ホログラフィー

    林好一, 高橋幸生, 松原英一郎

    応用物理　72　865-871　2003年

  77. FePt人工格子の蛍光X線ホログラフィー

    高橋幸生, 林好一, 松原英一郎, 嶋敏之, 高梨弘毅

    日本金属学会講演概要　131st　66　2002年11月2日

    ISSN： 1342-5730

  78. シリコン単結晶中の希薄ゲルマニウムの局所構造

    林好一, 高橋幸生, 米永一郎, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　131st　131　2002年11月2日

    ISSN： 1342-5730

  79. 9aSL-3 蛍光X線ホログラフィーによる高温酸化物超伝導体の格子欠陥構造の評価II((X線)X線・粒子線,領域10)

    関岡 嗣久, 寺澤 倫孝, 三田村 徹, 林 好一, 高橋 幸生, 岩瀬 彰宏, 道上 修

    日本物理学会講演概要集　57　(2)　835-835　2002年8月13日

    出版者・発行元： 一般社団法人日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  80. ラボラトリー蛍光X線ホログラフィー装置による多波長化技術と構造精密化

    高橋幸生, 林好一, 若生公郎, 松原英一郎

    日本金属学会講演概要　130th　60　2002年3月28日

    ISSN： 1342-5730

  81. 27aWG-10 シリコンウエハー中のAsの蛍光X線ホログラフィー(27aWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))

    林 好一, 高橋 幸生, 松原 英一郎, 竹村 モモ子, 水島 一郎, 石井 真史, 谷田 肇

    日本物理学会講演概要集　57　(0)　913-913　2002年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  82. 27aWG-9 ラボラトリー蛍光X線ホログラフィー装置(27aWG X線・粒子線,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))

    高橋 幸生, 林 好一, 若生 公郎, 松原 英一郎

    日本物理学会講演概要集　57　(0)　913-913　2002年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  83. 20aTH-1 冷却アバランシェフォトダイオードによる蛍光X線ホログラム測定

    林 好一, 高橋 幸生, 松原 英一郎, 岸本 俊二, 森 丈春, 田中 雅彦

    日本物理学会講演概要集　56　(0)　830-830　2001年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  84. 30aXC-10 湾曲結晶を用いた蛍光X線ホログラムの迅速測定

    林 好一, 高橋 幸生, 松原 英一郎, 森 丈春, 田中 雅彦, 兼吉 高宏, 鈴木 基寛, 早川 慎二郎

    日本物理学会講演概要集　56　(0)　880-880　2001年

    出版者・発行元： 一般社団法人 日本物理学会

    ISSN： 1342-8349

  85. 蛍光Ｘ線ホログラフィー技術の現状とその将来的展開

    林好一, 高橋幸生, 松原英一郎

    まてりあ　40　801-807　2001年

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書籍等出版物 5

  1. 改訂版 放射光ビームライン光学技術入門~はじめて放射光を使う利用者のために~

    髙橋 幸生

    日本放射光学会　2019年8月

  2. 高分子微粒子ハンドブック

    藤本啓ニら

    シーエムシー出版　2017年7月

    ISBN: 9784781312538

  3. Synchrotron Light Sources and Free-Electron Lasers

    Eberhard Jaeschke, Shaukat Khan, Jochen R. Schneider, Jerome B. Hastings

    Springer　2016年2月

    ISBN: 9783319045078

  4. マイクロビームアナリシス・ハンドブック

    高橋幸生

    オーム社　2014年6月

    ISBN: 9784274504969

  5. 金属ナノ組織解析法

    高橋幸生

    アグネ技術センター　2006年5月

    ISBN: 9784901496315

講演・口頭発表等 192

  1. Development and Application of Tender X-ray Ptychography: From SPring-8 to NanoTerasu 招待有り

    Yukio Takahashi

    NSLS-II & CFN Annual Users' Meeting　2025年4月30日

  2. Development of Tender X-ray Spectroscopic Ptychography Measurement System Using Advanced Kirkpatrick-Baez Mirrors

    Yuhei Sasaki, Nozomu Ishiguro, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Shuntaro Takazawa, Naru Okawa, Fusae Kaneko, Yukio Takahashi

    International Conference on X-ray Optics and Applications 2025 (XOPT’25)　2025年4月23日

  3. 加熱in situコヒーレントX線回折イメージングによるMg–Zn–Gd系合金の高温下における組織変化の観察

    高澤 駿太郎, 佐々木 雄平, 阿部 真樹, 上松 英司, 大川 成, 二宮 翔, 石黒 志, 西堀 麻衣子, 高橋幸生

    日本金属学会2025年春期(第176回)講演大会　2025年3月10日

  4. X線タイコグラフィの基礎と応用の最前線 招待有り

    高橋幸生

    日本光学会 第51回冬期講習会　2025年1月31日

  5. 高空間分解テンダーX線タイコグラフィの開発：sub-10 nm分解能イメージングを目指して 招待有り

    高橋幸生

    第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2025年1月12日

  6. シングルフレームコヒーレント回折イメージングにおけるGuided image filteringを用いた振幅像再構成手法

    阿部 真樹, 高澤 駿太郎, 上松 英司, 佐々木 雄平, 大川 成, 石黒 志, 高橋 幸生

    第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2025年1月12日

  7. 高空間分解能・高感度 X 線タイコグラフィによるスチレンブタジエンゴム中 SiO2ナノフィラーの観察

    大川 成, 石黒 志, 阿部 真樹, 上松 英司, 高澤 駿太郎, 佐々木 雄平, 尾崎 恭介, 本城 嘉章, 西野 玄記, 小林 和生, 平木 俊幸, 城地 保昌, 初井 宇記, 高橋 幸生

    第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2025年1月12日

  8. Advanced KBミラー集光光学系を備えたテンダーX線スペクトロタイコグラフィ装置の開発

    佐々木 雄平, 石黒 志, 阿部 真樹, 上松 英司, 高澤 駿太郎, 大川 成, 金子 房恵, 高橋 幸生

    第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2025年1月12日

  9. 分光器On-the-flyスキャンによるX線スペクトロタイコグラフィ法の高スループット化の検討

    石黒 志, 上松 英司, 宇留賀 朋哉, 尾崎 恭介, 本城 嘉章, 西野 玄記, 小林 和生, 城地 保昌, 初井 宇記, 高橋 幸生

    第38回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2025年1月12日

  10. Operando Observation of Heterogeneous Electrochemical Reaction in Single-Crystal LiNi0.6Mn0.2Co0.2O2 Particles Using Full-Field Transmission X-Ray Spectromicroscopy

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Kosuke Kawai, Yuhei Sasaki, Oki Sekizawa, Masashi Okubo, Yukio Takahashi

    2024 MRS Fall Meeting & Exhibit　2024年12月5日

  11. テンダーX線タイコグラフィによるsub-10 nm分解能イメージングを目指して 招待有り

    高橋幸生

    Optics & Photonics Japan 2024　2024年12月1日

  12. 加熱in-situ動的コヒーレントX線回折イメージングの開発と金属材料のダイナミクス観察への応用

    高澤駿太郎, 阿部真樹, 上松英司, 佐々木雄平, 大川成, 石黒志, 高橋幸生

    Optics & Photonics Japan 2024　2024年11月30日

  13. シングルフレームコヒーレント回折イメージングにおけるGuided Filterを用いた振幅像再構成手法

    阿部真樹, 高澤駿太郎, 上松英司, 佐々木雄平, 大川成, 石黒志, 高橋幸生

    Optics & Photonics Japan 2024　2024年11月30日

  14. Visualization of nanoscale structures and chemical states by coherent X-ray diffraction imaging 招待有り

    Yukio Takahashi

    Tohoku University & National Taipei University of Technology 2024 Joint Symposium (7th TU-TaipeiTech JS)　2024年11月26日

  15. Visualization of nanoscale structures and chemical states by coherent X-ray diffraction imaging 招待有り

    Yukio Takahashi

    NIMS Award Symposium 2024　2024年11月7日

  16. NanoTerasuにおけるテンダーX線タイコグラフィの測定例と今後の展望 招待有り

    金子 房恵, 石黒 志, 阿部 真樹, 高山 裕貴, 吉田 純也, 星野 大樹, 上松 英司, 高澤 駿太郎, 佐々木 雄平, 大川 成, 高橋 慧智, 滝沢 寛之, 岸本 浩通, 髙橋 幸生

    第75回コロイドおよび界面化学討論会　2024年9月5日

  17. コヒーレント回折イメージングの現状と将来展望 ～第３世代光源から第４世代光源へ～ 招待有り

    高橋幸生

    第16回放射光基礎講習会　2024年9月5日

  18. Ｘ線タイコグラフィによるナノスケール微細構造・化学状態イメージング 招待有り

    高橋幸生

    ナノ学会 第22回大会　2024年5月22日

  19. X-ray Spectroscopic Ptychography: Current Status and Future Perspectives 招待有り

    Yukio Takahashi

    International Conference on X-ray Optics and Applications 2024 (XOPT’24)　2024年4月25日

  20. High-resolution and high-sensitivity X-ray ptychography using the CITIUS detector 招待有り

    Yukio Takahashi

    The third edition of the International Forum on Detectors for Photon Science　2024年3月20日

  21. オペランドＸ線スペクトロタイコグラフィによる薄膜型全固体電池のナノスケール化学状態イメージング

    佐々木雄平, 戸塚務, 石黒志, 阿部真樹, 上松英司, 高澤駿太郎, 山本和生, 入山恭寿, 高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月12日

  22. 三角形開口を用いたコヒーレントX線回折イメージングによるSn–Bi共晶はんだ合金粒子の溶融過程の観察

    高澤駿太郎, 阿部真樹, 上松英司, 佐々木雄平, 石黒志, 高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月12日

  23. 次世代画像検出器CITIUSを備えた高分解能X線タイコグラフィ装置の開発と応用

    大川成, 石黒志, 阿部真樹, 上松英司, 高澤駿太郎, 佐々木雄平, 尾崎恭介, 西野玄記, 小林和生, 平木俊幸, 城地保昌, 初井宇記, 高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月12日

  24. Liイオン電池正極活物質のオペランドX線スペクトロタイコグラフィ計測用セルの開発

    上松英司, 石黒志, 川合航右, 阿部真樹, 高澤駿太郎, 佐々木雄平, 大川成, 大久保將史, 高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月11日

  25. 超タイコグラフィによる微視的・非平衡状態の可視化 招待有り

    高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月11日

  26. Virtual singleｰpixel imagingに基づくX線タイコグラフィｰ蛍光顕微法の提案

    阿部真樹, 石黒志, 上松英司, 高澤駿太郎, 金子房恵, 高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月11日

  27. コヒーレントX線回折によるナノ構造イメージングの新原理開拓とその応用展開 招待有り

    高橋幸生

    第37回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2024年1月10日

  28. X線スペクトロタイコグラフィの開発と応用：NanoTerasuの利用に向けて 招待有り

    高橋幸生

    Optics & Photonics Japan 2023　2023年12月5日

  29. X 線タイコグラフィによる半導体デバイスのナノ構造イメージング 招待有り

    高橋幸生

    第 35 回マイクロエレクトロニクス研究会　2023年11月11日

  30. Toward Next-Generation Coherent Diffraction Imaging 招待有り

    Yukio Takahashi

    60 years of Synchrotron Radiation in Japan　2023年10月24日

  31. X-ray spectroscopic ptychography: Current status and future prospects 招待有り

    高橋幸生

    第15回 日本放射光学会 若手研究会　2023年9月11日

  32. Development and Application of X-ray Spectroscopic Ptychography at SPring-8 招待有り

    Yukio Takahashi

    IUCr 2023　2023年8月28日

  33. 放射光Ｘ線タイコグラフィとデータ科学の連携による材料機能の可視化 招待有り

    高橋幸生

    再生可能エネルギー最大導入に向けた電気化学材料研究拠点 DX-GEM発足記念シンポジウム　2023年2月16日

  34. コヒーレント回折イメージングによる半導体デバイスのナノ構造解析 招待有り

    高橋幸生

    未来社会にむかう理研放射光センター・産業界連携シンポジウム 第3回 大阪大学・理研・産業界の連携による先端半導体評価プラットフォーム整備構想　2023年2月2日

  35. Chemical Imaging of Li-rich Disordered Rocksalt-type Vanadium Oxide Particles Using Hard X-ray Spectroscopic Ptychography

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Masaki Abe, Syuntaro Takazawa, Syuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Itsuki Konuma, Naoaki Yabuuchi, Yukio Takahashi

    47TH INTERNATIONAL CONFERENCE AND EXPOSITION ON ADVANCED CERAMICS AND COMPOSITES　2023年1月24日

  36. テンダーX線スペクトロタイコグラフィによるリチウム硫黄電池正極の硫黄化学状態イメージング

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 久保達也, 中条文哉, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    第36回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2023年1月9日

  37. 硬X線スペクトロタイコグラフィによるLi過剰不規則岩塩型酸化物のLi脱離反応分布の可視化

    上松英司, 石黒志, 阿部真樹, 高澤駿太郎, 姜正敏, 小沼樹, 藪内直明, 高橋幸生

    第36回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2023年1月9日

  38. Kramers-Kronig関係の性質を利用したスパースX線スペクトロタイコグラフィの提案

    石黒志, 高橋幸生

    第36回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2023年1月9日

  39. 三角形開口を用いたコヒーレントX線回折イメージングによる溶液中金コロイド粒子の動画撮像

    高澤駿太郎, 阿部真樹, 上松英司, 石黒志, 星野大樹, Dam Hieu-Chi, 高橋幸生

    第36回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2023年1月7日

  40. X線スペクトロタイコグラフィによる薄膜型全固体電池のオペランド化学状態イメージング

    佐々木雄平, 戸塚務, 石黒志, 上松英司, 高澤駿太郎, 山本和生, 入山恭寿, 高橋幸生

    第36回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2023年1月7日

  41. Towards high-resolution coherent X-ray diffraction imaging at NanoTerasu 招待有り

    Yukio Takahashi

    The 2nd Workshop on Novel Application of Next Generation Synchrotron Facility　2022年11月18日

  42. Visualization of nanoscale structures and chemical states by coherent X-ray diffraction imaging 招待有り

    Yukio Takahashi

    The 6th QST International Symposium “Innovation in Science and Technology from NanoTerasu”　2022年11月15日

  43. Development and Application of X-ray Spectroscopic Ptychography Towards the Use of NanoTerasu BL10U

    Yukio Takahashi, Nozomu Ishiguro

    Asia Oceania International Conference on Synchrotron Radiation Instruments 2022 (AO-SRI 2022)　2022年11月11日

  44. Development of Operando Imaging Method of Thin-Film All-Solid-State Batteries by X-ray Spectroscopic Ptychography

    Yuhei Sasaki, Tsutomu Totsuka, Nozomu Ishigro, Hideshi Uematsu, Syuntaro Takazawa, Kazuo Yamamoto, Yasutoshi Iriyama, Yukio Takahashi

    Asia Oceania International Conference on Synchrotron Radiation Instruments 2022 (AO-SRI 2022)　2022年11月11日

  45. Development of Tender X-ray Ptychography Measurement System and Its Application to Sulfur Chemical State Imaging

    Masaki Abe, Fusae Kaneko, Nozomu Ishiguro, Togo Kudo, Takahiro Matsumoto, Takaki Hatsui, Yusuke Tamenori, Hiroyuki Kishimoto, Yukio Takahashi

    Asia Oceania International Conference on Synchrotron Radiation Instruments 2022 (AO-SRI 2022)　2022年11月11日

  46. Recent progress in coherent diffraction imaging at SPring-8 招待有り

    CMSWS1　2022年10月13日

  47. テンダーX線タイコグラフィを用いたリチウム硫黄電池の化学状態の可視化 招待有り

    金子房恵, 阿部真樹, 石黒志, 久保達也, 中条文哉, 工藤統吾, 松本崇博, 初井宇記, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    SPring-8シンポジウム2022　2022年9月26日

  48. X線タイコグラフィによる蓄電固体材料のナノスケール微細構造・化学状態イメージング 招待有り

    高橋幸生

    2022電気化学会秋季大会　2022年9月8日

  49. コヒーレント光で拓くナノの世界 招待有り

    高橋幸生

    第14回日本放射光学会 放射光基礎講習会　2022年9月7日

  50. Development of coherent diffraction imaging technique and its application to nanoscale visualization of catalyst material 招待有り

    Yukio Takahashi

    Post Symposium of TOCAT9　2022年7月31日

  51. Development and application of single-frame coherent X-ray diffraction imaging using triangular aperture

    Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Coherence 2022　2022年7月8日

  52. Development of Tender X-ray Spectroscopic Ptychography Mesasurement System and Its Application to Sulfur Chemical State Imaging of Sulfur-Containing Polymer

    Masaki Abe, Fusae Kaneko, Nozomu Ishiguro, Togo Kudo, Takahiro Matsumoto, Takaki Hatsui, Yusuke Tamenori, Hiroyuki Kishimoto, Yukio Takahashi

    XRM 2022　2022年6月22日

  53. Development and Application of Spectroscopic Ptychography in Hard and Tender Energy Ranges at SPring-8 招待有り

    Yukio Takahashi

    XRM 2022　2022年6月22日

  54. Development of single-frame coherent X-ray diffraction imaging using triangular aperture

    Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Masaki Ave, Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    2022年4月19日

  55. Visualization of Chemical State in Spinel Lithium Nickel Manganese Oxide Particle by X-ray Spectro-Ptychography

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Masaki Abe, Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Eiiji Hosono, Masashi Okubo, Yukio Takahashi

    14 th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation(SRI2021)　2022年3月31日

  56. Single-frame coherent X-ray diffraction imaging using triangular aperture

    Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    14 th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation(SRI2021)　2022年3月31日

  57. Development of Tender X-ray Ptychography Measurement System

    Masaki Abe, Fusae Kaneko, Nozomu Ishiguro, Yusuke Tamenori, Hiroyuki Kishimoto, Yukio Takahashi

    14 th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation(SRI2021)　2022年3月31日

  58. Development and application of spectroscopic ptychography in the tender and hard X-ray regions at SPring-8 招待有り

    Yukio Takahashi

    14 th International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation(SRI2021)　2022年3月28日

  59. 三⾓形開⼝を⽤いたシングルフレームコヒーレントX線回折イメージングのための光学系開発

    高澤駿太郎, 姜正敏, 阿部真樹, 上松英司, 石黒志, 高橋幸生

    第35回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2022年1月9日

  60. テンダーX線スペクトロタイコグラフィの開発と含硫⻩⾼分⼦粒⼦の化学状態イメージング

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 工藤統吾, 松本崇博, 初井 宇記, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    第35回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2022年1月8日

  61. 全固体電池観察のための薄膜試料微細加⼯とX線顕微分光によるオペランド化学状態イメージングの検討

    戸塚務, 石黒志, 姜正敏, 山本和生, 入山恭寿, 高橋幸生

    第35回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2022年1月8日

  62. タイコグラフィ−XAFS法によるLi過剰岩塩型バナジウム酸化物粒⼦の微細組織・化学状態イメージング

    上松英司, 石黒志, 戸塚務, 阿部真樹, 高澤駿太郎, 姜正敏, 小沼樹, 藪内 直明, 高橋幸生

    第35回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2022年1月8日

  63. In Situ Visualization of Chemical States in Functional Materials Using X-ray Ptychography Imaging 招待有り

    Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    Pacifichem 2020

  64. テンダーX線領域におけるタイコグラフィ-XAFS法の開発と含硫黄高分子粒子の化学状態イメージング

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    第21回東北大学多元物質科学研究所発表会　2021年12月9日

  65. 三角形開口を用いたシングルフレームコヒーレントX線回折イメージング法の開発

    高澤駿太郎, 姜正敏, 阿部真樹, 上松英司, 石黒志, 高橋幸生

    Optics & Photonics Japan 2021　2021年10月29日

  66. Proposal and experimental demonstration of single-frame coherent X-ray diffraction imaging using triangular aperture

    Jungmin Kang, Shuntaro Takazawa, Masaki Abe, Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    The Korean Physical Society 2021　2021年10月21日

  67. Mesoscale Chemical State Visualization Using X-ray Spectro-Ptychography 招待有り

    Yukio Takahashi

    VASSCAA-10　2021年10月14日

  68. テンダーX線タイコグラフィの基盤技術開発と硫黄高分子材料観察への応用

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 工藤統吾, 松本崇博, 初井宇記, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    SPring-8シンポジウム2021　2021年9月19日

  69. Collaboration between X-ray ptychography and data science for the use of next-generation synchrotron radiation 招待有り

    Yukio Takahashi

    HeKKSaGOn Data Science Workshop　2021年9月8日

  70. テンダーX線タイコグラフィXAFS法の開発と硫⻩化学状態のナノスケール分析への応用

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 工藤統吾, 松本崇博, 初井宇記, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    第24回XAFS討論会　2021年9月1日

  71. タイコグラフィXAFS法により可視化した蓄電固体材料の化学状態不均一性

    上松英司, 石黒志, 阿部真樹, 高澤駿太郎, 姜正敏, 細野英司, 大久保将史, 高橋幸生

    第24回XAFS討論会　2021年9月1日

  72. Ｘ線タイコグラフィとデータ科学の連携による材料機能のメソスケール可視化 招待有り

    高橋幸生

    第436回触媒科学研究所コロキウム　2021年7月8日

  73. Visualization of Structural Heterogeneities in Spinel Lithium Nickel Manganese Oxide Particle by Ptychography-XAFS

    Hideshi Uematsu, Nozomu Ishiguro, Eiji Hosono, Masaki Abe, Shuntaro Takazawa, Jungmin Kang, Masashi Okubo, Yukio Takahashi

    XAFS 2021　2021年6月12日

  74. X-ray Spectro-Ptychography: Visualization of Chemical State at Mesoscale 招待有り

    Yukio Takahashi

    MIRAI 2.0 R&I Week 2021　2021年6月8日

  75. 放射光を用いた微細構造イメージングの新展開：メソスケールでの物性を可視化する 招待有り

    高橋幸生

    日本素材物性学会令和２年度第２回研究会　2021年3月29日

  76. コヒーレントX線回折イメージングによる時間発展可視化を目指して 招待有り

    高橋幸生

    ISSP Workshop 2021　2021年3月4日

  77. 多次元X線タイコグラフィによる三次元ナノ構造・化学状態の可視化 招待有り

    高橋幸生

    第35回学振181委員会研究会　2021年2月25日

  78. 高分解能・高感度コヒーレントX線回折イメージング法の開発とバイオイメージングへの応用 招待有り

    高橋幸生

    レーザー学会学術講演会第41回年次大会　2021年1月19日

  79. テンダーX 線領域におけるタイコグラフィ法の開発

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 為則雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    第34回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2021年1月9日

  80. 三角形開口を用いたシングルフレームコヒーレント X 線回折イメージングの提案

    高澤駿太郎, 姜正敏, 阿部真樹, 上松英司, 石黒志, 高橋幸生

    第34回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2021年1月9日

  81. 硬 X 線タイコグラフィ XAFS 法による LiNi0.5Mn1.5O4 正極活物質粒子の化学状態可視化

    上松英司, 石黒志, 阿部真樹, 高澤駿太郎, 姜正敏, 細野英司, 大久保将史, 高橋幸生

    第34回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2021年1月9日

  82. 硬X線タイコグラフィXAFS法によるLiNi0.5Mn1.5O4正極活物質粒子の化学状態可視化

    上松英司, 石黒志, 阿部真樹, 高澤駿太郎, 姜正敏, 細野英司, 大久保将史, 高橋幸生

    第20回東北大学多元物質科学研究所発表会　2020年12月8日

  83. Single-frame coherent diffraction imaging of extended objects using triangular aperture

    Jungmin Kang, Shuntaro Takazawa, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    第20回東北大学多元物質科学研究所発表会　2020年12月8日

  84. X線タイコグラフィによるナノ構造可視化の新展開 招待有り

    高橋幸生

    第51回セミコンファレンス・第33回若手の会　2020年12月6日

  85. Nano/Meso-scale Chemical State Visualization of Functional Materials Using Ptychography-XAFS

    N. Ishiguro, Y. Takahashi

    The 4th Symposium for The Core Research Cluster for Materials Science and the 3rd Symposium on International Joint Graduate Program in Materials Science　2020年11月16日

  86. XAFS-Ptychography at 4th generation storage rings 招待有り

    Yukio Takahashi

    PETRA IV Workshop - Materials and Processes for Energy and Transport Technology　2020年10月19日

  87. テンダーＸ線タイコグラフィの基盤技術開発とその応用展開

    阿部真樹, 金子房恵, 石黒志, 為則 雄祐, 岸本浩通, 高橋幸生

    SPring-8シンポジウム2020　2020年9月18日

  88. テンダーＸ線タイコグラフィの開発：タイヤゴム中の架橋構造の可視化を目指して 招待有り

    金子房恵, 広瀬真, 阿部真樹, 石黒志, 岸本浩通, 為則 雄祐, 高橋幸生

    第71回コロイドおよび界面化学討論会　2020年9月16日

  89. タイコグラフィXAFS法による充放電過程におけるチタン酸リチウム粒子の化学状態可視化

    石黒志, 高橋幸生, 細野英司, 大久保將史

    日本セラミックス協会 第33回秋季シンポジウム　2020年9月2日

  90. 次世代放射光によるコヒーレントイメージングの新展開 招待有り

    高橋幸生

    次世代放射光セミナー　2020年8月3日

  91. Development and application of Ptychography XAFS method at SPring-8 招待有り

    Yukio Takahashi

    Perspectives and new opportunities for X-ray absorption spectroscopy at PETRA IV　2020年6月30日

  92. コヒーレント回折イメージングとCITIUSへの期待 招待有り

    髙橋 幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2020年1月12日

  93. その場X線タイコグラフィによるはんだ合金粒子の融解過程の観察

    東野嵩也, 広瀬真, 石黒志, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2020年1月11日

  94. マルチビームX線タイコグラフィによる広視野ナノイメージング

    広瀬真, 東野嵩也, 石黒志, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2020年1月11日

  95. テンダーＸ線タイコグラフィの基盤技術開発

    金子房恵, 広瀬真, 石黒志, 岸本浩通, 為則雄祐, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2020年1月11日

  96. 次世代放射光で加速する可視化研究 招待有り

    髙橋 幸生

    （産業技術総合研究所 つくばセンター）　2019年12月23日

  97. 放射光計測と高度情報処理の融合による物質機能の可視化 招待有り

    髙橋 幸生

    多元研発表会　2019年12月13日

  98. Hard X-ray spectro-ptychography: Visualization of heterogeneous oxygen storage behavior in three-way catalyst particles 招待有り

    Yukio Takahashi

    Materials Research Meeting 2019 (MRM2019)　2019年12月12日

  99. Ｘ線タイコグラフィによる次世代の放射光イメージング研究 招待有り

    髙橋 幸生

    東日本合同セミナー 表面・薄膜分析シリーズ Vol.5「放射光」　2019年11月16日

  100. コヒーレント回折イメージングのこの10年と今後の集光技術への期待 招待有り

    髙橋 幸生

    X線ナノ集光技術研究会 ― 10周年記念研究会　2019年10月27日

  101. Observation of structural changes in melting process of Pb-Sn eutectic alloy particles by in situ X-ray ptychography

    Takaya Higashino, Makoto Hirose, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    The 15th Symposium of Japanese Research Community on X-ray Imaging Optics　2019年10月25日

  102. Ptychographic Imaging Using Hard X-ray Multibeam

    Nozomu Ishiguro, Makoto Hirose, Takuya Higashino, Yukio Takahashi

    The 15th Symposium of Japanese Research Community on X-ray Imaging Optics　2019年10月25日

  103. Development and application of hard X-ray spectro-ptychography 招待有り

    Makoto Hirose, Takaya Higashino, Nozomu Ishiguro, Yukio Takahashi

    The 15th Symposium of Japanese Research Community on X-ray Imaging Optics　2019年10月25日

  104. Ｘ線スペクトロタイコグラフィとデータ科学の連携による構造機能相関の可視化 招待有り

    髙橋 幸生

    理学研究科放射光シンポジウム「量子物質科学のフロンティア」　2019年10月18日

  105. タイコグラフィとデータ科学の融合による機能の可視化 招待有り

    髙橋 幸生

    第9回CSJ化学フェスタ2019　2019年10月17日

  106. Ｘ線タイコグラフィとデータ科学の連携による物質機能の可視化 招待有り

    髙橋 幸生

    アライアンスG2分科会　2019年10月3日

  107. 放射光による新たな触媒のキャラクタリゼーション 招待有り

    髙橋 幸生

    触媒討論会　2019年9月20日

  108. タイコグラフィ―XAFS法による触媒粒子のナノ構造・化学状態可視化 招待有り

    髙橋 幸生

    SPring-8シンポジウム2019　2019年8月31日

  109. X線タイコグラフィによるナノスケール非破壊解析と次世代放射光への期待 招待有り

    髙橋 幸生

    第3回極限ナノ造形・構造物性研究会 公開講演会　2019年7月24日

  110. 放射光を活用したナノスケール可視化とデータ科学との融合 招待有り

    髙橋 幸生

    第2回MI2I・JAIST合同シンポジウム　2019年6月5日

  111. Future Perspective for Coherent Diffraction Visualization 国際会議 招待有り

    髙橋 幸生

    1 st International Forum for Next Generation SR innovation　2019年4月22日

  112. 次世代放射光を活用した可視化で加速するデータ科学との融合

    髙橋 幸生

    多元物質科学研究所次世代放射光セミナー　2019年2月20日

  113. マルチスライス逐次近似再構成法を利用した高分解能三次元 X 線タイコグラフィ

    下村啓, 広瀬真, 東野嵩也, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2019年1月11日

  114. タイコグラフィ EXAFS によるナノスケール結合長決定

    広瀬真, 下村啓, 東野嵩也, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2019年1月11日

  115. ランダムアレイと全変動正則化を用いた非孤立物体のコヒーレント X 線回折イメージング

    東野嵩也, 下村啓, 広瀬真, 瀬戸洋介, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2019年1月11日

  116. Advanced KB ミラー集光光学系を利用した X 線タイコグラフィの高安定測定システムの開発

    瀬戸洋介, 下村啓, 広瀬真, 東野嵩也, 高橋幸生

    第32回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2019年1月10日

  117. コヒーレントX線によるナノ構造可視化の新展開 招待有り

    髙橋 幸生

    フロンティアソフトマター開発専用ビームライン産学連合体 第8回研究発表会　2018年12月26日

  118. 次世代放射光源で切り拓くコヒーレント回折イメージングの未来 招待有り

    髙橋 幸生

    東京大学物性研究所、短期研究会 軟X線放射光科学のアップシフト　2018年11月30日

  119. X-ray spectro-ptychography: Next-generation synchrotron imaging 国際会議 招待有り

    髙橋 幸生

    ACSIN-14 and ICSPM26　2018年10月25日

  120. 情報科学を活用した次世代のコヒーレントＸ線イメージング 招待有り

    髙橋 幸生

    第2回 計測とデータ科学の協奏　2018年10月17日

  121. X線スペクトロタイコグラフィによるナノ構造・化学状態の可視化 招待有り

    髙橋 幸生

    第7回実用スピントロニクス新分野創成研究会　2018年9月6日

  122. 高分解能コヒーレントＸ線回折イメージング技術の開発と応用 招待有り

    髙橋 幸生

    第632回レーザー科学研究所コロキウム　2018年9月5日

  123. 情報科学を活用したコヒーレントX線イメージングの新展開

    髙橋 幸生

    第10回放射光学会若手研究会　2018年9月4日

  124. X線タイコグラフィ技術の最近の進展

    髙橋 幸生

    SPring-8シンポジウムサテライト研究会　2018年8月25日

  125. Development and application of high-resolution X-ray ptychography using total-reflection focusing mirrors 国際会議

    髙橋 幸生

    SRI2018　2018年6月11日

  126. Development and application of high-resolution hard X-ray spectro-ptychography 国際会議

    髙橋 幸生

    2018 MRS Spring meeting　2018年4月4日

  127. Ｘ線タイコグラフィによるナノ構造可視化の最前線

    髙橋 幸生

    第６回放射光産業利用支援講座～マテリアルインフォマティクスのための放射光科学と計算科学の融合技術～　2018年3月16日

  128. Ｘ線タイコグラフィによる３次元ナノ構造可視化の新展開

    髙橋 幸生

    埋もれた界面のＸ線・中性子解析２０１８ワークショップ　2018年1月23日

  129. Ｘ線タイコグラフィによるナノ構造可視化の新展開

    髙橋 幸生

    第14回X線結像光学シンポジウム　2017年11月29日

  130. Ｘ線タイコグラフィ–ＸＡＦＳによるナノ構造・化学状態の可視化

    髙橋 幸生

    第20回XAFS討論会　2017年8月4日

  131. X線タイコグラフィによるナノ構造・元素・化学状態の可視化

    髙橋 幸生

    第28回微量元素学会学術集会　2017年7月29日

  132. High-Resolution and High-Sensitivity X-ray Ptychography at SPring-8: Recent Progress and Future Prospect 国際会議

    髙橋 幸生

    PETRA IV Coherence Workshop　2017年6月26日

  133. 高分解能X線タイコグラフィ：厚い試料の非破壊・高分解能観察を目指して

    髙橋 幸生

    平成29年度非破壊検査総合シンポジウム　2017年6月5日

  134. High-Resolution Hard X-ray Ptychography at SPring-8: Recent Progress and Future Prospects 国際会議

    髙橋 幸生

    NSLS-II users' meeting　2017年5月17日

  135. High-resoluton hard X-ray spectro-ptychography 国際会議

    髙橋 幸生

    International Conference on X-ray Optics and Applications 2017 (XOPT’17)　2017年4月18日

  136. Ｘ線タイコグラフィによる価数識別ナノイメージング

    髙橋 幸生

    日本物理学会　2017年3月18日

  137. マルチスライスＸ線タイコグラフィ：埋もれた界面のナノイメージングに向けて

    髙橋 幸生

    第64回応用物理学会春季学術講演会　2017年3月16日

  138. 硬X線スペクトロタイコグラフィ

    髙橋 幸生

    SPRUC顕微ナノ材料科学研究会・表面科学会放射光部会 合同シンポジウム　2017年3月3日

  139. コヒーレントＸ線回折イメージングの今後の可能性

    髙橋 幸生

    PF研究会「PF挿入光源ビームラインBL−19の戦略的利用に関する研究会」　2017年1月17日

  140. ユビキタス･ナノイメージングがもたらす将来のすがた

    髙橋 幸生

    第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム　2017年1月8日

  141. コヒーレントX線回折イメージングによるナノ材料粒子の組織と粒形分布の複合解析

    髙橋 幸生

    日本化学会コロイドおよび界面化学部会「実用講座 分散凝集のすべて ２０１６」　2016年12月13日

  142. 高分解能コヒーレントＸ線回折イメージング：ナノ構造のその場観察を目指して

    髙橋 幸生

    日本物理学会　2016年9月15日

  143. High-resolution Coherent X-ray Diffraction Imaging at SPring-8 and SACLA 国際会議

    髙橋 幸生

    The 15th International Conference on X-Ray Lasers(ICXRL2016)　2016年5月22日

  144. High-resolution Bragg Ptychography Using Focused Hard X-ray Beams 国際会議

    髙橋 幸生

    2016 International Workshop on Bragg Coherent Diffractive Imaging　2016年3月23日

  145. Ｘ線タイコグラフィによるナノ構造解析

    髙橋 幸生

    薄膜第131委員会研究会　2016年2月4日

  146. Ｘ線タイコグラフィによる高分解能・高感度位相イメージング

    髙橋 幸生

    レーザー学会学術講演会第36回年次大会　2016年1月9日

  147. ナノ分解能・広視野イメージングを実現するコヒーレントX線回折法

    髙橋 幸生

    アモルファス・ナノ材料第141委員会, 第131回研究会　2016年1月8日

  148. X線タイコグラフィによる生物試料の高分解能観察を目指して

    髙橋 幸生

    分子生物学会ワークショップ　2015年12月4日

  149. コヒーレントX線回折による次世代の構造可視化研究

    髙橋 幸生

    PF研究会「次世代放射光光源を用いた構造物性研究への期待」、高エネルギー加速器研究機構　2015年7月27日

  150. Ｘ線タイコグラフィーによるナノ組織解析

    髙橋 幸生

    マイクロビームアナリシス第141委員会, 第160回研究会　2015年5月27日

  151. コヒーレントX線が拓く新しい3次元イメージング

    髙橋 幸生

    結晶学会シンポジウム「量子ビームの拓く新しい3次元イメージング」　2014年11月3日

  152. 集光放射光ビームを用いた高分解能回折イメージング

    髙橋 幸生

    放射光ナノビームが拓く「光・磁性新素材産学連携」の未来(JSPS147委員会第126回研究会・RSCセミナー合同研究会)　2014年9月26日

  153. コヒーレントX線回折による機能性材料粒子の粒径分布解析と電子密度マッピング

    髙橋 幸生

    平成26年度前期東京大学物性研究所短期研究会「真空紫外・軟X線放射光物性研究のパラダイムシフトに向けて」　2014年9月20日

  154. High-resolution coherent X-ray diffraction imaging at SPring-8 and SACLA 国際会議

    髙橋 幸生

    AOFSRR　2014年9月15日

  155. High-Resolution Coherent Diffraction Imaging with Focused Hard X-ray Beams at SPring-8 and SACLA 国際会議

    髙橋 幸生

    The Annual Users'Meeting and Workshops of NSRRC　2014年9月10日

  156. Recent Progress of Hard X-ray Ptychography at SPring-8 国際会議

    髙橋 幸生

    The International Workshop on Phase Retrieval and Coherent Scattering (Coherence 2014)　2014年9月2日

  157. Coherent Diffraction Imaging with Focused Hard X-ray Beams 国際会議

    髙橋 幸生

    NSS-8(International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and Nanotechnology)　2014年7月28日

  158. コヒーレントX線回折イメージングが拓く構造可視化の新しい世界

    髙橋 幸生

    医学・生物学電子顕微鏡技術学会第30回学術講演会　2014年5月24日

  159. コヒーレントX線によるナノイメージング

    髙橋 幸生

    SPring-8コンファレンス　2014年3月7日

  160. コヒーレントX線による材料組織のナノイメージング

    髙橋 幸生

    日本学術振興会「プロセスによる材料新機能発現」第176委員会 第25回研究会　2014年1月30日

  161. コヒーレントX線が拓く新しい結晶学

    髙橋 幸生

    第27回日本放射光学会年会　2014年1月12日

  162. 高感度・高分解能X線イメージング ～ナノ微細構造可視化への展開～

    髙橋 幸生

    KRIワークショップ'13　2013年10月25日

  163. High-resolution ptychography using focused hard x-ray beam 国際会議

    髙橋 幸生

    The 12 symposium on x-ray imaging optics　2013年10月19日

  164. コヒーレントX線回折を利用したマルチスケールイメージング

    髙橋 幸生

    第62回高分子討論会　2013年9月13日

  165. X線顕微法の現状と将来展望

    髙橋 幸生

    SPRUC構造物性研究会　2013年9月8日

  166. High-resolution ptychographic imaging 国際会議

    髙橋 幸生

    22nd International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM22)　2013年9月2日

  167. コヒーレントX線回折イメージング

    髙橋 幸生

    日本学術振興会「結晶加工と評価技術」第145委員会，第135回研究会「Ｘ線を用いた先端材料評価」　2013年8月23日

  168. コヒーレントX線回折イメージングの現状と将来展望

    髙橋 幸生

    第69回日本顕微鏡学会・学術講演会　2013年5月20日

  169. 高分解能コヒーレントＸ線回折イメージングの現状と展望

    髙橋 幸生

    シリーズセミナー 極限コヒーレント光科学 １９回目　2013年5月13日

  170. High-resolution and High-sensitivity X-ray Ptychography Using Focused Hard X-ray Beam 国際会議

    髙橋 幸生

    Ptycho2013　2013年5月4日

  171. 高分解能X線タイコグラフィーの現況と将来展望

    髙橋 幸生

    日本表面科学会，第76回表面科学研究会，顕微分光の最近の話題と展望 ～イメージングから局所電子/化学状態解析まで～　2013年3月19日

  172. コヒーレントＸ線回折を利用したイメージング研究

    髙橋 幸生

    第1回 先進的観測技術研究会 -局所構造解析，イメージングの最前線-　2012年12月26日

  173. Coherent Diffractive Imaging at SPring-8 and SACLA 国際会議

    髙橋 幸生

    AsCA 12　2012年12月2日

  174. コヒーレント放射光を利用した回折イメージング

    髙橋 幸生

    第53回高圧討論会，特別企画「コヒーレント放射光を利用した新しい高圧力科学」　2012年11月7日

  175. High-resolution ptychography using focused hard X-ray beam 国際会議

    髙橋 幸生

    The 5th International Workshop on FEL Science　2012年10月28日

  176. コヒーレントX線回折を利用したナノ構造解析

    髙橋 幸生

    日本金属学会中国四国支部，第113回金属物性研究会 -極微構造解析の最近の進展　2012年9月28日

  177. 放射光やX線自由電子レーザーを用いたコヒーレント回折イメージング

    髙橋 幸生

    レーザー学会「レーザーバイオ医療」技術専門委員会　2012年8月31日

  178. 次世代光源によるコヒーレント回折イメージングのブレークスルー

    髙橋 幸生

    放射光将来光源利用サイエンス若手シンポジウム　2012年8月18日

  179. コヒーレントＸ線回折による構造可視化の新手法

    髙橋 幸生

    岡山大＆理研ジョイントシンポジウム「最先端計測技術のトレンド2012」　2012年6月25日

  180. High-resolution X-ray ptychography using focused hard X-ray beam 国際会議

    髙橋 幸生

    Coherence 2012, International Workshop on Phase Retrieval and Coherent Scattering　2012年6月18日

  181. 高分解能コヒーレントＸ線回折顕微法の現状と将来展望

    髙橋 幸生

    日本顕微鏡学会の電顕技術開発若手研究部会ワークショップ「様々なイメージング技術の現況と展望 」　2012年1月5日

  182. High-resolution coherent diffraction imaging using focused hard x-ray beam at SPring-8 国際会議

    髙橋 幸生

    CXS Annual Workshop 2011　2011年10月10日

  183. Development and application of high-resolution diffraction microscopy using focused hard x-ray beam 国際会議

    髙橋 幸生

    The 4th International Workshop on FEL Science　2011年8月29日

  184. Development of high-resolution coherent X-ray diffraction microscopy and its application in materials science 国際会議

    髙橋 幸生

    International conference on processing & manufacturing of advanced materials　2011年8月1日

  185. X線集光ビームを利用したコヒーレント回折技術の開発と応用

    髙橋 幸生

    アモルファス･ナノ材料第１４７委員会 第１１２回研究会　2011年5月27日

  186. Development of coherent x-ray diffraction microscopy and its application in materials science 国際会議

    髙橋 幸生

    TMS annual meeting　2010年2月14日

  187. コヒーレントX線回折・散乱イメージング技術の開発とその応用

    髙橋 幸生

    第23回日本放射光学会年会　2010年1月6日

  188. Development and application of coherent x-ray diffraction microscopy at SPring-8 国際会議

    髙橋 幸生

    “X-ray coherent diffraction” Workshop & XFEL Meeting　2009年12月14日

  189. 硬Ｘ線集光ビームを用いた高分解能回折顕微法の開発

    髙橋 幸生

    第10回Ｘ線結像光学シンポジウム　2009年11月6日

  190. 集光Ｘ線を利用した高分解能回折顕微法の開発

    髙橋 幸生

    日本放射光学会第一回若手研究会「Ｘ線ナノ集光技術研究会」　2009年8月10日

  191. コヒーレントＸ線回折顕微法の材料科学応用に関する取組み

    髙橋 幸生

    ＰＦ研究会「Ｘ線位相利用計測の将来展望」, 高エネルギー加速器研究機構　2008年1月17日

  192. ナノテラスの概要と放射光を活用したナノスケール可視化技術 招待有り

    高橋幸生

    先端半導体・実装・パッケージングセミナー　2024年7月9日

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産業財産権 1

  1. イメージング装置及び方法

    髙橋 幸生

    産業財産権の種類: 特許権

共同研究・競争的資金等の研究課題 41

  1. 超タイコグラフィによる微視的非平衡状態の可視化プラットフォームの構築

    高橋 幸生

    2023年4月 ～ 2030年3月

  2. 蓄電固体デバイスの創成に向けた界面イオンダイナミクスの科学

    入山 恭寿, 高橋 幸生, 田中 優実, 林 晃敏, 森 茂生, 大久保 將史, 喜多條 鮎子, 館山 佳尚, 獨古 薫, 松井 雅樹, 藪内 直明, 雨澤 浩史, 中山 将伸, 本山 宗主

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)

    研究機関：Nagoya University

    2019年6月28日 ～ 2024年3月31日

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    前年度に引き続き、専属の事務補佐員が、名古屋大学に設置した領域オフィスで各種事務作業を行った。領域HP内に構築した人材データ（領域構成員それぞれの専門分野を紹介）、成果入力システム（論文、招待・基調講演、プレスリリース等）、若手研究者の海外連携支援及び領域内共通試料の作製・解析のための連携推進の申請・採択システム、領域イベントの参加登録システム等を整理し、領域内運営を行った。また、蓄電固体界面科学データベースを整備し、領域の全体会議、公開シンポジウム、計画研究会議、若手勉強会での各種発表ファイルを閲覧できるアーカイブを構築した。また、前年度から引き続き、web会議システムを活用し、月1回の頻度で領域運営会議を実施した。本年度は計10回、運営会議を行った。計画研究内、計画研究間、計画研究・公募研究間などの連携を加速するために、web会議システムを計画研究だけでなく、横串連携グループごとにも実施できるよう支援した。 2020年4月に計画研究と公募研究のメンバーを交えたキックオフミーティングを完全オンライン形式で実施した。また、7月と12月には、それぞれ第2回と第3回の領域全体会議をハイブリッド形式で実施した。9月には第2回公開シンポジウムをハイブリッド形式で開催した。また、日本セラミックス協会第33回秋季シンポジウム（9月）、第61回電池討論会（11月）、日本化学会第101春季年会（3月）では特別セッションを開催し、本領域分野の成果及び重要性を国内外へアピールした。9月にはオンライン若手勉強会を開催し、博士前期・後期課程の学生を交え、蓄電固体界面科学の基礎を学ぶ機会を設け、着実に若手研究者育成を進めた。これら領域の活動については国際ニュースレターに取りまとめ、関連する国内外研究者に広く本領域の活動を周知している。

  3. 多次元Ｘ線タイコグラフィによる次世代放射光顕微分光プラットフォームの構築

    高橋 幸生, 石黒 志

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research (S)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (S)

    2018年6月11日 ～ 2023年3月31日

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    本年度は、以下の4つの項目を中心に実施した。①一次元開口アレイを用いた空間的に非干渉なマルチビーム形成法の開発、②ランダムアレイを用いたタイコグラフィ位相回復法の高度化、③タイコグラフィ－XAFS法によるナノスケール局所構造解析の実証、④タイコグラフィ－XAFS法の実試料観察への応用展開 ①：微小開口スリットを入射X線の空間コヒーレンス長以上の間隔で水平方向に一次元的に配置した光学系を構築した。微小開口スリットは、タンタル金属箔に集束イオンビーム加工を施すことによって作製できた。真空チャンバーを設計・開発し、一次元アレイ開口をチャンバー内に配置することでマルチビーム光学系を完成させた。 ②：複数枚の回折強度パターンがインコヒーレントに足し合わされた回折強度パターンから試料像を再構成する位相回復計算法の開発を行った。試料の直前に円柱構造をランダムに配置したランダムアレイを配置することで、互いに相関の小さいマルチビームを形成され、空間的に多重化された回折強度パターンからの像再生が可能であることが判明した。 ③：タイコグラフィ－XAFS法により広域X線吸収微細構造(EXAFS)を取得することで、ナノ領域における原子の局所構造を決定できることを実証した。試料にはMn酸化物微粒子を用い、MnのK吸収端近傍の複数のX線エネルギーで回折強度パターンを収集した。そして、回折強度パターンに位相回復計算を実行することで、50ナノメートルの空間分解能でEXAFSを取得し、動径分布解析を行えることを実証した。 ④：タイコグラフィ－XAFS法とコンピュータートモグラフィを組み合わせることにより、酸素吸蔵・放出材料粒子の元素価数分布の3次元空間の可視化に成功した。更にデータマイニングと連携した解析により、粒子内の酸化反応の軌跡を可視化することに成功した。

  4. シングルショットＸ線タイコグラフィによる放射光動画撮像の革新

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)

    研究機関：Tohoku University

    2020年7月 ～ 2023年3月

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    令和３年度は、以下の２つの項目を中心に実施した。 ①テスト試料を用いたシングルショットコヒーレント回折イメージングの原理実証 SPring-8において、三角形開口を導入したシングルショットコヒーレント回折イメージング(シングルショットCDI)の実証実験を行なった。5keVに単色化された放射光X線を三角形開口によって切り出し、FZPにより2分の1に縮小した。そして、200nm厚さのタンタルテストチャートに照射し、EIGER検出器により回折強度パターンを取得した。1枚あたり10秒露光の回折強度パターンからの再構成像は、同じ露光時間のタイコグラフィと比較して照明領域については同等の像質であり、空間分解能は17 nmであった。また、露光時間を10秒から10ミリ秒まで短くした結果、100ミリ秒まではFZPの空間分解能を超える50 nm以下の空間分解能を維持できた。 ②溶液封入セルの作製と評価 シングルショットCDIによる動画撮像の実証として、液中の金コロイド粒子のブラウン運動の可視化を検討している。本シングルショットCDI光学系は、試料を真空中に配置する必要があるため、液系試料はセルに封入する必要がある。そこで、窒化ケイ素メンブレンチップ２枚を窓枠状に加工されたカプトンフィルムで挟み、接着する封入型のセルを作製した。レーザー加工で窓枠状に加工した厚さ50μmのカプトンフィルムを用いて、金コロイド粒子が分散した溶液を窒化ケイ素メンブレンチップで挟みアラルダイトで接着した。そして、真空槽内にセルを配置し、1パスカル以下の真空度で３日間保持した結果、セルから溶液が漏れることなく、金コロイド水溶液が封入された状態を維持できることを確認した。

  5. 高度計測の統合利用による蓄電固体界面の物理化学局所状態の解明

    雨澤 浩史, 桑田 直明, 高橋 幸生, 尾原 幸治, 森 茂生, 熊谷 明哉, 池田 一貴, 山本 和生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)

    研究機関：Tohoku University

    2019年6月 ～ 2023年3月

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    蓄電固体界面で観測される特異なイオン輸送、蓄積特性は、界面近傍で局所的に生じる様々な物理化学状態の変調・分布が複雑に絡み合って発現すると考えられているが、その支配因子はほとんど理解されていない。本研究では、様々な最先端計測技術を結集し、蓄電固体界面近傍における各種物理化学状態の変調・分布を多角的に実測し、これらの知見を総合的、網羅的に融合することで、蓄電固体界面の物理化学的状態と特性を体系的に扱うことのできる新しい学理の構築へと繋げることを目的としている。 今年度は、固体電解質LATP上に成膜したLiCoO2薄膜を蓄電固体界面の共通モデルヘテロ界面試料、硫化物系ガラスセラミックス電解質を蓄電固体界面の共通モデルホモ界面試料とし、前年度までに開発された各種高度計測手法を適用し、界面評価を開始した。ヘテロ界面については、X線吸収分光、STEM／電子線ホログラフィー、電気化学プローブ顕微鏡による界面評価をオペランドで実施した。その結果、ヘテロ界面に電圧を印加した際、その大きさ（充放電状態）に応じて、電極だけでなく、電極／固体電解質近傍においても化学状態、電子状態が変調する様子を観察することに成功した。一方、ホモ界面については、X線、中性子線、電子線全散乱計測ならびにその二体分布関数（PDF）解析手法を適用し、それぞれの手法から得られた結果を相補的に検討することで、非晶・結晶が混在する蓄電固体材料の局所構造を明らかにするとともに、そのイオン伝導度との相関について考察した。また、蓄電固体材料への充放電に伴う局所構造変化の解析にも適用可能であることを示した。さらに、タイコグラフィXAFS法の高度化を用いた蓄電固体材料中の名の構造、化学状態の多次元評価、TOF-SIMSとトレーサー拡散測定の併用による蓄電固体界面における反応交換速度の評価にも成功した。

  6. マルチスライスＸ線タイコグラフィを駆使したラージスケール・ナノＸ線ＣＴの実証

    高橋 幸生, 下村 啓, 広瀬 真, 東野 嵩也

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究機関：Osaka University

    2016年4月1日 ～ 2019年3月31日

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    マルチスライスX線タイコグラフィは投影近似によって制限される空間分解能の問題を解決できるが、再構成像の空間分解能は試料面内方向に比べて、面直方向が100倍以上悪いことが課題となっていた。本研究では、プリセッション測定を組み合わせることで面直方向の空間分解能を向上させることに成功した。また、マルチスライス位相回復計算と逐次近似法を組み合わせた３次元再構成計算法を新たに提案し、試料角度数の少ない条件や制限角度条件において、従来法よりも信頼性の高い3 次元試料像の再構成を可能にした。実証実験として、Intel社製CPUを試料として用いた測定を行い、CPU内の銅配線回路の再構成に成功した。

  7. スペクトロＸ線タイコグラフィによるナノ構造情報の可視化

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)

    研究機関：Osaka University

    2016年4月1日 ～ 2018年3月31日

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    自動車排ガス浄化触媒システムに用いられる酸素吸蔵・放出材料であるセリウムジルコニウム複合酸化物微粒子にスペクトロX線タイコグラフィを適用した。大型放射光施設SPring-8において、CeのL3吸収端近傍の複数のエネルギーでタイコグラフィ測定を行い、位相回復計算を実行した結果、各エネルギーで試料の電子密度分布像を反映した位相像、X線の吸収量を反映した振幅像をピクセル分解能１３ナノメートルで再構成することに成功した。さらに、振幅像のエネルギー依存性から得られるX線吸収スペクトルを解析することで、セリウム価数の二次元分布を可視化することに成功した。また、計算機断層撮影を組合せた三次元スペクトロX線タイコグラフィの測定も行い、セリウム価数の三次元分布をピクセル分解能１４ナノメートルで再構成することにも成功した。

  8. In situ結像顕微CT-XAFS法によるFeOx触媒粒子の化学状態可視化

    石黒 志, 唯 美津木, 松井 公佑, 宇留賀 朋哉, 高橋 幸生, 関沢 央輝, 新田 清文, 鈴木 陽也, 広瀬 真

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Young Scientists (B)

    研究種目：Grant-in-Aid for Young Scientists (B)

    研究機関：Institute of Physical and Chemical Research

    2016年4月1日 ～ 2018年3月31日

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    固体触媒粒子内形状・構造の不均一性が触媒作用に及ぼす要因を明らかにするために、固体触媒粒子の空間分解イメージングXAFS 法による化学状態分布の可視化を次の(1),(2)の2項目について行った。 (1)結像顕微XAFS法により樹状型FeOx及びFeCrOx粒子内のFe化学状態の可視化を行い、得られた空間分解XANESスペクトルからα-Fe2O3/γ-Fe2O3/Fe3O4の相比率の空間分布を算出し、各粒子の反応相変化傾向を検討した。 (2)タイコグラフィーXAFS法によりセリアージルコニア酸化物固溶体粒子内の化学状態の空間分布を検討し、そこから粒子内に潜む異なる酸素拡散モードを可視化した。

  9. スペクトロＸ線タイコグラフィによるナノ構造情報の可視化 競争的資金

    髙橋 幸生

    2016年4月 ～ 2018年3月

  10. マルチスライスＸ線タイコグラフィを駆使したラージスケール・ナノＸ線ＣＴの実 競争的資金

    髙橋 幸生

    2016年4月 ～ 2018年3月

  11. 暗視野Ｘ線タイコグラフィ法の開発 競争的資金

    髙橋 幸生

    2014年4月 ～ 2018年3月

  12. 放射光と自由電子レーザーを相補利用する多元的マルチスケール時空間X線イメージング

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Young Scientists (A)

    研究種目：Grant-in-Aid for Young Scientists (A)

    研究機関：Osaka University

    2013年4月1日 ～ 2017年3月31日

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    X線自由電子レーザー施設SACLAにおいて集光した硬X線パルスを利用するコヒーレントX線回折イメージング技術を開発し，金属ナノ粒子の組織と粒径分布の複合解析に応用した．銀ナノキューブ粒子および金/銀ナノボック粒子を試料として1000枚を越えるコヒーレント回折強度パターンを取得し,位相回復計算を実行することで、粒子の電子密度分布の投影を10nmより優れた分解能で可視化し、粒子径と内部組織の関係を明らかにした．これにより，SACLAのX線自由電子レーザーとSPring-8の高輝度放射光X線を相補的に利用するコヒーレントX線回折イメージングのスキームが完成した．

  13. SACLAにおける低温X線回折イメージング実験の展開と標準化 競争的資金

    髙橋 幸生

    2012年4月 ～ 2017年3月

  14. 放射光と自由電子レーザーを相補利用する多元的マルチスケール時空間X線イメージング 競争的資金

    髙橋 幸生

    2012年4月 ～ 2017年3月

  15. スペクトロスコピックＸ線回折イメージングによるナノスケールＸ線吸収分光

    高橋 幸生

    2014年4月1日 ～ 2016年3月31日

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    昨年度実施した計算機シミュレーションの結果に基づき、コヒーレントX線回折イメージングによるX線吸収分光測定の原理実証実験を大型放射光施設SPring-8にて行った。厚さ１マイクロメートルの窒化珪素膜基板上に酸化マンガン(Ⅱ)、酸化マンガン(Ⅱ、Ⅲ)をそれぞれ６００ナノメートル成膜し、集束イオンビーム加工装置によって、最小構造１００ナノメートルの文字列パターンを加工し、観察試料とした。原理実証実験は、SPring-8の理化学研究所専用のビームラインBL29XULにて行った。MnのK吸収端近傍のエネルギーに単色化されたX線を全反射集光鏡によって約６００ナノメートル(半値幅)に集光し、試料に照射した。試料から散乱されたX線は直接撮像型二次元X線検出器によって検出した。入射X線エネルギーをMnのK吸収端近傍で変化させ、２０点の入射X線エネルギーでコヒーレントX線回折強度パターンを測定した。そして、コヒーレント回折強度パターンに位相回復計算を実行し、試料像を再構成した結果、２０ナノメートルのピクセル分解能で試料像を再構成することに成功した。そして、再構成像中の同じ箇所の１ピクセル強度の入射X線エネルギー毎に抜き出しプロットすることでX線吸収量のエネルギー依存性を調べた。X線吸収量のエネルギー依存性はX線吸収スペクトルの一般的な特徴を有し、参照試料のX線吸収スペクトルと良い一致を示していた。以上のように、コヒーレントX線回折イメージングにより高空間分解能X線吸収分光を実証することに成功した。

  16. 軌道角運動量可変マイクロX線渦ビームの形成と磁気イメージング・吸収分光への応用

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究機関：Osaka University

    2014年4月1日 ～ 2016年3月31日

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    ブラッグ回折を利用したX線タイコグラフィーを用いてシリコン単結晶中の転位歪み場を数十ナノメートルの空間分解能で可視化できることを実証した．また，可視化した位相分布を参照し，位相特異点に集束したコヒーレントX線を照射することで回折波にマイクロX線渦ビームが形成され，その軌道角運動量を自在に制御できることを見出した．X線渦ビームは，3d遷移金属の双極子遷移と四重極遷移を識別するX線吸収分光など様々な応用の可能性を秘めている．

  17. スペクトロスコピックＸ線回折イメージングによるナノスケールＸ線吸収分光 競争的資金

    髙橋 幸生

    2014年4月 ～ 2016年3月

  18. 軌道角運動量可変マイクロX線渦ビームの形成と磁気イメージング・吸収分光への応用 競争的資金

    髙橋 幸生

    2014年4月 ～ 2016年3月

  19. 原子分解能Ｘ線顕微法の実証と転位イメージングへの応用

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究機関：Osaka University

    2012年4月1日 ～ 2014年3月31日

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    コヒーレント前方回折強度パターン測定とコヒーレントブラッグ回折強度パターンを組み合わせた原子分解能コヒーレントX線回折イメージングを提案する。計算機シミュレーションにより、現状の大型放射光施設SPring-8の放射光X線の強度であっても試料に金属ナノキューブ試料を用いることで、原子分解能コヒーレントX線回折イメージング実験が可能であることを確認した。また、SPring-8において、コヒーレントブラッグ回折測定のための多軸回折計を構築し、金属ナノキューブ粒子からのコヒーレントブラッグ回折パターンデータを収集することに成功した。

  20. 原子分解能Ｘ線顕微法の実証と転位イメージングへの応用 競争的資金

    髙橋 幸生

    2012年4月 ～ 2014年3月

  21. 放射光コヒーレント回折によるバルクナノメタルのナノスケール電子密度・歪分布解析

    高橋 幸生

    2011年4月1日 ～ 2013年3月31日

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    走査型コヒーレントＸ線回折イメージング(走査型CXDM)とブラッグ回折コヒーレントＸ線回折イメージング(ブラッグ回折CXDM)を組み合わせた走査型ブラッグCXDMを構築し、転位歪み場のナノスケールイメージングの実証実験を行った。まず、走査型CXDMの測定感度を向上させるために、高光子密度のコヒーレントX線の形成ならびにそれを用いた走査型CXDM用の照明光学系の開発を行った。開口数の大きなX線集光鏡を用いることで、スポットサイズ100nmのX線ビームを形成することに成功した。また、タンタル箔にFIB加工を施すことによって作製した矩形開口アパチャーを空間フィルターとして用いることで、集光鏡に由来するバックグラウンドノイズを除去することに成功した。この照明光学系を用いて、走査型CXDMの測定感度および空間分可能の評価を行った。NTT-AT製のテストチャートの走査型CXDM測定を行った結果、空間分解能17nm、位相感度λ/320を達成した。そして、昨年度開発したブラッグ回折CXDM用の回折計に走査型CXDM装置を組み込み走査型ブラッグ回折CXDMを構築し、Si単結晶薄膜の測定を行った。1um厚さのSi単結晶薄膜に集光したX線を照射し、Si(220)面からのコヒーレントブラッグ回折パターンを測定した。そして、位相回復計算を実行し、Si薄膜のひずみ分布を反映した実空間像を観察領域10um×10um、空間分解能35nmで得ることに成功した。位相分布から二つの転位ループの存在が確認され、その周りでは格子が大きく歪んでいる様子を可視化することに成功した。

  22. 走査型コヒーレントＸ線回折トモグラフィーによる三次元ナノメートル空間分解バイオイメージング 競争的資金

    髙橋 幸生

    2012年4月 ～ 2013年3月

  23. 放射光コヒーレント回折によるバルクナノメタルのナノスケール電子密度・歪分布解析 競争的資金

    髙橋 幸生

    2011年4月 ～ 2013年3月

  24. コヒーレントX線回折による金属ナノ粒子の原子分解能イメージングの実証 競争的資金

    髙橋 幸生

    2011年4月 ～ 2012年3月

  25. ナノメートル空間分解XAFSイメージング法の開発とナノ組織制御物質の構造評価 競争的資金

    髙橋 幸生

    2010年4月 ～ 2012年3月

  26. 元素識別コヒーレントＸ線回折顕微法の確立と金属材料の４Ｄナノ－メゾ組織解析 競争的資金

    髙橋 幸生

    2009年4月 ～ 2012年3月

  27. 原子分解能コヒーレントＸ線回折顕微法の開発と実証 競争的資金

    髙橋 幸生

    2010年4月 ～ 2011年3月

  28. ナノメートル空間分解XAFSイメージング法の開発とナノ組織制御物質の構造評価

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    研究機関：Osaka University

    2010年 ～ 2011年

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    元素の吸収端近傍の複数のX線エネルギーでコヒーレントX線回折イメージングの測定を行うことにより、ナノメートルスケールの空間分解能を有するX線吸収スペクトルを抽出することが原理的に可能である。このような入射Xエネルギーを変更する実験では、試料に照射されたX線の光子数を精度良く決定する必要がある。本研究では、コヒーレントX線回折イメージング実験のための入射X線フラックスモニターを開発し、FIB-CVD法で作製したナノ構造材料の電子密度分布を定量的に決定することに成功した。

  29. 元素識別コヒーレントX線回折顕微法の確立と金属材料の4Dナノーメゾ組織解析

    高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Young Scientists (A)

    研究種目：Grant-in-Aid for Young Scientists (A)

    研究機関：Osaka University

    2009年 ～ 2011年

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    入射X線エネルギーが可変であるX線集光鏡を駆使した元素識別高分解能コヒーレントX線回折顕微法を第三世代放射光施設SPring-8に構築し、機能性金属ナノ粒子のナノ-メゾ組織解析に応用した。銀ナノキューブ粒子の観察において、X線顕微法の空間分解能の世界記録である2nmを達成し、金/銀ナノ中空粒子の三次元電子密度マッピングにも成功した。また、本手法を走査型測定法へ拡張することで、本顕微法の大視野化を実現した。

  30. ナノメートル空間分解XAFSイメージング法の開発とナノ構造制御物質の構造解析への応用 競争的資金

    髙橋 幸生

    2009年4月 ～ 2010年3月

  31. 海外渡航費 競争的資金

    髙橋 幸生

    2009年4月 ～ 2010年3月

  32. 硬Ｘ線Ｓｕｂ―１０ｎｍビーム形成と顕微鏡システムの構築

    山内 和人, 三村 秀和, 山村 和也, 佐野 泰久, 高橋 幸生, 稲垣 耕司, 松山 智至, 山村 和也, 佐野 泰久, 稲垣 耕司

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Specially Promoted Research

    研究種目：Grant-in-Aid for Specially Promoted Research

    研究機関：Osaka University

    2006年 ～ 2010年

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    X線分析法において,電子顕微鏡に迫るSub-10nm分解能の実現を目指し,ミラー光学素子によるSub-10nm硬X線集光および顕微鏡システムを開発した.波動光学に基づく手法で,硬X線領域におけるIn-situ波面計測・補正法を完成させ,SPring-8において世界で初めてシングルナノメートルサイズのX線ビームを実現した.顕微鏡システムに発展させ,Sub-10nm分解能でのナノ薄膜構造の観察にも世界に先駆けて成功した.

  33. コヒーレントＸ線散乱による金属材料内部の歪場のナノ空間分解イメージング法の開発 競争的資金

    髙橋 幸生

    2008年4月 ～ 2009年3月

  34. Ｘ線回折顕微法のための超解像位相回復アルゴリズムの開発と金属材料のナノ組織解析への応用 競争的資金

    髙橋 幸生

    2008年4月 ～ 2009年3月

  35. コヒーレントＸ線回折顕微鏡による金属材料中の3次元メゾ組織のその場観察 競争的資金

    髙橋 幸生

    2008年4月 ～ 2009年3月

  36. コヒーレントX線回折顕微法による生物試料のナノ構造解析

    西野 吉則, 前島 一博, 高橋 幸生, 高橋 幸生

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

    研究機関：The Institute of Physical and Chemical Research

    2007年 ～ 2009年

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    X線回折顕微法によって生体試料を観察する際に必要となる、顕微鏡装置、試料調製、データ測定、データ解析などに関わる研究を行った。この結果、エネルギーの高いX線を用いて、世界で初めて、細胞小器官を3次元的に観察するなど、世界をリードする研究成果を収めた。我々が可視化に成功した無染色のヒト染色体には、イメージコントラストを人為的に高める染色等をしない状態では初めて、軸状構造が観察されるなど、生物学的にも新たな知見を与えた。

  37. コヒーレントＸ線回折顕微鏡のナノ空間分解能とその場観察実現のための解析手法の開発 競争的資金

    髙橋 幸生

    2006年4月 ～ 2008年3月

  38. コヒーレントX線回折顕微鏡による金属材料中の3次元メゾ組織のその場観察

    松原 英一郎, 高橋 幸生, 西野 吉則, 奥田 浩司, 香村 芳樹, 市坪 哲

    提供機関：Japan Society for the Promotion of Science

    制度名：Grants-in-Aid for Scientific Research Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

    研究種目：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)

    研究機関：Kyoto University

    2006年 ～ 2008年

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    コヒーレントX線回折顕微鏡(CXDM : Coherent X-ray diffraction microscope)法を用いて、金属材料中のナノ組織観察の方法を確立することが本研究の目的である。軽量・高強度材料として実用上重要なアルミ基、マグネシウム基合金中の微細組織観察を通して、このCXDM法の金属材料に応用する場合の問題を明らかにし、それらを解決して、CXDM法を金属材料中の微細組織観察のための材料評価技術として確立する。CXDM法では、試料から得られるスペックルパターンと呼ばれる鋭い回折強度分布を精密に測定し、反復位相回復法を用いて回折プロファイルから試料の透過像を得る。この際に、位相回復を正確に行うために、オーバーサンプリング条件を満足する必要がある。ただ、現状での検出器の測定領域の大きさと位置分解能による制約から、測定試料の大きさは直径1μm程度に制限されている。この試料の物理的大きさに制限されないタイコグラフ法と呼ばれる手法についても実験的に調べた。

  39. コヒーレントX線回折顕微鏡のナノ空間分解能とその場観察実現のための解析手法の開発

    高橋 幸生

    2006年 ～ 2007年

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    コヒーレントX線回折顕微鏡(CXDM)が新しいX線顕微法として注目を集めている。原理的にCXDMは入射X線の波長程度の空間分解能を持った実像を再構成可能であるが、実際には入射X線の強度およぴX線検出器の性能に問題があり、その100分の1程度の空間分解能しか実現できていない。この問題を解決する一つの方法が超解像法などの数値解析的な手法を使って、測定された実験データから測定できない実験データを推定し、結果として再構成像の分解能を向上させることである。本研究では、CXDMのための超解像アルゴリズムを開発し、CXDMによる金属材料のその場観察測定実現を目指している。本年度は、昨年度開発した超解像アルゴリズムを実際の実験データに適用してその有効性を評価することを試みた。昨年度、アルミニウム合金および錫亜鉛共晶合金粒子のコヒーレントX線回折測定を行ったが、それらに超解像アルゴリズムを適用するより、既知の構造を持ったテストパターンに適用する方がより厳密にアルゴリズムの有効性を評価できると考え、大阪大学の設備を用いてテストパターンの作製を行った。Si_3N_4膜上に200nm厚さのC_uを蒸着して、収束イオシビーム加工により1μm程度のサイズのテメトパターンを作製した。それを第三世代放射光施設Spring-8に持ち込み、理化学研究所専用のビームラインBL29XULにて入射X線エネルギー5keVでコヒーレントX線回折パターン測定を行った。テストパターンの構造を反映した良質な回折パターンデータの取得に成功し、現在、像再生および超解像アルゴリズムの有効性の評価を行っている。

  40. 蛍光X線ホログラフィー法による局所格子歪の定量解析技術の開発 競争的資金

    髙橋 幸生

    2002年4月 ～ 2005年3月

  41. 蛍光X線ホログラフィー法による局所格子歪の定量解析技術の開発

    高橋 幸生

    2002年 ～ 2004年

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    1、元素識別三次元原子イメージング技術の開発 蛍光X線ホログラフィー(XFH)は、原子の三次元配列を直接的に決定できる手法であるが、原子番号の近い二つ以上の元素から構成される化合物を試料として用いた場合、再生像からその元素を識別できないという問題があった。昨年度、元素識別可能なXFH法として複素X線ホログラフィーを考案したが、今年度は、そのデモンストレーションを行った。実験はSPring-8のBL37XUで行い、試料にはGaAsの単結晶を使用した。CXH法で観測しなければならないシグナルの大きさは微弱であるが、CXH測定のために冷却システム、グラファイトアナラザーを備え、高精度化したホログラフィー装置を整備し、実験を行った結果、Ga原子周りのAs原子のみの原子の可視化に成功した。 2、反復法を用いた原子像再生アルゴリズムの開発 蛍光X線ホログラムから原子像の再構成を行うために、これまでバートンのアルゴリズムという一種の二次元のフーリエ変換の手法を用いてきた。しかしながら、実験的にホログラムは波数空間上の一部の領域しか測定できないために、バートンの方法によって導出される再生像には数学的な打ち切り誤差により、原子像の周りに必ずリップル状の振動が現れ、アーティファクトとなる。このアルゴリズムの問題が、XFH法による原子位置、原子占有率の定量評価実現のボトルネックとなっていた。松下らの反復法による原子像再生のアイディアをヒントにして、さらに原子像評価の定量性を向上させるために、大規模メモリを搭載した東北大学金研のスーパーコンピューティングシステムSR8000で実行可能な専用の反復法による原子像再生のプログラムを開発し、バートンの方法で出現するアーティファクトを激減させ、原子像の分解能を向上させることに成功した。

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